JPH0980115A - 波形観測用ｌｓｉソケット - Google Patents
波形観測用ｌｓｉソケットInfo
- Publication number
- JPH0980115A JPH0980115A JP7232243A JP23224395A JPH0980115A JP H0980115 A JPH0980115 A JP H0980115A JP 7232243 A JP7232243 A JP 7232243A JP 23224395 A JP23224395 A JP 23224395A JP H0980115 A JPH0980115 A JP H0980115A
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- JP
- Japan
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- lsi
- pin
- waveform
- observation
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- Prior art date
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- Withdrawn
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- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 8
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 プリント基板等に直接表面実装されているＬ
ＳＩの端子と波形観測器のプローブとの接続を簡便に行
えるＬＳＩソケットを提案する。 【解決手段】 波形観測用ＬＳＩソケット本体２の４角
には、Ｌ字型のレバー３がその上部の一端を支点として
レバー固定スプリング６により付勢されて回転可能に設
けられている。前記本体２の下表面に、プリント基板等
に直接表面実装されている被観測ＬＳＩ７を４本のレバ
ー３により抱持する。前記本体２の逆側の上表面には、
信号観測用ピン１が設けられ、このピン１を波形観測器
のプローブと接続する。この結果、被観測ＬＳＩ７の接
続ピンは、前記本体２の接着ピン、ピン固定スプリング
及び信号観測用ピン１を経て波形観測器のプローブと接
続する。
ＳＩの端子と波形観測器のプローブとの接続を簡便に行
えるＬＳＩソケットを提案する。 【解決手段】 波形観測用ＬＳＩソケット本体２の４角
には、Ｌ字型のレバー３がその上部の一端を支点として
レバー固定スプリング６により付勢されて回転可能に設
けられている。前記本体２の下表面に、プリント基板等
に直接表面実装されている被観測ＬＳＩ７を４本のレバ
ー３により抱持する。前記本体２の逆側の上表面には、
信号観測用ピン１が設けられ、このピン１を波形観測器
のプローブと接続する。この結果、被観測ＬＳＩ７の接
続ピンは、前記本体２の接着ピン、ピン固定スプリング
及び信号観測用ピン１を経て波形観測器のプローブと接
続する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板等に
直接表面実装されたＬＳＩに対し、評価や不良解析等を
行うために使用する波形観測用ＬＳＩソケットに関する
ものである。
直接表面実装されたＬＳＩに対し、評価や不良解析等を
行うために使用する波形観測用ＬＳＩソケットに関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】実開平２−５７５８２号公報には、次の
構造のＬＳＩソケットが記載されている。一面に被観測
ＬＳＩ載せ台及びピンコンタクトを、他面に接続ピンを
それぞれ設けられた長方形状のＬＳＩソケット本体と、
一面にピンコンタクトを、他面に信号観測用ピンをそれ
ぞれ設けられた長方形状のふたと、ＬＳＩソケット本体
とふたとを係止するストッパとから構成され、被観測Ｌ
ＳＩをＬＳＩソケット本体とふたとの間に挟持して、被
観測ＬＳＩのピンと前記両ピンコンタクトとを圧着し、
電気的に導通にするようにしたＬＳＩソケットである。
なお、ＬＳＩソケット本体は、その接続ピンによってプ
リント基板等に表面実装される。
構造のＬＳＩソケットが記載されている。一面に被観測
ＬＳＩ載せ台及びピンコンタクトを、他面に接続ピンを
それぞれ設けられた長方形状のＬＳＩソケット本体と、
一面にピンコンタクトを、他面に信号観測用ピンをそれ
ぞれ設けられた長方形状のふたと、ＬＳＩソケット本体
とふたとを係止するストッパとから構成され、被観測Ｌ
ＳＩをＬＳＩソケット本体とふたとの間に挟持して、被
観測ＬＳＩのピンと前記両ピンコンタクトとを圧着し、
電気的に導通にするようにしたＬＳＩソケットである。
なお、ＬＳＩソケット本体は、その接続ピンによってプ
リント基板等に表面実装される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来のＬＳＩソケット
でもＬＳＩの評価や不良解析等を行うことができるが、
ＬＳＩソケットをプリント基板に必らず装着しなければ
