JPH085466A - 表面温度分布測定方法及び該方法に用いられる装置 - Google Patents
表面温度分布測定方法及び該方法に用いられる装置Info
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- JPH085466A JPH085466A JP6135262A JP13526294A JPH085466A JP H085466 A JPH085466 A JP H085466A JP 6135262 A JP6135262 A JP 6135262A JP 13526294 A JP13526294 A JP 13526294A JP H085466 A JPH085466 A JP H085466A
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- radiation thermometer
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 放射温度計１１ａ〜１４ｅを被測定物３０、
３２の周囲に配列して放射温度計列１１〜１４を構成す
るとともに、偏心した被測定物３２の相対位置（α，
β）を検出する位置検出手段１９を配設し、被測定物３
０、３２の中心部（α，β）に最も近い放射温度計を検
出し、これらの放射温度計１１ｂ、１２ｃ、１３ｃ、１
４ｂによる測定データを用いて被測定物３０、３２の温
度分布を求める表面温度分布測定方法。 【効果】 比較的正確な温度を測定している放射温度計
１１ｂ、１２ｃ、１３ｃ、１４ｂを選択することがで
き、これらの温度測定データにより、放射温度計列１１
〜１４にそれぞれ対向する被測定物３０、３２表面部分
の温度を正確に求めることができ、細長い形状を有し、
常時偏心しながら連続的に送られる被測定物３０、３２
の表面温度分布を確実に測定することができる。
３２の周囲に配列して放射温度計列１１〜１４を構成す
るとともに、偏心した被測定物３２の相対位置（α，
β）を検出する位置検出手段１９を配設し、被測定物３
０、３２の中心部（α，β）に最も近い放射温度計を検
出し、これらの放射温度計１１ｂ、１２ｃ、１３ｃ、１
４ｂによる測定データを用いて被測定物３０、３２の温
度分布を求める表面温度分布測定方法。 【効果】 比較的正確な温度を測定している放射温度計
１１ｂ、１２ｃ、１３ｃ、１４ｂを選択することがで
き、これらの温度測定データにより、放射温度計列１１
〜１４にそれぞれ対向する被測定物３０、３２表面部分
の温度を正確に求めることができ、細長い形状を有し、
常時偏心しながら連続的に送られる被測定物３０、３２
の表面温度分布を確実に測定することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は表面温度分布測定方法及
び該方法に用いられる装置に関し、より詳細には、例え
ば圧延、引き抜き加工の際における棒鋼、線材のよう
な、常時偏心しながら連続的に移動している細長い形状
を有する被測定物の表面温度を非接触で、かつ連続的に
測定する表面温度分布測定方法及び該方法に用いられる
装置に関する。
び該方法に用いられる装置に関し、より詳細には、例え
ば圧延、引き抜き加工の際における棒鋼、線材のよう
な、常時偏心しながら連続的に移動している細長い形状
を有する被測定物の表面温度を非接触で、かつ連続的に
測定する表面温度分布測定方法及び該方法に用いられる
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】搬送手段上を速い速度で連続的に移動し
ている棒鋼、線材等における表面各部の温度を正確に測
定することは品質管理上重要であり、従来から種々の方
法が研究されている。
ている棒鋼、線材等における表面各部の温度を正確に測
定することは品質管理上重要であり、従来から種々の方
法が研究されている。
【０００３】図４は従来の表面温度分布測定装置と被測
定物とを示した模式図であり、（ａ）は正面図、（ｂ）
は（ａ）におけるＡ−Ａ線断面図を示している。被測定
物３０は断面３０ａ（ｂ）の面積が比較的小さい例えば
略円形状を有するとともに、長さが長く、また長軸ｚ方
向へ比較的速い速度で送られている。被測定物３０の外
方には略リング形状の回転体４１が長軸ｚの軸心３０ｂ
に関して略同心円状に配設され、回転体４１の所定箇所
には放射温度計４２が取り付けられており、放射温度計
４２の取り付け方向は被測定物３０表面から放射された
熱放射光が受光レンズ４２ａに集光されるように設定さ
れている。また回転体４１が回転するに伴い放射温度計
４２も被測定物３０の外周を回転するようになってお
り、これら放射温度計４２、回転体４１等を含んで表面
温度測定装置４０が構成されている（実開平１−９７２
２７号公報）。
定物とを示した模式図であり、（ａ）は正面図、（ｂ）
は（ａ）におけるＡ−Ａ線断面図を示している。被測定
物３０は断面３０ａ（ｂ）の面積が比較的小さい例えば
略円形状を有するとともに、長さが長く、また長軸ｚ方
向へ比較的速い速度で送られている。被測定物３０の外
方には略リング形状の回転体４１が長軸ｚの軸心３０ｂ
に関して略同心円状に配設され、回転体４１の所定箇所
には放射温度計４２が取り付けられており、放射温度計
