JPH09166527A - X線装置の試料炉体及びそれを用いた試料格納容器 - Google Patents
X線装置の試料炉体及びそれを用いた試料格納容器Info
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- JPH09166527A JPH09166527A JP7347775A JP34777595A JPH09166527A JP H09166527 A JPH09166527 A JP H09166527A JP 7347775 A JP7347775 A JP 7347775A JP 34777595 A JP34777595 A JP 34777595A JP H09166527 A JPH09166527 A JP H09166527A
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 試料炉体に装着された試料に入射及び出射す
るX線の減衰を低減し、X線回折測定における死角の発
生を防止し、さらに使用温度を高める。 【解決手段】 X線装置に供される試料3を加熱する試
料炉体33である。この炉体33は、試料3を支持する
試料支持柱49と、試料支持柱49を包囲する筒状の加
熱管47と、加熱管47に形成されたX線通過用開口5
5と、加熱管47に巻き付けられた発熱線56aとを有
する。発熱線56aは加熱管47の軸線方向、すなわち
縦方向に巻き付けられる。発熱線56aは縦方向に巻か
れるので、開口55の中に張り出さず、また、それを支
持するための支柱を開口55の中に設ける必要もない。
こうして開口55が大きく開放されるので、そこを通過
するX線は減衰せず、また回折角度2θの中に死角もな
くなる。
るX線の減衰を低減し、X線回折測定における死角の発
生を防止し、さらに使用温度を高める。 【解決手段】 X線装置に供される試料3を加熱する試
料炉体33である。この炉体33は、試料3を支持する
試料支持柱49と、試料支持柱49を包囲する筒状の加
熱管47と、加熱管47に形成されたX線通過用開口5
5と、加熱管47に巻き付けられた発熱線56aとを有
する。発熱線56aは加熱管47の軸線方向、すなわち
縦方向に巻き付けられる。発熱線56aは縦方向に巻か
れるので、開口55の中に張り出さず、また、それを支
持するための支柱を開口55の中に設ける必要もない。
こうして開口55が大きく開放されるので、そこを通過
するX線は減衰せず、また回折角度2θの中に死角もな
くなる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線装置に供され
る試料を加熱する試料炉体に関する。また本発明は、X
線が照射される試料を高温状態、ガス環境状態、真空状
態等といった各種の状態に置くためにその試料を格納す
るX線装置の試料格納容器に関する。
る試料を加熱する試料炉体に関する。また本発明は、X
線が照射される試料を高温状態、ガス環境状態、真空状
態等といった各種の状態に置くためにその試料を格納す
るX線装置の試料格納容器に関する。
【0002】
【従来の技術】X線回折装置等といったX線装置では、
試料にX線を照射したときにその試料で回折するX線を
X線検出器によって検出する。このX線装置において、
高温状態下での試料の挙動を観察したい場合がある。ま
た、ヘリウム等といった不活性ガスによって試料の回り
をガス置換する場合がある。さらに、試料の酸化を防止
する等の理由により試料を真空状態に置く場合がある。
試料にX線を照射したときにその試料で回折するX線を
X線検出器によって検出する。このX線装置において、
高温状態下での試料の挙動を観察したい場合がある。ま
た、ヘリウム等といった不活性ガスによって試料の回り
をガス置換する場合がある。さらに、試料の酸化を防止
する等の理由により試料を真空状態に置く場合がある。
【0003】上記の各種条件を満足させるためには、ヒ
ータを内蔵し、ガス導入系を備え、さらに真空排気系を
備えた試料格納容器に試料を収納し、その状態で試料格
納容器の外部から試料へX線を照射してX線回折測定を
行う。この種の試料格納容器は予めX線通過窓を有して
おり、X線はそのX線通過窓を通って試料格納容器の内
部へ導入される。また、試料格納容器の内部には試料炉
体が配設され、この試料炉体によって試料が支持される
と共にその試料が加熱される。
ータを内蔵し、ガス導入系を備え、さらに真空排気系を
備えた試料格納容器に試料を収納し、その状態で試料格
納容器の外部から試料へX線を照射してX線回折測定を
行う。この種の試料格納容器は予めX線通過窓を有して
おり、X線はそのX線通過窓を通って試料格納容器の内
部へ導入される。また、試料格納容器の内部には試料炉
体が配設され、この試料炉体によって試料が支持される
と共にその試料が加熱される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図7に示すように、従
来の試料炉体103は、本体部分104と、その本体部
分104の上下位置に設けられていて前方へ突出するほ
ぼ三角形状の張出し部105と、それらの張出し部10
5の先端に固定されて上下に延びる支柱106と、本体
部分104と支柱106との間で横方向に巻き付けられ
た発熱線116とを有している。
来の試料炉体103は、本体部分104と、その本体部
分104の上下位置に設けられていて前方へ突出するほ
ぼ三角形状の張出し部105と、それらの張出し部10
5の先端に固定されて上下に延びる支柱106と、本体
部分104と支柱106との間で横方向に巻き付けられ
た発熱線116とを有している。
【0005】試料113は、試料容器108の中に詰め
込まれた状態で、試料着脱用開口101を通して本体部
分104の中に挿入され、前面開口102を通して外部
に露出する。通電によって発熱する発熱線116からの
熱により試料113が希望の温度に加熱され、さらに、
X線源Fから放射されたX線R1 が試料113に照射さ
れる。入射X線R1 と試料113の結晶格子面との間で
回折条件が満足されると、試料113から回折X線R2
が生じ、そのX線R2 がX線検出器112によって検出
される。
込まれた状態で、試料着脱用開口101を通して本体部
分104の中に挿入され、前面開口102を通して外部
に露出する。通電によって発熱する発熱線116からの
熱により試料113が希望の温度に加熱され、さらに、
X線源Fから放射されたX線R1 が試料113に照射さ
れる。入射X線R1 と試料113の結晶格子面との間で
