JPH0951183A - 電子部品 - Google Patents
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- JPH0951183A JPH0951183A JP8137219A JP13721996A JPH0951183A JP H0951183 A JPH0951183 A JP H0951183A JP 8137219 A JP8137219 A JP 8137219A JP 13721996 A JP13721996 A JP 13721996A JP H0951183 A JPH0951183 A JP H0951183A
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Landscapes
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 機械的精度が高くかつ電気的特性の向上を図
ることができる電子部品を得ることを目的とする。 【解決手段】 金属フレーム11の両側端に折り曲げ加
工による立上げ片11b,11cが一体成形され、電子
回路基板13を構成する絶縁基板13aの一側端には、
立上げ片11bが係合する凹欠部15が形成されてい
る。電子回路基板13は、立上げ片11b,11c間に
嵌合されると同時に立上げ片11bを凹欠部15に係合
する。更に、電子回路基板13の裏面に積層された金属
層14が金属フレーム11の底部11aに接触するよう
にして金属フレーム11に組み付け、金属層14と金属
フレーム11とを半田蝋接法によって接合する。次い
で、金属蓋12を所定の高さを維持して立上げ片11
b,11cに嵌め込むことにより、金属フレーム11と
金属蓋12とが一体化した金属パッケージを備えた電子
部品が組み立てられる。
ることができる電子部品を得ることを目的とする。 【解決手段】 金属フレーム11の両側端に折り曲げ加
工による立上げ片11b,11cが一体成形され、電子
回路基板13を構成する絶縁基板13aの一側端には、
立上げ片11bが係合する凹欠部15が形成されてい
る。電子回路基板13は、立上げ片11b,11c間に
嵌合されると同時に立上げ片11bを凹欠部15に係合
する。更に、電子回路基板13の裏面に積層された金属
層14が金属フレーム11の底部11aに接触するよう
にして金属フレーム11に組み付け、金属層14と金属
フレーム11とを半田蝋接法によって接合する。次い
で、金属蓋12を所定の高さを維持して立上げ片11
b,11cに嵌め込むことにより、金属フレーム11と
金属蓋12とが一体化した金属パッケージを備えた電子
部品が組み立てられる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品、特に、
配線パターンが形成された絶縁基板に能動素子や受動素
子等が取り付けられている電子回路基板を金属パッケー
ジ内に収容して組付ける構造を有する電子部品に関する
ものである。
配線パターンが形成された絶縁基板に能動素子や受動素
子等が取り付けられている電子回路基板を金属パッケー
ジ内に収容して組付ける構造を有する電子部品に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化・高機能化の要
請に伴って、電子機器に組み込まれる電子部品の更なる
小型化・高機能化が図られるようになっている。例え
ば、いわゆるマイクロチップと呼ばれる極めて小さな能
動素子や受動素子等を絶縁基板に取り付けることによっ
て形成される高集積度かつ小型の電子回路基板を、金属
パッケージ内に組付けてユニット化された電子部品が多
用されるようになった。
請に伴って、電子機器に組み込まれる電子部品の更なる
小型化・高機能化が図られるようになっている。例え
ば、いわゆるマイクロチップと呼ばれる極めて小さな能
動素子や受動素子等を絶縁基板に取り付けることによっ
て形成される高集積度かつ小型の電子回路基板を、金属
パッケージ内に組付けてユニット化された電子部品が多
用されるようになった。
【0003】一方、かかる電子部品の小型化等において
は、電子部品自体の機械的精度を向上させることが、そ
の電気的特性をも向上させるために極めて重要となって
きた。例えば、ビデオ信号やそれ以上の高周波信号を増
幅したり変調等する高周波回路が形成された電子回路基
板を組付けた電子部品の場合には、その電子回路基板と
それを収容する金属パッケージとの取り付け位置が最適
設計より僅かにずれただけで、信号の異常漏洩や雑音の
増加等の電気的特性を劣化させたり、金属パッケージの
シールド効果が十分に発揮されなくなる等の問題を招来
することとなる。
は、電子部品自体の機械的精度を向上させることが、そ
の電気的特性をも向上させるために極めて重要となって
きた。例えば、ビデオ信号やそれ以上の高周波信号を増
幅したり変調等する高周波回路が形成された電子回路基
板を組付けた電子部品の場合には、その電子回路基板と
それを収容する金属パッケージとの取り付け位置が最適
設計より僅かにずれただけで、信号の異常漏洩や雑音の
増加等の電気的特性を劣化させたり、金属パッケージの
シールド効果が十分に発揮されなくなる等の問題を招来
することとなる。
【0004】そこで、かかる機械的精度の向上を図るた
めに、次に述べるような電子部品の構造上の改善と、製
造工程の改善が試みられていた。
めに、次に述べるような電子部品の構造上の改善と、製
造工程の改善が試みられていた。
【0005】図5は、従来の電子部品を示す概略構成図
である。図において、電子部品1Aの金属パッケージ
は、金属板を加工して成形された金属フレーム2と、こ
の金属フレーム2の上方に嵌合されるキャップ状の金属
