JPH08231279A - Bi系超電導接合体の製造法 - Google Patents
Bi系超電導接合体の製造法Info
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 接合するBi系超電導体の超電導特性を低下
させることなく、良好な超電導接合を得るBi系超電導
接合体の製造法を提供する。 【構成】 基材3上に形成されたBi系超電導体1同士
を接合する方法において、接合するBi系超電導体1間
にビスマス、ストロンチウム、カルシウム、バリウム、
マグネシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、
Ca、Ba、Mg)ACuBOX(但し、A=2.6〜3.
4、B=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で示さ
れる組成の化合物aとビスマス、ストロンチウム、カル
シウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、Ca)C
CuDOX(但し、C=2.6〜3.4、D=1.9〜
2.5、数字は原子比を表す)で示される組成の化合物
bとからなる超電導前駆体2を介在させ、基材3上に形
成されたBi系超電導体結晶が分解及び/又は溶融せ
ず、かつ超電導前駆体2の一部が溶融し、その後超電導
前駆体2が結晶化する温度で加熱してBi系超電導体1
同士を接合するBi系超電導接合体の製造法。
させることなく、良好な超電導接合を得るBi系超電導
接合体の製造法を提供する。 【構成】 基材3上に形成されたBi系超電導体1同士
を接合する方法において、接合するBi系超電導体1間
にビスマス、ストロンチウム、カルシウム、バリウム、
マグネシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、
Ca、Ba、Mg)ACuBOX(但し、A=2.6〜3.
4、B=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で示さ
れる組成の化合物aとビスマス、ストロンチウム、カル
シウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、Ca)C
CuDOX(但し、C=2.6〜3.4、D=1.9〜
2.5、数字は原子比を表す)で示される組成の化合物
bとからなる超電導前駆体2を介在させ、基材3上に形
成されたBi系超電導体結晶が分解及び/又は溶融せ
ず、かつ超電導前駆体2の一部が溶融し、その後超電導
前駆体2が結晶化する温度で加熱してBi系超電導体1
同士を接合するBi系超電導接合体の製造法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、製造が比較的容易な小
型のBi系超電導体から大型のBi系超電導体を製造す
るのに有効なBi系超電導接合体の製造法に関する。
型のBi系超電導体から大型のBi系超電導体を製造す
るのに有効なBi系超電導接合体の製造法に関する。
【0002】
【従来の技術】Bi系超電導体は焼成が可能な温度範囲
が狭く、また機械的強度が低いため機械加工が困難であ
るなどの理由で大型又は複雑な形状のものを一体で製造
できないという問題点がある。この問題点に対して、あ
らかじめ適当な大きさ又は形状の金属、セラミックス等
の基材を作製し、この基材の表面にBi系超電導体を焼
き付け、基材及びBi系超電導体同士を接合して一体化
する方法が考えられている。基材及びBi系超電導体同
士を接合する方法としては、例えば特開平5−1452
67号公報に示されるように、基材上に形成されたBi
系超電導体同士を接触させてその接合部分を局所的に加
熱して接合したり、基材とBi系超電導体との複合基材
の各層それぞれを接合する方法が提案されている。
が狭く、また機械的強度が低いため機械加工が困難であ
るなどの理由で大型又は複雑な形状のものを一体で製造
できないという問題点がある。この問題点に対して、あ
らかじめ適当な大きさ又は形状の金属、セラミックス等
の基材を作製し、この基材の表面にBi系超電導体を焼
き付け、基材及びBi系超電導体同士を接合して一体化
する方法が考えられている。基材及びBi系超電導体同
士を接合する方法としては、例えば特開平5−1452
67号公報に示されるように、基材上に形成されたBi
系超電導体同士を接触させてその接合部分を局所的に加
熱して接合したり、基材とBi系超電導体との複合基材
の各層それぞれを接合する方法が提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Bi系
超電導体結晶は緻密に焼結しにくい性質のため、Bi系
超電導体を単に加熱焼成する方法では多孔質のままにな
り、Bi系超電導体結晶間に残る隙間によって良好な超
電導接合(超電導特性が途中で遮断されずに接続される
ようにした接合)が困難であり、良好な超電導接合を得
ようとして加熱温度を上昇させるとBi系超電導体結晶
が分解又は溶融したり、基材と反応するなどの問題点が
生じる。
超電導体結晶は緻密に焼結しにくい性質のため、Bi系
超電導体を単に加熱焼成する方法では多孔質のままにな