４２の取り付け方向は被測定物３０表面から放射された
熱放射光が受光レンズ４２ａに集光されるように設定さ
れている。また回転体４１が回転するに伴い放射温度計
４２も被測定物３０の外周を回転するようになってお
り、これら放射温度計４２、回転体４１等を含んで表面
温度測定装置４０が構成されている（実開平１−９７２
２７号公報）。
【０００４】このように構成された装置４０を用い、回
転体４１内の略中心部を貫通して移動している被測定物
３０表面の温度分布を測定する場合、まず回転体４１を
介して放射温度計４２を例えば時計方向に回転させる。
次に放射温度計４２がＢ' 点に到達したとき、被測定物
３０表面におけるＢ方向の温度Ｔ( Ｂ1)を測定する。同
様に放射温度計がＣ' 、Ｄ' 、Ｅ' 点に到達したとき、
被測定物３０表面におけるＣ、Ｄ、Ｅ方向の温度Ｔ( Ｃ
1)、Ｔ( Ｄ1)、Ｔ( Ｅ1)をそれぞれ測定した後、Ｂ' 点
に戻ってＢ方向の温度Ｔ( Ｂ2)を測定し、以後、これを
繰り返す（ｂ）。すると被測定物３０表面におけるＢ、
Ｃ、Ｄ、Ｅ各方向の温度分布が連続的に測定される
（ａ）。
転体４１内の略中心部を貫通して移動している被測定物
３０表面の温度分布を測定する場合、まず回転体４１を
介して放射温度計４２を例えば時計方向に回転させる。
次に放射温度計４２がＢ' 点に到達したとき、被測定物
３０表面におけるＢ方向の温度Ｔ( Ｂ1)を測定する。同
様に放射温度計がＣ' 、Ｄ' 、Ｅ' 点に到達したとき、
被測定物３０表面におけるＣ、Ｄ、Ｅ方向の温度Ｔ( Ｃ
1)、Ｔ( Ｄ1)、Ｔ( Ｅ1)をそれぞれ測定した後、Ｂ' 点
に戻ってＢ方向の温度Ｔ( Ｂ2)を測定し、以後、これを
繰り返す（ｂ）。すると被測定物３０表面におけるＢ、
Ｃ、Ｄ、Ｅ各方向の温度分布が連続的に測定される
（ａ）。
【０００５】図５は従来の別の表面温度分布測定装置を
模式的に示した断面図であり、図中３０ａは被測定物３
０の長軸ｚ（図４）に直交する断面を示している。被測
定物３０の外周表面３１ａ、３１ｂ、…上方の所定箇所
には複数個の光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…の一端部
側が配設されており、光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…
の方向は被測定物３０の軸心３０ｂに向けて設定されて
いる。また光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…の他端部側
はＣＣＤ素子を用いて形成された一次元光検出器５２に
それぞれ接続され、さらに一次元光検出器５２は信号処
理装置５３に接続されている。これら光ファイバー５１
ａ、５１ｂ、…、一次元光検出器５２、信号処理装置５
３を含んで表面温度測定装置５０が構成されている（特
開平４−２５４７２６号公報）。
模式的に示した断面図であり、図中３０ａは被測定物３
０の長軸ｚ（図４）に直交する断面を示している。被測
定物３０の外周表面３１ａ、３１ｂ、…上方の所定箇所
には複数個の光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…の一端部
側が配設されており、光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…
の方向は被測定物３０の軸心３０ｂに向けて設定されて
いる。また光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…の他端部側
はＣＣＤ素子を用いて形成された一次元光検出器５２に
それぞれ接続され、さらに一次元光検出器５２は信号処
理装置５３に接続されている。これら光ファイバー５１
ａ、５１ｂ、…、一次元光検出器５２、信号処理装置５
３を含んで表面温度測定装置５０が構成されている（特
開平４−２５４７２６号公報）。
【０００６】このように構成された装置５０を用い、送
られている被測定物３０表面の温度分布を測定する場
合、まず表面３１ａ、３１ｂ、…からそれぞれ放射され
た熱放射光を光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…の各一端
部で集光する。すると集光された各熱放射光は光ファイ
バー５１ａ、５１ｂ、…の各他端部側へ導かれ、一次元
光検出器５２により各熱放射光強度が検出され、これら
の強度信号が信号処理装置５３に送られ、演算処理され
て表面３１ａ、３１ｂ、…の温度分布が連続的に求めら
れる。
られている被測定物３０表面の温度分布を測定する場
合、まず表面３１ａ、３１ｂ、…からそれぞれ放射され
た熱放射光を光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…の各一端
部で集光する。すると集光された各熱放射光は光ファイ
バー５１ａ、５１ｂ、…の各他端部側へ導かれ、一次元
光検出器５２により各熱放射光強度が検出され、これら
の強度信号が信号処理装置５３に送られ、演算処理され
て表面３１ａ、３１ｂ、…の温度分布が連続的に求めら
れる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、搬送手段上
を速い速度で連続的に移動しているとき、被測定物３０