蓋3から構成されている。金属フレーム2には、電子素
子4aが搭載された電子回路基板4を載置するための底
部2aが形成されており、この底部2aの両端には、折
曲げ加工による立上げ片2b,2cが一体成形されてい
る。ここで、立上げ片2b,2cの対向間隔は、電子回
路基板4の特定の一辺の長さとほぼ等しくなるように設
計されている。
である。図において、電子部品1Aの金属パッケージ
は、金属板を加工して成形された金属フレーム2と、こ
の金属フレーム2の上方に嵌合されるキャップ状の金属
蓋3から構成されている。金属フレーム2には、電子素
子4aが搭載された電子回路基板4を載置するための底
部2aが形成されており、この底部2aの両端には、折
曲げ加工による立上げ片2b,2cが一体成形されてい
る。ここで、立上げ片2b,2cの対向間隔は、電子回
路基板4の特定の一辺の長さとほぼ等しくなるように設
計されている。
【0006】従来の電子部品は上述したように構成さ
れ、電子部品の組立時には、まず、図5(a)に示すよ
うに、電子回路基板4を立上げ片2b,2c間に挟みつ
つ底部2aに接触させるようにして金属フレーム2に半
田付けする。その後、図5(b)に示すように、キャッ
プ状の金属蓋3を立上げ片2b,2cの外側端に嵌合さ
せることにより金属フレーム2と金属蓋3を一体化させ
ることにより、電子部品を組み立てていた。
れ、電子部品の組立時には、まず、図5(a)に示すよ
うに、電子回路基板4を立上げ片2b,2c間に挟みつ
つ底部2aに接触させるようにして金属フレーム2に半
田付けする。その後、図5(b)に示すように、キャッ
プ状の金属蓋3を立上げ片2b,2cの外側端に嵌合さ
せることにより金属フレーム2と金属蓋3を一体化させ
ることにより、電子部品を組み立てていた。
【0007】ところが、この電子部品の構造によれば、
上記半田付けの際に、電子回路基板4が立上げ片2b,
2cによって位置決めされるので、これら立上げ片2
b,2cの配置方向(図中のX方向)においては比較的
位置決め精度が良好となる反面、かかるX方向に対して
ほぼ直交する方向(図中Y方向)においては、半田が固
化する前に電子回路基板4がY方向への位置ずれを生じ
易いという欠点があった。このような位置ずれをも低減
させるために、従来の電子部品では次に示すような特殊
な位置決め治具が使用されていた。
上記半田付けの際に、電子回路基板4が立上げ片2b,
2cによって位置決めされるので、これら立上げ片2
b,2cの配置方向(図中のX方向)においては比較的
位置決め精度が良好となる反面、かかるX方向に対して
ほぼ直交する方向(図中Y方向)においては、半田が固
化する前に電子回路基板4がY方向への位置ずれを生じ
易いという欠点があった。このような位置ずれをも低減
させるために、従来の電子部品では次に示すような特殊
な位置決め治具が使用されていた。
【0008】即ち、図5(c)に示すように、断面形状
がL字状の係合治具5a,5bを金属フレーム2の一端
に係合させると共に、電子回路基板4のY方向の幅に合
わせて一対のポール状の治具5c,5dを対向して配置
することにより、金属フレーム2と電子回路基板4の位
置決めを確実にし、半田が固化した後にこれらの治具5
a〜5dを取り外して、金属蓋3を取り付けるようにし
ていた。
がL字状の係合治具5a,5bを金属フレーム2の一端
に係合させると共に、電子回路基板4のY方向の幅に合
わせて一対のポール状の治具5c,5dを対向して配置
することにより、金属フレーム2と電子回路基板4の位
置決めを確実にし、半田が固化した後にこれらの治具5
a〜5dを取り外して、金属蓋3を取り付けるようにし
ていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】このような特殊な位置
決め治具を使用する従来の電子部品では、治具の着脱を
必要とするために製造工程が増加して作業が煩雑となる
と共に、治具の動作を自動制御するための特殊な製造装
置が必要となる。さらに、形状や大きさが異なる電子部
品毎に種類の異なる治具を適用する必要があるので、製
造コストが増大する等多くの問題点があった。
決め治具を使用する従来の電子部品では、治具の着脱を
必要とするために製造工程が増加して作業が煩雑となる
と共に、治具の動作を自動制御するための特殊な製造装
置が必要となる。さらに、形状や大きさが異なる電子部
品毎に種類の異なる治具を適用する必要があるので、製
造コストが増大する等多くの問題点があった。
【0010】そこで本発明は、このような従来技術の課
題に鑑みてなされたものであり、治具等を使用すること
なく機械的精度の向上、及びそれに伴う電気的特性の向
上を図ることができると共に、製造工程の簡素化等を図
ることができる構造を有する電子部品を得ることを目的
とする。
題に鑑みてなされたものであり、治具等を使用すること
なく機械的精度の向上、及びそれに伴う電気的特性の向
上を図ることができると共に、製造工程の簡素化等を図
ることができる構造を有する電子部品を得ることを目的
とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の発明は、主面に電子素子が搭載された電子回路基板
と、この電子回路基板が載置された金属フレームとを備
えた電子部品であって、上記電子回路基板の少なくとも
一端には少なくとも1つの凹欠部が形成され、上記金属
フレームは上記凹欠部に係合される位置決め突部を有す
ることを特徴とする。電子回路基板を金属フレームに装
着すると、電子回路基板の一端に予め形成されている上
記凹欠部に、金属フレームの上記位置決め突部が係合
し、電子回路基板と金属フレームとの相対位置ずれが抑
止される。そして、かかる位置ずれの無い状態で、金属
フレームと電子回路基板とを半田付けすることによっ