り、Bi系超電導体結晶間に残る隙間によって良好な超
電導接合(超電導特性が途中で遮断されずに接続される
ようにした接合)が困難であり、良好な超電導接合を得
ようとして加熱温度を上昇させるとBi系超電導体結晶
が分解又は溶融したり、基材と反応するなどの問題点が
生じる。
【0004】即ち、Bi系超電導体は、焼結しにくく、
また極めて狭い温度条件で結晶生成及び成長するもので
あり、接合部分に超電導体結晶粉を塗布し、これを加熱
して接合部分を緻密化させて超電導接合をしようとする
と、高温の処理温度が必要になるため、周囲のBi系超
電導体がその温度により相変化して超電導体でなくなっ
たり、Bi系超電導体以外の結晶を生成するなどにより
特性を低下させてしまうという問題点が生じる。
また極めて狭い温度条件で結晶生成及び成長するもので
あり、接合部分に超電導体結晶粉を塗布し、これを加熱
して接合部分を緻密化させて超電導接合をしようとする
と、高温の処理温度が必要になるため、周囲のBi系超
電導体がその温度により相変化して超電導体でなくなっ
たり、Bi系超電導体以外の結晶を生成するなどにより
特性を低下させてしまうという問題点が生じる。
【0005】例えば、良好な超電導特性が得られる方法
として知られている部分溶融法は、Bi系超電導体結晶
がある結晶と融液とに分解して緻密化し、次に冷却して
再度Bi系超電導体結晶にさせる方法であるが、これを
加熱接合の条件に単純に適用しようとすると、その部分
溶融で生じた融液で周囲のBi系超電導体も分解してし
まう。従って部分的な加熱焼成で接合部分だけは超電導
体化して良好な接合が得られても、周囲のBi系超電導
体部分は特性の低下又は非超電導体化するため結局良好
な接合にならない。特性の低下を避けるには、全体を焼
成するのと同じような精密な焼成技術が必要であるが、
全体を焼成するのでは接合する意義が無くなる。
として知られている部分溶融法は、Bi系超電導体結晶
がある結晶と融液とに分解して緻密化し、次に冷却して
再度Bi系超電導体結晶にさせる方法であるが、これを
加熱接合の条件に単純に適用しようとすると、その部分
溶融で生じた融液で周囲のBi系超電導体も分解してし
まう。従って部分的な加熱焼成で接合部分だけは超電導
体化して良好な接合が得られても、周囲のBi系超電導
体部分は特性の低下又は非超電導体化するため結局良好
な接合にならない。特性の低下を避けるには、全体を焼
成するのと同じような精密な焼成技術が必要であるが、
全体を焼成するのでは接合する意義が無くなる。
【0006】本発明は、上記のような問題点が生じない
よう、接合するBi系超電導体を分解及び/又は溶融す
る温度に加熱しないで、しかも望ましい板状のBi系超
電導体結晶が基材表面に並行に配向した状態になる良好
な超電導体接合が得られるBi系超電導接合体の製造法
を提供するものである。
よう、接合するBi系超電導体を分解及び/又は溶融す
る温度に加熱しないで、しかも望ましい板状のBi系超
電導体結晶が基材表面に並行に配向した状態になる良好
な超電導体接合が得られるBi系超電導接合体の製造法
を提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、基材上に
形成されたBi系超電導体同士を接合するため種々検討
した結果、Ba元素を一部置換した超電導前駆体は加熱
すると従来の2212相Bi系超電導体が分解する温度
より低い温度で溶融して緻密な組織が得られることを見
出した。さらに溶融する組成を詳細に検討した結果、ビ
スマス、ストロンチウム、カルシウム、バリウム、マグ
ネシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、C
a、Ba、Mg)ACuBOX(但し、A=2.6〜3.
4、B=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で示さ
れる組成の化合物aとビスマス、ストロンチウム、カル
シウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、C
a、)CCuDOX(但し、C=2.6〜3.4、D=1.
9〜2.5、数字は原子比を表す)で示される組成の化
合物bとからなる超電導前駆体が目的の超電導接合を得
るのに好適であることを見出し本発明を完成するに至っ
た。
形成されたBi系超電導体同士を接合するため種々検討
した結果、Ba元素を一部置換した超電導前駆体は加熱
すると従来の2212相Bi系超電導体が分解する温度
より低い温度で溶融して緻密な組織が得られることを見
出した。さらに溶融する組成を詳細に検討した結果、ビ
スマス、ストロンチウム、カルシウム、バリウム、マグ
ネシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、C
a、Ba、Mg)ACuBOX(但し、A=2.6〜3.
4、B=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で示さ
れる組成の化合物aとビスマス、ストロンチウム、カル
シウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、C
a、)CCuDOX(但し、C=2.6〜3.4、D=1.
