JPH0811711B2 - 透明導電膜用スパッタリングターゲットの製造方法 - Google Patents

透明導電膜用スパッタリングターゲットの製造方法

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JPH0811711B2
JPH0811711B2 JP63117137A JP11713788A JPH0811711B2 JP H0811711 B2 JPH0811711 B2 JP H0811711B2 JP 63117137 A JP63117137 A JP 63117137A JP 11713788 A JP11713788 A JP 11713788A JP H0811711 B2 JPH0811711 B2 JP H0811711B2
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ito
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sputtering target
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哲志 岩本
康宣 吉田
俊明 古頭
孝一 須藤
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はLEディスプレイ,液晶ディスプレイ面発熱
体,タッチパネルなどの透明導電膜をスパッタリング法
で形成する際に用いられるスパッタリングターゲットに
関するものである。
(従来の技術) 近年、薄膜化技術の発達に伴い表示素子分野などでは
透明導電膜が利用されてきている。現在、透明導電膜の
材質として酸化インジウム−酸化スズ(以下、ITOとい
う)が安定性,高光透過性など理由から多く用いられて
いる。また、ITOからなる透明導電膜の作製方法として
は蒸着法,インジウム−スズメタルターゲットを用いた
反応性スパッタ法,ITOターゲットを用いたスパッタリン
グ法が知られており、特に成膜コントロールの容易さか
らITOターゲットを用いたスパッタリング法が主流とな
っている。
従来ITOターゲットは、ITO粉末を金型プレス法により
成型して得た成型体を焼成することにより得られてい
る。しかしながら、酸化インジウム及び酸化スズは1400
〜1450℃程度の温度から昇華するため、ITOターゲット
の製造時の焼成温度は1300〜1450℃に限定されてしま
い、また酸化インジウム及び酸化スズは難焼結性である
ことから、得られるITOターゲットの相対密度は70%未
満と低くなるという問題点がある。通常、相対密度の低
いターゲットは抵抗率が高い、抗折力が弱い熱伝導率が
低いため、この様なターゲットを用いてスパッタリング
を行った場合、異常放電が発生し、得られるITO透明導
電膜に悪影響を及ぼす。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明の目的は、相対密度の高いITOスパッタリング
ターゲットの製造方法を提供することにある。
(問題を解決するための手段) 本発明者らは上記問題点を解決するために鋭意検討を
行った結果、ITO成型体を冷間静水圧プレスにより圧密
化した後、焼成を行えば相対密度の高いターゲットが得
られることを見出だし本発明を完成するに至った。すな
わち本発明は、酸化インジウム−酸化スズを含有する粉
末を泥漿鋳込み成型により予備成型して得られた成形体
を冷間静水圧プレスにより圧密化し、次いで焼成するこ
とを特徴とする透明導電膜用スパッタリングターゲット
の製造方法である。
本発明において用いられるITO粉末は市販の酸化イン
ジウム粉末と酸化スズ粉末を混合する方法や共沈法など
によって得ることができるが、通常酸化インジウムを70
重量%以上含有するITO粉末が用いられる。更に、スパ
ッタ後に得られる透明導電膜の導電性,光透過性を向上
させるためにこれらITO粉末に第三成分を添加した粉末
を用いても何ら差支えない。
予備成型の方法はITO粉末と溶媒,分散剤及びバイン
ダーを混合して得られたスラリーを、例えばセッコウ型
などの吸水性のある多孔質成形型に、常圧あるいは加圧
下で鋳込み成型する鋳込み成型法などの採用することが
できる。鋳込み成型法により所望形状、大きさのターゲ
ットを得ることができるので好ましい。また、鋳込み成
型法により予備成型を行う場合、スラリーを得るための
溶媒としては通常水が用いられ、分散剤としては例えば
ポリカルボン酸系のものなどが、バインダーとしてはア
クリルエマルジョン系のものなどが用いられるが、これ
らに限定はされない。また、このときのスラリー濃度と
しては75〜83%である。スラリー濃度が70%未満である
場合、ターゲットの作製中に割れが生じ易くなるおそれ
がある。
上記予備成型により得られたITO成型体を冷間静水圧
プレスにより圧密化し、焼成を行うことにより相対密度
の大きいITOターゲットが得られる。
冷間静水圧プレスは3〜5ton/cm2で行う。該冷間静水
圧プレスを施すことにより、あらかじめITO成型体は圧
密化し、密度が大きくなるので、これを焼成することに
より相対密度の大きいITOターゲットを得ることができ
る。加圧が1ton/cm2未満の場合、焼成を行い得られるタ
ーゲットの相対密度が顕著に向上しないおそれがある。
また焼成は、1300〜1450℃で1時間以上行うことが好ま
しい。
以上の方法により得られたITOターゲットは相対密度
が70%以上と高いものとなり、ターゲット特性も良好な
ものとなる。
(実施例) 以下、実施例により本発明を更に詳しく説明するが、
本発明は何らこれらに限定されるものではない。
実施例1 市販の酸化インジウム粉末2250g、酸化スズ粉末250
g、ポリカルボン酸系分散剤(固形分40%)56.25g、ア
クリルエマルジョン系バインダー(固形分40%)56.25g
及び純水569gを10ナイロン製ポット中で直径15mmの鉄
芯入り樹脂ボールを用いて回転ボールミルにより16時間
混合し、スラリー濃度80%のITO粉末スラリーを得た。
得られたスラリーを充分脱泡した後、内寸法160×480
×10tのセッコウ型を用いた加圧鋳込み成型により予備
成型を行い、ITO成型体を得た。
その後、得られた成型体を冷間静水圧プレスにて5ton
/cm2の圧力で圧密化し、脱バインダーを行い、1350℃で
5時間焼成しITO焼結体を得、これを放電加工及び平面
研削で加工し、127×381×6tのITOターゲットを得た。
得られたターゲットの相対密度は76.8%であった。ま
た、ターゲットの抵抗率,抗折力及び熱伝導率を測定し
た。その結果を表1に示す。
比較例 市販の酸化インジウム粉末4950gと酸化スズ粉末550
g、ポリカルボン酸系分散剤(固形分40%)100g、アク
リルエマルジョン系バインダー(固形分40%)100gおよ
び純水2885gを10ナイロン製ポットで直径15mmの鉄心
入れ樹脂ボールを用いて回転ボールミルにより16時間混
合し、スラリー濃度65%のITO粉末スラリーを得た。
該スラリーを用いて実施例1と同様の条件で加圧鋳込
み成型を行ったところ、得られたITO予備成形体にはク
ラックが入った。
このクラックが入ったITO予備成形体が冷間静水圧プ
レスにて5ton/cm2の圧力で圧密化し、脱バインダーを行
い、1350℃で5時間焼成したところ、焼結体は割れてし
まい目的とするターゲットを得ることができなかった。
(発明の効果) 以上述べたとおり、本発明によれば相対密度70%を越
えるITOターゲットを得ることができ、このターゲット
は抵抗率,抗折力及び熱伝導率にすぐれたものであり、
スパッタリング時に放電の安定性が良好となる。更に密
度が高いので、スパッタレートが高くなり、成膜の生産
性が高くなる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−12009(JP,A) 特開 昭60−65760(JP,A) 特開 昭62−278004(JP,A) 特開 昭59−136210(JP,A) 特開 昭58−175620(JP,A) 特開 昭50−89408(JP,A) 素木洋一著「セラミックス製造プロセス ▲I▼」(1978年10月10日技報堂出版発 行)P.175−180,197,198