て、機械的精度の高い電子部品が製造できる。
の発明は、主面に電子素子が搭載された電子回路基板
と、この電子回路基板が載置された金属フレームとを備
えた電子部品であって、上記電子回路基板の少なくとも
一端には少なくとも1つの凹欠部が形成され、上記金属
フレームは上記凹欠部に係合される位置決め突部を有す
ることを特徴とする。電子回路基板を金属フレームに装
着すると、電子回路基板の一端に予め形成されている上
記凹欠部に、金属フレームの上記位置決め突部が係合
し、電子回路基板と金属フレームとの相対位置ずれが抑
止される。そして、かかる位置ずれの無い状態で、金属
フレームと電子回路基板とを半田付けすることによっ
て、機械的精度の高い電子部品が製造できる。
【0012】請求項2に記載の発明は、電子回路基板を
内部に収容して金属フレームと嵌合される金属蓋をさら
に備えたことを特徴とする。
内部に収容して金属フレームと嵌合される金属蓋をさら
に備えたことを特徴とする。
【0013】請求項3に記載の発明は、電子素子が搭載
された電子回路基板の裏面に、銅、亜鉛、錫、鉛、金及
びニッケルからなる群から選ばれた少なくとも1種から
成る金属層が積層されることを特徴とする。この金属層
によって、電子回路基板が金属フレームに良好に半田付
けできる。また、電子素子の高周波特性を改善でき、さ
らに、放熱性の改善にも効果的である。
された電子回路基板の裏面に、銅、亜鉛、錫、鉛、金及
びニッケルからなる群から選ばれた少なくとも1種から
成る金属層が積層されることを特徴とする。この金属層
によって、電子回路基板が金属フレームに良好に半田付
けできる。また、電子素子の高周波特性を改善でき、さ
らに、放熱性の改善にも効果的である。
【0014】請求項4に記載の発明は、金属層と金属パ
ッケージとは、SnPb又はAuSnから成る半田によ
って固着されることを特徴とする。これらの低融点半田
によって、半田の蝋付けを良好に行うことができる。
ッケージとは、SnPb又はAuSnから成る半田によ
って固着されることを特徴とする。これらの低融点半田
によって、半田の蝋付けを良好に行うことができる。
【0015】請求項5に記載の発明では、位置決め突部
は、金属蓋を所定の高さに調整して保持する高さを有す
ることを特徴とする。金属蓋が所定の高さに維持される
ので、所定の高周波信号の漏洩や異常な磁束分布の発生
を抑制して電気的特性の向上を図ることができる。
は、金属蓋を所定の高さに調整して保持する高さを有す
ることを特徴とする。金属蓋が所定の高さに維持される
ので、所定の高周波信号の漏洩や異常な磁束分布の発生
を抑制して電気的特性の向上を図ることができる。
【0016】請求項6に記載の発明では、電子回路基板
の側部は、金属蓋に接触しないことを特徴とする。電子
回路基板の側部が金属蓋等に近接することにより電子部
品の高周波特性等が劣化するのを防止することができ
る。
の側部は、金属蓋に接触しないことを特徴とする。電子
回路基板の側部が金属蓋等に近接することにより電子部
品の高周波特性等が劣化するのを防止することができ
る。
【0017】請求項7に記載の発明では、電子回路基板
に搭載された電子素子は、高周波用電子素子であること
を特徴とする。高周波用電子素子を使用することによ
り、優れた高周波特性を有する電子部品が得られる。
に搭載された電子素子は、高周波用電子素子であること
を特徴とする。高周波用電子素子を使用することによ
り、優れた高周波特性を有する電子部品が得られる。
【0018】請求項8に記載の発明は、位置決め突部に
は少なくとも1つの嵌合突起が形成されており、金属蓋
にはこの嵌合突起に嵌合する凹部が形成されていること
を特徴とする。金属蓋を所定の高さに容易に保持するこ
とができる。
は少なくとも1つの嵌合突起が形成されており、金属蓋
にはこの嵌合突起に嵌合する凹部が形成されていること
を特徴とする。金属蓋を所定の高さに容易に保持するこ
とができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して説明する。なお、各図中、同一符号は同
一又は相当部分を示し、重複する説明は省略する。
図面を参照して説明する。なお、各図中、同一符号は同
一又は相当部分を示し、重複する説明は省略する。
【0020】[実施形態1]図1は、本発明の実施形態
1による電子部品を示す概略斜視図である。
1による電子部品を示す概略斜視図である。
【0021】図1(a)において、例えば高周波増幅回
路やビデオ増幅回路等の電子部品10Aの金属パッケー
ジは、金属板を加工して成形された金属フレーム11
と、この金属フレーム11の上方に嵌合されるキャップ
状の金属蓋12とから構成されている。金属フレーム1
1には、電子回路基板12を載置するための底部11a
が形成されており、底部11aの両側部には、位置決め
突部である立上げ片11b,11cが折り曲げ加工によ
り一体成形されている。
路やビデオ増幅回路等の電子部品10Aの金属パッケー
ジは、金属板を加工して成形された金属フレーム11
と、この金属フレーム11の上方に嵌合されるキャップ
状の金属蓋12とから構成されている。金属フレーム1
1には、電子回路基板12を載置するための底部11a
が形成されており、底部11aの両側部には、位置決め
突部である立上げ片11b,11cが折り曲げ加工によ
り一体成形されている。
【0022】ここで、立上げ片11b,11cの対向間
隔は、後述する所定幅W1とほぼ等しくなるように設計
されており、立上げ片11bの幅W2も所定幅に設計さ
れている。また、立上げ片11b,11cは、金属蓋1
2を所定の高さに保持するために所定の高さHに調整さ
れている。さらに、電子回路基板12の側部が金属フレ
ーム11及び金属蓋12に接触しないように所定の間隔