9〜2.5、数字は原子比を表す)で示される組成の化
合物bとからなる超電導前駆体が目的の超電導接合を得
るのに好適であることを見出し本発明を完成するに至っ
た。
【0008】本発明は基材上に形成されたBi系超電導
体同士を接合する方法において、接合するBi系超電導
体間にビスマス、ストロンチウム、カルシウム、バリウ
ム、マグネシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(S
r、Ca、Ba、Mg)ACuBOX(但し、A=2.6〜
3.4、B=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で
示される組成の化合物aとビスマス、ストロンチウム、
カルシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、C
a)CCuDOX(但し、C=2.6〜3.4、D=1.9
〜2.5、数字は原子比を表す)で示される組成の化合
物bとからなる超電導前駆体を介在させ、基材上に形成
されたBi系超電導体結晶が分解及び/又は溶融せず、
かつ超電導前駆体の一部が溶融し、その後超電導前駆体
全体が結晶化する温度で加熱してBi系超電導体同士を
接合するBi系超電導接合体の製造法並びに貴金属板上
に上記の組成からなる超電導前駆体の膜を形成して複合
材料を得、ついで該複合材料の超電導前駆体の膜の部分
を下側にして接合するBi系超電導体間の上部に載置し
た後、基材上に形成されたBi系超電導体結晶が分解及
び/又は溶融せず、かつ載置した超電導前駆体の一部が
溶融し、その後超電導前駆体全体が結晶化する温度で加
熱してBi系超電導体同士を接合するBi系超電導接合
体の製造法に関する。
体同士を接合する方法において、接合するBi系超電導
体間にビスマス、ストロンチウム、カルシウム、バリウ
ム、マグネシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(S
r、Ca、Ba、Mg)ACuBOX(但し、A=2.6〜
3.4、B=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で
示される組成の化合物aとビスマス、ストロンチウム、
カルシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、C
a)CCuDOX(但し、C=2.6〜3.4、D=1.9
〜2.5、数字は原子比を表す)で示される組成の化合
物bとからなる超電導前駆体を介在させ、基材上に形成
されたBi系超電導体結晶が分解及び/又は溶融せず、
かつ超電導前駆体の一部が溶融し、その後超電導前駆体
全体が結晶化する温度で加熱してBi系超電導体同士を
接合するBi系超電導接合体の製造法並びに貴金属板上
に上記の組成からなる超電導前駆体の膜を形成して複合
材料を得、ついで該複合材料の超電導前駆体の膜の部分
を下側にして接合するBi系超電導体間の上部に載置し
た後、基材上に形成されたBi系超電導体結晶が分解及
び/又は溶融せず、かつ載置した超電導前駆体の一部が
溶融し、その後超電導前駆体全体が結晶化する温度で加
熱してBi系超電導体同士を接合するBi系超電導接合
体の製造法に関する。
【0009】本発明において、基材の種類、組成につい
ては特に制限はないが、Bi系超電導体の加熱温度に耐
えられ、かつ機械的強度を有する材料、例えばインコネ
ル、ステンレス、ハステロイ等の金属基材、セラミック
ス等を用いることが好ましく、このうち加工の容易さ、
熱膨張率等の点からインコネルを用いることが好まし
い。なお加熱工程でBi系超電導体が基材と望ましくな
い反応を起こすおそれがある場合は、基材の表面に銀、
金等の貴金属の膜や酸化マグネシウムの膜を形成して用
いられる。貴金属の膜を形成する場合、金属基材の表面
に下地金属として銅又は銅合金の膜を形成しておけば貴
金属の膜が剥離するのを防止できるので好ましい。
ては特に制限はないが、Bi系超電導体の加熱温度に耐
えられ、かつ機械的強度を有する材料、例えばインコネ
ル、ステンレス、ハステロイ等の金属基材、セラミック
ス等を用いることが好ましく、このうち加工の容易さ、
熱膨張率等の点からインコネルを用いることが好まし
い。なお加熱工程でBi系超電導体が基材と望ましくな
い反応を起こすおそれがある場合は、基材の表面に銀、
金等の貴金属の膜や酸化マグネシウムの膜を形成して用
いられる。貴金属の膜を形成する場合、金属基材の表面
に下地金属として銅又は銅合金の膜を形成しておけば貴
金属の膜が剥離するのを防止できるので好ましい。
【0010】超電導体前駆体は、ビスマス、ストロンチ
ウム、カルシウム、バリウム、マグネシウム及び銅を主
成分とし、一般式Bi2(Sr、Ca、Ba、Mg)ACu
BOX(但し、A=2.6〜3.4、B=1.9〜2.
