JPH08310129A - 光記録媒体 - Google Patents
光記録媒体Info
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- JPH08310129A JPH08310129A JP7142509A JP14250995A JPH08310129A JP H08310129 A JPH08310129 A JP H08310129A JP 7142509 A JP7142509 A JP 7142509A JP 14250995 A JP14250995 A JP 14250995A JP H08310129 A JPH08310129 A JP H08310129A
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Landscapes
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 インドレニン系ペンタメチンシアニン色素I
と、好ましくは下記化17で示される金属錯体化合物II
とを、I/IIが重量比で1/9〜9/1となるような割
合で記録層に用いた光記録媒体とする。 【化17】 【効果】 記録層の塗膜形成が容易になる。再生劣化、
光劣化が防止される。反射率が高く、変調度が大きい。
と、好ましくは下記化17で示される金属錯体化合物II
とを、I/IIが重量比で1/9〜9/1となるような割
合で記録層に用いた光記録媒体とする。 【化17】 【効果】 記録層の塗膜形成が容易になる。再生劣化、
光劣化が防止される。反射率が高く、変調度が大きい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、色素膜の記録層を有す
る光記録ディスク等の光記録媒体に関する。
る光記録ディスク等の光記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、大容量情報担持媒体として、追記
型や書き換え可能型などの各種光記録ディスクが注目さ
れている。このような光記録ディスクのなかに、色素を
主成分とする色素膜を記録層として用いるものがある。
また、構造的には従来、汎用されている色素膜からなる
記録層上に空気層を設けたいわゆるエアーサンドイッチ
構造のものや、コンパクトディスク(CD)規格に対応
した再生が可能なものとして色素膜からなる記録層に反
射層を密着して設けた構造のものが提案されている(日
経エレクトロニクス1989年1月23日号,No.4
65,P107、社団法人近畿化学協会機能性色素部
会,1989年3月3日,大阪科学技術センター、PROC
EEDINGS SPIE-THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL
ENGINEERINGVOL.1078 PP80-87,"OPTICAL DATA STORAGE
TOPICAL MEETING"17-19,JANUARY 1989 LOS ANGELES
等)。
型や書き換え可能型などの各種光記録ディスクが注目さ
れている。このような光記録ディスクのなかに、色素を
主成分とする色素膜を記録層として用いるものがある。
また、構造的には従来、汎用されている色素膜からなる
記録層上に空気層を設けたいわゆるエアーサンドイッチ
構造のものや、コンパクトディスク(CD)規格に対応
した再生が可能なものとして色素膜からなる記録層に反
射層を密着して設けた構造のものが提案されている(日
経エレクトロニクス1989年1月23日号,No.4
65,P107、社団法人近畿化学協会機能性色素部
会,1989年3月3日,大阪科学技術センター、PROC
EEDINGS SPIE-THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL
ENGINEERINGVOL.1078 PP80-87,"OPTICAL DATA STORAGE
TOPICAL MEETING"17-19,JANUARY 1989 LOS ANGELES
等)。
【0003】このような記録層に用いる色素としては、
耐熱性、耐水性等の点から、インドレニン系シアニン色
素が好ましく用いられている(特開昭59−24692
号等)。
耐熱性、耐水性等の点から、インドレニン系シアニン色
素が好ましく用いられている(特開昭59−24692
号等)。
【0004】しかし、このようなインドレニン系シアニ
ン色素は、再生光の繰り返し照射による再生劣化や明室
保存下での光劣化が生じやすい欠点を有する。このた
め、色素と金属錯体クエンチャーを混合して用いること
が提案され、実用化されている(特開昭59−5979
5号等)。このような金属錯体のうち、特にビス(フェ
ニレンジチオール)系のNi錯体等は、シアニン色素の
再生劣化や光劣化防止の点できわめてすぐれた効果を発
揮する。
ン色素は、再生光の繰り返し照射による再生劣化や明室
保存下での光劣化が生じやすい欠点を有する。このた
め、色素と金属錯体クエンチャーを混合して用いること
が提案され、実用化されている(特開昭59−5979
5号等)。このような金属錯体のうち、特にビス(フェ
ニレンジチオール)系のNi錯体等は、シアニン色素の
再生劣化や光劣化防止の点できわめてすぐれた効果を発
揮する。
【0005】しかし、これらの金属錯体は塗布溶媒に対
する溶解性がよくない。また、吸収波長が700〜10
00nmであり、色素の吸収に影響を与え、結果として反
射率が低下し、再生出力が低い。
する溶解性がよくない。また、吸収波長が700〜10
00nmであり、色素の吸収に影響を与え、結果として反
射率が低下し、再生出力が低い。
【0006】一方、特開平7−33746号公報には、
シアニン色素にかわる色素として耐光性に優れた金属錯
体化合物である特定構造のシアン色素が開示されてい
る。しかし、このようなシアン色素は、光記録媒体に用
いるときに要求される光学特性が十分でなく、特に変調
度が不十分である。すなわち、記録再生波長においてk
が大きい場合が多く、反射率が低くなりやすい。
シアニン色素にかわる色素として耐光性に優れた金属錯
体化合物である特定構造のシアン色素が開示されてい
る。しかし、このようなシアン色素は、光記録媒体に用
いるときに要求される光学特性が十分でなく、特に変調
度が不十分である。すなわち、記録再生波長においてk
が大きい場合が多く、反射率が低くなりやすい。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、溶解
性に優れた塗布液を用いて記録層の成膜が容易であり、
記録層の反射率の低下がなく、しかも再生劣化や光劣化
が少なく、かつ変調度の大きい光記録媒体を提供するこ
とである。
性に優れた塗布液を用いて記録層の成膜が容易であり、
記録層の反射率の低下がなく、しかも再生劣化や光劣化
が少なく、かつ変調度の大きい光記録媒体を提供するこ
とである。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
(1)〜(4)の本発明により達成される。 (1)インドレニン系ペンタメチンシアニン色素と下記
化1で示される金属錯体化合物とを含有し、インドレニ
ン系ペンタメチンシアニン色素/金属錯体化合物が重量
比で1/9〜9/1である記録層を有する光記録媒体。
(1)〜(4)の本発明により達成される。 (1)インドレニン系ペンタメチンシアニン色素と下記
化1で示される金属錯体化合物とを含有し、インドレニ
ン系ペンタメチンシアニン色素/金属錯体化合物が重量
比で1/9〜9/1である記録層を有する光記録媒体。
【0009】
【化3】
【0010】[化3において、R1 はアルキル基または
ハロゲン原子を表し、t1は0または1〜3の整数であ
る。R2 はアルキル基を表し、t2は0または1〜4の
整数である。R3 は水酸基、フッ素原子、アルキル基、
アルコキシ基、アシルアミノ基、アルキルスルホンアミ
ド基、アリールスルホンアミド基またはアミノ基を表
し、これらはMに配位可能となっていてもよく、t3は
0または1〜5の整数である。R4 およびR5 は、同一
でも異なるものであってもよく、それぞれアルキル基を
表す。MはNi、Cu、Co、Zn、Fe、Pdおよび
Ptから選ばれる金属原子またはこれらの塩を表す。M
に対しては、イミダゾール環のN(ベンゼン環の結合位
置の隣接位のN)、およびピラゾール環のN(イミダゾ
ール環の結合するNの隣接位のN)、さらには配位可能
であるときのR3 で配位結合が形成される。] (2)前記金属錯体化合物が下記化4で示される上記
(1)の光記録媒体。
ハロゲン原子を表し、t1は0または1〜3の整数であ
る。R2 はアルキル基を表し、t2は0または1〜4の
整数である。R3 は水酸基、フッ素原子、アルキル基、
アルコキシ基、アシルアミノ基、アルキルスルホンアミ
ド基、アリールスルホンアミド基またはアミノ基を表
し、これらはMに配位可能となっていてもよく、t3は
0または1〜5の整数である。R4 およびR5 は、同一
でも異なるものであってもよく、それぞれアルキル基を
表す。MはNi、Cu、Co、Zn、Fe、Pdおよび
Ptから選ばれる金属原子またはこれらの塩を表す。M
に対しては、イミダゾール環のN(ベンゼン環の結合位
置の隣接位のN)、およびピラゾール環のN(イミダゾ
ール環の結合するNの隣接位のN)、さらには配位可能
であるときのR3 で配位結合が形成される。] (2)前記金属錯体化合物が下記化4で示される上記
(1)の光記録媒体。
【0011】
【化4】
【0012】[化4において、R1 はアルキル基または
ハロゲン原子を表し、t1は0または1〜3の整数であ
る。R2 はアルキル基を表し、t2は0または1〜4の
整数である。YはO- 、N- SO2 RまたはN- COR
(ここで、Rはアルキル基またはアリール基を表す。)
を表す。R31はアシルアミノ基、アリールスルホンアミ
ド基またはアミノ基を表し、t31は0または1〜4の
整数である。R4 およびR5 は、同一でも異なるもので
あってもよく、それぞれアルキル基を表す。MはNi、
Cu、Co、Zn、Fe、PdおよびPtから選ばれる
金属原子またはこれらの塩を表す。Mに対しては、Y、
イミダゾール環のN(ベンゼン環の結合位置の隣接位の
N)、およびピラゾール環のN(イミダゾール環の結合
するNの隣接位のN)で配位結合が形成される。] (3)前記インドレニン系ペンタメチンシアニン系色素
が下記式(I)で示される上記(1)または(2)の光
記録媒体。 式(I) Φ−L=Ψ・(X)m [式(I)において、ΦおよびΨはそれぞれインドレニ
ン系の複素環を表し、これらの環骨格は同一でも異なる
ものであってもよい。Lはペンタメチン鎖を表す。Xは
対イオンを表し、mは電荷の均衡を保つための数であ
る。] (4)前記インドレニン系シアニン色素の記録および再
生波長における屈折率(複素屈折率の実部)nが2.2
〜2.8、消衰係数(複素屈折率の虚部)kが0〜0.