における長軸ｚの軸心３０ｂの位置は常時変動（偏心）
している場合が多い。
を速い速度で連続的に移動しているとき、被測定物３０
における長軸ｚの軸心３０ｂの位置は常時変動（偏心）
している場合が多い。
【０００８】上記した表面温度分布測定装置４０におい
ては、被測定物３０が瞬間的に例えば被測定物３２の位
置に偏心すると（ｂ）、被測定物３２が放射温度計４２
の視野４２ｂから外れ、例えば被測定物３２表面におけ
るＢ方向の温度を測定することが不可能となり、被測定
物３０の表面温度分布を常時確実に測定することが困難
であるという課題があった。また回転体４１が被測定物
３０の外方周囲に配設され、さらに回転体４１にはこれ
を駆動する駆動装置（図示せず）が付設されており、測
定装置４０が大形になり易く、設置場所（温度測定場
所）に制約を受けるという課題があった。
ては、被測定物３０が瞬間的に例えば被測定物３２の位
置に偏心すると（ｂ）、被測定物３２が放射温度計４２
の視野４２ｂから外れ、例えば被測定物３２表面におけ
るＢ方向の温度を測定することが不可能となり、被測定
物３０の表面温度分布を常時確実に測定することが困難
であるという課題があった。また回転体４１が被測定物
３０の外方周囲に配設され、さらに回転体４１にはこれ
を駆動する駆動装置（図示せず）が付設されており、測
定装置４０が大形になり易く、設置場所（温度測定場
所）に制約を受けるという課題があった。
【０００９】また、表面温度分布測定装置５０において
は、被測定物３０が例えば被測定物３２の位置に偏心す
ると、光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…へ入射する熱放
射光量が変化して測定温度が不正確となり、あるいは熱
放射光の放射方向が変化して表面３１ａ、３１ｂ、…が
特定できなくなり、被測定物３０の表面温度分布を常時
確実に測定することが困難であるという課題があった。
は、被測定物３０が例えば被測定物３２の位置に偏心す
ると、光ファイバー５１ａ、５１ｂ、…へ入射する熱放
射光量が変化して測定温度が不正確となり、あるいは熱
放射光の放射方向が変化して表面３１ａ、３１ｂ、…が
特定できなくなり、被測定物３０の表面温度分布を常時
確実に測定することが困難であるという課題があった。
【００１０】本発明はこのような課題に鑑みなされたも
のであり、細長い形状を有し、かつ常時偏心しながら連
続的に移動する被測定物に接触することなく、測定部位
を特定しつつ表面温度を確実に測定することができると
ともに、小形化を図ることができ、任意の場所で測定す
ることが可能な表面温度分布測定方法及び該方法に用い
られる装置を提供することを目的としている。
のであり、細長い形状を有し、かつ常時偏心しながら連
続的に移動する被測定物に接触することなく、測定部位
を特定しつつ表面温度を確実に測定することができると
ともに、小形化を図ることができ、任意の場所で測定す
ることが可能な表面温度分布測定方法及び該方法に用い
られる装置を提供することを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明に係る表面温度分布測定方法は、複数個の放射
温度計を入射光軸が相互に平行となるように所定間隔を
開けて配列して放射温度計列を構成し、該放射温度計列
を被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設して放射温度
計列群を構成するとともに、基準位置に対する前記被測
定物の相対位置を検出する位置検出手段を配設し、該位
置検出手段により前記被測定物の中心部に最も近い放射
温度計を前記放射温度計列ごとに検出し、これらの放射
温度計による測定データを用いて前記被測定物の温度分
布を求めることを特徴としている。
に本発明に係る表面温度分布測定方法は、複数個の放射
温度計を入射光軸が相互に平行となるように所定間隔を
開けて配列して放射温度計列を構成し、該放射温度計列
を被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設して放射温度
計列群を構成するとともに、基準位置に対する前記被測
定物の相対位置を検出する位置検出手段を配設し、該位
置検出手段により前記被測定物の中心部に最も近い放射
温度計を前記放射温度計列ごとに検出し、これらの放射
温度計による測定データを用いて前記被測定物の温度分
布を求めることを特徴としている。
【００１２】また本発明に係る表面温度分布測定装置
は、入射光軸が相互に平行となるように所定間隔を有し
て配設された複数個の放射温度計より成る放射温度計列
が被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設されて構成さ
れた放射温度計列群と、基準位置に対する前記被測定物
の相対位置を検出する位置検出手段と、前記放射温度計
列群及び前記位置検出手段からのデータに基づいて前記
被測定物の表面温度分布を演算する処理部とを備えてい
ることを特徴としている。
は、入射光軸が相互に平行となるように所定間隔を有し
て配設された複数個の放射温度計より成る放射温度計列
が被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設されて構成さ
れた放射温度計列群と、基準位置に対する前記被測定物