5、数字は原子比を表す)で示される組成の化合物aと
ビスマス、ストロンチウム、カルシウム及び銅を主成分
とし、一般式Bi2(Sr、Ca)CCuDOX(但し、C=
2.6〜3.4、D=1.9〜2.5、数字は原子比を
表す)で示される組成の化合物bとからなり、A及びC
は原子比で2.6〜3.4の範囲とされ、2.6未満で
あると超電導体含有率が低下し、かつ77K以上で安定
して電気抵抗率を零にすることが困難であり、3.4を
越えると超電導体以外の結晶、ガラス等の異相が生成し
やすい。またB及びDは原子比で1.9〜2.5の範囲
とされ、1.9未満及び2.5を越えると超電導体以外
の結晶が生成しやすくなる。またA中のBaとMgとの
合計量は3〜30%が好ましく、8〜15%であればよ
り好ましい。BaとMgとの比率についてはBaが20
〜90%でMgが10〜80%が好ましく、Baが40
〜70%でMgが30〜60%であればより好ましい。
化合物aと化合物bとの配合割合は化合物aが20〜9
5重量%で化合物bが5〜80重量%が好ましく、化合
物aが40〜80重量%で化合物bが20〜60重量%
であればより好ましい。
ウム、カルシウム、バリウム、マグネシウム及び銅を主
成分とし、一般式Bi2(Sr、Ca、Ba、Mg)ACu
BOX(但し、A=2.6〜3.4、B=1.9〜2.
5、数字は原子比を表す)で示される組成の化合物aと
ビスマス、ストロンチウム、カルシウム及び銅を主成分
とし、一般式Bi2(Sr、Ca)CCuDOX(但し、C=
2.6〜3.4、D=1.9〜2.5、数字は原子比を
表す)で示される組成の化合物bとからなり、A及びC
は原子比で2.6〜3.4の範囲とされ、2.6未満で
あると超電導体含有率が低下し、かつ77K以上で安定
して電気抵抗率を零にすることが困難であり、3.4を
越えると超電導体以外の結晶、ガラス等の異相が生成し
やすい。またB及びDは原子比で1.9〜2.5の範囲
とされ、1.9未満及び2.5を越えると超電導体以外
の結晶が生成しやすくなる。またA中のBaとMgとの
合計量は3〜30%が好ましく、8〜15%であればよ
り好ましい。BaとMgとの比率についてはBaが20
〜90%でMgが10〜80%が好ましく、Baが40
〜70%でMgが30〜60%であればより好ましい。
化合物aと化合物bとの配合割合は化合物aが20〜9
5重量%で化合物bが5〜80重量%が好ましく、化合
物aが40〜80重量%で化合物bが20〜60重量%
であればより好ましい。
【0011】本発明の組成においてO(酸素)の量はC
uの量及びCuの酸化状態によって変化し、これを精度
よく測定することが難しく、本発明においてはXで表す
ことにした。
uの量及びCuの酸化状態によって変化し、これを精度
よく測定することが難しく、本発明においてはXで表す
ことにした。
【0012】超電導前駆体及び接合するBi系超電導体
に用いられるビスマス、ストロンチウム、カルシウム、
バリウム、マグネシウム、銅等の原料については特に制
限はないが、例えば炭酸塩、酸化物、シュウ酸塩、硝酸
塩、金属アルコキシド等の一種以上が用いられる。
に用いられるビスマス、ストロンチウム、カルシウム、
バリウム、マグネシウム、銅等の原料については特に制
限はないが、例えば炭酸塩、酸化物、シュウ酸塩、硝酸
塩、金属アルコキシド等の一種以上が用いられる。
【0013】接合するBi系超電導体は、各原料を混合
した後、溶融などの方法で粉体の粒子単位まで均一な組
成にすれば、Bi系超電導体の結晶含有率が高く、加熱
工程で異相の生成などの異常な挙動が低減できるため好
ましい。また、銀を添加すれば結晶の生成を促進するな
どの効果があり好ましい。
した後、溶融などの方法で粉体の粒子単位まで均一な組
成にすれば、Bi系超電導体の結晶含有率が高く、加熱
工程で異相の生成などの異常な挙動が低減できるため好
ましい。また、銀を添加すれば結晶の生成を促進するな
どの効果があり好ましい。
【0014】超電導前駆体をBi系超電導体間に介在さ
せる方法については特に制限はなく、例えば超電導前駆
体の粉末をスプレーで吹き付けたり、スラリー状又はペ
ースト化した液状の超電導前駆体を塗布したり、シート
状に成形した超電導前駆体を張り合わせたりする等の方
法で介在させることができる。超電導体同士は重ねても
よく、また横に並べて超電導前駆体を超電導体間に介在
させてもよい。
せる方法については特に制限はなく、例えば超電導前駆
体の粉末をスプレーで吹き付けたり、スラリー状又はペ
ースト化した液状の超電導前駆体を塗布したり、シート
状に成形した超電導前駆体を張り合わせたりする等の方
法で介在させることができる。超電導体同士は重ねても
よく、また横に並べて超電導前駆体を超電導体間に介在
させてもよい。
【0015】Bi系超電導体同士を接合する方法は上記