15であり、前記金属錯体化合物の記録および再生波長
におけるnが1.8〜2.5、kが0.01〜0.25
である上記(1)〜(3)のいずれかの光記録媒体。 (5)前記金属錯体化合物のメタノール中における吸収
極大λmax が550〜700nmで、モル吸光係数εが5
0,000〜300,000である上記(1)〜(4)
のいずれかの光記録媒体。
ハロゲン原子を表し、t1は0または1〜3の整数であ
る。R2 はアルキル基を表し、t2は0または1〜4の
整数である。YはO- 、N- SO2 RまたはN- COR
(ここで、Rはアルキル基またはアリール基を表す。)
を表す。R31はアシルアミノ基、アリールスルホンアミ
ド基またはアミノ基を表し、t31は0または1〜4の
整数である。R4 およびR5 は、同一でも異なるもので
あってもよく、それぞれアルキル基を表す。MはNi、
Cu、Co、Zn、Fe、PdおよびPtから選ばれる
金属原子またはこれらの塩を表す。Mに対しては、Y、
イミダゾール環のN(ベンゼン環の結合位置の隣接位の
N)、およびピラゾール環のN(イミダゾール環の結合
するNの隣接位のN)で配位結合が形成される。] (3)前記インドレニン系ペンタメチンシアニン系色素
が下記式(I)で示される上記(1)または(2)の光
記録媒体。 式(I) Φ−L=Ψ・(X)m [式(I)において、ΦおよびΨはそれぞれインドレニ
ン系の複素環を表し、これらの環骨格は同一でも異なる
ものであってもよい。Lはペンタメチン鎖を表す。Xは
対イオンを表し、mは電荷の均衡を保つための数であ
る。] (4)前記インドレニン系シアニン色素の記録および再
生波長における屈折率(複素屈折率の実部)nが2.2
〜2.8、消衰係数(複素屈折率の虚部)kが0〜0.
15であり、前記金属錯体化合物の記録および再生波長
におけるnが1.8〜2.5、kが0.01〜0.25
である上記(1)〜(3)のいずれかの光記録媒体。 (5)前記金属錯体化合物のメタノール中における吸収
極大λmax が550〜700nmで、モル吸光係数εが5
0,000〜300,000である上記(1)〜(4)
のいずれかの光記録媒体。
【0013】
【作用】本発明では、インドレニン系ペンタメチンシア
ニン色素と化3、好ましくは化4で示される金属錯体化
合物とを所定の割合で混合したものを光吸収材料として
光記録媒体の記録層に用いている。これらの化合物は、
ともに、記録層設層用の塗布溶媒に対する溶解性が良好
であるため、塗布液の調製が容易である。この結果、厚
さが十分で良好な膜質の記録層を設層でき、媒体として
の反射率が十分に確保できる。インドレニン系ペンタメ
チンシアニン色素は、一般に、屈折率(複素屈折率の実
部)nが大きく、消衰係数(複素屈折率の虚部)kが小
さいという特性を有し、一方上記の金属錯体化合物は、
一般に、nが大きく、kが大きいという特性を有してい
るが、これらを混合することにより、nおよびkを所定
の範囲にすることができ、これらの光学定数を最適化す
ることができる。この結果、変調度が大きくなる。さら
に、上記の金属錯体化合物は、一重項酸素クエンチャー
として作用するほか、吸光係数が大きい。このため化合
物自体が光を吸収し、インドレニン系ペンタメチンシア
ニン色素に対して光シールド効果を発揮するので、イン
ドレニン系ペンタメチンシアニン色素自体の光劣化が防
止される。この結果、光記録媒体の再生劣化や光劣化が
防止される。
ニン色素と化3、好ましくは化4で示される金属錯体化
合物とを所定の割合で混合したものを光吸収材料として
光記録媒体の記録層に用いている。これらの化合物は、
ともに、記録層設層用の塗布溶媒に対する溶解性が良好
であるため、塗布液の調製が容易である。この結果、厚
さが十分で良好な膜質の記録層を設層でき、媒体として
の反射率が十分に確保できる。インドレニン系ペンタメ
チンシアニン色素は、一般に、屈折率(複素屈折率の実
部)nが大きく、消衰係数(複素屈折率の虚部)kが小
さいという特性を有し、一方上記の金属錯体化合物は、
一般に、nが大きく、kが大きいという特性を有してい
るが、これらを混合することにより、nおよびkを所定
の範囲にすることができ、これらの光学定数を最適化す
ることができる。この結果、変調度が大きくなる。さら
に、上記の金属錯体化合物は、一重項酸素クエンチャー
として作用するほか、吸光係数が大きい。このため化合
物自体が光を吸収し、インドレニン系ペンタメチンシア
ニン色素に対して光シールド効果を発揮するので、イン
ドレニン系ペンタメチンシアニン色素自体の光劣化が防
止される。この結果、光記録媒体の再生劣化や光劣化が
防止される。
【0014】また、両化合物の割合を上記範囲で変化さ
せることにより、種々の記録および再生波長に対応した
光記録媒体とすることができる。
せることにより、種々の記録および再生波長に対応した
光記録媒体とすることができる。
【0015】上記のような効果は、上記のインドレニン
系ペンタメチンシアニン色素と金属錯体化合物との混合
物を用いることによって得られるものであり、一方の化
合物のみでは得られるものではない。なお、特開平7−
33746号公報には、化3で示される金属錯体化合物
を光吸収材料として用いた光記録媒体が開示されてい
る。しかし、このものでは、本発明と異なり、インドレ
ニン系ペンタメチンシアニン色素を上記金属錯体化合物
とともに記録層に用いることはなされていない。
系ペンタメチンシアニン色素と金属錯体化合物との混合
物を用いることによって得られるものであり、一方の化
合物のみでは得られるものではない。なお、特開平7−
33746号公報には、化3で示される金属錯体化合物
を光吸収材料として用いた光記録媒体が開示されてい
る。しかし、このものでは、本発明と異なり、インドレ
ニン系ペンタメチンシアニン色素を上記金属錯体化合物
とともに記録層に用いることはなされていない。
【0016】
【具体的構成】以下、本発明の具体的構成について詳細
に説明する。
に説明する。
【0017】本発明の光記録媒体は、インドレニン系ペ
ンタメチンシアニン色素と化2で示される金属錯体化合
物とを含有する記録層を有する。インドレニン系ペンタ
メチンシアニン色素は下記式(I)で示されるものが好
ましい。
ンタメチンシアニン色素と化2で示される金属錯体化合
物とを含有する記録層を有する。インドレニン系ペンタ
メチンシアニン色素は下記式(I)で示されるものが好
ましい。
【0018】式(I) Φ−L=Ψ・(X)m
【0019】式(I)において、ΦおよびΨはそれぞれ
インドレニン系の複素環を表し、これらの複素環の環骨
格は同一でも異なるものであってもよい。これらの複素
環の環骨格としては、インドール環、4,5−ベンゾイ
ンドール環、5,6−ベンゾインドール環、6,7−ベ
ンゾインドール環などが挙げられる。これらの複素環は
置換基を有していてもよく、特にインドール環の1位
(N原子)には、アルキル基、シクロアルキル基、アル
ケニル基等の炭化水素基が結合していることが好まし
い。なお、2個のインドール環においてそれぞれの炭化
水素基は同一でも異なるものであってもよい。
インドレニン系の複素環を表し、これらの複素環の環骨
格は同一でも異なるものであってもよい。これらの複素
環の環骨格としては、インドール環、4,5−ベンゾイ
ンドール環、5,6−ベンゾインドール環、6,7−ベ
ンゾインドール環などが挙げられる。これらの複素環は
置換基を有していてもよく、特にインドール環の1位
(N原子)には、アルキル基、シクロアルキル基、アル
ケニル基等の炭化水素基が結合していることが好まし
い。なお、2個のインドール環においてそれぞれの炭化
水素基は同一でも異なるものであってもよい。
【0020】アルキル基としては、通常、炭素数1〜8
のものが挙げられ、置換基を有していてもよく、例え
ば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プ
ロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、ペンチル