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】酸化インジウムを70重量%以上含有する、
    酸化インジウム−酸化スズ含有粉末をスラリー濃度75〜
    83%にて泥漿鋳込みにより予備成して得られた成型体
    を、3〜5ton/cm2の冷間静水圧プレスにより圧密化し、
    次いで焼成することを特徴とする透明導電膜用スパッタ
    リングターゲットの製造方法。
JP63117137A 1988-05-16 1988-05-16 透明導電膜用スパッタリングターゲットの製造方法 Expired - Fee Related JPH0811711B2 (ja)

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DE68924095T DE68924095T2 (de) 1988-05-16 1989-05-12 Verfahren zur Herstellung eines Sputtertargets zur Erzeugung einer elektrisch leitenden, durchsichtigen Schicht.
EP89108558A EP0342537B1 (en) 1988-05-16 1989-05-12 Process for the manufacture of a sputtering target for producing electroconductive transparent films
CA000599638A CA1337809C (en) 1988-05-16 1989-05-15 Sputtering target for producing electroconductive transparent films and process for manufacture thereof
KR1019890006539A KR940003786B1 (ko) 1988-05-16 1989-05-16 투명도전막용 스퍼터링 타게트의 제조 방법
US07/352,473 US5160675A (en) 1988-05-16 1989-05-16 Sputtering target for producing electroconductive transparent films and process for manufacture thereof

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JPH0779005B2 (ja) * 1990-06-19 1995-08-23 住友金属鉱山株式会社 Ito焼結体及びその製造方法
JP3184977B2 (ja) * 1990-07-12 2001-07-09 同和鉱業株式会社 Itoスパッタリングターゲット材の製造方法
GB2459917B (en) 2008-05-12 2013-02-27 Sinito Shenzhen Optoelectrical Advanced Materials Company Ltd A process for the manufacture of a high density ITO sputtering target

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JPS6065760A (ja) * 1983-09-21 1985-04-15 東ソー株式会社 高電気伝導性酸化錫薄膜材料の製造法
JPS6212009A (ja) * 1985-07-09 1987-01-21 昭和電工株式会社 酸化インジウム系低抵抗透明薄膜の形成方法

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素木洋一著「セラミックス製造プロセス▲I▼」(1978年10月10日技報堂出版発行)P.175−180,197,198

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