回折条件が満足されると、試料113から回折X線R2
が生じ、そのX線R2 がX線検出器112によって検出
される。
【0006】この従来の試料炉体103に関しては、試
料113の前方に支柱106及び発熱線116が存在す
るので、X線R1 及びR2 がそれらに当たって減衰する
という問題があった。また、回折角度2θの広角度領域
まで測定を行おうとすると、支柱106の部分で回折X
線の検出ができず、いわゆる死角が生じるという問題が
あった。また、本体部分104から延びる支持部104
aを境としてその前側部分Xと後側部分Yとの間で形状
及び重量が急激に変化するので、試料炉体103の温度
を高温にしたとき、熱応力の作用によって支持部104
aの付け根部分に割れが生じることがあり、従って、使
用温度が1400℃程度に制限されていた。
料113の前方に支柱106及び発熱線116が存在す
るので、X線R1 及びR2 がそれらに当たって減衰する
という問題があった。また、回折角度2θの広角度領域
まで測定を行おうとすると、支柱106の部分で回折X
線の検出ができず、いわゆる死角が生じるという問題が
あった。また、本体部分104から延びる支持部104
aを境としてその前側部分Xと後側部分Yとの間で形状
及び重量が急激に変化するので、試料炉体103の温度
を高温にしたとき、熱応力の作用によって支持部104
aの付け根部分に割れが生じることがあり、従って、使
用温度が1400℃程度に制限されていた。
【0007】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであって、試料炉体に装着された試料に入射及び出
射するX線の減衰を低減し、X線回折測定における死角
の発生を防止し、さらに使用温度を高めることを目的と
する。
ものであって、試料炉体に装着された試料に入射及び出
射するX線の減衰を低減し、X線回折測定における死角
の発生を防止し、さらに使用温度を高めることを目的と
する。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係るX線装置の試料炉体は、試料を支持す
る試料支持柱と、その試料支持柱を包囲する筒状の加熱
管と、その加熱管に形成されたX線通過用開口と、加熱
管に巻き付けられた発熱線とを有しており、その発熱線
は加熱管の軸線方向に巻き付けられることを特徴とす
る。
め、本発明に係るX線装置の試料炉体は、試料を支持す
る試料支持柱と、その試料支持柱を包囲する筒状の加熱
管と、その加熱管に形成されたX線通過用開口と、加熱
管に巻き付けられた発熱線とを有しており、その発熱線
は加熱管の軸線方向に巻き付けられることを特徴とす
る。
【0009】発熱線が筒状の加熱管の軸線方向に巻き付
けられるので、加熱管のX線通過用開口内に発熱線が張
り出すことが無く、また発熱線を支持するための支柱を
開口内に設ける必要も無い。よって、X線は発熱線等に
邪魔されること無く開口を通過して試料に入射及び出射
し、これにより、X線の減衰を防止できる。また、X線
通過用開口の中に支柱が無いので、回折X線を検出でき
ない角度位置、すなわちX線回折測定における死角が無
くなる。
けられるので、加熱管のX線通過用開口内に発熱線が張
り出すことが無く、また発熱線を支持するための支柱を
開口内に設ける必要も無い。よって、X線は発熱線等に
邪魔されること無く開口を通過して試料に入射及び出射
し、これにより、X線の減衰を防止できる。また、X線
通過用開口の中に支柱が無いので、回折X線を検出でき
ない角度位置、すなわちX線回折測定における死角が無
くなる。
【0010】さらに、試料支持柱に支持された試料を筒
状の加熱管によって加熱するようにしたので、試料支持
柱を境とした試料炉体の形状及び重量がほぼ対称にな
り、その結果、使用温度を高くしても試料支持柱の付け
根部分に割れが発生し難くなった。このため、試料炉体
の使用温度をより高温まで、例えば1500℃程度まで
上げることが可能になった。
状の加熱管によって加熱するようにしたので、試料支持
柱を境とした試料炉体の形状及び重量がほぼ対称にな
り、その結果、使用温度を高くしても試料支持柱の付け
根部分に割れが発生し難くなった。このため、試料炉体
の使用温度をより高温まで、例えば1500℃程度まで
上げることが可能になった。
【0011】加熱管に形成するX線通過用開口は、試料
支持柱によって支持された試料の全面を外部へ開放でき
るような、支柱等の部材が存在しない単一の開口である
ことが望ましい。また、加熱管は円筒形状であることが
望ましい。また、加熱管以外に試料支持柱にも発熱線を
巻き付けることが望ましい。また、試料支持柱と加熱管
との間に補助加熱管を設け、その補助加熱管にも発熱線
を巻き付けることが望ましい。
支持柱によって支持された試料の全面を外部へ開放でき
るような、支柱等の部材が存在しない単一の開口である
ことが望ましい。また、加熱管は円筒形状であることが
望ましい。また、加熱管以外に試料支持柱にも発熱線を
巻き付けることが望ましい。また、試料支持柱と加熱管
との間に補助加熱管を設け、その補助加熱管にも発熱線
を巻き付けることが望ましい。
【0012】試料炉体の構造を簡単にするため次の構
成、すなわち、試料支持柱の先端に形成されたネジ部
と、試料支持柱の先端部が挿入される貫通穴を有してい
て試料支持柱が組み付けられる基台と、基台を貫通して
突出する試料支持柱のネジ部に螺合するナット部材とを
有する構成を採用できる。この構成を採用する場合に
は、基台と加熱管との間にカラー部材を配置することが
望ましい。
成、すなわち、試料支持柱の先端に形成されたネジ部
と、試料支持柱の先端部が挿入される貫通穴を有してい
て試料支持柱が組み付けられる基台と、基台を貫通して
突出する試料支持柱のネジ部に螺合するナット部材とを
有する構成を採用できる。この構成を採用する場合に
は、基台と加熱管との間にカラー部材を配置することが
望ましい。
【0013】本発明に係る試料格納容器は、上述した本
発明の試料炉体を包囲するケーシングと、そのケーシン
グに形成されるX線通過窓とを有する。そして、そのX
線通過窓は、試料炉体のX線通過用開口に対応する位置
に配置される。試料に入射するX線及び試料で回折した
X線は試料炉体のX線通過用開口及びケーシングのX線
通過窓を通過して試料格納容器の内外へ取り出される。
発明の試料炉体を包囲するケーシングと、そのケーシン
グに形成されるX線通過窓とを有する。そして、そのX
線通過窓は、試料炉体のX線通過用開口に対応する位置
