JPH10125636A5 - - Google Patents
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- JPH10125636A5 JPH10125636A5 JP1996274353A JP27435396A JPH10125636A5 JP H10125636 A5 JPH10125636 A5 JP H10125636A5 JP 1996274353 A JP1996274353 A JP 1996274353A JP 27435396 A JP27435396 A JP 27435396A JP H10125636 A5 JPH10125636 A5 JP H10125636A5
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【0031】
前記したところから、本発明に依る研磨方法及び研磨制御装置では、先ず、方法の発明に於いて、
(1)
被研磨材料(例えばシリコン半導体基板21上の絶縁膜22B:図1参照)に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料(例えば図2に於ける平坦表面の研磨を参照)を研磨して研磨速度を測定し且つその測定値Vを研磨制御装置に入力する工程と、表面に凸部(例えば凸部24A・・・・24E:図1参照)をもった被研磨材料(例えば図2に於ける1枚目のウェハを参照)に第一の研磨を施して研磨ヘッド(例えば研磨ヘッド7:図6参照)の振動強度の時間微分値が零になった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分(例えば広い面積の凸部24A及び24Bで挟まれた狭い凹部である谷部25A:図1参照)の残り段差(例えば残り段差DR2:図1参照)を測定し且つその測定値DR2を前記研磨制御装置に入力する工程と、前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値DR2とから第二の研磨(例えば図2の追加研磨を参照)を施す為の追加研磨時間T=DR2/Vを算出する工程と、表面に凸部をもった実用被研磨材料(例えば二枚目以降の各ウエハ:図2参照)について研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になるまで第一の研磨を施すと共に引き続いてT=DR2/Vで定められる追加研磨時間分の第二の研磨を施す工程が含まれてなることを特徴とするか、又は、
(2)
前記(1)に於いて、第一の研磨が完了した後に広い面積の凸部に挟まれた狭い凹部の深さを測定して残り段差の測定値を得ることを特徴とするか、又は、
(3)
前記(1)或いは(2)に於いて、被研磨材料の研磨を行う前に研磨布のドレッシングを行う工程が含まれてなることを特徴とするか、又は、
(4)
前記(1)乃至(3)の何れか1に於いて、予め定めた数の実用被研磨材料の研磨を行なう前に定期的に実用被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨し研磨速度を測定して研磨速度測定値Vを更新する工程が含まれてなることを特徴とするか、又は、
(5)
前記(1)乃至(4)の何れか1に於いて、硬い研磨布で第一の研磨を行なってから柔らかい研磨布で第二の研磨を行なう工程が含まれてなることを特徴とする。次に、物の発明に於いて、
(6)
被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨して得られる研磨速度の測定値Vを取り込む機能と、表面に凸部をもった被研磨材料に第一の研磨を施して研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分の残り段差を測定して得られる測定値D R2 を取り込む機能と、前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値D R2 とから第二の研磨を施す為の追加研磨時間T=D R2 /Vを算出する機能と、表面に凸部をもった実用被研磨材料について研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になるまで第一の研磨を施す制御を行なうと共に引き続いてT=D R2 /Vで表される追加研磨時間分の第二の研磨を施す制御を行なう機能とを備えてなることを特徴とするか、又は、
(7)
被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨して得られる研磨速度の測定値Vを取り込む機能と、表面に凸部をもった被研磨材料に第一の研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が、被研磨材料に於ける被研磨面と同一材料の平坦表面をもつ試用被研磨材料に研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値と等しくなった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分の残り段差の測定値D R2 を取り込む機能と、前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値 D R2 とから第二の研磨を施す為の追加研磨時間T=D R2 /Vを算出する機能と、表面に凸部をもった被研磨材料に研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が、被研磨材料に於ける被研磨面と同一材料の平坦表面をもつ試用被研磨材料に研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値と等しくなるまで第一の研磨を施す制御を行なうと共に引き続いてT=D R2 /Vで表される追加研磨時間分の第二の研磨を施す制御を行なう機能とを備えてなることを特徴とする。