の相対位置を検出する位置検出手段と、前記放射温度計
列群及び前記位置検出手段からのデータに基づいて前記
被測定物の表面温度分布を演算する処理部とを備えてい
ることを特徴としている。
【００１３】
【作用】一般に前記被測定物と前記放射温度計との距離
が遠くなると前記放射温度計に入射される熱放射光量は
少なくなり、距離が近くなると熱放射光量は多くなる。
一方、前記被測定物と前記放射温度計との距離が遠くな
ると、視野が拡がって前記放射温度計に入射される熱放
射光量は多くなり、距離が近くなると、前記視野が狭ま
って熱放射光量は少なくなる。したがって前記視野にお
ける単位面積当たりの熱放射光量を測定する放射温度計
によれば、前記被測定物と前記放射温度計との距離が計
測する温度に及ぼす影響は無視し得ることとなる。
が遠くなると前記放射温度計に入射される熱放射光量は
少なくなり、距離が近くなると熱放射光量は多くなる。
一方、前記被測定物と前記放射温度計との距離が遠くな
ると、視野が拡がって前記放射温度計に入射される熱放
射光量は多くなり、距離が近くなると、前記視野が狭ま
って熱放射光量は少なくなる。したがって前記視野にお
ける単位面積当たりの熱放射光量を測定する放射温度計
によれば、前記被測定物と前記放射温度計との距離が計
測する温度に及ぼす影響は無視し得ることとなる。
【００１４】本発明に係る表面温度分布測定方法によれ
ば、複数個の放射温度計を入射光軸が相互に平行となる
ように所定間隔を開けて配列して放射温度計列を構成
し、該放射温度計列を被測定物の長軸方向の周囲に複数
列配設して放射温度計列群を構成するとともに、基準位
置に対する前記被測定物の相対位置を検出する位置検出
手段を配設し、該位置検出手段により前記被測定物の中
心部に最も近い放射温度計を前記放射温度計列ごとに検
出し、これらの放射温度計による測定データを用いて前
記被測定物の温度分布を求めるので、前記放射温度計列
内におけるいくつかの放射温度計の視野内に常時前記被
測定物を含め得ることとなり、この放射温度系列の中か
ら比較的正確な温度を測定している放射温度計を前記位
置検出手段でのデータにより選択し得ることとなる。こ
の結果、該選択された放射温度計の温度測定データによ
り、前記被測定物が偏心しても該被測定物に追随させて
前記放射温度計列にそれぞれ対向する前記被測定物表面
部分の温度を正確に求め得ることとなり、細長い形状を
有し、かつ常時偏心しながら連続的に移動する前記被測
定物に接触することなく、任意の測定場所で表面温度分
布を確実に測定し得ることとなる。
ば、複数個の放射温度計を入射光軸が相互に平行となる
ように所定間隔を開けて配列して放射温度計列を構成
し、該放射温度計列を被測定物の長軸方向の周囲に複数
列配設して放射温度計列群を構成するとともに、基準位
置に対する前記被測定物の相対位置を検出する位置検出
手段を配設し、該位置検出手段により前記被測定物の中
心部に最も近い放射温度計を前記放射温度計列ごとに検
出し、これらの放射温度計による測定データを用いて前
記被測定物の温度分布を求めるので、前記放射温度計列
内におけるいくつかの放射温度計の視野内に常時前記被
測定物を含め得ることとなり、この放射温度系列の中か
ら比較的正確な温度を測定している放射温度計を前記位
置検出手段でのデータにより選択し得ることとなる。こ
の結果、該選択された放射温度計の温度測定データによ
り、前記被測定物が偏心しても該被測定物に追随させて
前記放射温度計列にそれぞれ対向する前記被測定物表面
部分の温度を正確に求め得ることとなり、細長い形状を
有し、かつ常時偏心しながら連続的に移動する前記被測
定物に接触することなく、任意の測定場所で表面温度分
布を確実に測定し得ることとなる。
【００１５】また本発明に係る表面温度分布測定装置に
よれば、入射光軸が相互に平行となるように所定間隔を
有して配設された複数個の放射温度計より成る放射温度
計列が被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設されて構
成された放射温度計列群と、基準位置に対する前記被測
定物の相対位置を検出する位置検出手段と、前記放射温
度計列群及び前記位置検出手段からのデータに基づいて
前記被測定物の表面温度分布を演算する処理部とを備え
ているので、上記記載の表面温度分布測定方法を容易に
実施し得ることとなる。
よれば、入射光軸が相互に平行となるように所定間隔を
有して配設された複数個の放射温度計より成る放射温度
計列が被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設されて構
成された放射温度計列群と、基準位置に対する前記被測
定物の相対位置を検出する位置検出手段と、前記放射温
度計列群及び前記位置検出手段からのデータに基づいて
前記被測定物の表面温度分布を演算する処理部とを備え
ているので、上記記載の表面温度分布測定方法を容易に
実施し得ることとなる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明に係る表面温度分布測定方法及
び該方法に用いられる装置の実施例を図面に基づいて説
明する。なお、従来例と同一機能を有する構成部品には
同一の符号を付すこととする。図１は本発明に係る表面