の外に、貴金属板上にビスマス、ストロンチウム、カル
シウム、バリウム、マグネシウム及び銅を主成分とし、
一般式Bi2(Sr、Ca、Ba、Mg)ACuBOX(但
し、A=2.6〜3.4、B=1.9〜2.5、数字は
原子比を表す)で示される組成の化合物aとビスマス、
ストロンチウム、カルシウム及び銅を主成分とし、一般
式Bi2(Sr、Ca)CCuDOX(但し、C=2.6〜
3.4、D=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で
示される組成の化合物bとからなる超電導前駆体の膜を
形成して複合材料を得、ついで該複合材料の超電導前駆
体の膜の部分を下側にして接合するBi系超電導体間の
上部に載置した後、基材上に形成されたBi系超電導体
結晶が分解及び/又は溶融せず、かつ載置した超電導前
駆体の一部が溶融し、その後超電導前駆体全体が結晶化
する温度で加熱してBi系超電導体同士を接合してもよ
い。
の外に、貴金属板上にビスマス、ストロンチウム、カル
シウム、バリウム、マグネシウム及び銅を主成分とし、
一般式Bi2(Sr、Ca、Ba、Mg)ACuBOX(但
し、A=2.6〜3.4、B=1.9〜2.5、数字は
原子比を表す)で示される組成の化合物aとビスマス、
ストロンチウム、カルシウム及び銅を主成分とし、一般
式Bi2(Sr、Ca)CCuDOX(但し、C=2.6〜
3.4、D=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で
示される組成の化合物bとからなる超電導前駆体の膜を
形成して複合材料を得、ついで該複合材料の超電導前駆
体の膜の部分を下側にして接合するBi系超電導体間の
上部に載置した後、基材上に形成されたBi系超電導体
結晶が分解及び/又は溶融せず、かつ載置した超電導前
駆体の一部が溶融し、その後超電導前駆体全体が結晶化
する温度で加熱してBi系超電導体同士を接合してもよ
い。
【0016】超電導前駆体の膜を形成する貴金属板とし
ては、銀又は銀を主成分とする合金板を用いることが好
ましい。超電導前駆体の膜の形成方法については上記と
同様に超電導前駆体の粉末をスプレーで吹き付けたり、
スラリー状又はペースト化した液状の超電導前駆体を塗
布したり、シート状に成形した超電導前駆体を張り合わ
せたりする等の方法で介在させることができる。
ては、銀又は銀を主成分とする合金板を用いることが好
ましい。超電導前駆体の膜の形成方法については上記と
同様に超電導前駆体の粉末をスプレーで吹き付けたり、
スラリー状又はペースト化した液状の超電導前駆体を塗
布したり、シート状に成形した超電導前駆体を張り合わ
せたりする等の方法で介在させることができる。
【0017】Bi系超電導体同士を接合するための加熱
条件は、基材上に形成されたBi系超電導体結晶が分解
及び/又は溶融せず、かつ介在する超電導前駆体の一部
が溶融し、その後超電導前駆体全体が結晶化する温度で
加熱することが必要とされ、これ以外の条件では超電導
接合が困難であったり、超電導特性が低下するなどの問
題点が生じる。
条件は、基材上に形成されたBi系超電導体結晶が分解
及び/又は溶融せず、かつ介在する超電導前駆体の一部
が溶融し、その後超電導前駆体全体が結晶化する温度で
加熱することが必要とされ、これ以外の条件では超電導
接合が困難であったり、超電導特性が低下するなどの問
題点が生じる。
【0018】なお、加熱に最適な温度は、超電導前駆体
の組成、結晶粒径、周囲の酸素分圧、昇温速度等の条件
により変化するため適宜選定する。焼成雰囲気は大気中
又は酸素分圧を制御した雰囲気中で行うことが好まし
い。
の組成、結晶粒径、周囲の酸素分圧、昇温速度等の条件
により変化するため適宜選定する。焼成雰囲気は大気中
又は酸素分圧を制御した雰囲気中で行うことが好まし
い。
【0019】
【実施例】ビスマス、ストロンチウム、カルシウム、バ
リウム、マグネシウム及び銅の比率が原子比で表1に示
す組成になるように三酸化ビスマス(高純度化学研究所
製、純度99.9重量%)、炭酸ストロンチウム、(レ
アメタリック製、純度99.9重量%)、炭酸カルシウ
ム(高純度化学研究所製、純度99.9重量%)、炭酸
バリウム(高純度化学研究所製、純度99.9重量
%)、炭酸マグネシウム(高純度化学研究所製、純度9
9.9重量%)及び酸化第二銅(高純度化学研究所製、
純度99.9重量%)を秤量し原料aとした。
リウム、マグネシウム及び銅の比率が原子比で表1に示
す組成になるように三酸化ビスマス(高純度化学研究所
製、純度99.9重量%)、炭酸ストロンチウム、(レ
アメタリック製、純度99.9重量%)、炭酸カルシウ
ム(高純度化学研究所製、純度99.9重量%)、炭酸
バリウム(高純度化学研究所製、純度99.9重量
%)、炭酸マグネシウム(高純度化学研究所製、純度9