に配置される。試料に入射するX線及び試料で回折した
X線は試料炉体のX線通過用開口及びケーシングのX線
通過窓を通過して試料格納容器の内外へ取り出される。
【0014】
【発明の実施の形態】図6は、本発明に係る試料炉体を
含んだ試料格納容器をX線装置としてのX線回折装置に
設置した場合を模式的に示している。このX線回折装置
は、X線源F、ゴニオメータ1及びX線検出器2を有し
ている。X線源Fは、例えば、フィラメント及びターゲ
ットを有し、フィラメントに通電して該フィラメントか
ら熱電子を発生し、その熱電子を高速でターゲットに衝
突させて該ターゲットからX線を放射する。
含んだ試料格納容器をX線装置としてのX線回折装置に
設置した場合を模式的に示している。このX線回折装置
は、X線源F、ゴニオメータ1及びX線検出器2を有し
ている。X線源Fは、例えば、フィラメント及びターゲ
ットを有し、フィラメントに通電して該フィラメントか
ら熱電子を発生し、その熱電子を高速でターゲットに衝
突させて該ターゲットからX線を放射する。
【0015】ゴニオメータ1は、測定対象である試料3
を支持する。またゴニオメータ1は、試料3のX線入射
面を通る回転中心軸線Lを中心として試料3を所定の角
速度で間欠的又は連続的に回転、いわゆるθ回転させ、
同時に、X線検出器2をθ回転の2倍の角速度で同じ方
向へ回転、いわゆる2θ回転させる。θ回転及び2θ回
転の各回転軌跡が含まれる面が水平面であるようなゴニ
オメータは一般に横型ゴニオメータと呼ばれ、その面が
垂直面であるようなゴニオメータは縦型ゴニオメータ、
試料水平型ゴニオメータ等と呼ばれる。
を支持する。またゴニオメータ1は、試料3のX線入射
面を通る回転中心軸線Lを中心として試料3を所定の角
速度で間欠的又は連続的に回転、いわゆるθ回転させ、
同時に、X線検出器2をθ回転の2倍の角速度で同じ方
向へ回転、いわゆる2θ回転させる。θ回転及び2θ回
転の各回転軌跡が含まれる面が水平面であるようなゴニ
オメータは一般に横型ゴニオメータと呼ばれ、その面が
垂直面であるようなゴニオメータは縦型ゴニオメータ、
試料水平型ゴニオメータ等と呼ばれる。
【0016】θ回転する試料3にX線を照射するとき、
そのX線と試料3の結晶格子面との間でブラッグの回折
条件が満足されると、その結晶格子面でX線の回折が生
じる。この回折X線はX線検出器2によって検出され、
この検出結果に基づいて、回折X線の回折角度とX線強
度との関係が求められる。そしてこの関係から、試料3
についての各種特性が判定される。
そのX線と試料3の結晶格子面との間でブラッグの回折
条件が満足されると、その結晶格子面でX線の回折が生
じる。この回折X線はX線検出器2によって検出され、
この検出結果に基づいて、回折X線の回折角度とX線強
度との関係が求められる。そしてこの関係から、試料3
についての各種特性が判定される。
【0017】試料3は、ゴニオメータ1の上に固定され
た試料格納容器4の内部に収納されている。この試料格
納容器4は、試料3を高温で真空の状態に保持すること
及び必要に応じて試料3のまわりをヘリウムその他の不
活性ガス等でガス置換することを目的として使用され
る。高温状態に保持するのは、高温下での試料の挙動を
観察するためである。また、真空状態に維持するのは、
主に高温状態に置かれたときの試料の酸化を防止するた
めである。
た試料格納容器4の内部に収納されている。この試料格
納容器4は、試料3を高温で真空の状態に保持すること
及び必要に応じて試料3のまわりをヘリウムその他の不
活性ガス等でガス置換することを目的として使用され
る。高温状態に保持するのは、高温下での試料の挙動を
観察するためである。また、真空状態に維持するのは、
主に高温状態に置かれたときの試料の酸化を防止するた
めである。
【0018】試料格納容器4は、図1に示すように、ゴ
ニオメータ1の上に固定されるケーシング基台5と、ケ
ーシング基台5の上に固定された円筒状のケーシング側
壁6と、ネジ7によってケーシング側壁6の上に固定さ
れたケーシング対基部壁8とを有する。これらのケーシ
ング基台5、ケーシング側壁6及びケーシング対基部壁
8は、軽くて熱を伝え難い材料、例えばアルミニウム等
によって形成され、そして互いに気密に組み付けられる
ことによって試料3を包囲するケーシング9を構成して
いる。
ニオメータ1の上に固定されるケーシング基台5と、ケ
ーシング基台5の上に固定された円筒状のケーシング側
壁6と、ネジ7によってケーシング側壁6の上に固定さ
れたケーシング対基部壁8とを有する。これらのケーシ
ング基台5、ケーシング側壁6及びケーシング対基部壁
8は、軽くて熱を伝え難い材料、例えばアルミニウム等
によって形成され、そして互いに気密に組み付けられる
ことによって試料3を包囲するケーシング9を構成して
いる。
【0019】ケーシング基台5の取付用ベース13の内
部、ケーシング側壁6の内部及びケーシング対基部壁8
の各部の内部には冷却液通路10が形成され、冷却液導
入口15を通して導入される冷却液、例えば冷却水がそ
れらの通路10を流れてケーシング9の全体を冷却し
て、そのケーシング10が高温になるのを防止する。ま
た、ケーシング側壁6のX線通過用開口39と反対側の
面にガス導入口20が設けられ、必要に応じて、不活性
ガス例えばヘリウムガス等がこのガス導入口20を通し
てケーシング9の内部へ導入され、これにより、試料3
のまわりがガス置換される。
部、ケーシング側壁6の内部及びケーシング対基部壁8
の各部の内部には冷却液通路10が形成され、冷却液導
入口15を通して導入される冷却液、例えば冷却水がそ
れらの通路10を流れてケーシング9の全体を冷却し
て、そのケーシング10が高温になるのを防止する。ま
た、ケーシング側壁6のX線通過用開口39と反対側の
面にガス導入口20が設けられ、必要に応じて、不活性
ガス例えばヘリウムガス等がこのガス導入口20を通し
てケーシング9の内部へ導入され、これにより、試料3
のまわりがガス置換される。
【0020】ケーシング基台5は、ゴニオメータ1に固
定される固定ベース11と、その固定ベース11の上に
左右方向へ滑り移動可能に配置された可動ベース12
と、可動ベース12の上に固定された取付用ベース13
とによって構成されている。ケーシング側壁6は取付用
ベース13の上に固定される。可動ベース12の適所に
は軸受14によって回転自在にしかし軸方向移動不能に
支持された駆動軸16が貫通して設けられ、その駆動軸
16の先端に形成したネジ16aが固定ベース11に固