温度分布測定装置の実施例を模式的に示した断面図であ
り、図中３０ａは被測定物３０における長軸ｚ（図４
（ａ））に直交する断面を示している。被測定物３０上
方の所定箇所には５個の放射温度計１１ａ〜１１ｅが配
設されており、放射温度計１１ａ〜１１ｅはそれぞれの
間隔Ｌが約１０ｍｍに設定され、かつ入射光軸１１ｆが
相互に平行に入射されるようになっている。また放射温
度計１１ａ〜１１ｅはそれぞれ集光レンズ、光ファイバ
ー及び光検出器（ともに図示せず）で構成されており、
これら放射温度計１１ａ〜１１ｅにより第１の放射温度
計列１１が構成されている。また放射温度計列１１の場
合と同様、被測定物３０右方の所定箇所には５個の放射
温度計１２ａ〜１２ｅより成る第２の放射温度計列１２
が配設され、また被測定物３０下方の所定箇所には５個
の放射温度計１３ａ〜１３ｅより成る第３の放射温度計
列１３が配設されている。さらに被測定物３０左方の所
定箇所には５個の放射温度計１４ａ〜１４ｅより成る第
４の放射温度計列１４が配設されており、これら４個の
放射温度計列１１、１２、１３、１４により放射温度計
列群１０が構成されている。また放射温度計列１１、１
２、１３、１４における各放射温度計１１ａ〜１１ｅ、
１２ａ〜１２ｅ、１３ａ〜１３ｅ、１４ａ〜１４ｅはＡ
／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器１５を介して処理部
１６にそれぞれ接続されている。そしてこれらの放射温
度計１１ａ〜１４ｅで測定された熱放射光の強度が電圧
値で出力され、Ａ／Ｄ変換器１５によりデジタル変換さ
れて処理部１６に伝送され、処理部１６においてそれぞ
れの温度が演算されるようになっている。
び該方法に用いられる装置の実施例を図面に基づいて説
明する。なお、従来例と同一機能を有する構成部品には
同一の符号を付すこととする。図１は本発明に係る表面
温度分布測定装置の実施例を模式的に示した断面図であ
り、図中３０ａは被測定物３０における長軸ｚ（図４
（ａ））に直交する断面を示している。被測定物３０上
方の所定箇所には５個の放射温度計１１ａ〜１１ｅが配
設されており、放射温度計１１ａ〜１１ｅはそれぞれの
間隔Ｌが約１０ｍｍに設定され、かつ入射光軸１１ｆが
相互に平行に入射されるようになっている。また放射温
度計１１ａ〜１１ｅはそれぞれ集光レンズ、光ファイバ
ー及び光検出器（ともに図示せず）で構成されており、
これら放射温度計１１ａ〜１１ｅにより第１の放射温度
計列１１が構成されている。また放射温度計列１１の場
合と同様、被測定物３０右方の所定箇所には５個の放射
温度計１２ａ〜１２ｅより成る第２の放射温度計列１２
が配設され、また被測定物３０下方の所定箇所には５個
の放射温度計１３ａ〜１３ｅより成る第３の放射温度計
列１３が配設されている。さらに被測定物３０左方の所
定箇所には５個の放射温度計１４ａ〜１４ｅより成る第
４の放射温度計列１４が配設されており、これら４個の
放射温度計列１１、１２、１３、１４により放射温度計
列群１０が構成されている。また放射温度計列１１、１
２、１３、１４における各放射温度計１１ａ〜１１ｅ、
１２ａ〜１２ｅ、１３ａ〜１３ｅ、１４ａ〜１４ｅはＡ
／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器１５を介して処理部
１６にそれぞれ接続されている。そしてこれらの放射温
度計１１ａ〜１４ｅで測定された熱放射光の強度が電圧
値で出力され、Ａ／Ｄ変換器１５によりデジタル変換さ
れて処理部１６に伝送され、処理部１６においてそれぞ
れの温度が演算されるようになっている。
【００１７】一方、被測定物３０の上方、右方の所定箇
所にはＣＣＤラインセンサーカメラ１７ａ、１７ｂがそ
れぞれ配設され、ＣＣＤラインセンサカメラ１７ａ、１
７ｂは信号処理回路１８に接続されており、これらＣＣ
Ｄラインセンサカメラ１７ａ、１７ｂと信号処理回路１
８とを含んで位置検出手段１９が構成されている。そし
て被測定物３０からの熱放射光がＣＣＤラインセンサカ
メラ１７ａ、１７ｂに入射されると、この信号が信号処
理回路１８に伝送され、信号処理回路１８において基準
位置（ｙ＝０，ｘ＝０）に対する被測定物３０の相対中
心位置（ｙ＝α，ｘ＝β）が検出されるようになってい
る。また信号処理回路１８は処理部１６に接続されてお
り、処理部１６には被測定物３０の相対中心位置（ｙ＝
α，ｘ＝β）に最も近い放射温度計１１ａ〜１４ｅに関
するデータが予め保存されている。これら放射温度計列
群１０、処理部１６、位置検出手段１９等を含んで表面
温度測定装置２０が構成されている。
所にはＣＣＤラインセンサーカメラ１７ａ、１７ｂがそ
れぞれ配設され、ＣＣＤラインセンサカメラ１７ａ、１
７ｂは信号処理回路１８に接続されており、これらＣＣ
Ｄラインセンサカメラ１７ａ、１７ｂと信号処理回路１
８とを含んで位置検出手段１９が構成されている。そし
て被測定物３０からの熱放射光がＣＣＤラインセンサカ
メラ１７ａ、１７ｂに入射されると、この信号が信号処
理回路１８に伝送され、信号処理回路１８において基準
位置（ｙ＝０，ｘ＝０）に対する被測定物３０の相対中
心位置（ｙ＝α，ｘ＝β）が検出されるようになってい
る。また信号処理回路１８は処理部１６に接続されてお
り、処理部１６には被測定物３０の相対中心位置（ｙ＝