9.9重量%)及び酸化第二銅(高純度化学研究所製、
純度99.9重量%)を秤量し原料aとした。
【0020】次に上記の原料aを合成樹脂製ボールミル
内に合成樹脂で被覆した銅球ボール及びメタノール30
00ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿
式混合した。乾燥後アルミナ焼成板上に置き電気炉を用
いて大気中800℃で10時間仮焼し、次いで乳鉢で粗
粉砕した後、合成樹脂製ボールミル内にジルコニア製ボ
ール及び酢酸エチル3000ccと共に充填し、毎分50
回転の条件で24時間湿式粉砕後、乾燥し化合物aを得
た。なおBaとMgとの合計量は、A中の実施例1は
6.8%、実施例2は7.9%、実施例3は10.7
%、実施例4は8.2%及び実施例5は6.1%であっ
た。
内に合成樹脂で被覆した銅球ボール及びメタノール30
00ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿
式混合した。乾燥後アルミナ焼成板上に置き電気炉を用
いて大気中800℃で10時間仮焼し、次いで乳鉢で粗
粉砕した後、合成樹脂製ボールミル内にジルコニア製ボ
ール及び酢酸エチル3000ccと共に充填し、毎分50
回転の条件で24時間湿式粉砕後、乾燥し化合物aを得
た。なおBaとMgとの合計量は、A中の実施例1は
6.8%、実施例2は7.9%、実施例3は10.7
%、実施例4は8.2%及び実施例5は6.1%であっ
た。
【0021】一方ビスマス、ストロンチウム、カルシウ
ム及び銅の比率が原子比で表1に示す組成にるように三
酸化ビスマス(高純度化学研究所製、純度99.9重量
%)、炭酸ストロンチウム(レアメタリック製、純度9
9.9重量%)、炭酸カルシウム(高純度化学研究所
製、純度99.9重量%)及び酸化第二銅(高純度化学
研究所製、純度99.9重量%)を秤量し原料bとし
た。
ム及び銅の比率が原子比で表1に示す組成にるように三
酸化ビスマス(高純度化学研究所製、純度99.9重量
%)、炭酸ストロンチウム(レアメタリック製、純度9
9.9重量%)、炭酸カルシウム(高純度化学研究所
製、純度99.9重量%)及び酸化第二銅(高純度化学
研究所製、純度99.9重量%)を秤量し原料bとし
た。
【0022】次に上記の原料Aを合成樹脂製ボールミル
内に合成樹脂で被覆した鋼球ボール及びメタノール30
00ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿
式混合した。乾燥後アルミナ焼成板上に置き電気炉を用
いて大気中800℃で10時間仮焼し、ついで乳鉢で粗
粉砕した後、合成樹脂製ボールミル内にジルコニア製ボ
ール及び酢酸エチル3000ccと共に充填し、毎分50
回転の条件で24時間湿式粉砕後、乾燥し化合物bを得
た。
内に合成樹脂で被覆した鋼球ボール及びメタノール30
00ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿
式混合した。乾燥後アルミナ焼成板上に置き電気炉を用
いて大気中800℃で10時間仮焼し、ついで乳鉢で粗
粉砕した後、合成樹脂製ボールミル内にジルコニア製ボ
ール及び酢酸エチル3000ccと共に充填し、毎分50
回転の条件で24時間湿式粉砕後、乾燥し化合物bを得
た。
【0023】この後化合物bを直径30mm及び厚さ1mm
の円板状に成形したのち、表面に銀の膜を形成した直径
40mm及び厚さ0.1mmのインコネル板の片側の面に前
記円板状成形体を載置し、体積比でO2:N2=1:10
の低酸素雰囲気中で880℃で20時間焼成し、室温ま
で冷却してインコネル板上にBi系超電導体Aを形成し
た超電導複合体を得た。
の円板状に成形したのち、表面に銀の膜を形成した直径
40mm及び厚さ0.1mmのインコネル板の片側の面に前
記円板状成形体を載置し、体積比でO2:N2=1:10
の低酸素雰囲気中で880℃で20時間焼成し、室温ま
で冷却してインコネル板上にBi系超電導体Aを形成し
た超電導複合体を得た。
【0024】ついで上記で得た化合物a及び化合物bを
表2に示す割合で秤量した後、合成樹脂製ボールミル内
に合成樹脂で被覆した鋼球ボール及びメタノール300
0ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿式
混合した。乾燥後、直径30mm及び厚さ0.5mmの円板
状に成形し、さらにこのものを図1に示すように上記で
得た2枚のBi系酸化物超電導体A1間に介在し、体積
比でO2:N2=1:10の低酸素雰囲気中で850℃で
10時間焼成し、室温まで冷却してBi系超電導接合体
を得た。なお図1において2は化合物aと化合物bとか
らなる円板状成形体(超電導前駆体)及び3はインコネ
ル板である。
表2に示す割合で秤量した後、合成樹脂製ボールミル内