基、ヘキシル基、ヘプチル基、スルホナトメチル基、カ
ルボキシラトメチル基等が挙げられる。
のものが挙げられ、置換基を有していてもよく、例え
ば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プ
ロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、ペンチル
基、ヘキシル基、ヘプチル基、スルホナトメチル基、カ
ルボキシラトメチル基等が挙げられる。
【0021】シクロアルキル基としてはシクロヘキシル
基等が挙げられる。
基等が挙げられる。
【0022】アルケニル基としては、通常、炭素数2〜
8のものが挙げられ、置換基を有していてもよく、例え
ば、ビニル基、アリル基、プロペニル基等が挙げられ
る。
8のものが挙げられ、置換基を有していてもよく、例え
ば、ビニル基、アリル基、プロペニル基等が挙げられ
る。
【0023】1位のほかにも上記の複素環には置換基が
存在していてもよく、これらの置換基としては、アルキ
ル基、アリール基、アルコキシ基、アミノ基、複素環
基、ハロゲン原子等が挙げられる。特にインドール環の
3位に2個のメチル基等のアルキル基を有することが好
ましい。
存在していてもよく、これらの置換基としては、アルキ
ル基、アリール基、アルコキシ基、アミノ基、複素環
基、ハロゲン原子等が挙げられる。特にインドール環の
3位に2個のメチル基等のアルキル基を有することが好
ましい。
【0024】Lはペンタメチン鎖を表し、無置換であっ
ても置換基を有するものであってもよい。置換基として
はハロゲン原子(塩素原子等)やアルキル基(エチル基
等)などが挙げられる。また、Lの一部と置換基が組み
合ってシクロヘキセン環等の環を形成してもよい。
ても置換基を有するものであってもよい。置換基として
はハロゲン原子(塩素原子等)やアルキル基(エチル基
等)などが挙げられる。また、Lの一部と置換基が組み
合ってシクロヘキセン環等の環を形成してもよい。
【0025】XはΦ−L=Ψが電荷をもつときにその電
荷の均衡を保つための対イオンを表し、Cl- 、Br
- 、I- 等のハロゲン化物イオン、ClO4 -、BF4 -、
パラトルエンスルホン酸イオン、ヘキサフルオロリン酸
イオン、タングステン酸イオンなどのアニオン、アンモ
ニウムイオンなどのカチオンが挙げられ、通常はアニオ
ンである。mはΦ−L=Ψの電荷数に応じて決定される
数であり、Φ−L=Ψが分子内塩を形成するとき、m=
0である。
荷の均衡を保つための対イオンを表し、Cl- 、Br
- 、I- 等のハロゲン化物イオン、ClO4 -、BF4 -、
パラトルエンスルホン酸イオン、ヘキサフルオロリン酸
イオン、タングステン酸イオンなどのアニオン、アンモ
ニウムイオンなどのカチオンが挙げられ、通常はアニオ
ンである。mはΦ−L=Ψの電荷数に応じて決定される
数であり、Φ−L=Ψが分子内塩を形成するとき、m=
0である。
【0026】式(I)で示されるインドレニン系シアニ
ン色素としては、表1に示されるものが挙げられる。表
中ではΦ、L、Ψ、X、mの組合せで示している。
ン色素としては、表1に示されるものが挙げられる。表
中ではΦ、L、Ψ、X、mの組合せで示している。
【0027】
【表1】
【0028】これらのインドレニン系シアニン色素は公
知の一般的方法に従って合成することができる。
知の一般的方法に従って合成することができる。
【0029】これらのインドレニン系シアニン色素の吸
収極大λmax (メタノール中)は630〜700nmであ
る。
収極大λmax (メタノール中)は630〜700nmであ
る。
【0030】これらの色素は溶解性に優れ、例えばテト
ラフルオロプロパノールに対する溶解度(25℃)は
0.5〜10wt% 程度である。
ラフルオロプロパノールに対する溶解度(25℃)は
0.5〜10wt% 程度である。
【0031】式(I)で示されるインドレニン系シアニ
ン色素と混合して用いられる金属錯体化合物は化3で示
されるものである。化3について説明すると、化3にお
いて、R1 はアルキル基またはハロゲン原子を表す。こ
の場合のアルキル基としては、炭素数1〜10のものが
好ましく、直鎖状であっても分岐を有するものであって
もよく、無置換であっても置換基を有するものであって
もよい。具体的にはメチル基、エチル基、n−プロピル
基、iso−プロピル基、2−エチルヘキシル基等が挙
げられる。ハロゲン原子としては塩素原子等が挙げられ
る。t1は0または1〜3の整数であるが、さらには1
〜3の整数、特には2または3であることが好ましい。
t1が2または3のとき、各R1 は同一であっても異な
っていてもよい。特に少なくとも1個以上、好ましくは
2個以上のアルキル基が存在することが好ましい。
ン色素と混合して用いられる金属錯体化合物は化3で示
されるものである。化3について説明すると、化3にお
いて、R1 はアルキル基またはハロゲン原子を表す。こ
の場合のアルキル基としては、炭素数1〜10のものが
好ましく、直鎖状であっても分岐を有するものであって
もよく、無置換であっても置換基を有するものであって
もよい。具体的にはメチル基、エチル基、n−プロピル
基、iso−プロピル基、2−エチルヘキシル基等が挙
げられる。ハロゲン原子としては塩素原子等が挙げられ
る。t1は0または1〜3の整数であるが、さらには1
〜3の整数、特には2または3であることが好ましい。
t1が2または3のとき、各R1 は同一であっても異な
っていてもよい。特に少なくとも1個以上、好ましくは
2個以上のアルキル基が存在することが好ましい。
【0032】R2 はアルキル基を表す。アルキル基とし
ては、炭素数1〜3の低級アルキル基が好ましく、具体
的にはメチル基等が挙げられる。t2は0または1〜4
の整数であるが、0または1であることが好ましい。
ては、炭素数1〜3の低級アルキル基が好ましく、具体
的にはメチル基等が挙げられる。t2は0または1〜4
の整数であるが、0または1であることが好ましい。
【0033】R3 は、水酸基、フッ素原子、置換基を有
していてもよいアルキル基、アルコキシ基、アシルアミ
ノ基、アルキルスルホンアミド基、アリールスルホンア
ミド基またはアミノ基を表す。アルキル基としては、炭
素数1〜3の低級アルキル基が好ましく、具体的にはメ
チル基等が挙げられる。アルコキシ基としては、アルキ
ル部分の炭素数が1〜3のものが好ましく、具体的には
メトキシ基等が挙げられる。アシルアミノ基としては、
NHCORで表されるもの、またアルキルないしアリー
ルスルホンアミド基としては、NHSO2 Rで表される
ものが好ましく、ここでRはアルキル基またはアリール
基を表す。アルキル基としては炭素数1〜10のものが
好ましく、置換基を有していてもよく、具体的にはメチ
ル基、エチル基、オクチル基等が挙げられる。アリール
基としては単環のものが好ましく、また置換基を有して
いてもよく、フェニル基、トリル基、2−オクチルオキ
シ−5−(t−オクチル)フェニル基、3−ヘプタフル
オロブチリルアミノフェニル基、3−メチルフェニル
基、3−アセチルアミノ−5−クロルフェニル基、2−
メチルスルホンアミドフェニル基、2−イソブチリルア
ミノフェニル基等が挙げられる。R3 で表されるアミノ
基としてはジアルキルアミノ基が好ましく、具体的には
ジメチルアミノ基等が挙げられる。t3は0または1〜
5の整数であり、0、1または2であることが好まし
い。R3 はMに配位可能となっていてもよく、このよう
なものには、O- 、N- SO2 R、N- CORがある。
このなかでN- CORであるとき、Rは電子吸引性基
(ハメットの値が正値のもの)の置換基をもつことが好
ましく、具体的にはトリクロロメチル基、ペンタフルオ
ロエチル基、ヘプタフルオロプロピル基、ヘキサフルオ
ロフェニル基等であることが好ましい。
していてもよいアルキル基、アルコキシ基、アシルアミ
ノ基、アルキルスルホンアミド基、アリールスルホンア
ミド基またはアミノ基を表す。アルキル基としては、炭
素数1〜3の低級アルキル基が好ましく、具体的にはメ