前記したところから、本発明に依る研磨方法及び研磨制御装置では、先ず、方法の発明に於いて、
(1)
被研磨材料(例えばシリコン半導体基板21上の絶縁膜22B:図1参照)に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料(例えば図2に於ける平坦表面の研磨を参照)を研磨して研磨速度を測定し且つその測定値Vを研磨制御装置に入力する工程と、表面に凸部(例えば凸部24A・・・・24E:図1参照)をもった被研磨材料(例えば図2に於ける1枚目のウェハを参照)に第一の研磨を施して研磨ヘッド(例えば研磨ヘッド7:図6参照)の振動強度の時間微分値が零になった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分(例えば広い面積の凸部24A及び24Bで挟まれた狭い凹部である谷部25A:図1参照)の残り段差(例えば残り段差DR2:図1参照)を測定し且つその測定値DR2を前記研磨制御装置に入力する工程と、前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値DR2とから第二の研磨(例えば図2の追加研磨を参照)を施す為の追加研磨時間T=DR2/Vを算出する工程と、表面に凸部をもった実用被研磨材料(例えば二枚目以降の各ウエハ:図2参照)について研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になるまで第一の研磨を施すと共に引き続いてT=DR2/Vで定められる追加研磨時間分の第二の研磨を施す工程が含まれてなることを特徴とするか、又は、
(2)
前記(1)に於いて、第一の研磨が完了した後に広い面積の凸部に挟まれた狭い凹部の深さを測定して残り段差の測定値を得ることを特徴とするか、又は、
(3)
前記(1)或いは(2)に於いて、被研磨材料の研磨を行う前に研磨布のドレッシングを行う工程が含まれてなることを特徴とするか、又は、
(4)
前記(1)乃至(3)の何れか1に於いて、予め定めた数の実用被研磨材料の研磨を行なう前に定期的に実用被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨し研磨速度を測定して研磨速度測定値Vを更新する工程が含まれてなることを特徴とするか、又は、
(5)
前記(1)乃至(4)の何れか1に於いて、硬い研磨布で第一の研磨を行なってから柔らかい研磨布で第二の研磨を行なう工程が含まれてなることを特徴とする。次に、物の発明に於いて、
(6)
被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨して得られる研磨速度の測定値Vを取り込む機能と、表面に凸部をもった被研磨材料に第一の研磨を施して研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分の残り段差を測定して得られる測定値D R2 を取り込む機能と、前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値D R2 とから第二の研磨を施す為の追加研磨時間T=D R2 /Vを算出する機能と、表面に凸部をもった実用被研磨材料について研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になるまで第一の研磨を施す制御を行なうと共に引き続いてT=D R2 /Vで表される追加研磨時間分の第二の研磨を施す制御を行なう機能とを備えてなることを特徴とするか、又は、
(7)
被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨して得られる研磨速度の測定値Vを取り込む機能と、表面に凸部をもった被研磨材料に第一の研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が、被研磨材料に於ける被研磨面と同一材料の平坦表面をもつ試用被研磨材料に研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値と等しくなった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分の残り段差の測定値D R2 を取り込む機能と、前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値 D R2 とから第二の研磨を施す為の追加研磨時間T=D R2 /Vを算出する機能と、表面に凸部をもった被研磨材料に研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が、被研磨材料に於ける被研磨面と同一材料の平坦表面をもつ試用被研磨材料に研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値と等しくなるまで第一の研磨を施す制御を行なうと共に引き続いてT=D R2 /Vで表される追加研磨時間分の第二の研磨を施す制御を行なう機能とを備えてなることを特徴とする。
Claims (7)
- 被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨して研磨速度を測定し且つその測定値Vを研磨制御装置に入力する工程と、
表面に凸部をもった被研磨材料に第一の研磨を施して研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分の残り段差を測定し且つその測定値DR2を前記研磨制御装置に入力する工程と、