を空けて金属蓋12が保持されるように、立上げ片11
b,11cには外側に突出する嵌合突起11hが形成さ
れており、金属蓋12にはこの嵌合突起11hに嵌合す
る凹部12aが金属蓋12の外側に突出するように形成
されている。
隔は、後述する所定幅W1とほぼ等しくなるように設計
されており、立上げ片11bの幅W2も所定幅に設計さ
れている。また、立上げ片11b,11cは、金属蓋1
2を所定の高さに保持するために所定の高さHに調整さ
れている。さらに、電子回路基板12の側部が金属フレ
ーム11及び金属蓋12に接触しないように所定の間隔
を空けて金属蓋12が保持されるように、立上げ片11
b,11cには外側に突出する嵌合突起11hが形成さ
れており、金属蓋12にはこの嵌合突起11hに嵌合す
る凹部12aが金属蓋12の外側に突出するように形成
されている。
【0023】なお、これらの嵌合突起11h及び凹部1
2aとしては、種々の形状のものを使用できるが、十分
な嵌合が行われるためには、矩形又は正方形形状の横断
面を有することが望ましい。また、一対の立上げ片11
b,11cが配置される方向(図中のX方向)に対して
ほぼ直交する長手方向(図中のY方向)の金属フレーム
11端部には、電子部品10Aを種々の電子機器や電子
回路などに装着する際に、半田付けやネジ止めを行うた
めの支持片11d〜11gが一体成形されている。
2aとしては、種々の形状のものを使用できるが、十分
な嵌合が行われるためには、矩形又は正方形形状の横断
面を有することが望ましい。また、一対の立上げ片11
b,11cが配置される方向(図中のX方向)に対して
ほぼ直交する長手方向(図中のY方向)の金属フレーム
11端部には、電子部品10Aを種々の電子機器や電子
回路などに装着する際に、半田付けやネジ止めを行うた
めの支持片11d〜11gが一体成形されている。
【0024】電子回路基板13には、略矩形の例えばセ
ラミック製の絶縁基板13aに形成された所定のプリン
ト配線に、電気的に接続された能動素子(例えば、電解
効果トランジスタなど)や受動素子(抵抗やコンデンサ
やインダクタなど)等の電子素子13bが搭載されてい
る。また、これらの電子素子13bが搭載された電子回
路基板13の裏面には、銅(Cu)や亜鉛(Zn)、錫
(Sn)、鉛(Pb)、金(Au)、ニッケル(Ni)
等のうち少なくとも1種から成る金属層14が積層され
ている。この金属層14は、金属フレーム11の底部1
1aへの半田の蝋付けを良好に行うために使用している
が、さらに、電子素子13bの高周波特性を改善するこ
とができ、放熱性の改善にも効果的である。なお、金属
層14は、蒸着、メッキ又は印刷等により電子回路基板
13の裏面に積層することができる。
ラミック製の絶縁基板13aに形成された所定のプリン
ト配線に、電気的に接続された能動素子(例えば、電解
効果トランジスタなど)や受動素子(抵抗やコンデンサ
やインダクタなど)等の電子素子13bが搭載されてい
る。また、これらの電子素子13bが搭載された電子回
路基板13の裏面には、銅(Cu)や亜鉛(Zn)、錫
(Sn)、鉛(Pb)、金(Au)、ニッケル(Ni)
等のうち少なくとも1種から成る金属層14が積層され
ている。この金属層14は、金属フレーム11の底部1
1aへの半田の蝋付けを良好に行うために使用している
が、さらに、電子素子13bの高周波特性を改善するこ
とができ、放熱性の改善にも効果的である。なお、金属
層14は、蒸着、メッキ又は印刷等により電子回路基板
13の裏面に積層することができる。
【0025】また、絶縁基板13aの一側端には、立上
げ片11bとほぼ等しい幅W2で、且つその立上げ片1
1bを嵌合させるのに十分な深さを有する矩形の凹欠部
15が形成されている。更に、凹欠部15の底面15a
から絶縁基板13aの対向する側端までの幅W1は、上
述したように立上げ片11bと11cとの対向間隔にほ
ぼ等しい。
げ片11bとほぼ等しい幅W2で、且つその立上げ片1
1bを嵌合させるのに十分な深さを有する矩形の凹欠部
15が形成されている。更に、凹欠部15の底面15a
から絶縁基板13aの対向する側端までの幅W1は、上
述したように立上げ片11bと11cとの対向間隔にほ
ぼ等しい。
【0026】更に、立上げ片11bと凹欠部15のそれ
ぞれの形成位置は、電子回路基板13を金属フレーム1
1に組み付けたときに、金属フレーム11の底部11a
上に電子回路基板13が載置するように設定されてい
る。
ぞれの形成位置は、電子回路基板13を金属フレーム1
1に組み付けたときに、金属フレーム11の底部11a
上に電子回路基板13が載置するように設定されてい
る。
【0027】実施形態1による電子部品の組立時には、
図1(b)に示すように、電子回路基板13を立上げ片
11b,11c間に嵌合すると同時に、立上げ片11b
を凹欠部15に係合させ、更に、金属層14が金属フレ
ーム11の底部11aに接触するようにして、金属フレ
ーム11に組み付ける。そして、いわゆる半田蝋接法に
よって、金属層14と金属フレーム11を固着する。な
お、半田付けには、SnPbやAuSn等の低融点半田
が好適に使用でき、蝋付けを良好に行うことができる。
次いで、キャップ状の金属蓋12を立上げ片11b,1
1cに嵌め込み、金属蓋12の凹部12aと立上げ片1
1bの嵌合突部11hとを嵌合させる。これにより、金
属蓋12を所定の高さに維持すると共に、図2に示すよ
うに、金属蓋12(頂部の図示は省略する)と電子回路
基板13の側部とを所定の間隔dが維持されるように金
属蓋12を固定して、電子部品10Aの組立が完了す
る。
図1(b)に示すように、電子回路基板13を立上げ片
11b,11c間に嵌合すると同時に、立上げ片11b
を凹欠部15に係合させ、更に、金属層14が金属フレ