定したネジ17に噛み合っている。
定される固定ベース11と、その固定ベース11の上に
左右方向へ滑り移動可能に配置された可動ベース12
と、可動ベース12の上に固定された取付用ベース13
とによって構成されている。ケーシング側壁6は取付用
ベース13の上に固定される。可動ベース12の適所に
は軸受14によって回転自在にしかし軸方向移動不能に
支持された駆動軸16が貫通して設けられ、その駆動軸
16の先端に形成したネジ16aが固定ベース11に固
定したネジ17に噛み合っている。
【0021】駆動軸16の中間部分に固定したギヤ18
は、可動ベース12から延びるブラケット19上に固定
されたモータ21の出力軸21aに噛み合う。また、駆
動軸16の後端には、駆動軸16の回転角度位置を検出
するためのホイール22が固定され、そのホイール22
を検知する光センサ23が配設される。モータ21が作
動すると駆動軸16が回転し、このとき、ネジ16aと
ネジ17との噛み合いの働きにより可動ベース12が左
右へ平行移動する。この平行移動により、試料3の位置
を調整する。なお、モータ21の出力軸21aはツマミ
24を回すことによって手動で回すことができ、これに
より、可動ベース12の位置を調節できる。
は、可動ベース12から延びるブラケット19上に固定
されたモータ21の出力軸21aに噛み合う。また、駆
動軸16の後端には、駆動軸16の回転角度位置を検出
するためのホイール22が固定され、そのホイール22
を検知する光センサ23が配設される。モータ21が作
動すると駆動軸16が回転し、このとき、ネジ16aと
ネジ17との噛み合いの働きにより可動ベース12が左
右へ平行移動する。この平行移動により、試料3の位置
を調整する。なお、モータ21の出力軸21aはツマミ
24を回すことによって手動で回すことができ、これに
より、可動ベース12の位置を調節できる。
【0022】ケーシング対基部壁8の中心部には、軸受
26によって円筒状の排気口25が試料3の回転中心軸
線Lを中心として回転自在に、しかし軸方向移動不能に
設けられる。ゴム製のOリング28は排気口25のまわ
りの気密を保持する。排気口25の先端にネジ結合され
たツマミ29を緩めて取り外し、それに代えて排気用ホ
ース31を接続すれば、その排気用ホース31を通して
ケーシング9の内部を排気して該部を真空状態にするこ
とができる。
26によって円筒状の排気口25が試料3の回転中心軸
線Lを中心として回転自在に、しかし軸方向移動不能に
設けられる。ゴム製のOリング28は排気口25のまわ
りの気密を保持する。排気口25の先端にネジ結合され
たツマミ29を緩めて取り外し、それに代えて排気用ホ
ース31を接続すれば、その排気用ホース31を通して
ケーシング9の内部を排気して該部を真空状態にするこ
とができる。
【0023】取付用ベース13の中心部には円盤状の取
付板32が固定され、その取付板32の上に試料炉体3
3がネジその他の締結具によって固定される。また、試
料炉体33は、綿状のアルミナをほぼ円筒形状に成形し
て作られた保温筒34によってその全体が覆われてい
る。この保温筒34によって試料3が一定温度に保持さ
れる。図5に示すように、ケーシング側壁6の内周面の
適所に係止片36及び受け板37が設けられる。一方、
保温筒34の上端部に角穴リング部材38が設けられ
る。保温筒34をケーシング側壁6の内部へ挿入する
と、係止片36が角穴リング部材38の中へ入り込み、
さらに保温筒34の下端部が受け板37によって受けら
れる。
付板32が固定され、その取付板32の上に試料炉体3
3がネジその他の締結具によって固定される。また、試
料炉体33は、綿状のアルミナをほぼ円筒形状に成形し
て作られた保温筒34によってその全体が覆われてい
る。この保温筒34によって試料3が一定温度に保持さ
れる。図5に示すように、ケーシング側壁6の内周面の
適所に係止片36及び受け板37が設けられる。一方、
保温筒34の上端部に角穴リング部材38が設けられ
る。保温筒34をケーシング側壁6の内部へ挿入する
と、係止片36が角穴リング部材38の中へ入り込み、
さらに保温筒34の下端部が受け板37によって受けら
れる。
【0024】このように、係止片36と角穴リング部材
38との嵌合によって保温筒34をケーシング側壁6の
内部に固定支持するようにしたので、ゴニオメータ1の
動きに従って試料格納容器4が動く場合でも、保温筒3
4がケーシング9の内部で位置ズレや不安定に動くこと
がなくなり、よって、試料3を常に安定に保持できる。
また、ケーシング9を水平面上に固定する場合はもとよ
り、ケーシング9を垂直面上に固定する場合、すなわち
ケーシング9が水平方向に支持される場合でも、保温筒
34をケーシング9に対する一定位置に安定して支持で
きる。つまり、本実施形態の試料格納容器4は、試料格
納容器4の取付面が水平面である横型ゴニオメータ及び
その取付面が垂直面である縦型ゴニオメータのいずれに
も問題なく使用できる。
38との嵌合によって保温筒34をケーシング側壁6の
内部に固定支持するようにしたので、ゴニオメータ1の
動きに従って試料格納容器4が動く場合でも、保温筒3
4がケーシング9の内部で位置ズレや不安定に動くこと
がなくなり、よって、試料3を常に安定に保持できる。
また、ケーシング9を水平面上に固定する場合はもとよ
り、ケーシング9を垂直面上に固定する場合、すなわち
ケーシング9が水平方向に支持される場合でも、保温筒
34をケーシング9に対する一定位置に安定して支持で
きる。つまり、本実施形態の試料格納容器4は、試料格
納容器4の取付面が水平面である横型ゴニオメータ及び
その取付面が垂直面である縦型ゴニオメータのいずれに
も問題なく使用できる。
【0025】図4に示すように、ケーシング側壁6の円
周方向の所定角度範囲、例えばほぼ180°の角度範囲
にわたって長穴状の開口39が形成され、この開口39
の全面が遮蔽部材41によって覆われて外部から遮蔽さ
れ、さらにその遮蔽部材41の上下がリング状のバンド
42によってケーシング側壁6へ押し付けられる。こう
して、開口39及びそれを覆う遮蔽部材41によってX
線を通過させるためのX線通過窓44が構成される。ま
た望ましくは、開口39の上下周縁に接着部材43を設
け、これらの接着部材によって遮蔽部材41をケーシン
グ側壁6に接着する。
周方向の所定角度範囲、例えばほぼ180°の角度範囲
にわたって長穴状の開口39が形成され、この開口39
の全面が遮蔽部材41によって覆われて外部から遮蔽さ