に合成樹脂で被覆した鋼球ボール及びメタノール300
0ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿式
混合した。乾燥後、直径30mm及び厚さ0.5mmの円板
状に成形し、さらにこのものを図1に示すように上記で
得た2枚のBi系酸化物超電導体A1間に介在し、体積
比でO2:N2=1:10の低酸素雰囲気中で850℃で
10時間焼成し、室温まで冷却してBi系超電導接合体
を得た。なお図1において2は化合物aと化合物bとか
らなる円板状成形体(超電導前駆体)及び3はインコネ
ル板である。
【0025】比較例1〜5 ビスマス、ストロンチウム、カルシウム及び銅の比率が
原子比で表3に示すように三酸化ビスマス(高純度化学
研究所製、純度99.9重量%)、炭酸ストロンチウム
(レアメタリック製、純度99.9純度%)、炭酸カル
シウム(高純度化学研究所製、純度99.9重量%)及
び酸化第二銅(高純度化学研究所製、純度99.9重量
%)を秤量し原料cとした。
原子比で表3に示すように三酸化ビスマス(高純度化学
研究所製、純度99.9重量%)、炭酸ストロンチウム
(レアメタリック製、純度99.9純度%)、炭酸カル
シウム(高純度化学研究所製、純度99.9重量%)及
び酸化第二銅(高純度化学研究所製、純度99.9重量
%)を秤量し原料cとした。
【0026】次に上記の原料cを合成樹脂製ボールミル
内に合成樹脂で被覆した鋼球ボール及びメタノール30
00ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿
式混合した。乾燥後アルミナ焼成板上に置き電気炉を用
いて大気中800℃で10時間仮焼し、ついで乳鉢に粗
粉砕した後、合成樹脂製ボールミル内にジルコニア製ボ
ール及び酢酸エチル3000ccと共に充填し、毎分50
回転の条件で24時間湿式粉砕後、乾燥し化合物cを得
た。
内に合成樹脂で被覆した鋼球ボール及びメタノール30
00ccと共に充填し、毎分50回転の条件で72時間湿
式混合した。乾燥後アルミナ焼成板上に置き電気炉を用
いて大気中800℃で10時間仮焼し、ついで乳鉢に粗
粉砕した後、合成樹脂製ボールミル内にジルコニア製ボ
ール及び酢酸エチル3000ccと共に充填し、毎分50
回転の条件で24時間湿式粉砕後、乾燥し化合物cを得
た。
【0027】この後化合物cを直径30mm及び厚さ1mm
の円板状に成形したのち、体積比でO2:N2=1:10
の低酸素雰囲気中で880℃で20時間焼成し、室温ま
で冷却してBi系超電導体Bを得た。ついでBi系超電
導体Bを3枚重ね合わせ、このものを体積比でO2:N2
=1:10の低酸素雰囲気中で850℃で10時間焼成
し、室温まで冷却してBi系超電導接合体を得た。
の円板状に成形したのち、体積比でO2:N2=1:10
の低酸素雰囲気中で880℃で20時間焼成し、室温ま
で冷却してBi系超電導体Bを得た。ついでBi系超電
導体Bを3枚重ね合わせ、このものを体積比でO2:N2
=1:10の低酸素雰囲気中で850℃で10時間焼成
し、室温まで冷却してBi系超電導接合体を得た。
【0028】次に実施例1〜5及び比較例1〜5で得た
Bi系超電導接合体を四端子法で抵抗の温度変化を測定
し、臨界温度(以下Tcとする)を求めると共に接合状
態を観察した。その結果を表2及び表3に示す。なお表
2において〇印は良好な接合を示し、表3において×印
は超電導特性が途中で遮断されたりして良好な接合が得
られなかったものを示す。
Bi系超電導接合体を四端子法で抵抗の温度変化を測定
し、臨界温度(以下Tcとする)を求めると共に接合状
態を観察した。その結果を表2及び表3に示す。なお表
2において〇印は良好な接合を示し、表3において×印
は超電導特性が途中で遮断されたりして良好な接合が得
られなかったものを示す。
【0029】
【表1】
【0030】
【表2】
【0031】
【表3】
【0032】表2から本発明の実施例になるBi系超電
導接合体は86K以上のTcを有し、接合状態が良好で
あることが示される。これに対し比較例のBi系超電導
接合体は表3に示されるようにTcは61K以下と低
く、接合状態が悪いことが示される。
導接合体は86K以上のTcを有し、接合状態が良好で
あることが示される。これに対し比較例のBi系超電導
接合体は表3に示されるようにTcは61K以下と低
く、接合状態が悪いことが示される。
【0033】
【発明の効果】本発明の製造法によって得られるBi系
超電導接合体は、接合するBi系超電導体の超電導特性
を低下させることもなく、良好な超電導接合が得られ
る。
超電導接合体は、接合するBi系超電導体の超電導特性
を低下させることもなく、良好な超電導接合が得られ
る。
【図1】本発明の実施例になるBi系超電導接合体の製
造作業状態を示す正面図である。