ーム11の底部11aに接触するようにして、金属フレ
ーム11に組み付ける。そして、いわゆる半田蝋接法に
よって、金属層14と金属フレーム11を固着する。な
お、半田付けには、SnPbやAuSn等の低融点半田
が好適に使用でき、蝋付けを良好に行うことができる。
次いで、キャップ状の金属蓋12を立上げ片11b,1
1cに嵌め込み、金属蓋12の凹部12aと立上げ片1
1bの嵌合突部11hとを嵌合させる。これにより、金
属蓋12を所定の高さに維持すると共に、図2に示すよ
うに、金属蓋12(頂部の図示は省略する)と電子回路
基板13の側部とを所定の間隔dが維持されるように金
属蓋12を固定して、電子部品10Aの組立が完了す
る。
【0028】なお、図2において、一部しか図示してい
ないが、マイクロストリップ線路13cのような平面導
波路を形成した場合にも本発明は好適に適用でき、優れ
た高周波特性が得られる。
ないが、マイクロストリップ線路13cのような平面導
波路を形成した場合にも本発明は好適に適用でき、優れ
た高周波特性が得られる。
【0029】このように、実施形態1によれば、金属パ
ッケージの構成部材である金属フレーム11に予め一体
成形され所定の高さを有する位置決め突部(即ち、立上
げ片11b)を有し、かつ電子回路基板13に予め形成
された凹欠部15とを係合させる構造としたので、電子
部品を組立る際に、電子回路基板13と金属フレーム1
1との相対的な(特にY方向の)位置ズレを防止するこ
とができる。また、かかる機械的精度の向上により、金
属パッケージのシールド効果の向上や、高周波信号の漏
洩や異常な磁束分布の発生を抑制して、電気的特性の向
上を図ることができる。さらに、電子回路基板13の側
部が金属蓋12等に近接することにより電子部品10A
の高周波特性が劣化するのを防止できる。
ッケージの構成部材である金属フレーム11に予め一体
成形され所定の高さを有する位置決め突部(即ち、立上
げ片11b)を有し、かつ電子回路基板13に予め形成
された凹欠部15とを係合させる構造としたので、電子
部品を組立る際に、電子回路基板13と金属フレーム1
1との相対的な(特にY方向の)位置ズレを防止するこ
とができる。また、かかる機械的精度の向上により、金
属パッケージのシールド効果の向上や、高周波信号の漏
洩や異常な磁束分布の発生を抑制して、電気的特性の向
上を図ることができる。さらに、電子回路基板13の側
部が金属蓋12等に近接することにより電子部品10A
の高周波特性が劣化するのを防止できる。
【0030】特に、本発明による電子部品10Aは高周
波特性に優れ、準マイクロ波帯域、例えば0.5GHz
以上3GHz以下の周波数帯域の電波に対して優れた電
気的特性が得られ、信頼性の高い電子部品が得られる。
更に、従来技術のような特殊な位置決め用治具等を必要
とせず、組立作業を大幅に簡素化することができる等の
多くの効果が得られる。
波特性に優れ、準マイクロ波帯域、例えば0.5GHz
以上3GHz以下の周波数帯域の電波に対して優れた電
気的特性が得られ、信頼性の高い電子部品が得られる。
更に、従来技術のような特殊な位置決め用治具等を必要
とせず、組立作業を大幅に簡素化することができる等の
多くの効果が得られる。
【0031】[実施形態2]図3は、本発明の実施形態
2による電子部品を示す概略斜視図である。実施形態1
では、幅の狭い立上げ片11bを使用したが、この実施
形態2では、図3(a)に示すように、幅の広い立上げ
片11cを使用し、この立上げ片11cに係合される矩
形状の凹欠部16が絶縁基板13aに形成されている。
即ち、電気回路基板13を金属フレーム11に装着する
際に、立上げ片11cが対応する位置に凹欠部16が形
成されると共に、凹欠部16の幅W4が立上げ片11c
の幅とほぼ等しく、かつ凹欠部16は立上げ片11cを
嵌合させるのに十分な深さを有する。また、凹欠部16
の底面16aから絶縁基板13の対向する側端までの幅
W3は、立上げ片11bと11cとの対向間隔にほぼ等
しい。
2による電子部品を示す概略斜視図である。実施形態1
では、幅の狭い立上げ片11bを使用したが、この実施
形態2では、図3(a)に示すように、幅の広い立上げ
片11cを使用し、この立上げ片11cに係合される矩
形状の凹欠部16が絶縁基板13aに形成されている。
即ち、電気回路基板13を金属フレーム11に装着する
際に、立上げ片11cが対応する位置に凹欠部16が形
成されると共に、凹欠部16の幅W4が立上げ片11c
の幅とほぼ等しく、かつ凹欠部16は立上げ片11cを
嵌合させるのに十分な深さを有する。また、凹欠部16
の底面16aから絶縁基板13の対向する側端までの幅
W3は、立上げ片11bと11cとの対向間隔にほぼ等
しい。
【0032】その他の電子部品10Bの構成は、基本的
に実施形態1の電子部品10Aにおけるものと同様であ
る。
に実施形態1の電子部品10Aにおけるものと同様であ
る。
【0033】実施形態2による電子部品10Bの組立
は、実施形態1と同様に行われ、まず、図3(b)に示
すように、電子素子13bが搭載され、裏面に金属層1
4が積層された電子回路基板13を立上げ片11b,1
1c間に嵌合すると同時に、立上げ片11cを凹欠部1
6に係合させる。次に、金属層14が金属フレーム11
の底部11aに接触するようにして、金属フレーム11
に組み付ける。そして、いわゆる半田蝋接法によって、
金属層14と金属フレーム11を固着する。半田付けに
は、SnPbやAuSn等の低融点半田を使用した。次
いで、キャップ状の金属蓋12を立上げ片11b,11
cに嵌め込み、金属蓋12の凹部12aと立上げ片11
bの嵌合突部11hとを嵌合させる。これにより、金属
蓋12を所定の高さに維持すると共に、図2に示すよう