α，ｘ＝β）に最も近い放射温度計１１ａ〜１４ｅに関
するデータが予め保存されている。これら放射温度計列
群１０、処理部１６、位置検出手段１９等を含んで表面
温度測定装置２０が構成されている。
【００１８】図２はこのように構成された測定装置２０
を用い、連続的に送られている被測定物３０表面におけ
る所定部分の温度分布を測定する方法を示したフローチ
ャートである。システムの動作を開始させると、まず放
射温度計１１ａ〜１４ｅに熱放射光が入射され、この強
度信号がＡ／Ｄ変換器１５を介して処理部１６に伝送さ
れ、処理部１６において放射温度計１１ａ〜１４ｅごと
の温度が演算され、この温度データが保存される（Ｓ
１）。次にＣＣＤラインセンサカメラ１７ａ、１７ｂに
より被測定物３０が撮像され、信号処理回路１８におい
て被測定物３０の相対位置（ｙ＝α，ｘ＝β）が検出さ
れる（Ｓ２）。次に処理部１６において予め保存された
放射温度計に関するデータが呼び出され、Ｓ２で検出さ
れた相対位置に最も近い例えば放射温度計１１ｂ、１２
ｃ、１３ｃ、１４ｃが選択される（Ｓ３）。次にＳ３で
選択された放射温度計に関するＳ１で保存された温度デ
ータが呼び出され（Ｓ４）、被測定物３０表面における
＋ｙ、＋ｘ、−ｙ、−ｘ軸方向の温度分布が確定され
（Ｓ５）、この温度分布がディスプレイ、プリント等に
出力された後（Ｓ６）、ふたたびＳ１に戻って以下連続
的に温度分布が測定される。
を用い、連続的に送られている被測定物３０表面におけ
る所定部分の温度分布を測定する方法を示したフローチ
ャートである。システムの動作を開始させると、まず放
射温度計１１ａ〜１４ｅに熱放射光が入射され、この強
度信号がＡ／Ｄ変換器１５を介して処理部１６に伝送さ
れ、処理部１６において放射温度計１１ａ〜１４ｅごと
の温度が演算され、この温度データが保存される（Ｓ
１）。次にＣＣＤラインセンサカメラ１７ａ、１７ｂに
より被測定物３０が撮像され、信号処理回路１８におい
て被測定物３０の相対位置（ｙ＝α，ｘ＝β）が検出さ
れる（Ｓ２）。次に処理部１６において予め保存された
放射温度計に関するデータが呼び出され、Ｓ２で検出さ
れた相対位置に最も近い例えば放射温度計１１ｂ、１２
ｃ、１３ｃ、１４ｃが選択される（Ｓ３）。次にＳ３で
選択された放射温度計に関するＳ１で保存された温度デ
ータが呼び出され（Ｓ４）、被測定物３０表面における
＋ｙ、＋ｘ、−ｙ、−ｘ軸方向の温度分布が確定され
（Ｓ５）、この温度分布がディスプレイ、プリント等に
出力された後（Ｓ６）、ふたたびＳ１に戻って以下連続
的に温度分布が測定される。
【００１９】以下に、実施例に係る装置２０を用い、被
測定物の表面温度分布を測定した結果について説明す
る。被測定物３０は直径が約２０ｍｍ、表面全体の温度
が約６８０℃に設定されたものを使用した。そしてｙ＝
−２０ｍｍ一定、ｘ軸方向に偏心させ、被測定物３０表
面における＋ｙ、−ｙ軸方向部分の温度を測定した。な
お、前記直径別・設定位置別・放射温度計データとして
は下記の表１に示したものを用いた。
測定物の表面温度分布を測定した結果について説明す
る。被測定物３０は直径が約２０ｍｍ、表面全体の温度
が約６８０℃に設定されたものを使用した。そしてｙ＝
−２０ｍｍ一定、ｘ軸方向に偏心させ、被測定物３０表
面における＋ｙ、−ｙ軸方向部分の温度を測定した。な
お、前記直径別・設定位置別・放射温度計データとして
は下記の表１に示したものを用いた。
【００２０】
【表１】
【００２１】図３は実施例に係る方法及び装置を用いて
被測定物の表面温度を測定した結果を示した曲線図であ
り、この図から明らかなように、測定温度のばらつきは
±１０℃以内であり、また被測定物３０に対する放射温
度計列１１、１３の距離が異なっていても測定温度は略
同一であった。
被測定物の表面温度を測定した結果を示した曲線図であ
り、この図から明らかなように、測定温度のばらつきは
±１０℃以内であり、また被測定物３０に対する放射温
度計列１１、１３の距離が異なっていても測定温度は略
同一であった。
【００２２】上記した結果及び説明から明らかなよう
に、実施例に係る表面温度分布測定方法及び該方法に用
いられる装置では、放射温度計列１１〜１４内における
いくつかの放射温度計の視野内に常時被測定物３０を含
めることができ、この放射温度系列１１〜１４の中から
比較的正確な温度を測定している放射温度計を位置検出
手段１９でのデータにより選択することができる。この
結果、選択された例えば放射温度計１１ｂ、１２ｃ、１
３ｃ、１４ｂの温度測定データにより、放射温度計列１
１〜１４にそれぞれ対向する被測定物３０表面部分の温
度を正確に求めることができ、細長い形状を有し、かつ
常時偏心しながら連続的に送られる被測定物３０に接触
することなく、追随させて任意の測定場所で表面温度分
布を確実に測定することができる。
に、実施例に係る表面温度分布測定方法及び該方法に用
いられる装置では、放射温度計列１１〜１４内における
いくつかの放射温度計の視野内に常時被測定物３０を含
めることができ、この放射温度系列１１〜１４の中から
比較的正確な温度を測定している放射温度計を位置検出
手段１９でのデータにより選択することができる。この
結果、選択された例えば放射温度計１１ｂ、１２ｃ、１
３ｃ、１４ｂの温度測定データにより、放射温度計列１