チル基等が挙げられる。アルコキシ基としては、アルキ
ル部分の炭素数が1〜3のものが好ましく、具体的には
メトキシ基等が挙げられる。アシルアミノ基としては、
NHCORで表されるもの、またアルキルないしアリー
ルスルホンアミド基としては、NHSO2 Rで表される
ものが好ましく、ここでRはアルキル基またはアリール
基を表す。アルキル基としては炭素数1〜10のものが
好ましく、置換基を有していてもよく、具体的にはメチ
ル基、エチル基、オクチル基等が挙げられる。アリール
基としては単環のものが好ましく、また置換基を有して
いてもよく、フェニル基、トリル基、2−オクチルオキ
シ−5−(t−オクチル)フェニル基、3−ヘプタフル
オロブチリルアミノフェニル基、3−メチルフェニル
基、3−アセチルアミノ−5−クロルフェニル基、2−
メチルスルホンアミドフェニル基、2−イソブチリルア
ミノフェニル基等が挙げられる。R3 で表されるアミノ
基としてはジアルキルアミノ基が好ましく、具体的には
ジメチルアミノ基等が挙げられる。t3は0または1〜
5の整数であり、0、1または2であることが好まし
い。R3 はMに配位可能となっていてもよく、このよう
なものには、O- 、N- SO2 R、N- CORがある。
このなかでN- CORであるとき、Rは電子吸引性基
(ハメットの値が正値のもの)の置換基をもつことが好
ましく、具体的にはトリクロロメチル基、ペンタフルオ
ロエチル基、ヘプタフルオロプロピル基、ヘキサフルオ
ロフェニル基等であることが好ましい。
【0034】R4 およびR5 はそれぞれ同一でも異なる
ものであってもよく、アルキル基を表す。アルキル基と
しては総炭素数1〜8のものが好ましく、置換基を有し
ていてもよく、エチル基、メチルスルホンアミドエチル
基、2−(2−メトキシエトキシ)エチル基、2−メト
キシエチル基、2−(2−エトキシエトキシ)エチル基
等が好ましい。
ものであってもよく、アルキル基を表す。アルキル基と
しては総炭素数1〜8のものが好ましく、置換基を有し
ていてもよく、エチル基、メチルスルホンアミドエチル
基、2−(2−メトキシエトキシ)エチル基、2−メト
キシエチル基、2−(2−エトキシエトキシ)エチル基
等が好ましい。
【0035】MはNi,Cu,Co,Zn,Fe,Pd
もしくはPtまたはこれらの金属塩を表し、Ni,Cu
ないしこれらの塩が好ましく、特にNiないしこの塩が
好ましい。金属塩としては、具体的に、酢酸塩、過塩素
酸塩、ハロゲン塩、フッ化ホウ素塩、フッ化リン塩、ア
セチルアセトナト塩等が挙げられる。
もしくはPtまたはこれらの金属塩を表し、Ni,Cu
ないしこれらの塩が好ましく、特にNiないしこの塩が
好ましい。金属塩としては、具体的に、酢酸塩、過塩素
酸塩、ハロゲン塩、フッ化ホウ素塩、フッ化リン塩、ア
セチルアセトナト塩等が挙げられる。
【0036】Mに対しては、イミダゾール環のN(ベン
ゼン環の結合位置の隣接位のN)、およびピラゾール環
のN(イミダゾール環の結合するNの隣接位のN)、さ
らにはMに配位可能なR3 で配位結合が形成され、4配
位または6配位の金属キレートが形成されると考えられ
る。
ゼン環の結合位置の隣接位のN)、およびピラゾール環
のN(イミダゾール環の結合するNの隣接位のN)、さ
らにはMに配位可能なR3 で配位結合が形成され、4配
位または6配位の金属キレートが形成されると考えられ
る。
【0037】化3で示される金属錯体化合物のなかでも
化4で示されるものが好ましい。化4について説明する
と、化4中、R1 、R2 、R4 、R5 、t1、t2およ
びMは化3のものと同義のものを表す。
化4で示されるものが好ましい。化4について説明する
と、化4中、R1 、R2 、R4 、R5 、t1、t2およ
びMは化3のものと同義のものを表す。
【0038】YはO- 、N- SO2 RまたはN- COR
を表す。ここでRは化3のものと同義のものであり、ア
ルキル基またはアリール基を表す。アルキル基としては
炭素数1〜10のものが好ましく、置換基を有していて
もよく、具体的にはメチル基、エチル基、オクチル基等
が挙げられる。アリール基としては単環のものが好まし
く、また置換基を有していてもよく、フェニル基、トリ
ル基、2−オクチルオキシ−5−(t−オクチル)フェ
ニル基、3−ヘプタフルオロブチリルアミノフェニル
基、3−メチルフェニル基、3−アセチルアミノ−5−
クロルフェニル基、2−メチルスルホンアミドフェニル
基、2−イソブチリルアミノフェニル基等が挙げられ
る。
を表す。ここでRは化3のものと同義のものであり、ア
ルキル基またはアリール基を表す。アルキル基としては
炭素数1〜10のものが好ましく、置換基を有していて
もよく、具体的にはメチル基、エチル基、オクチル基等
が挙げられる。アリール基としては単環のものが好まし
く、また置換基を有していてもよく、フェニル基、トリ
ル基、2−オクチルオキシ−5−(t−オクチル)フェ
ニル基、3−ヘプタフルオロブチリルアミノフェニル
基、3−メチルフェニル基、3−アセチルアミノ−5−
クロルフェニル基、2−メチルスルホンアミドフェニル
基、2−イソブチリルアミノフェニル基等が挙げられ
る。
【0039】特にN- CORであるとき、Rは電子吸引
性基(ハメットの値が正値のもの)の置換基をもつこと
が好ましく、具体的にはトリクロロメチル基、ペンタフ
ルオロエチル基、ヘプタフルオロプロピル基、ヘキサフ
ルオロフェニル基等であることが好ましい。
性基(ハメットの値が正値のもの)の置換基をもつこと
が好ましく、具体的にはトリクロロメチル基、ペンタフ
ルオロエチル基、ヘプタフルオロプロピル基、ヘキサフ
ルオロフェニル基等であることが好ましい。
【0040】R31は、置換基を有していてもよいアシル
アミノ基、アリールスルホンアミド基またはアミノ基を
表す。アシルアミノ基としては、アセチルアミノ基等が
挙げられる。アリールスルホンアミド基としては、フェ
ニルスルホンアミド基、2−メトキシ−5−(t−オク
チル)フェニルスルホンアミド基等が挙げられる。アミ
ノ基としてはジアルキルアミノ基が好ましく、具体的に
はジメチルアミノ基等が挙げられる。t31は0または
1〜4の整数であり、0または1であることが好まし
い。R31はYのパラ位に存在することが好ましい。
アミノ基、アリールスルホンアミド基またはアミノ基を
表す。アシルアミノ基としては、アセチルアミノ基等が
挙げられる。アリールスルホンアミド基としては、フェ
ニルスルホンアミド基、2−メトキシ−5−(t−オク
チル)フェニルスルホンアミド基等が挙げられる。アミ
ノ基としてはジアルキルアミノ基が好ましく、具体的に
はジメチルアミノ基等が挙げられる。t31は0または
1〜4の整数であり、0または1であることが好まし
い。R31はYのパラ位に存在することが好ましい。
【0041】化4において、Mに対しては、YのO- ま
たはN- 、イミダゾール環のN(ベンゼン環の結合位置
の隣接位のN)、ピラゾール環のN(イミダゾール環の
結合するNの隣接位のN)で配位結合が形成され、6配
位の金属キレートが形成されると考えられる。
たはN- 、イミダゾール環のN(ベンゼン環の結合位置
の隣接位のN)、ピラゾール環のN(イミダゾール環の
結合するNの隣接位のN)で配位結合が形成され、6配
位の金属キレートが形成されると考えられる。
【0042】以下に、化3の金属錯体化合物の具体例を
示すが、本発明はこれに限定されるものではない。
示すが、本発明はこれに限定されるものではない。
【0043】
【化5】
【0044】
【化6】
【0045】
【化7】
【0046】
【化8】
【0047】
【化9】
【0048】
【化10】
【0049】
【化11】
【0050】
【化12】
【0051】
【化13】
【0052】
【化14】
【0053】
【化15】
【0054】
【化16】
【0055】これらの金属錯体化合物は特開平7−33
746号公報に記載の方法に従って合成することができ
る。
746号公報に記載の方法に従って合成することができ
る。
【0056】これらの金属錯体化合物の吸収極大λmax