に、金属蓋12と電子回路基板13の側部とを所定の間
隔dが維持されるように金属蓋12を固定して、電子部
品10Bの組立が完了する。
は、実施形態1と同様に行われ、まず、図3(b)に示
すように、電子素子13bが搭載され、裏面に金属層1
4が積層された電子回路基板13を立上げ片11b,1
1c間に嵌合すると同時に、立上げ片11cを凹欠部1
6に係合させる。次に、金属層14が金属フレーム11
の底部11aに接触するようにして、金属フレーム11
に組み付ける。そして、いわゆる半田蝋接法によって、
金属層14と金属フレーム11を固着する。半田付けに
は、SnPbやAuSn等の低融点半田を使用した。次
いで、キャップ状の金属蓋12を立上げ片11b,11
cに嵌め込み、金属蓋12の凹部12aと立上げ片11
bの嵌合突部11hとを嵌合させる。これにより、金属
蓋12を所定の高さに維持すると共に、図2に示すよう
に、金属蓋12と電子回路基板13の側部とを所定の間
隔dが維持されるように金属蓋12を固定して、電子部
品10Bの組立が完了する。
【0034】このように、実施形態2によれば、金属パ
ッケージの構成部材である金属フレーム11に予め一体
成形した位置決め突部(即ち、立上げ片11c)と、電
子回路基板13に予め形成された凹欠部16とを係合さ
せる構造としたので、電子部品10Bを組み立てる際
に、電子回路基板13と金属フレーム11との相対的な
位置ズレをX方向及びY方向共に防止することができ
る。また、機械的精度の向上のみならず電気的特性の向
上、特に高周波特性に優れ、信頼性の高い電子部品が得
られる。更に、組立工程の大幅な簡素化を図ることがで
きる。
ッケージの構成部材である金属フレーム11に予め一体
成形した位置決め突部(即ち、立上げ片11c)と、電
子回路基板13に予め形成された凹欠部16とを係合さ
せる構造としたので、電子部品10Bを組み立てる際
に、電子回路基板13と金属フレーム11との相対的な
位置ズレをX方向及びY方向共に防止することができ
る。また、機械的精度の向上のみならず電気的特性の向
上、特に高周波特性に優れ、信頼性の高い電子部品が得
られる。更に、組立工程の大幅な簡素化を図ることがで
きる。
【0035】[実施形態3]図4は、本発明の実施形態
3による電子部品を示す概略斜視図である。実施形態3
では、図4(a)に示すように、電子回路基板13の長
手方向(図中のY方向)において金属フレーム11に立
上げ片11i,11jが形成されている。また、これら
の立上げ片11i,11jに対応する電子回路基板13
の両端には、一対の凹欠部17,18が形成されてい
る。より具体的には、凹欠部17の底面17aから凹欠
部18の底面18aまでの幅W5は、立上げ片11iと
11jの対向間隔にほぼ等しく、凹欠部17の幅W6は
立上げ片11iの幅W6とほぼ等しく、かつ凹欠部18
の幅W6は立上げ片11jの幅W6とほぼ等しい。
3による電子部品を示す概略斜視図である。実施形態3
では、図4(a)に示すように、電子回路基板13の長
手方向(図中のY方向)において金属フレーム11に立
上げ片11i,11jが形成されている。また、これら
の立上げ片11i,11jに対応する電子回路基板13
の両端には、一対の凹欠部17,18が形成されてい
る。より具体的には、凹欠部17の底面17aから凹欠
部18の底面18aまでの幅W5は、立上げ片11iと
11jの対向間隔にほぼ等しく、凹欠部17の幅W6は
立上げ片11iの幅W6とほぼ等しく、かつ凹欠部18
の幅W6は立上げ片11jの幅W6とほぼ等しい。
【0036】また、金属フレーム11には、電子部品1
0Cを他の電子回路等に半田付けやネジ止め等により固
着させるための支持片11d〜11gが設けられてい
る。これらの支持片11d〜11gは、相互に対向する
立上げ片11i,11jが設けられた方向と同じ長手方
向の金属フレーム11に、一体成形された構造となって
いる。
0Cを他の電子回路等に半田付けやネジ止め等により固
着させるための支持片11d〜11gが設けられてい
る。これらの支持片11d〜11gは、相互に対向する
立上げ片11i,11jが設けられた方向と同じ長手方
向の金属フレーム11に、一体成形された構造となって
いる。
【0037】実施形態3による電子部品10Cの組立
は、実施形態1と同様に行われ、まず、図4(b)に示
すように、電子素子13bが搭載され、裏面に金属層1
4が積層された電子回路基板13を立上げ片11i,1
1j間に嵌合すると同時に、立上げ片11iを凹欠部1
7に、立上げ片11jを凹欠部18にそれぞれ係合させ
る。次に、金属層14が金属フレーム11の底部11a
に接触するようにして、金属フレーム11に組み付け
る。そして、いわゆる半田蝋接法によって、金属層14
と金属フレーム11を固着した。半田付けには、SnP
bやAuSn等の低融点半田を使用した。次いで、キャ
ップ状の金属蓋12を立上げ片11i,11jに嵌め込
み、金属蓋12の凹部12aと立上げ片11i,11j
の嵌合突起11hとを嵌合する。これにより、金属蓋1
2を所定の高さに維持すると共に、図2に示すように、
金属蓋12と電子回路基板13の側部とを所定の間隔d
が維持されるように金属蓋12を固定して、電子部品1
0Cの組立が完了する。
は、実施形態1と同様に行われ、まず、図4(b)に示
すように、電子素子13bが搭載され、裏面に金属層1
4が積層された電子回路基板13を立上げ片11i,1
1j間に嵌合すると同時に、立上げ片11iを凹欠部1
7に、立上げ片11jを凹欠部18にそれぞれ係合させ
る。次に、金属層14が金属フレーム11の底部11a
に接触するようにして、金属フレーム11に組み付け
る。そして、いわゆる半田蝋接法によって、金属層14
と金属フレーム11を固着した。半田付けには、SnP