ならなかった。したがって、従来のＬＳＩソケットは、
実際に出荷された又は出荷予定にされているプリント基
板等に直接表面実装されているほとんどのＬＳＩには対
応することができない。
でもＬＳＩの評価や不良解析等を行うことができるが、
ＬＳＩソケットをプリント基板に必らず装着しなければ
ならなかった。したがって、従来のＬＳＩソケットは、
実際に出荷された又は出荷予定にされているプリント基
板等に直接表面実装されているほとんどのＬＳＩには対
応することができない。
【０００４】そこで、本発明は、前記従来のＬＳＩソケ
ットの欠点を改良し、実際に出荷された又は出荷予定に
されているプリント基板等に直接表面実装されているＬ
ＳＩの端子と波形観測器のプローブとの接続を簡便に行
うことができ、ＬＳＩの評価や不良解析等に容易に対応
可能なＬＳＩソケットを提案する。
ットの欠点を改良し、実際に出荷された又は出荷予定に
されているプリント基板等に直接表面実装されているＬ
ＳＩの端子と波形観測器のプローブとの接続を簡便に行
うことができ、ＬＳＩの評価や不良解析等に容易に対応
可能なＬＳＩソケットを提案する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するため、次の手段を採用する。
決するため、次の手段を採用する。
【０００６】（１）波形観測用ＬＳＩソケット本体の周
縁部に回転可能なレバーを設け、前記本体の一表面に被
観測ＬＳＩを前記レバーにより抱持可能とし、前記本体
の逆側の他表面に信号観測用ピンを設ける波形観測用Ｌ
ＳＩソケット。
縁部に回転可能なレバーを設け、前記本体の一表面に被
観測ＬＳＩを前記レバーにより抱持可能とし、前記本体
の逆側の他表面に信号観測用ピンを設ける波形観測用Ｌ
ＳＩソケット。
【０００７】（２）前記本体に、接着ピンと、この接着
ピンを被観測ＬＳＩの接続ピンに接着させ、かつ、前記
信号観測用ピンと電気的に導通するスプリングとを設け
る前記（１）記載の波形観測用ＬＳＩソケット。
ピンを被観測ＬＳＩの接続ピンに接着させ、かつ、前記
信号観測用ピンと電気的に導通するスプリングとを設け
る前記（１）記載の波形観測用ＬＳＩソケット。
【０００８】（３）前記レバーをＬ字型に形成し、スプ
リングにより付勢する前記（１）記載の波形観測用ＬＳ
Ｉソケット。
リングにより付勢する前記（１）記載の波形観測用ＬＳ
Ｉソケット。
【０００９】（４）前記レバーを前記本体の４角に設け
る前記（１）記載の波形観測用ＬＳＩソケット。
る前記（１）記載の波形観測用ＬＳＩソケット。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態について図１
〜図８を参照して説明する。
〜図８を参照して説明する。
【００１１】図１〜図４は、本発明の一実施形態の波形
観測用ＬＳＩソケットを示し、また、図５〜図８は、被
観測ＬＳＩに本発明の一実施形態の波形観測用ＬＳＩソ
ケットを装着した状態を示す。
観測用ＬＳＩソケットを示し、また、図５〜図８は、被
観測ＬＳＩに本発明の一実施形態の波形観測用ＬＳＩソ
ケットを装着した状態を示す。
【００１２】本発明の一実施形態の波形観測用ＬＳＩソ
ケットは、波形観測用ＬＳＩソケット本体２と、プリン
ト基板に表面実装された被観測ＬＳＩ７の全ての端子に
接触する接着ピン５と、接着ピン５と被観測ＬＳＩ７の
全ての端子を伸張力により接着させるためのピン固定ス
プリング４と、ピン固定スプリング４と電気的に導通
し、上部に突き出した信号観測用ピン１と、被観測ＬＳ
Ｉ７に波形観測用ＬＳＩソケット本体２を装着するため
のレバー３と、被観測ＬＳＩ７と波形観測用ＬＳＩソケ
ット本体２を収縮力により確実に固定するためのレバー
固定スプリング６から構成される。レバー３は、その上
部の一端を支点として回転することができる。
ケットは、波形観測用ＬＳＩソケット本体２と、プリン
ト基板に表面実装された被観測ＬＳＩ７の全ての端子に
接触する接着ピン５と、接着ピン５と被観測ＬＳＩ７の
全ての端子を伸張力により接着させるためのピン固定ス
プリング４と、ピン固定スプリング４と電気的に導通
し、上部に突き出した信号観測用ピン１と、被観測ＬＳ
Ｉ７に波形観測用ＬＳＩソケット本体２を装着するため
のレバー３と、被観測ＬＳＩ７と波形観測用ＬＳＩソケ
ット本体２を収縮力により確実に固定するためのレバー
固定スプリング６から構成される。レバー３は、その上
部の一端を支点として回転することができる。
【００１３】次に、本発明の一実施形態の波形観測用Ｌ
ＳＩソケットの動作について説明する。波形観測用ＬＳ
Ｉソケット本体２を基板表面に実装された被観測ＬＳＩ
７の上部にピン番号を合わせて載せる。そして、被観測
ＬＳＩ７に波形観測用ＬＳＩソケット本体２を装着する
ためのレバー３を被観測ＬＳＩ７の４角にセットし、レ
バー固定スプリング６の収縮力により被観測ＬＳＩ７を
固定する。
ＳＩソケットの動作について説明する。波形観測用ＬＳ
Ｉソケット本体２を基板表面に実装された被観測ＬＳＩ
７の上部にピン番号を合わせて載せる。そして、被観測
ＬＳＩ７に波形観測用ＬＳＩソケット本体２を装着する
ためのレバー３を被観測ＬＳＩ７の４角にセットし、レ
バー固定スプリング６の収縮力により被観測ＬＳＩ７を
固定する。