(メタノール中)は550〜700nmの範囲にあり、モ
ル吸光係数εは5万〜30万の範囲にある。このように
吸光係数が大きいので、インドレニン系ペンタメチンシ
アニン色素に対し、光シールド効果を発揮する。
(メタノール中)は550〜700nmの範囲にあり、モ
ル吸光係数εは5万〜30万の範囲にある。このように
吸光係数が大きいので、インドレニン系ペンタメチンシ
アニン色素に対し、光シールド効果を発揮する。
【0057】また、これらの金属錯体化合物は溶解性に
優れ、例えばテトラフルオロプロパノール(25℃)に
対する溶解度は0.5〜5wt% 程度である。
優れ、例えばテトラフルオロプロパノール(25℃)に
対する溶解度は0.5〜5wt% 程度である。
【0058】本発明において、上記のインドレニン系ペ
ンタメチンシアニン色素Iと金属錯体化合物IIとを記録
層に併用するが、これらの化合物は、各々、1種のみを
用いても2種以上を併用してもよい。
ンタメチンシアニン色素Iと金属錯体化合物IIとを記録
層に併用するが、これらの化合物は、各々、1種のみを
用いても2種以上を併用してもよい。
【0059】また、記録層におけるこれらの化合物の割
合は、重量比でI/IIが1/9〜9/1、好ましくは1
/5〜4/1とする。このような割合とすることによっ
て、耐光性に優れ、反射率および変調度の大きい光記録
媒体が得られる。また、この範囲で両化合物の比率をか
えることにより、種々の波長のレーザーに対応させるこ
とができる。すなわち、現行の半導体レーザーに対応で
きるほか、次世代の短波長化したレーザーに対応でき
る。
合は、重量比でI/IIが1/9〜9/1、好ましくは1
/5〜4/1とする。このような割合とすることによっ
て、耐光性に優れ、反射率および変調度の大きい光記録
媒体が得られる。また、この範囲で両化合物の比率をか
えることにより、種々の波長のレーザーに対応させるこ
とができる。すなわち、現行の半導体レーザーに対応で
きるほか、次世代の短波長化したレーザーに対応でき
る。
【0060】一方、上記のI/IIの割合が1/9未満に
なると、特に変調度が十分でなくなり、9/1をこえる
と、特に耐光性が不十分になる。
なると、特に変調度が十分でなくなり、9/1をこえる
と、特に耐光性が不十分になる。
【0061】上記のように両化合物を併用することによ
って反射率、変調度の媒体特性が優れたものとなるの
は、記録・再生光における屈折率(複素屈折率の実部)
nおよび消衰係数(複素屈折率の虚部)kの光学定数が
適正になるからである。
って反射率、変調度の媒体特性が優れたものとなるの
は、記録・再生光における屈折率(複素屈折率の実部)
nおよび消衰係数(複素屈折率の虚部)kの光学定数が
適正になるからである。
【0062】このような割合とすることで、またその割
合を選択することで、記録・再生波長におけるnを2〜
2.5、kを0.03〜0.1とすることができる。
合を選択することで、記録・再生波長におけるnを2〜
2.5、kを0.03〜0.1とすることができる。
【0063】なお、記録・再生波長は、通常600〜8
00nmであり、記録には通常780nmが用いられてい
る。また再生には、780nm、635nmが用いられてお
り、通常780nmである。
00nmであり、記録には通常780nmが用いられてい
る。また再生には、780nm、635nmが用いられてお
り、通常780nmである。
【0064】本発明ではインドレニン系ペンタメチンシ
アニン色素としてnが2.2〜2.8程度、kが0〜
0.15程度のn,kの小さい色素を選択して用いる。
780nmにおける表1の例示化合物のn,kを表1に併
記する。なお、測定膜厚は100nm程度である。
アニン色素としてnが2.2〜2.8程度、kが0〜
0.15程度のn,kの小さい色素を選択して用いる。
780nmにおける表1の例示化合物のn,kを表1に併
記する。なお、測定膜厚は100nm程度である。
【0065】一方、上記の金属錯体化合物のnは1.8
〜2.5程度であり、kは0.05〜0.25程度であ
り、780nmにおける例示化合物のn,kを表2、表3
に示す。なお、測定膜厚は100nm程度である。
〜2.5程度であり、kは0.05〜0.25程度であ
り、780nmにおける例示化合物のn,kを表2、表3
に示す。なお、測定膜厚は100nm程度である。
【0066】
【表2】
【0067】
【表3】
【0068】なお、n,kの測定方法については後述す
る。
る。
【0069】上記のインドレニン系ペンタメチンシアニ
ン色素および金属錯体化合物は、ともに前述のように溶
解性に優れるものであるので、上記の割合で混合して塗
布溶液を調製するときの溶解性が良好である。例えばテ
トラフルオロプロパノールに対する溶解度(25℃)
は、その割合に応じ少し変化するが、0.5〜5wt% の
範囲になる。このように溶解性に優れるので塗布液の調
製が容易で、成膜性に優れる。膜厚が十分で膜質に優れ
たものとなるため反射率が十分になる。
ン色素および金属錯体化合物は、ともに前述のように溶
解性に優れるものであるので、上記の割合で混合して塗
布溶液を調製するときの溶解性が良好である。例えばテ
トラフルオロプロパノールに対する溶解度(25℃)
は、その割合に応じ少し変化するが、0.5〜5wt% の
範囲になる。このように溶解性に優れるので塗布液の調
製が容易で、成膜性に優れる。膜厚が十分で膜質に優れ
たものとなるため反射率が十分になる。
【0070】本発明の光記録媒体は、特に追記型の光記
録ディスク(CD−R)であることが好ましく、上記の
インドレニン系ペンタメチンシアニン色素および金属錯
体化合物は、CD−Rの記録層に用いることが好まし
い。このような記録層は、両化合物を含有する塗布液を
用いて設層することが好ましい。特に、回転する基板上
に塗布液を展開塗布するスピンコート法によることが好
ましい。このときの塗布溶媒は、アルコール系(ケトア
ルコール系、エチレングリコールモノアルキルエーテル
系を含む。)、ケトン系、エステル系、エーテル系、芳
香族系、脂肪族炭化水素系(ハロゲン化アルキル系を含
む。)等から適宜選択すればよい。
録ディスク(CD−R)であることが好ましく、上記の
インドレニン系ペンタメチンシアニン色素および金属錯
体化合物は、CD−Rの記録層に用いることが好まし
い。このような記録層は、両化合物を含有する塗布液を
用いて設層することが好ましい。特に、回転する基板上
に塗布液を展開塗布するスピンコート法によることが好
ましい。このときの塗布溶媒は、アルコール系(ケトア
ルコール系、エチレングリコールモノアルキルエーテル
系を含む。)、ケトン系、エステル系、エーテル系、芳
香族系、脂肪族炭化水素系(ハロゲン化アルキル系を含
む。)等から適宜選択すればよい。
【0071】このなかで、アルコール系が好ましく、ジ
アセトンアルコール等のケトアルコール系、エチレング
リコールモノメチルエーテル(メチルセロソルブ)やエ
チレングリコールモノエチルエーテル(エチルセロソル
ブ)等のエチレングリコールモノアルキルエーテル(セ
ロソルブ系)などが好ましい。特にエチレングリコール
モノアルキルエーテル系が好ましく、なかでもエチレン
グリコールモノエチルエーテルが好ましい。さらには、
フッ素化アルコールも好ましく、特に、2,2,3,3
−テトラフルオロプロパノールが好ましい。また、シク
ロヘキサノン等のケトン系も好ましい。
アセトンアルコール等のケトアルコール系、エチレング
リコールモノメチルエーテル(メチルセロソルブ)やエ
チレングリコールモノエチルエーテル(エチルセロソル
ブ)等のエチレングリコールモノアルキルエーテル(セ
ロソルブ系)などが好ましい。特にエチレングリコール
モノアルキルエーテル系が好ましく、なかでもエチレン
グリコールモノエチルエーテルが好ましい。さらには、
フッ素化アルコールも好ましく、特に、2,2,3,3
−テトラフルオロプロパノールが好ましい。また、シク
ロヘキサノン等のケトン系も好ましい。
【0072】上記のようなスピンコートの後、必要に応
じて塗膜を乾燥させる。このようにして形成される記録