bやAuSn等の低融点半田を使用した。次いで、キャ
ップ状の金属蓋12を立上げ片11i,11jに嵌め込
み、金属蓋12の凹部12aと立上げ片11i,11j
の嵌合突起11hとを嵌合する。これにより、金属蓋1
2を所定の高さに維持すると共に、図2に示すように、
金属蓋12と電子回路基板13の側部とを所定の間隔d
が維持されるように金属蓋12を固定して、電子部品1
0Cの組立が完了する。
【0038】このように、実施形態3によれば、金属パ
ッケージの構成部材である金属フレーム11に予め一体
成形した位置決め突部(即ち、立上げ片11i,11
j)と、電子回路基板13に予め形成された凹欠部1
7,18とを係合させる構造としたので、電子部品10
Cを組み立てる際に、電子回路基板13と金属フレーム
11との相対的な位置ズレをX方向及びY方向共に防止
することができる。また、機械的精度の向上のみならず
電気的特性の向上、特に高周波特性に優れ、信頼性の高
い電子部品が得られる。更に、組立工程の大幅な簡素化
を図ることができる。
ッケージの構成部材である金属フレーム11に予め一体
成形した位置決め突部(即ち、立上げ片11i,11
j)と、電子回路基板13に予め形成された凹欠部1
7,18とを係合させる構造としたので、電子部品10
Cを組み立てる際に、電子回路基板13と金属フレーム
11との相対的な位置ズレをX方向及びY方向共に防止
することができる。また、機械的精度の向上のみならず
電気的特性の向上、特に高周波特性に優れ、信頼性の高
い電子部品が得られる。更に、組立工程の大幅な簡素化
を図ることができる。
【0039】なお、上述した実施形態1〜3において
は、相互に係合あるいは嵌合する凹欠部と位置決め突起
である立上げ片とを、電子回路基板13と金属フレーム
11の対向する一辺に1カ所ずつ形成した場合を示した
が、本発明は、これらを1カ所に限らず複数箇所設ける
構造を含むものである。また、かかる凹欠部と立上げ片
とを、電子回路基板13と金属フレーム11の角の部分
に形成する構造も含まれる。更に、凹欠部の形状を立上
げ片の外形形状に合わせて矩形にした場合を説明した
が、特に形状は限定されるものでは無く、凹欠部と立上
げ片とが少なくとも係合して電子回路基板と金属フレー
ムの相対的な位置ズレを防止する形状であれば種々の形
状も本発明に含まれる。
は、相互に係合あるいは嵌合する凹欠部と位置決め突起
である立上げ片とを、電子回路基板13と金属フレーム
11の対向する一辺に1カ所ずつ形成した場合を示した
が、本発明は、これらを1カ所に限らず複数箇所設ける
構造を含むものである。また、かかる凹欠部と立上げ片
とを、電子回路基板13と金属フレーム11の角の部分
に形成する構造も含まれる。更に、凹欠部の形状を立上
げ片の外形形状に合わせて矩形にした場合を説明した
が、特に形状は限定されるものでは無く、凹欠部と立上
げ片とが少なくとも係合して電子回路基板と金属フレー
ムの相対的な位置ズレを防止する形状であれば種々の形
状も本発明に含まれる。
【0040】
【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
電子回路基板を金属パッケージに装着する際、電子回路
基板の一端に予め形成されている凹欠部に金属パッケー
ジの位置決め突部が係合し、電子回路基板と金属パッケ
ージとの相対的な位置ずれが抑止される構造としたの
で、従来技術のような特殊な治具を必要とせず、製造工
程の簡素化を図ることができる。また、かかる位置ずれ
の無い状態で、金属パッケージと電子回路基板を半田付
けすることによって、機械的精度の高い電子部品が製造
される。更に、かかる機械的精度の向上により、金属パ
ッケージのシールド効果の向上や信号(特に高周波信
号)の漏洩や異常な磁束分布の発生を抑制して、電気的
特性の向上を図ることができる等、極めて優れた効果を
奏するものである。
電子回路基板を金属パッケージに装着する際、電子回路
基板の一端に予め形成されている凹欠部に金属パッケー
ジの位置決め突部が係合し、電子回路基板と金属パッケ
ージとの相対的な位置ずれが抑止される構造としたの
で、従来技術のような特殊な治具を必要とせず、製造工
程の簡素化を図ることができる。また、かかる位置ずれ
の無い状態で、金属パッケージと電子回路基板を半田付
けすることによって、機械的精度の高い電子部品が製造
される。更に、かかる機械的精度の向上により、金属パ
ッケージのシールド効果の向上や信号(特に高周波信
号)の漏洩や異常な磁束分布の発生を抑制して、電気的
特性の向上を図ることができる等、極めて優れた効果を
奏するものである。
【図1】本発明の実施形態1による電子部品を示す概略
斜視図である。
斜視図である。
【図2】図1に示した電子部品を一部破断して示す概略
平面図である。
平面図である。
【図3】本発明の実施形態2による電子部品を示す概略
斜視図である。
斜視図である。
【図4】本発明の実施形態3による電子部品を示す概略
斜視図である。
斜視図である。
【図5】従来の電子部品を示す概略構成図である。
10A,10B,10C…電子部品、11…金属フレー
ム、11a…底部、11b,11c,11i,11j…
立上げ片、11d〜11g…支持部、11h…嵌合突
起、12…金属蓋、12a…凹部、13…電子回路基
板、13a…絶縁基板、13b…電子素子、14…金属
層、15,16,17,18…凹欠部、15a,16
a,17a,18a…底面。
ム、11a…底部、11b,11c,11i,11j…
立上げ片、11d〜11g…支持部、11h…嵌合突
起、12…金属蓋、12a…凹部、13…電子回路基
板、13a…絶縁基板、13b…電子素子、14…金属
層、15,16,17,18…凹欠部、15a,16
