JPH0777294B2 - スルーホールの形成方法 - Google Patents

スルーホールの形成方法

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JPH0777294B2
JPH0777294B2 JP2111041A JP11104190A JPH0777294B2 JP H0777294 B2 JPH0777294 B2 JP H0777294B2 JP 2111041 A JP2111041 A JP 2111041A JP 11104190 A JP11104190 A JP 11104190A JP H0777294 B2 JPH0777294 B2 JP H0777294B2
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Japan
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conductor paste
substrate
hole
conductor
film
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直士 可児
照信 伊藤
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Murata Manufacturing Co Ltd
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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ハイブリッドIC等を構成する基板のスルーホ
ールの形成方法に関する。
(従来の技術) 従来、ハイブリッドIC等を構成する基板のスルーホール
の形成は、次のような方法によりおこなっていた。すな
わち、第5図に示すように、基板1の上面に所定の配線
パターンを形成するための導体ペースト膜2をスクリー
ン印刷するとき、基板1に形成した貫通孔3の下面側か
ら矢印方向に真空吸引しておく。そうすると、基板1の
上面側に供給された導体ペーストが貫通孔3内に引き込
まれ、その内周面に導体ペースト膜4が形成される。そ
の後、真空吸引を解除してこの導体ペースト膜4を導体
ペースト膜2とともに乾燥して焼成することにより、導
体ペースト膜4は導体膜となりスルーホールが形成され
る。導体ペースト膜2は配線パターンとなる。その後、
図示はしていないが、基板1を反転させて上記と同様の
方法で基板1の上面と貫通孔3の内周面とに導体ペース
ト膜を形成して焼成する。この結果、基板1の両面に形
成された配線パターンは、スルーホールを介して接続さ
れることになる。
(発明が解決しようとする課題) ところが、上記のようなスルーホールの形成方法におい
ては、基板1に形成した貫通孔3の径が小さい場合や貫
通孔3内に引き込まれる導体ペースト量が多い場合に
は、貫通孔3の下面側からの真空吸引を解除すると、導
体ペーストの表面張力により第6図に示すように貫通孔
3内が導体ペーストでふさがってしまうことがある。こ
のような状態で導体ペーストを焼成すると、導体ペース
トの厚い部分と薄い部分では収縮割合が異なる等の理由
で、第7図に示すように貫通孔3内の導体膜にクラック
が生じ、正常な状態のスルーホールが形成できないとい
う問題があった。本発明は、上記の課題に鑑みてなされ
たものであって、貫通孔の径が小さい場合や貫通孔に引
き込まれる導体ペースト量が多い場合でも正常な状態の
スルーホールを形成することのできるスルーホール形成
方法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段) このような目的を達成するために本発明においては、基
板の上面側に供給した導体ペーストをその下面側から真
空吸引することによって基板に形成した貫通孔の内周面
に導体ペースト膜を形成し、この導体ペースト膜を基板
の下面側から真空吸引した状態で加熱乾燥し、その後に
その導体ペースト膜を焼成するようにしたことを特徴と
している。
(作用) 貫通孔内周面に形成した導体ペースト膜を基板の下面側
から真空吸引した状態で加熱乾燥するため、ペースト膜
の表面張力が弱まり貫通孔内が導体ペーストでふさがる
ことがない。そのため、貫通孔の径が小さい場合や引き
込まれる導体ペースト量が多い場合でも正常な状態のス
ルーホールを形成することができる。
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明す
る。第1図において、アルミナ等からなる基板1を図示
していないステージ上に置いてその下面側から矢印方向
に真空吸引する。この状態で基板1の上面に所定の配線