層の厚さは、目的とする反射率などに応じて適宜設定さ
れるものであるが、通常、1000〜3000A 程度で
ある。
じて塗膜を乾燥させる。このようにして形成される記録
層の厚さは、目的とする反射率などに応じて適宜設定さ
れるものであるが、通常、1000〜3000A 程度で
ある。
【0073】なお、塗布液における両化合物の合計含有
量は、好ましくは1.0〜15wt%、好ましくは1.0
〜10wt% とするのがよい。なお、塗布液には適宜バイ
ンダー、分散剤等を含有させてもよい。
量は、好ましくは1.0〜15wt%、好ましくは1.0
〜10wt% とするのがよい。なお、塗布液には適宜バイ
ンダー、分散剤等を含有させてもよい。
【0074】本発明の光記録媒体である光記録ディスク
として、図1には、その一構成例が示されている。図1
は、部分断面図である。図1に示される光記録ディスク
1は、記録層上に反射層を密着して有するCD規格に対
応した再生が可能な密着型光記録ディスクである。図示
のように、光記録ディスク1は、基板2表面に前記のよ
うな色素を主成分とする記録層3を有し、記録層3に密
着して、反射層4、保護膜5を有する。
として、図1には、その一構成例が示されている。図1
は、部分断面図である。図1に示される光記録ディスク
1は、記録層上に反射層を密着して有するCD規格に対
応した再生が可能な密着型光記録ディスクである。図示
のように、光記録ディスク1は、基板2表面に前記のよ
うな色素を主成分とする記録層3を有し、記録層3に密
着して、反射層4、保護膜5を有する。
【0075】基板2は、ディスク状のものであり、基板
2の裏面側からの記録および再生を可能とするために、
記録光および再生光(波長600〜800nm程度、特に
波長770〜800nm程度の半導体レーザー光、特に7
80nm)に対し、実質的に透明(好ましくは透過率88
%以上)な樹脂あるいはガラスを用いて形成するのがよ
い。また、大きさは、直径64〜200mm程度、厚さ
1.2mm程度のものとする。
2の裏面側からの記録および再生を可能とするために、
記録光および再生光(波長600〜800nm程度、特に
波長770〜800nm程度の半導体レーザー光、特に7
80nm)に対し、実質的に透明(好ましくは透過率88
%以上)な樹脂あるいはガラスを用いて形成するのがよ
い。また、大きさは、直径64〜200mm程度、厚さ
1.2mm程度のものとする。
【0076】基板2の記録層3形成面には、図1に示す
ように、トラッキング用のグルーブ23が形成される。
グルーブ23は、スパイラル状の連続型グルーブである
ことが好ましく、深さは0.1〜0.25μm 、幅は
0.35〜0.50μm 、グルーブピッチは1.5〜
1.7μm であることが好ましい。グルーブをこのよう
な構成とすることにより、グルーブ部の反射レベルを下
げることなく、良好なトラッキング信号を得ることがで
きる。特にグルーブ幅を0.35〜0.50μm に規制
することは重要であり、グルーブ幅を0.35μm 未満
とすると、十分な大きさのトラッキング信号が得られに
くく、記録時のトラッキングのわずかなオフセットによ
って、ジッターが大きくなりやすい。また0.50μm
をこえると、再生信号の波形歪みが生じやすく、クロス
トロークの増大の原因となる。
ように、トラッキング用のグルーブ23が形成される。
グルーブ23は、スパイラル状の連続型グルーブである
ことが好ましく、深さは0.1〜0.25μm 、幅は
0.35〜0.50μm 、グルーブピッチは1.5〜
1.7μm であることが好ましい。グルーブをこのよう
な構成とすることにより、グルーブ部の反射レベルを下
げることなく、良好なトラッキング信号を得ることがで
きる。特にグルーブ幅を0.35〜0.50μm に規制
することは重要であり、グルーブ幅を0.35μm 未満
とすると、十分な大きさのトラッキング信号が得られに
くく、記録時のトラッキングのわずかなオフセットによ
って、ジッターが大きくなりやすい。また0.50μm
をこえると、再生信号の波形歪みが生じやすく、クロス
トロークの増大の原因となる。
【0077】基板2は、材質的には、樹脂を用いること
が好ましく、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、ア
モルファスポリオレフィン、TPX、ポリスチレン系樹
脂等の各種熱可塑性樹脂が好適である。そして、このよ
うな樹脂を用いて射出成形等の公知の方法に従って製造
することができる。グルーブ23は、基板2の成形時に
形成することが好ましい。なお、基板2製造後に2P法
等によりグルーブ23を有する樹脂層を形成してもよ
い。また、場合によってはガラス基板を用いてもよい。
が好ましく、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、ア
モルファスポリオレフィン、TPX、ポリスチレン系樹
脂等の各種熱可塑性樹脂が好適である。そして、このよ
うな樹脂を用いて射出成形等の公知の方法に従って製造
することができる。グルーブ23は、基板2の成形時に
形成することが好ましい。なお、基板2製造後に2P法
等によりグルーブ23を有する樹脂層を形成してもよ
い。また、場合によってはガラス基板を用いてもよい。
【0078】図1に示されるように、基板2に設層され
る記録層3は、前記の色素含有塗布液を用い、前記のよ
うに、好ましくはスピンコート法により形成されたもの
である。スピンコートは通常の条件に従い、内周から外
周にかけて、回転数を500〜5000rpm の間で調整
するなどして行えばよい。
る記録層3は、前記の色素含有塗布液を用い、前記のよ
うに、好ましくはスピンコート法により形成されたもの
である。スピンコートは通常の条件に従い、内周から外
周にかけて、回転数を500〜5000rpm の間で調整
するなどして行えばよい。
【0079】このようにして形成される記録層3の厚さ
は、乾燥膜厚で、500〜3000A (50〜300n
m)とすることが好ましい。この範囲外では反射率が低
下して、CD規格に対応した再生を行うことが難しくな
る。この際、グルーブ23内の記録トラック内の記録層
3の膜厚を1000A (100nm)以上、特に1500
〜3000A (150〜300nm)とすると、変調度が
きわめて大きくなる。
は、乾燥膜厚で、500〜3000A (50〜300n
m)とすることが好ましい。この範囲外では反射率が低
下して、CD規格に対応した再生を行うことが難しくな
る。この際、グルーブ23内の記録トラック内の記録層
3の膜厚を1000A (100nm)以上、特に1500
〜3000A (150〜300nm)とすると、変調度が
きわめて大きくなる。
【0080】このようにして形成される記録層3は、C
D信号を記録する場合、その記録光および再生光波長に
おける消衰係数(複素屈折率の虚部)kは、0.02〜
0.05であることが好ましい。kが0.02未満とな
ると記録層の吸収率が低下し、通常の記録パワーで記録
を行うことが困難である。また、kが0.05を超える
と、反射率が70%を下回ってしまい、CD規格による
再生を行うことが困難である。また、記録層3の屈折率
(複素屈折率の実部)nは、2.0〜2.8となる。n
<2.0では反射率が低下し、また再生信号が小さくな
り、CD規格による再生が困難となる傾向にある。n>
2.8では実現が困難である。上記のインドレニン系シ
アニン色素と金属錯体化合物との併用によって、このよ
うなn,kは容易に実現できる。
D信号を記録する場合、その記録光および再生光波長に
おける消衰係数(複素屈折率の虚部)kは、0.02〜
0.05であることが好ましい。kが0.02未満とな
ると記録層の吸収率が低下し、通常の記録パワーで記録
を行うことが困難である。また、kが0.05を超える
と、反射率が70%を下回ってしまい、CD規格による
再生を行うことが困難である。また、記録層3の屈折率
(複素屈折率の実部)nは、2.0〜2.8となる。n
<2.0では反射率が低下し、また再生信号が小さくな