a,17a,18a…底面。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松崎 賢一郎 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内
Claims (8)
- 【請求項1】 主面に電子素子が搭載された電子回路基
板と、 この電子回路基板が載置された金属フレームとを備えた
電子部品であって、 上記電子回路基板の少なくとも一端には少なくとも1つ
の凹欠部が形成され、上記金属フレームは上記凹欠部に
係合される位置決め突部を有することを特徴とする電子
部品。 - 【請求項2】 電子回路基板を内部に収容して金属フレ
ームと嵌合される金属蓋をさらに備えたことを特徴とす
る請求項1記載の電子部品。 - 【請求項3】 電子素子が搭載された電子回路基板の裏
面には、銅、亜鉛、錫、鉛、金及びニッケルからなる群
から選ばれた少なくとも1種から成る金属層が積層され
ることを特徴とする請求項1記載の電子部品。 - 【請求項4】 金属層と金属フレームとは、SnPb又
はAuSnから成る半田によって固着されることを特徴
とする請求項3記載の電子部品。 - 【請求項5】 位置決め突部は、金属蓋を所定の高さに
調整して保持する高さを有することを特徴とする請求項
2記載の電子部品。 - 【請求項6】 電子回路基板の側部は、金属蓋に接触し
ないことを特徴とする請求項2記載の電子部品。 - 【請求項7】 電子回路基板に搭載された電子素子は、
高周波用電子素子であることを特徴とする請求項1記載
の電子部品。 - 【請求項8】 位置決め突部には少なくとも1つの嵌合
突起が形成されており、金属蓋にはこの嵌合突起に嵌合
する凹部が形成されていることを特徴とする請求項2記
載の電子部品。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8137219A JPH0951183A (ja) | 1995-05-30 | 1996-05-30 | 電子部品 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13157095 | 1995-05-30 | ||
| JP7-131570 | 1995-05-30 | ||
| JP8137219A JPH0951183A (ja) | 1995-05-30 | 1996-05-30 | 電子部品 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0951183A true JPH0951183A (ja) | 1997-02-18 |
Family
ID=26466370
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8137219A Pending JPH0951183A (ja) | 1995-05-30 | 1996-05-30 | 電子部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0951183A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6881896B2 (en) | 2003-05-20 | 2005-04-19 | Nec Compound Semiconductor, Ltd. | Semiconductor device package |
| JP2010016186A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Pioneer Electronic Corp | シールド取り外し構造 |
| JP2013222744A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Kyocera Corp | 電子機器 |
| JP2014132680A (ja) * | 2008-01-18 | 2014-07-17 | Kmw Inc | 電気又は電子装置 |
-
1996
- 1996-05-30 JP JP8137219A patent/JPH0951183A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6881896B2 (en) | 2003-05-20 | 2005-04-19 | Nec Compound Semiconductor, Ltd. | Semiconductor device package |
| JP2014132680A (ja) * | 2008-01-18 | 2014-07-17 | Kmw Inc | 電気又は電子装置 |
| US9254531B2 (en) | 2008-01-18 | 2016-02-09 | Kmw Inc. | PCB mounting method |
| JP2010016186A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Pioneer Electronic Corp | シールド取り外し構造 |
| JP2013222744A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Kyocera Corp | 電子機器 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041028 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041130 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050404 |