１〜１４にそれぞれ対向する被測定物３０表面部分の温
度を正確に求めることができ、細長い形状を有し、かつ
常時偏心しながら連続的に送られる被測定物３０に接触
することなく、追随させて任意の測定場所で表面温度分
布を確実に測定することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上詳述したように本発明に係る表面温
度分布測定方法にあっては、複数個の放射温度計を入射
光軸が相互に平行となるように所定間隔を開けて配列し
て放射温度計列を構成し、該放射温度計列を被測定物の
長軸方向の周囲に複数列配設して放射温度計列群を構成
するとともに、基準位置に対する前記被測定物の相対位
置を検出する位置検出手段を配設し、該位置検出手段に
より前記被測定物の中心部に最も近い放射温度計を前記
放射温度計列ごとに検出し、これらの放射温度計による
測定データを用いて前記被測定物の温度分布を求めるの
で、前記放射温度計列内におけるいくつかの放射温度計
の視野内に常時前記被測定物を含めることができ、この
放射温度系列の中から比較的正確な温度を測定している
放射温度計を前記位置検出手段でのデータにより選択す
ることができる。この結果、該選択された放射温度計の
温度測定データにより、前記被測定物が偏心しても該被
測定物に追随させて前記放射温度計列にそれぞれ対向す
る前記被測定物表面部分の温度を正確に求めることがで
き、細長い形状を有し、かつ常時偏心しながら連続的に
移動する前記被測定物に接触することなく、任意の測定
場所で表面温度分布を確実に測定することができる。
度分布測定方法にあっては、複数個の放射温度計を入射
光軸が相互に平行となるように所定間隔を開けて配列し
て放射温度計列を構成し、該放射温度計列を被測定物の
長軸方向の周囲に複数列配設して放射温度計列群を構成
するとともに、基準位置に対する前記被測定物の相対位
置を検出する位置検出手段を配設し、該位置検出手段に
より前記被測定物の中心部に最も近い放射温度計を前記
放射温度計列ごとに検出し、これらの放射温度計による
測定データを用いて前記被測定物の温度分布を求めるの
で、前記放射温度計列内におけるいくつかの放射温度計
の視野内に常時前記被測定物を含めることができ、この
放射温度系列の中から比較的正確な温度を測定している
放射温度計を前記位置検出手段でのデータにより選択す
ることができる。この結果、該選択された放射温度計の
温度測定データにより、前記被測定物が偏心しても該被
測定物に追随させて前記放射温度計列にそれぞれ対向す
る前記被測定物表面部分の温度を正確に求めることがで
き、細長い形状を有し、かつ常時偏心しながら連続的に
移動する前記被測定物に接触することなく、任意の測定
場所で表面温度分布を確実に測定することができる。
【００２４】また本発明に係る表面温度分布測定装置に
あっては、入射光軸が相互に平行となるように所定間隔
を有して配設された複数個の放射温度計より成る放射温
度計列が被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設されて
構成された放射温度計列群と、基準位置に対する前記被
測定物の相対位置を検出する位置検出手段と、前記放射
温度計列群及び前記位置検出手段からのデータに基づい
て前記被測定物の表面温度分布を演算する処理部とを備
えているので、上記記載の表面温度分布測定方法を容易
に実施することができる。
あっては、入射光軸が相互に平行となるように所定間隔
を有して配設された複数個の放射温度計より成る放射温
度計列が被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設されて
構成された放射温度計列群と、基準位置に対する前記被
測定物の相対位置を検出する位置検出手段と、前記放射
温度計列群及び前記位置検出手段からのデータに基づい
て前記被測定物の表面温度分布を演算する処理部とを備
えているので、上記記載の表面温度分布測定方法を容易
に実施することができる。
【図１】本発明に係る表面温度分布測定装置の実施例を
模式的に示した断面図である。
模式的に示した断面図である。
【図２】本発明に係る表面温度分布測定方法の実施例を
示したフローチャートである。
示したフローチャートである。
【図３】実施例に係る方法及び装置を用いて被測定物の
表面温度を測定した結果を示した曲線図である。
表面温度を測定した結果を示した曲線図である。
【図４】従来の表面温度分布測定装置と被測定物とを示
した模式図であり、（ａ）は正面図、（ｂ）は（ａ）に
おけるＡ−Ａ線断面図を示している。
した模式図であり、（ａ）は正面図、（ｂ）は（ａ）に
おけるＡ−Ａ線断面図を示している。
【図５】従来の別の表面温度分布測定装置を模式的に示
した断面図である。
した断面図である。
１０ 放射温度計列群 １１、１２、１３、１４ 放射温度計列 １１ａ〜１１ｅ 放射温度計 １１ｆ 入射光軸 １２ａ〜１２ｅ、１３ａ〜１３ｅ、１４ａ〜１４ｅ 放
射温度計 １６ 処理部 １９ 位置検出手段 ２０ 表面温度測定装置 ３０、３２ 被測定物
射温度計 １６ 処理部 １９ 位置検出手段 ２０ 表面温度測定装置 ３０、３２ 被測定物
Claims (2)
- 【請求項１】 複数個の放射温度計を入射光軸が相互に
平行となるように所定間隔を開けて配列して放射温度計