り、CD規格による再生が困難となる傾向にある。n>
2.8では実現が困難である。上記のインドレニン系シ
アニン色素と金属錯体化合物との併用によって、このよ
うなn,kは容易に実現できる。
【0081】なお、記録層のnおよびkは、所定の透明
基板上に記録層を例えば40〜100nm程度の厚さに実
際の条件にて設層して、測定用サンプルを作製し、次い
で、この測定用サンプルの基板を通しての反射率あるい
は記録層側からの反射率を測定することによって求め
る。この場合、反射率は、記録再生光波長を用いて鏡面
反射(5°程度)にて測定する。また、サンプルの透過
率を測定する。そして、これらの測定値から、例えば、
共立全書「光学」石黒浩三P168〜178に準じ、
n、kを算出すればよい。
基板上に記録層を例えば40〜100nm程度の厚さに実
際の条件にて設層して、測定用サンプルを作製し、次い
で、この測定用サンプルの基板を通しての反射率あるい
は記録層側からの反射率を測定することによって求め
る。この場合、反射率は、記録再生光波長を用いて鏡面
反射(5°程度)にて測定する。また、サンプルの透過
率を測定する。そして、これらの測定値から、例えば、
共立全書「光学」石黒浩三P168〜178に準じ、
n、kを算出すればよい。
【0082】図1に示されるように、記録層3上には、
直接密着して反射層4が設層される。反射層4として
は、Au、Cu等の高反射率金属ないし合金を用いるの
がよい。反射層4の厚さは500A 以上であることが好
ましく、蒸着、スパッタ等により設層すればよい。ま
た、厚さの上限に特に制限はないが、コスト、生産作業
時間等を考慮すると、1200A 程度以下であることが
好ましい。これにより、反射層4単独での反射率は、9
0%以上、媒体の未記録部の基板を通しての反射率は、
60%以上、特に70%以上が得られる。
直接密着して反射層4が設層される。反射層4として
は、Au、Cu等の高反射率金属ないし合金を用いるの
がよい。反射層4の厚さは500A 以上であることが好
ましく、蒸着、スパッタ等により設層すればよい。ま
た、厚さの上限に特に制限はないが、コスト、生産作業
時間等を考慮すると、1200A 程度以下であることが
好ましい。これにより、反射層4単独での反射率は、9
0%以上、媒体の未記録部の基板を通しての反射率は、
60%以上、特に70%以上が得られる。
【0083】図1に示されるように、反射層4上には、
保護膜5が設層される。保護膜5は、例えば紫外線硬化
樹脂等の各種樹脂材質から、通常は、0.5〜100μ
m 程度の厚さに設層すればよい。保護膜5は、層状であ
ってもシート状であってもよい。保護膜5は、スピンコ
ート、グラビア塗布、スプレーコート、ディッピング等
の通常の方法により形成すればよい。
保護膜5が設層される。保護膜5は、例えば紫外線硬化
樹脂等の各種樹脂材質から、通常は、0.5〜100μ
m 程度の厚さに設層すればよい。保護膜5は、層状であ
ってもシート状であってもよい。保護膜5は、スピンコ
ート、グラビア塗布、スプレーコート、ディッピング等
の通常の方法により形成すればよい。
【0084】このような構成の光記録ディスク1に記録
ないし追記を行うには、例えば780nmの記録光を、基
板2を通してパルス状に照射し、照射部の光反射率を変
化させる。なお、記録光を照射すると、記録層3が光を
吸収して発熱し、同時に基板2も加熱される。この結
果、基板2と記録層3との界面近傍において、色素等の
記録層材質の融解や分解が生じ、記録層3と基板2との
界面に圧力が加わり、グルーブの底面や側壁を変形させ
ることがある。なお、記録に際し、基板回転線速度は
1.2〜1.4m/s 程度とする。
ないし追記を行うには、例えば780nmの記録光を、基
板2を通してパルス状に照射し、照射部の光反射率を変
化させる。なお、記録光を照射すると、記録層3が光を
吸収して発熱し、同時に基板2も加熱される。この結
果、基板2と記録層3との界面近傍において、色素等の
記録層材質の融解や分解が生じ、記録層3と基板2との
界面に圧力が加わり、グルーブの底面や側壁を変形させ
ることがある。なお、記録に際し、基板回転線速度は
1.2〜1.4m/s 程度とする。
【0085】本発明の光記録ディスクは、図示例のよう
な密着型の光記録ディスクに限らず、色素を含有する記
録層を有するものであれば、いずれであってもよい。こ
のようなものとしては、エアーサンドイッチ構造のピッ
ト形成型光記録ディスク等が挙げられ、本発明を適用す
ることによって、同様の効果が得られる。
な密着型の光記録ディスクに限らず、色素を含有する記
録層を有するものであれば、いずれであってもよい。こ
のようなものとしては、エアーサンドイッチ構造のピッ
ト形成型光記録ディスク等が挙げられ、本発明を適用す
ることによって、同様の効果が得られる。
【0086】
【実施例】以下、本発明を実施例によって具体的に説明
する。
する。
【0087】実施例1 インドレニン系ペンタメチンシアニン色素No. I−1と
金属錯体化合物(21)とを色素No. I−1/化合物
(21)が重量比で3/1となる割合で添加し、1.2
5wt% 2,2,3,3−テトラフルオロプロパノール
(TFP)溶液を調製した。
金属錯体化合物(21)とを色素No. I−1/化合物
(21)が重量比で3/1となる割合で添加し、1.2
5wt% 2,2,3,3−テトラフルオロプロパノール
(TFP)溶液を調製した。
【0088】この塗布溶液を用いて、直径120mm、厚
さ1.2mmのポリカーボネート樹脂基板上にスピンコー
トにより1000rpm の条件で塗布して乾燥し、150
nm厚の塗膜を形成した。
さ1.2mmのポリカーボネート樹脂基板上にスピンコー
トにより1000rpm の条件で塗布して乾燥し、150
nm厚の塗膜を形成した。
【0089】これをサンプルNo. 1とする。
【0090】サンプルNo. 1において、インドレニン系
ペンタメチンシアニン色素No. I−2と金属錯体化合物
(2)とを色素No. I−2/化合物(2)が重量比で1
/1となる割合とした塗布液を用いて塗膜を形成するほ
かは同様にサンプルNo. 2を作製した。また、インドレ
ニン系ペンタメチンシアニン色素No. I−4と金属錯体
化合物(16)とを色素No. I−4/化合物(16)が
重量比で1/3となる割合とした塗布液を用いて塗膜を
形成するほかは同様にサンプルNo. 3、インドレニン系
ペンタメチンシアニン色素No. I−7と金属錯体化合物
(17)とを色素No. I−7/化合物(17)が重量比
で1/4となる割合とし、4.5wt% エチルセロソルブ
溶液とした塗布液を用いて塗膜を形成するほかは同様に
サンプルNo. 4、インドレニン系ペンタメチンシアニン
色素No. I−6と金属錯体化合物(20)とを色素No.
I−6/化合物(20)が重量比で1/1となる割合と
した塗布液(溶媒TFP)を用いて塗膜を形成するほか
は同様にサンプルNo. 5、インドレニン系ペンタメチン
シアニン色素No. I−1と金属錯体化合物(1)とを色
素No. I−1/化合物(1)が重量比で2/1となる割
合とした塗布液(溶媒TFP)を用いて塗膜を形成する
ほかは同様にサンプルNo. 6をそれぞれ作製した。
ペンタメチンシアニン色素No. I−2と金属錯体化合物
(2)とを色素No. I−2/化合物(2)が重量比で1
/1となる割合とした塗布液を用いて塗膜を形成するほ
かは同様にサンプルNo. 2を作製した。また、インドレ
ニン系ペンタメチンシアニン色素No. I−4と金属錯体
化合物(16)とを色素No. I−4/化合物(16)が
重量比で1/3となる割合とした塗布液を用いて塗膜を
形成するほかは同様にサンプルNo. 3、インドレニン系
ペンタメチンシアニン色素No. I−7と金属錯体化合物
(17)とを色素No. I−7/化合物(17)が重量比
で1/4となる割合とし、4.5wt% エチルセロソルブ
溶液とした塗布液を用いて塗膜を形成するほかは同様に
サンプルNo. 4、インドレニン系ペンタメチンシアニン
色素No. I−6と金属錯体化合物(20)とを色素No.