れ、さらにその遮蔽部材41の上下がリング状のバンド
42によってケーシング側壁6へ押し付けられる。こう
して、開口39及びそれを覆う遮蔽部材41によってX
線を通過させるためのX線通過窓44が構成される。ま
た望ましくは、開口39の上下周縁に接着部材43を設
け、これらの接着部材によって遮蔽部材41をケーシン
グ側壁6に接着する。
【0026】遮蔽部材41は、通気性が無く、X線を通
過させることができ、さらに内部の真空を維持できる程
度に機械的強度を有する各種の材料、例えば、アルミニ
ウム箔等によって形成される。また、接着部材43は、
両面粘着テープ、接着剤等によって構成できる。接着部
材43によって遮蔽部材41をケーシング側壁6に接着
することにより、ケーシング9の内部が真空状態になっ
たときでも、遮蔽部材41が内部へずれ込むように変形
することを防止できる。
過させることができ、さらに内部の真空を維持できる程
度に機械的強度を有する各種の材料、例えば、アルミニ
ウム箔等によって形成される。また、接着部材43は、
両面粘着テープ、接着剤等によって構成できる。接着部
材43によって遮蔽部材41をケーシング側壁6に接着
することにより、ケーシング9の内部が真空状態になっ
たときでも、遮蔽部材41が内部へずれ込むように変形
することを防止できる。
【0027】図6において、X線源Fから放射されたX
線は、遮蔽部材を含むX線通過窓44を通して試料格納
容器4の内部へ導入されて試料3へ照射され、さらに試
料3で発生した回折X線はX線通過窓44を通して試料
格納容器4の外部へ取り出されてX線検出器2によって
検出される。図4に示すように、開口39は円周方向に
長いがその内部には支柱やリブは設けられていない。つ
まり、開口39は、仕切の無い単一形状の穴として形成
されている。仮に、その開口39のどこかに支柱やリブ
が設けられていると、その支柱等がX線の通過の邪魔に
なって、試料に入射するX線及び試料で回折したX線の
強度を減衰させるおそれがある。これに対し、そのよう
な支柱等が無い本実施形態によれば、試料3のθ回転及
びX線検出器2の2θ回転に関する広い角度範囲にわた
ってX線の減衰を確実に防止できる。
線は、遮蔽部材を含むX線通過窓44を通して試料格納
容器4の内部へ導入されて試料3へ照射され、さらに試
料3で発生した回折X線はX線通過窓44を通して試料
格納容器4の外部へ取り出されてX線検出器2によって
検出される。図4に示すように、開口39は円周方向に
長いがその内部には支柱やリブは設けられていない。つ
まり、開口39は、仕切の無い単一形状の穴として形成
されている。仮に、その開口39のどこかに支柱やリブ
が設けられていると、その支柱等がX線の通過の邪魔に
なって、試料に入射するX線及び試料で回折したX線の
強度を減衰させるおそれがある。これに対し、そのよう
な支柱等が無い本実施形態によれば、試料3のθ回転及
びX線検出器2の2θ回転に関する広い角度範囲にわた
ってX線の減衰を確実に防止できる。
【0028】ケーシング9の内部に配設される試料炉体
33は、例えば図2に示すように、円盤状の基台46
と、その基台46の上に配置した円筒状の加熱管47
と、試料容器48を支持する試料支持柱49と、試料支
持柱49の下部であって試料支持柱49と加熱管47と
の間に配設された円筒状の補助加熱管52とを有してい
る。図3に示すように、測定対象である試料3は試料容
器48の中に詰め込まれ、さらにその試料容器48は、
試料支持柱49の支持枠49aの中に差し込まれる。
33は、例えば図2に示すように、円盤状の基台46
と、その基台46の上に配置した円筒状の加熱管47
と、試料容器48を支持する試料支持柱49と、試料支
持柱49の下部であって試料支持柱49と加熱管47と
の間に配設された円筒状の補助加熱管52とを有してい
る。図3に示すように、測定対象である試料3は試料容
器48の中に詰め込まれ、さらにその試料容器48は、
試料支持柱49の支持枠49aの中に差し込まれる。
【0029】試料支持柱49の下端円柱部にはネジ49
bが形成されており、そのネジ部49bは、補助加熱管
52、加熱管47の底部47a、円筒状カラー51、そ
して基台46を通して基台46の反対側へ突出し、その
突出した部分がナット53によって基台46の底面に締
め付けられる。加熱管47の上端は円盤状の蓋54によ
って外部から遮蔽される。こうして、試料3が試料支持
柱49の所定位置に置かれ、さらにその試料支持柱49
の全体が加熱管47の内部に収納される。また、試料3
を収容した試料炉体33を、図1において、ケーシング
9内の取付板32に固定すれば、試料3を試料格納容器
4の内部の所定位置に置くことができる。
bが形成されており、そのネジ部49bは、補助加熱管
52、加熱管47の底部47a、円筒状カラー51、そ
して基台46を通して基台46の反対側へ突出し、その
突出した部分がナット53によって基台46の底面に締
め付けられる。加熱管47の上端は円盤状の蓋54によ
って外部から遮蔽される。こうして、試料3が試料支持
柱49の所定位置に置かれ、さらにその試料支持柱49
の全体が加熱管47の内部に収納される。また、試料3
を収容した試料炉体33を、図1において、ケーシング
9内の取付板32に固定すれば、試料3を試料格納容器
4の内部の所定位置に置くことができる。
【0030】図3において、加熱管47の円周方向の適
宜の角度幅、例えば180°の角度幅にわたってX線通
過用の長穴、すなわち開口55が形成されている。そし
て、1本の発熱線56aが加熱管47の外面及び内面の
両面にわたって縦方向すなわち軸線方向に巻き回されて
いる。発熱線56aは、加熱管47に対して軸線方向に
巻かれるので、開口55の中に張り出すことが無く、よ
って、試料3の前方は開口55によって外部へ大きく開
放される。従って、試料3へ入射するX線及び試料3で
回折したX線は、加熱管47や発熱線56a等に邪魔さ
れて減衰することがない。
宜の角度幅、例えば180°の角度幅にわたってX線通
過用の長穴、すなわち開口55が形成されている。そし
て、1本の発熱線56aが加熱管47の外面及び内面の
両面にわたって縦方向すなわち軸線方向に巻き回されて
いる。発熱線56aは、加熱管47に対して軸線方向に
巻かれるので、開口55の中に張り出すことが無く、よ
って、試料3の前方は開口55によって外部へ大きく開
放される。従って、試料3へ入射するX線及び試料3で
回折したX線は、加熱管47や発熱線56a等に邪魔さ
れて減衰することがない。
【0031】試料支持柱49のほぼ全面には発熱線56