【００１４】このとき、ピン固定スプリング４の伸張力
により被観測ＬＳＩ７の接続ピン８と波形観測用ＬＳＩ
ソケット本体２の接着ピン５とが圧着され、また、ピン
固定スプリング４と波形観測用ＬＳＩソケット本体２の
信号観測用ピン１とが電気的に導通しているため、被観
測ＬＳＩ７の接続ピン８と波形観測用ＬＳＩソケット本
体２の信号観測用ピン１とが電気的に導通するようにな
る。
により被観測ＬＳＩ７の接続ピン８と波形観測用ＬＳＩ
ソケット本体２の接着ピン５とが圧着され、また、ピン
固定スプリング４と波形観測用ＬＳＩソケット本体２の
信号観測用ピン１とが電気的に導通しているため、被観
測ＬＳＩ７の接続ピン８と波形観測用ＬＳＩソケット本
体２の信号観測用ピン１とが電気的に導通するようにな
る。
【００１５】したがって、オシロスコープなどのプロー
ブをこの信号観測用ピン１に取り付けることにより、信
号の波形観測を容易に行うことができる。
ブをこの信号観測用ピン１に取り付けることにより、信
号の波形観測を容易に行うことができる。
【００１６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、市場に出荷された又は出荷予定にあるプリン
ト基板等に直接表面実装された被観測ＬＳＩの評価や不
良解析等を行うとき、被観測ＬＳＩのピンにプローブを
直接取り付ける必要がなく、プリント基板等に直接表面
実装された被観測ＬＳＩの上部に波形観測用ＬＳＩソケ
ットを装着するだけで、簡便に評価や不良解析等を行う
ことができる。
によれば、市場に出荷された又は出荷予定にあるプリン
ト基板等に直接表面実装された被観測ＬＳＩの評価や不
良解析等を行うとき、被観測ＬＳＩのピンにプローブを
直接取り付ける必要がなく、プリント基板等に直接表面
実装された被観測ＬＳＩの上部に波形観測用ＬＳＩソケ
ットを装着するだけで、簡便に評価や不良解析等を行う
ことができる。
【図１】本発明の一実施形態の波形観測用ＬＳＩソケッ
トの上面図である。
トの上面図である。
【図２】本発明の一実施形態の波形観測用ＬＳＩソケッ
トの側面図である。
トの側面図である。
【図３】図１におけるＡ−Ａ′線による断面図である。
【図４】図１におけるＢ−Ｂ′線による断面図である。
【図５】本発明の一実施形態の波形観測用ＬＳＩソケッ
トを被観測ＬＳＩに装着したときの上面図である。
トを被観測ＬＳＩに装着したときの上面図である。
【図６】本発明の一実施形態の波形観測用ＬＳＩソケッ
トを被観測ＬＳＩに装着したときの側面図である。
トを被観測ＬＳＩに装着したときの側面図である。
【図７】図５におけるＣ−Ｃ′線による断面図である。
【図８】図５におけるＤ−Ｄ′線による断面図である。
１ 信号観測用ピン ２ 波形観測用ＬＳＩソケット本体 ３ レバー ４ ピン固定スプリング ５ 接着ピン ６ レバー固定スプリング ７ 被観測ＬＳＩ ８ 接続ピン
Claims (4)
- 【請求項１】 波形観測用ＬＳＩソケット本体の周縁部
に回転可能なレバーを設け、前記本体の一表面に被観測
ＬＳＩを前記レバーにより抱持可能とし、前記本体の逆
側の他表面に信号観測用ピンを設けることを特徴とする
波形観測用ＬＳＩソケット。 - 【請求項２】 前記本体に、接着ピンと、この接着ピン
を被観測ＬＳＩの接続ピンに接着させ、かつ、前記信号
観測用ピンと電気的に導通するスプリングとを設けるこ
とを特徴とする請求項１記載の波形観測用ＬＳＩソケッ
ト。 - 【請求項３】 前記レバーをＬ字型に形成し、スプリン
グにより付勢することを特徴とする請求項１記載の波形
観測用ＬＳＩソケット。 - 【請求項４】 前記レバーを前記本体の４角に設けるこ
とを特徴とする請求項１記載の波形観測用ＬＳＩソケッ
ト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7232243A JPH0980115A (ja) | 1995-09-11 | 1995-09-11 | 波形観測用ｌｓｉソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7232243A JPH0980115A (ja) | 1995-09-11 | 1995-09-11 | 波形観測用ｌｓｉソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0980115A true JPH0980115A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=16936223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7232243A Withdrawn JPH0980115A (ja) | 1995-09-11 | 1995-09-11 | 波形観測用ｌｓｉソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0980115A (ja) |
-
1995
- 1995-09-11 JP JP7232243A patent/JPH0980115A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021203 |