造作業状態を示す正面図である。
1 Bi系超電導体A 2 化合物aと化合物bとからなる円板状成形体 3 インコネル板
Claims (5)
- 【請求項1】 基材上に形成されたBi系超電導体同士
を接合する方法において、接合するBi系超電導体間に
ビスマス、ストロンチウム、カルシウム、バリウム、マ
グネシウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、C
a、Ba、Mg)ACuBOX(但し、A=2.6〜3.
4、B=1.9〜2.5、数字は原子比を表す)で示さ
れる組成の化合物aとビスマス、ストロンチウム、カル
シウム及び銅を主成分とし、一般式Bi2(Sr、Ca)C
CuDOX(但し、C=2.6〜3.4、D=1.9〜
2.5、数字は原子比を表す)で示される組成の化合物
bとからなる超電導前駆体を介在させ、基材上に形成さ
れたBi系超電導体結晶が分解及び/又は溶融せず、か
つ超電導前駆体の一部が溶融し、その後超電導前駆体全
体が結晶化する温度で加熱してBi系超電導体同士を接
合することを特徴とするBi系超電導接合体の製造法。 - 【請求項2】 接合するBi系超電導体間に介在する超
電導前駆体が液状の超電導前駆体を塗布したもの又はシ
ート状の超電導前駆体を接合したものである請求項1記
載のBi系超電導接合体の製造法。 - 【請求項3】 基材上に形成されたBi系超電導体同士
を接合する方法において、貴金属板上に請求項1記載の
組成からなる超電導前駆体の膜を形成して複合材料を
得、ついで該複合材料の超電導前駆体の膜の部分を下側
にして接合するBi系超電導体間の上部に載置した後、
基材上に形成されたBi系超電導体結晶が分解及び/又
は溶融せず、かつ載置した超電導前駆体の一部が溶融
し、その後超電導前駆体全体が結晶化する温度で加熱し
てBi系超電導体同士を接合することを特徴とするBi
系超電導接合体の製造法。 - 【請求項4】 貴金属板上に形成する請求項1記載の組
成からなる超電導前駆体がペースト状の超電導前駆体を
塗布したもの又はシート状の超電導前駆体を接合したも
のである請求項3記載のBi系超電導接合体の製造法。 - 【請求項5】 貴金属板が銀又は銀を主成分とする合金
板である請求項3又は4記載のBi系超電導接合体の製
造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7038176A JPH08231279A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | Bi系超電導接合体の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7038176A JPH08231279A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | Bi系超電導接合体の製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08231279A true JPH08231279A (ja) | 1996-09-10 |
Family
ID=12518089
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7038176A Pending JPH08231279A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | Bi系超電導接合体の製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08231279A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012015061A1 (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-02 | イビデン株式会社 | 結晶配向セラミックス及びその製造方法 |
-
1995
- 1995-02-27 JP JP7038176A patent/JPH08231279A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012015061A1 (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-02 | イビデン株式会社 | 結晶配向セラミックス及びその製造方法 |
| JP5922576B2 (ja) * | 2010-07-30 | 2016-05-24 | イビデン株式会社 | 結晶配向セラミックス及びその製造方法 |
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