前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値DR2とから第二の研磨を施す為の追加研磨時間T=DR2/Vを算出する工程と、
表面に凸部をもった実用被研磨材料について研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になるまで第一の研磨を施すと共に引き続いてT=DR2/Vで定められる追加研磨時間分の第二の研磨を施す工程
が含まれてなることを特徴とする研磨方法。 - 第一の研磨が完了した後に広い面積の凸部に挟まれた狭い凹部の深さを測定して残り段差の測定値を得ること
を特徴とする請求項1記載の研磨方法。 - 被研磨材料の研磨を行う前に研磨布のドレッシングを行う工程
が含まれてなることを特徴とする請求項1或いは2記載の研磨方法。 - 予め定めた数の実用被研磨材料の研磨を行なう前に定期的に実用被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨し研磨速度を測定して研磨速度測定値Vを更新する工程
が含まれてなることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1記載の研磨方法。 - 硬い研磨布で第一の研磨を行なってから柔らかい研磨布で第二の研磨を行なう工程
が含まれてなることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1記載の研磨方法。 - 被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨して得られる研磨速度の測定値Vを取り込む機能と、
表面に凸部をもった被研磨材料に第一の研磨を施して研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分の残り段差を測定して得られる測定値DR2を取り込む機能と、
前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値DR2とから第二の研磨を施す為の追加研磨時間T=DR2/Vを算出する機能と、
表面に凸部をもった実用被研磨材料について研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が零になるまで第一の研磨を施す制御を行なうと共に引き続いてT=DR2/Vで表される追加研磨時間分の第二の研磨を施す制御を行なう機能と
を備えてなることを特徴とする研磨制御装置。 - 被研磨材料に於ける被研磨面と同一材質の平坦表面をもつ試用被研磨材料を研磨して得られる研磨速度の測定値Vを取り込む機能と、
表面に凸部をもった被研磨材料に第一の研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が、被研磨材料に於ける被研磨面と同一材料の平坦表面をもつ試用被研磨材料に研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値と等しくなった時点で第一の研磨を停止し残り段差が最も大きい部分の残り段差の測定値D R2 を取り込む機能と、
前記研磨速度の測定値Vと前記残り段差の測定値D R2 とから第二の研磨を施す為の追加研磨時間T=D R2 /Vを算出する機能と、
表面に凸部をもった被研磨材料に研磨ヘッドの振動強度の時間微分値が、被研磨材料に 於ける被研磨面と同一材料の平坦表面をもつ試用被研磨材料に研磨を施して得られる研磨ヘッドの振動強度の時間微分値と等しくなるまで第一の研磨を施す制御を行なうと共に引き続いてT=D R2 /Vで表される追加研磨時間分の第二の研磨を施す制御を行なう機能とを備えてなることを特徴とする研磨制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27435396A JP3747389B2 (ja) | 1996-10-17 | 1996-10-17 | 研磨方法及び研磨制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27435396A JP3747389B2 (ja) | 1996-10-17 | 1996-10-17 | 研磨方法及び研磨制御装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10125636A JPH10125636A (ja) | 1998-05-15 |
| JPH10125636A5 true JPH10125636A5 (ja) | 2004-09-16 |
| JP3747389B2 JP3747389B2 (ja) | 2006-02-22 |
Family
ID=17540482
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27435396A Expired - Fee Related JP3747389B2 (ja) | 1996-10-17 | 1996-10-17 | 研磨方法及び研磨制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3747389B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4924593B2 (ja) * | 2008-12-01 | 2012-04-25 | セイコーエプソン株式会社 | Cmp研磨方法、cmp装置、半導体装置及びその製造方法 |
-
1996
- 1996-10-17 JP JP27435396A patent/JP3747389B2/ja not_active Expired - Fee Related
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