bが横方向に巻き回されている。また、補助加熱管52
の外周面にも発熱線56cが横方向すなわち円周方向に
巻き回されている。各発熱線56a,56b及び56c
は、例えば、白金などによって形成される。各発熱線は
通電されることによって発熱し、試料3を前面及び背面
の両面から加熱する。
bが横方向に巻き回されている。また、補助加熱管52
の外周面にも発熱線56cが横方向すなわち円周方向に
巻き回されている。各発熱線56a,56b及び56c
は、例えば、白金などによって形成される。各発熱線は
通電されることによって発熱し、試料3を前面及び背面
の両面から加熱する。
【0032】以下、上記構成より成るX線格納容器4及
びそれを用いたX線回折装置についてそれらの動作を説
明する。まず、図3に示すようにして試料3を試料炉体
33の中に装着し、その試料炉体33を図1に示すよう
にケーシング9の中に入れて固定する。このとき、ケー
シング9に関しては、ケーシング側壁6がケーシング基
台5に取り付けられた状態であって、ケーシング対基部
壁8はまだケーシング側壁6の先端に取り付けられてい
ない。つまり、ケーシング9の先端は開放端であり、そ
の開放端から試料炉体33が挿入される。
びそれを用いたX線回折装置についてそれらの動作を説
明する。まず、図3に示すようにして試料3を試料炉体
33の中に装着し、その試料炉体33を図1に示すよう
にケーシング9の中に入れて固定する。このとき、ケー
シング9に関しては、ケーシング側壁6がケーシング基
台5に取り付けられた状態であって、ケーシング対基部
壁8はまだケーシング側壁6の先端に取り付けられてい
ない。つまり、ケーシング9の先端は開放端であり、そ
の開放端から試料炉体33が挿入される。
【0033】その後、図5に示すように、保温筒34を
ケーシング側壁6の内部へ挿入し、さらに角穴リング部
材38と係止片36とをしっかりと嵌合させてその保温
筒34を安定状態に支持する。保温筒34は、その下端
部が受け板37によって受けられるので常に安定した状
態に置かれる。そしてその後、ケーシング対基部壁8を
ケーシング側壁6の先端に置いてネジ7によって固定
し、さらに排気口25の先端に排気用ホース31を接続
する。図示されていないが、排気用ホース31の他端に
は、真空ポンプ等といった排気装置が接続されている。
ケーシング側壁6の内部へ挿入し、さらに角穴リング部
材38と係止片36とをしっかりと嵌合させてその保温
筒34を安定状態に支持する。保温筒34は、その下端
部が受け板37によって受けられるので常に安定した状
態に置かれる。そしてその後、ケーシング対基部壁8を
ケーシング側壁6の先端に置いてネジ7によって固定
し、さらに排気口25の先端に排気用ホース31を接続
する。図示されていないが、排気用ホース31の他端に
は、真空ポンプ等といった排気装置が接続されている。
【0034】こうしてX線格納容器4の中の所定位置に
試料3が置かれた後、そのX線格納容器4をX線回折装
置のゴニオメータ1の上に固定する。そして、排気用ホ
ース31を通してケーシング9の内部を排気し、各発熱
線56a,56b,56c(図2参照)に通電して試料
3を加熱し、さらに冷却液導入口15を通して冷却液を
導入してケーシング9を冷却する。また、必要に応じ
て、ガス導入口20を通してケーシング9の内部へガス
を導入する。ケーシング9の内部の試料3のまわりが希
望の高温に、しかも真空状態に設定されると、X線回折
測定が開始される。
試料3が置かれた後、そのX線格納容器4をX線回折装
置のゴニオメータ1の上に固定する。そして、排気用ホ
ース31を通してケーシング9の内部を排気し、各発熱
線56a,56b,56c(図2参照)に通電して試料
3を加熱し、さらに冷却液導入口15を通して冷却液を
導入してケーシング9を冷却する。また、必要に応じ
て、ガス導入口20を通してケーシング9の内部へガス
を導入する。ケーシング9の内部の試料3のまわりが希
望の高温に、しかも真空状態に設定されると、X線回折
測定が開始される。
【0035】すなわち、モータ21を作動して試料3を
X線光学的に見て適切な位置に置くことを含んで、X線
源FからX線検出器2に至る間のX線光学通路上に配設
される各種のX線光学要素の光学的な位置を適切な位置
に設定する。その後、図6において、ゴニオメータ1に
よって試料3をθ回転させ、同時にX線検出器2をその
2倍の角速度で2θ回転させながら、X線源Fから放射
されるX線を試料3へ照射し、試料3で回折X線が発生
するとき、その回折X線をX線検出器2によって検出す
る。こうしてX線回折測定が行われるとき、ケーシング
9は試料3のθ回転と一体に回転するが、ケーシング9
の対基部壁8に設けた排気口25は、試料3の回転中心
軸線Lを中心とする円筒形状に形成され、しかもその軸
線Lを中心として回転自在になっているので、ケーシン
グ9が回転しても排気口25及びそれに連結した排気用
ホース31は回転することなく常に同じ位置に静止す
る。これにより、排気用ホース31の連れ回り旋回移動
やねじれ等を防止できる。
X線光学的に見て適切な位置に置くことを含んで、X線
源FからX線検出器2に至る間のX線光学通路上に配設
される各種のX線光学要素の光学的な位置を適切な位置
に設定する。その後、図6において、ゴニオメータ1に
よって試料3をθ回転させ、同時にX線検出器2をその
2倍の角速度で2θ回転させながら、X線源Fから放射
されるX線を試料3へ照射し、試料3で回折X線が発生
するとき、その回折X線をX線検出器2によって検出す
る。こうしてX線回折測定が行われるとき、ケーシング
9は試料3のθ回転と一体に回転するが、ケーシング9
の対基部壁8に設けた排気口25は、試料3の回転中心
軸線Lを中心とする円筒形状に形成され、しかもその軸
線Lを中心として回転自在になっているので、ケーシン
グ9が回転しても排気口25及びそれに連結した排気用
ホース31は回転することなく常に同じ位置に静止す
る。これにより、排気用ホース31の連れ回り旋回移動
やねじれ等を防止できる。
【0036】また、本実施形態では図2に示すように、
発熱線56aが円筒状の加熱管47の軸線方向に巻き付
けられるので、加熱管47のX線通過用開口55に発熱
線56aが張り出すことが無く、また発熱線56aを支
持するための支柱を設ける必要も無い。よって、X線は
発熱線56a等に邪魔されること無く開口55を通過し
て試料3に入射し、さらにその試料3で回折した回折X
線も自由に開口55を通過する。こうして、試料炉体3