I−6/化合物(20)が重量比で1/1となる割合と
した塗布液(溶媒TFP)を用いて塗膜を形成するほか
は同様にサンプルNo. 5、インドレニン系ペンタメチン
シアニン色素No. I−1と金属錯体化合物(1)とを色
素No. I−1/化合物(1)が重量比で2/1となる割
合とした塗布液(溶媒TFP)を用いて塗膜を形成する
ほかは同様にサンプルNo. 6をそれぞれ作製した。
【0091】また、サンプルNo. 1において、インドレ
ニン系ペンタメチンシアニン色素のみを用いるほかは同
様にして比較のサンプルNo. 11を作製した。
ニン系ペンタメチンシアニン色素のみを用いるほかは同
様にして比較のサンプルNo. 11を作製した。
【0092】また、サンプルNo. 1において、金属錯体
化合物のみを用いるほかは同様にして比較のサンプルN
o. 12を作製した。
化合物のみを用いるほかは同様にして比較のサンプルN
o. 12を作製した。
【0093】これらのサンプルについて、その初期透過
率Toを測定し、8万ルックスのキセノンランプを20
時間照射した。照射後の透過率Tを測定し、(100−
T)×100/(100−To)にて色素残存率(%)
を算出し、光劣化を評価した。
率Toを測定し、8万ルックスのキセノンランプを20
時間照射した。照射後の透過率Tを測定し、(100−
T)×100/(100−To)にて色素残存率(%)
を算出し、光劣化を評価した。
【0094】また、これらのサンプルについて780nm
におけるnおよびkを測定した。なお、この測定は「光
学」(石黒浩三著、共立全書)第168〜178ページ
の記載に準じて行った。ただし、膜厚は100nmとした
ものを用いた。
におけるnおよびkを測定した。なお、この測定は「光
学」(石黒浩三著、共立全書)第168〜178ページ
の記載に準じて行った。ただし、膜厚は100nmとした
ものを用いた。
【0095】次に、スパイラル状の連続グルーブが形成
された直径120mm、厚さ1.2mmのポリカーボネート
樹脂基板上に、前記サンプル作製に各々用いた塗布液を
用い、スピンコートにより150nm厚の記録層を設層し
た。次にAuを材質とする反射層をスパッタにより85
nm厚に形成した。そして、この上に紫外線硬化型のアク
リル樹脂の保護膜(膜厚5μm )を形成した。このよう
にして図1に示すような光記録ディスクを作製した。こ
れらを上記のサンプルNo. 1〜No. 6、No. 11、No.
12に応じ、ディスクサンプルNo. 1〜No. 6、No. 1
1、No. 12とする。これらのディスクサンプルについ
て、再生劣化および変調度を以下のようにして調べた。
された直径120mm、厚さ1.2mmのポリカーボネート
樹脂基板上に、前記サンプル作製に各々用いた塗布液を
用い、スピンコートにより150nm厚の記録層を設層し
た。次にAuを材質とする反射層をスパッタにより85
nm厚に形成した。そして、この上に紫外線硬化型のアク
リル樹脂の保護膜(膜厚5μm )を形成した。このよう
にして図1に示すような光記録ディスクを作製した。こ
れらを上記のサンプルNo. 1〜No. 6、No. 11、No.
12に応じ、ディスクサンプルNo. 1〜No. 6、No. 1
1、No. 12とする。これらのディスクサンプルについ
て、再生劣化および変調度を以下のようにして調べた。
【0096】再生劣化 EFM信号を記録した後、C1エラーの初期値をm、1
mWの再生パワーで10時間再生を繰り返した後に再びC
lエラーを測定した時の値をnとし、10%以上増加し
たものを不可(×)、10%未満のものを可(○)とし
た。
mWの再生パワーで10時間再生を繰り返した後に再びC
lエラーを測定した時の値をnとし、10%以上増加し
たものを不可(×)、10%未満のものを可(○)とし
た。
【0097】変調度 EFM信号を記録した後、パルステックDDU−100
0で再生した信号の変調度を測定した。オレンジブック
の規格60%を満たさないものを不可(×)、60%以
上のものを可(○)とした。
0で再生した信号の変調度を測定した。オレンジブック
の規格60%を満たさないものを不可(×)、60%以
上のものを可(○)とした。
【0098】以上の結果を表4に示す。表中にはサンプ
ルNo. で示している。
ルNo. で示している。
【0099】
【表4】
【0100】表4より本発明の効果は明らかである。な
お、ディスクサンプルNo. 1〜No.6についてレーザー
(波長780nm)で読み出したところ、反射率は65〜
75%の範囲にあり、オレンジブック規格を満足するこ
とがわかった。
お、ディスクサンプルNo. 1〜No.6についてレーザー
(波長780nm)で読み出したところ、反射率は65〜
75%の範囲にあり、オレンジブック規格を満足するこ
とがわかった。
【0101】
【発明の効果】本発明によれば、再生劣化や光劣化が防
止される。また、溶解性に優れるので記録層設層用の塗
布液の調製が容易で、成膜性に優れ、反射率が大きい。
また、変調度が大きい。
止される。また、溶解性に優れるので記録層設層用の塗
布液の調製が容易で、成膜性に優れ、反射率が大きい。
また、変調度が大きい。
【図1】本発明の光記録ディスクの一例を示す部分断面
図である。
図である。
1 光記録ディスク 2 基板 23 グルーブ 3 記録層 4 反射層 5 保護膜
フロントページの続き (72)発明者 有岡 博之 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 川島 康 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 二宮 英隆 東京都日野市さくら町1番地 コニカ株式 会社内 (72)発明者 松本 和正 東京都日野市さくら町1番地 コニカ株式 会社内 (72)発明者 島田 文生 東京都日野市さくら町1番地 コニカ株式 会社内
Claims (5)
- 【請求項1】 インドレニン系ペンタメチンシアニン色
素と下記化1で示される金属錯体化合物とを含有し、イ
ンドレニン系ペンタメチンシアニン色素/金属錯体化合
物が重量比で1/9〜9/1である記録層を有する光記
録媒体。 【化1】 [化1において、R1 はアルキル基またはハロゲン原子
を表し、t1は0または1〜3の整数である。R2 はア
ルキル基を表し、t2は0または1〜4の整数である。
R3 は水酸基、フッ素原子、アルキル基、アルコキシ
基、アシルアミノ基、アルキルスルホンアミド基、アリ
ールスルホンアミド基またはアミノ基を表し、これらは
Mに配位可能となっていてもよく、t3は0または1〜
5の整数である。R4 およびR5 は、同一でも異なるも
のであってもよく、それぞれアルキル基を表す。MはN
i、Cu、Co、Zn、Fe、PdおよびPtから選ば
れる金属原子またはこれらの塩を表す。Mに対しては、
イミダゾール環のN(ベンゼン環の結合位置の隣接位の
N)、およびピラゾール環のN(イミダゾール環の結合
するNの隣接位のN)、さらには配位可能であるときの
R3 で配位結合が形成される。] - 【請求項2】 前記金属錯体化合物が下記化2で示され
る請求項1の光記録媒体。 【化2】 [化2において、R1 はアルキル基またはハロゲン原子
を表し、t1は0または1〜3の整数である。R2 はア
ルキル基を表し、t2は0または1〜4の整数である。
YはO- 、N- SO2 RまたはN- COR(ここで、R
はアルキル基またはアリール基を表す。)を表す。R31
はアシルアミノ基、アリールスルホンアミド基またはア
ミノ基を表し、t31は0または1〜4の整数である。
R4 およびR5 は、同一でも異なるものであってもよ
く、それぞれアルキル基を表す。MはNi、Cu、C
o、Zn、Fe、PdおよびPtから選ばれる金属原子
またはこれらの塩を表す。Mに対しては、Y、イミダゾ
ール環のN(ベンゼン環の結合位置の隣接位のN)、お
よびピラゾール環のN(イミダゾール環の結合するNの
隣接位のN)で配位結合が形成される。] - 【請求項3】 前記インドレニン系ペンタメチンシアニ
ン系色素が下記式(I)で示される請求項1または2の
光記録媒体。 式(I) Φ−L=Ψ・(X)m [式(I)において、ΦおよびΨはそれぞれインドレニ
ン系の複素環を表し、これらの環骨格は同一でも異なる
ものであってもよい。Lはペンタメチン鎖を表す。Xは
対イオンを表し、mは電荷の均衡を保つための数であ
る。] - 【請求項4】 前記インドレニン系シアニン色素の記録
および再生波長における屈折率(複素屈折率の実部)n
が2.2〜2.8、消衰係数(複素屈折率の虚部)kが
0〜0.15であり、前記金属錯体化合物の記録および
再生波長におけるnが1.8〜2.5、kが0.01〜
0.25である請求項1〜3のいずれかの光記録媒体。 - 【請求項5】 前記金属錯体化合物のメタノール中にお
ける吸収極大λmaxが550〜700nmで、モル吸光係
数εが50,000〜300,000である請求項1〜
4のいずれかの光記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7142509A JPH08310129A (ja) | 1995-05-17 | 1995-05-17 | 光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7142509A JPH08310129A (ja) | 1995-05-17 | 1995-05-17 | 光記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08310129A true JPH08310129A (ja) | 1996-11-26 |
Family
ID=15317012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7142509A Withdrawn JPH08310129A (ja) | 1995-05-17 | 1995-05-17 | 光記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08310129A (ja) |
-
1995
- 1995-05-17 JP JP7142509A patent/JPH08310129A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020806 |