パターンを形成するための導体ペースト膜2をスクリー
ン印刷する。このとき、基板1の上面側に供給された導
体ペーストが下面側からの真空吸引によって基板1に形
成された貫通孔3内に引き込まれ、その内周面に導体ペ
ースト膜4が形成される。ここまでの工程は従来と同様
である。次いで、この基板1を図示していない別のステ
ージ上に移し、同様にその下面側から真空吸引して貫通
孔3内周面に形成された導体ペースト膜4が基板1の下
面側に真空吸引された状態を保ち、この状態で基板1を
加熱して導体ペースト膜4を導体ペースト膜2とともに
乾燥する。これを第1段階の乾燥とする。この第1段階
の乾燥は、導体ペースト中の溶剤がたとえばテネピネオ
ール系の場合には、約50℃の温度で約20秒間加熱するだ
けでよい。これにより、導体ペースト膜2、4の表面部
分の気化が進み、導体ペーストの表面張力が小さくな
る。したがって、この状態で真空吸引を解除しても貫通
孔3が導体ペーストでふさがることはない。次いで、基
板1をステージ上から乾燥炉中に移し、たとえば約150
℃の温度で約10分間加熱して第2段階の乾燥をおこな
う。この第2段階の乾燥工程により、導体ペースト膜
2、4は十分に乾燥される。なお、上記のような工程を
経て乾燥することが量産工程上好ましいことであるが、
たとえば印刷工程におけるステージ上で第1段階の乾燥
をおこなってもよいし、上記実施例における第1段階の
乾燥工程におけるステージ上で、第1段階の乾燥工程を
省略して真空吸引した状態で直接第2段階の乾燥をおこ
なうようにしてもよい。なお、それぞれの乾燥条件は、
導体ペースト中の溶剤の種類や導体材料の種類等により
適宜の値に設定される。次いで、導体ペースト膜2、4
が十分に乾燥された基板1を焼成炉中に移し、導体ペー
スト膜2、4を所定の条件で焼成する。これにより導体
ペースト膜2、4は第2図に示すようにそれぞれ導体膜
5、6となり、所定の配線パターンとスルーホールとが
形成される。次いで、基板1を配線パターンの形成され
ていない面を上に向けて再び印刷工程におけるステージ
上に置き、第3図に示すようにその下面側から矢印方向
に真空吸引する。この状態で基板1の上面に所定の配線
パターンを形成するための導体ペースト膜7をスクリー
ン印刷する。このとき、導体ペーストが真空吸引によっ
て貫通孔3中に引き込まれ、その内周面に形成された導
体膜6の上に導体ペースト膜8が形成される。その後、
上記と同様の乾燥工程および焼成工程を経て導体ペース
ト膜7、8は、第4図に示すようにそれぞれ導体膜9、
10となり、所定の配線パターンとスルーホールとが形成
される。その結果、基板1の両面に形成された配線パタ
ーンがスルーホールを介して接続されたものとなる。な
お、上記の実施例においては、基板1の両面に配線パタ
ーンを形成するにあたり、それぞれの面ごとに焼成する
ようにしているが、一方の面に導体ペースト膜を印刷し
て乾燥のみをおこない、その状態で他方の面に導体ペー
スト膜を印刷して乾燥し、その後に両面の導体ペースト
膜を同時に焼成するようにしてもよい。この場合、貫通
孔3内の2層の導体ペースト膜も当然のこと同時に焼成
されることになる。また、基板1の一方の面のみにしか
配線パターンを必要としない場合は、第2図に示す状態
でスルーホールの形成は完了することになる。
(発明の効果) 以上説明したことから明らかなように本発明によれば、
貫通孔の内周面に形成した導体ペースト膜を基板の下面
側から真空吸引した状態で加熱乾燥するようにしたの
で、貫通孔の径が小さい場合や貫通孔内に引き込まれる
導体ペースト量が多い場合でも正常な状態のスルーホー
ルを形成することができる。また、貫通孔の径を小さく
しても正常な状態のスルーホールが形成できるため、貫
通孔を径を小さくして基板の小型化を図ることが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明の実施例のスルーホールの
形成方法を説明するための基板の要部断面図である。第
5図ないし第7図は従来例のスルーホールの形成方法を
説明するための基板の要部断面図である。 1……基板、2、4、7、8……導体ペースト膜、3…
…貫通孔、5、6、9、10、……導体膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板の上面側に供給した導体ペーストを基
    板の下面側から真空吸引することにより、基板に形成し
    た貫通孔の内周面に導体ペースト膜を形成し、この導体
    ペースト膜を基板の下面側から真空吸引した状態で加熱
    乾燥し、その後にその導体ペースト膜を焼成するように
    したことを特徴とするスルーホールの形成方法。
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