3を通過するX線の減衰を防止できる。また、X線通過
用開口55の中に支柱が無いので、回折X線を検出でき
ない角度位置、すなわちX線回折測定における死角が無
くなる。
発熱線56aが円筒状の加熱管47の軸線方向に巻き付
けられるので、加熱管47のX線通過用開口55に発熱
線56aが張り出すことが無く、また発熱線56aを支
持するための支柱を設ける必要も無い。よって、X線は
発熱線56a等に邪魔されること無く開口55を通過し
て試料3に入射し、さらにその試料3で回折した回折X
線も自由に開口55を通過する。こうして、試料炉体3
3を通過するX線の減衰を防止できる。また、X線通過
用開口55の中に支柱が無いので、回折X線を検出でき
ない角度位置、すなわちX線回折測定における死角が無
くなる。
【0037】さらに、試料支持柱49に支持された試料
3を円筒状の加熱管47によって加熱するようにしたの
で、試料支持柱49を境とした試料炉体33の形状及び
重量がほぼ対称になり、その結果、使用温度を高くして
も試料支持柱49の付け根部分に異常な熱応力が発生せ
ず、よって該部に割れが発生することが無くなった。こ
のため、試料炉体33の使用温度をより高温まで、例え
ば1500℃程度まで上げることが可能になった。
3を円筒状の加熱管47によって加熱するようにしたの
で、試料支持柱49を境とした試料炉体33の形状及び
重量がほぼ対称になり、その結果、使用温度を高くして
も試料支持柱49の付け根部分に異常な熱応力が発生せ
ず、よって該部に割れが発生することが無くなった。こ
のため、試料炉体33の使用温度をより高温まで、例え
ば1500℃程度まで上げることが可能になった。
【0038】以上、好ましい実施形態をあげて本発明を
説明したが、本発明はその実施形態に限定されるもので
はなく、請求の範囲に記載した技術的範囲内で種々に改
変できる。例えば、本発明は、X線回折装置に限られ
ず、X線が照射される試料を試料炉体によって支持する
と共にその試料炉体をケーシングによって格納する必要
がある任意のX線装置に適用できる。また、試料炉体3
3に関する構造以外の構造、例えば、ケーシング9の構
造や保温筒34の構造等に関しては、図示した構造以外
の任意の構造とすることができる。
説明したが、本発明はその実施形態に限定されるもので
はなく、請求の範囲に記載した技術的範囲内で種々に改
変できる。例えば、本発明は、X線回折装置に限られ
ず、X線が照射される試料を試料炉体によって支持する
と共にその試料炉体をケーシングによって格納する必要
がある任意のX線装置に適用できる。また、試料炉体3
3に関する構造以外の構造、例えば、ケーシング9の構
造や保温筒34の構造等に関しては、図示した構造以外
の任意の構造とすることができる。
【0039】また、加熱管47及び補助加熱管52は、
円筒形状ではなくて、角筒形状とすることもできる。ま
た図2において、試料支持柱49の形状は特定の形状に
限定されないが、その付け根部分に過剰な負荷が加わる
ことを防止する観点から、試料3の回転中心軸線Lから
横方向に大きく張り出すような形状は避けるのが望まし
い。
円筒形状ではなくて、角筒形状とすることもできる。ま
た図2において、試料支持柱49の形状は特定の形状に
限定されないが、その付け根部分に過剰な負荷が加わる
ことを防止する観点から、試料3の回転中心軸線Lから
横方向に大きく張り出すような形状は避けるのが望まし
い。
【0040】
【発明の効果】請求項1記載のX線装置の試料炉体によ
れば、発熱線が筒状の加熱管の軸線方向に巻き付けられ
るので、加熱管のX線通過用開口に発熱線が張り出すこ
とが無く、よって、該開口を通過するX線が発熱線に当
たって減衰するという事態が回避され、X線の減衰が低
減される。また、試料を加熱する加熱管を円筒、角筒等
といった筒状に形成したので、試料支持柱を境とした試
料炉体の形状及び重量がほぼ対称になり、その結果、使
用温度を高くしても試料支持柱の付け根部分に割れが発
生し難くなった。このため、試料炉体の使用温度をより
高温まで上げることが可能になった。
れば、発熱線が筒状の加熱管の軸線方向に巻き付けられ
るので、加熱管のX線通過用開口に発熱線が張り出すこ
とが無く、よって、該開口を通過するX線が発熱線に当
たって減衰するという事態が回避され、X線の減衰が低
減される。また、試料を加熱する加熱管を円筒、角筒等
といった筒状に形成したので、試料支持柱を境とした試
料炉体の形状及び重量がほぼ対称になり、その結果、使
用温度を高くしても試料支持柱の付け根部分に割れが発
生し難くなった。このため、試料炉体の使用温度をより
高温まで上げることが可能になった。
【0041】請求項2記載の試料炉体によれば、X線通
過用開口の中に支柱が無いので、該開口を通過するX線
の進行が妨げられることが無い。また、支柱が無いの
で、2θ回転移動するX線検出器によって回折X線を検
出する際、回折X線を検出できない角度位置が無くな
る。つまり、X線回折測定における死角が無くなる。
過用開口の中に支柱が無いので、該開口を通過するX線
の進行が妨げられることが無い。また、支柱が無いの
で、2θ回転移動するX線検出器によって回折X線を検
出する際、回折X線を検出できない角度位置が無くな
る。つまり、X線回折測定における死角が無くなる。
【0042】請求項3記載の試料炉体によれば、試料支
持柱に関する試料炉体の形状がより一層対称形状になる
ので、熱応力の発生に起因して試料炉体が損傷すること
を防止できる。
持柱に関する試料炉体の形状がより一層対称形状になる
ので、熱応力の発生に起因して試料炉体が損傷すること
を防止できる。
【0043】請求項4記載の試料炉体によれば、加熱管
による試料の加熱に加えて、試料支持柱からも試料を加
熱できるので、試料をより一層迅速且つ高温に加熱でき
る。
による試料の加熱に加えて、試料支持柱からも試料を加
熱できるので、試料をより一層迅速且つ高温に加熱でき
る。
【0044】請求項5記載の試料炉体によれば、加熱管
による試料の加熱に加えて、補助加熱管からも試料を加
熱できるので、試料をより一層迅速且つ高温に加熱でき
る。
による試料の加熱に加えて、補助加熱管からも試料を加
熱できるので、試料をより一層迅速且つ高温に加熱でき
る。
【0045】請求項6及び請求項7記載の試料炉体によ
れば、試料炉体を簡単且つ強固に組み立てることができ
る。
れば、試料炉体を簡単且つ強固に組み立てることができ
る。
【0046】
【図1】本発明に係る試料炉体を用いた試料格納容器の
一実施形態を示す正面断面図である。
一実施形態を示す正面断面図である。