列を構成し、該放射温度計列を被測定物の長軸方向の周
囲に複数列配設して放射温度計列群を構成するととも
に、基準位置に対する前記被測定物の相対位置を検出す
る位置検出手段を配設し、該位置検出手段により前記被
測定物の中心部に最も近い放射温度計を前記放射温度計
列ごとに検出し、これらの放射温度計による測定データ
を用いて前記被測定物の温度分布を求めることを特徴と
する表面温度分布測定方法。 - 【請求項２】 入射光軸が相互に平行となるように所定
間隔を有して配設された複数個の放射温度計より成る放
射温度計列が被測定物の長軸方向の周囲に複数列配設さ
れて構成された放射温度計列群と、基準位置に対する前
記被測定物の相対位置を検出する位置検出手段と、前記
放射温度計列群及び前記位置検出手段からのデータに基
づいて前記被測定物の表面温度分布を演算する処理部と
を備えていることを特徴とする表面温度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6135262A JP2996095B2 (ja) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | 表面温度分布測定方法及び該方法に用いられる装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6135262A JP2996095B2 (ja) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | 表面温度分布測定方法及び該方法に用いられる装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085466A true JPH085466A (ja) | 1996-01-12 |
| JP2996095B2 JP2996095B2 (ja) | 1999-12-27 |
Family
ID=15147599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6135262A Expired - Lifetime JP2996095B2 (ja) | 1994-06-17 | 1994-06-17 | 表面温度分布測定方法及び該方法に用いられる装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2996095B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008126244A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Jfe Steel Kk | 芯ズレ検出方法、検出設備、及び圧延方法 |
| JP2008238273A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-10-09 | Jfe Steel Kk | 熱間圧延における近赤外線カメラを用いた熱延金属帯の全幅撮影方法、全幅撮影結果記録方法 |
| JP2008238271A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-10-09 | Jfe Steel Kk | 熱間圧延における近赤外線カメラを用いた熱延金属帯の全幅撮影方法、全幅撮影結果記録方法 |
| FR2971439A1 (fr) * | 2011-02-11 | 2012-08-17 | Nexans | Procede de mise en forme d'un fil metallique |
-
1994
- 1994-06-17 JP JP6135262A patent/JP2996095B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008126244A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Jfe Steel Kk | 芯ズレ検出方法、検出設備、及び圧延方法 |
| JP2008238273A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-10-09 | Jfe Steel Kk | 熱間圧延における近赤外線カメラを用いた熱延金属帯の全幅撮影方法、全幅撮影結果記録方法 |
| JP2008238271A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-10-09 | Jfe Steel Kk | 熱間圧延における近赤外線カメラを用いた熱延金属帯の全幅撮影方法、全幅撮影結果記録方法 |
| FR2971439A1 (fr) * | 2011-02-11 | 2012-08-17 | Nexans | Procede de mise en forme d'un fil metallique |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2996095B2 (ja) | 1999-12-27 |
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