【図2】本発明に係る試料炉体の一実施形態を示す正面
断面図である。
断面図である。
【図3】図2に示す試料炉体の分解斜視図である。
【図4】図1に示す試料格納容器の要部、特にX線通過
窓の構造を示す分解斜視図である。
窓の構造を示す分解斜視図である。
【図5】図1に示す試料格納容器の要部、特に保温筒の
支持構造を示す分解斜視図である。
支持構造を示す分解斜視図である。
【図6】図1の試料格納容器をX線回折装置に装着した
様子を概略的に示す斜視図である。
様子を概略的に示す斜視図である。
【図7】従来の試料炉体の一例を示す斜視図である。
1 ゴニオメータ 2 X線検出器 3 試料 4 試料格納容器 5 ケーシング基台 6 ケーシング側壁 8 ケーシング対基部壁 9 ケーシング 10 冷却液通路 11 固定ベース 12 可動ベース 13 取付用ベース 15 冷却液導入口 20 ガス導入口 25 排気口 31 排気用ホース 33 試料炉体 34 保温筒 39 X線通過用開口 41 遮蔽部材 43 接着部材 44 X線通過窓 46 基台 47 加熱管 49 試料支持柱 49b ネジ部 51 カラー 52 補助加熱管 53 ナット 55 X線通過用開口 56a,56b,56c 発熱線 F X線源 L 試料の回転中心軸線
Claims (8)
- 【請求項1】 X線装置に供される試料を加熱する試料
炉体において、試料を支持する試料支持柱と、その試料
支持柱を包囲する筒状の加熱管と、その加熱管に形成さ
れたX線通過用開口と、加熱管に巻き付けられた発熱線
とを有しており、その発熱線は加熱管の軸線方向に巻き
付けられることを特徴とするX線装置の試料炉体。 - 【請求項2】 請求項1記載のX線装置の試料炉体にお
いて、X線通過用開口は、試料支持柱によって支持され
た試料の全面を外部へ開放する単一の開口であることを
特徴とする試料炉体。 - 【請求項3】 請求項1又は請求項2記載のX線装置の
試料炉体において、加熱管は円筒形状であることを特徴
とする試料炉体。 - 【請求項4】 請求項1から請求項3のうちの少なくと
もいずれか1つに記載のX線装置の試料炉体において、
試料支持柱に発熱線が巻き付けられることを特徴とする
試料炉体。 - 【請求項5】 請求項1から請求項4のうちの少なくと
もいずれか1つに記載のX線装置の試料炉体において、
試料支持柱と加熱管との間に配置される補助加熱管と、
その補助加熱管に巻き付けられる発熱線とを有すること
特徴とする試料炉体。 - 【請求項6】 請求項1から請求項5のうちの少なくと
もいずれか1つに記載のX線装置の試料炉体において、 試料支持柱の先端に形成されたネジ部と、 試料支持柱の先端部が挿入される貫通穴を有していて試
料支持柱が組み付けられる基台と、 基台を貫通して突出する試料支持柱のネジ部に螺合する
ナット部材とを有することを特徴とする試料炉体。 - 【請求項7】 請求項6記載のX線装置の試料炉体にお
いて、基台と加熱管との間にカラー部材を配置すること
を特徴とする試料炉体。 - 【請求項8】 請求項1から請求項7のうちの少なくと
もいずれか1つに記載のX線装置の試料炉体を用いたX
線装置の試料格納容器において、 上記試料炉体を包囲するケーシングと、そのケーシング
に形成されたX線通過窓とを有しており、 そのX線通過窓は上記X線通過用開口に対応する位置に
配置されることを特徴とする試料格納容器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7347775A JPH09166527A (ja) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | X線装置の試料炉体及びそれを用いた試料格納容器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7347775A JPH09166527A (ja) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | X線装置の試料炉体及びそれを用いた試料格納容器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09166527A true JPH09166527A (ja) | 1997-06-24 |
Family
ID=18392498
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7347775A Pending JPH09166527A (ja) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | X線装置の試料炉体及びそれを用いた試料格納容器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09166527A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111933832A (zh) * | 2020-09-03 | 2020-11-13 | 广州阳瑞仪器科技有限公司 | X射线衍射仪的原位电池附件、安装座及装配方法 |
| CN117739671A (zh) * | 2023-12-06 | 2024-03-22 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 基于同步辐射三维成像和衍射的真空炉 |
-
1995
- 1995-12-15 JP JP7347775A patent/JPH09166527A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111933832A (zh) * | 2020-09-03 | 2020-11-13 | 广州阳瑞仪器科技有限公司 | X射线衍射仪的原位电池附件、安装座及装配方法 |
| CN111933832B (zh) * | 2020-09-03 | 2023-10-20 | 广州阳瑞仪器科技有限公司 | X射线衍射仪的原位电池附件及装配方法 |
| CN117739671A (zh) * | 2023-12-06 | 2024-03-22 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 基于同步辐射三维成像和衍射的真空炉 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040310 |