JPH10162909A - 高密度コネクタおよび製造方法 - Google Patents
高密度コネクタおよび製造方法Info
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- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
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- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】ボールグリッドアレイ技術により回路基板に装
着可能な電気コネクタ 【解決手段】コネクタ部材のハウジングの外側に形成さ
れた少なくとも1の凹部20,22,24,26,28
内に、このハウジングの内側からコンタクトを延設し、
この凹部内に所定量のはんだペーストを導入しかつはん
だボール82,100を配置する。これらの凹部ははん
だボールよりも横方向寸法が小さく、したがって、はん
だボールはコンタクトに近接する位置で、これらの凹部
の縁部で支えられる。リフロー工程により、はんだボー
ルを凹部内に延びるコンタクトの一部に融合する。これ
により、コネクタの装着用インターフェイスに沿うボー
ルグリッドアレイがほぼ共通平面内に配置される。
着可能な電気コネクタ 【解決手段】コネクタ部材のハウジングの外側に形成さ
れた少なくとも1の凹部20,22,24,26,28
内に、このハウジングの内側からコンタクトを延設し、
この凹部内に所定量のはんだペーストを導入しかつはん
だボール82,100を配置する。これらの凹部ははん
だボールよりも横方向寸法が小さく、したがって、はん
だボールはコンタクトに近接する位置で、これらの凹部
の縁部で支えられる。リフロー工程により、はんだボー
ルを凹部内に延びるコンタクトの一部に融合する。これ
により、コネクタの装着用インターフェイスに沿うボー
ルグリッドアレイがほぼ共通平面内に配置される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気コネクタに関
し、より詳細には、例えばアレイコネクタ等の高密度I
/Oコネクタに関する。
し、より詳細には、例えばアレイコネクタ等の高密度I
/Oコネクタに関する。
【0002】
【従来の技術およびその課題】特に個人用の携帯装置で
ある電子装置のサイズを減少し、更に、このような装置
の機能を追加するための技術開発が行われており、これ
により、全ての部材、特に電気コネクタの小型化が要求
されている。コネクタを小型化する開発動向には、シン
グルあるいはダブルの列のリニアコネクタにおける端子
間のピッチを減少することが含まれ、これにより、コネ
クタを受入れるために割当てられた回路基板の周部の狭
い領域に嵌合するコネクタにより、比較的多数のI/O
あるいは他のラインを接続することができる。小型化の
動向は、更に回路基板上に部材を装着するための表面実
装技術(SMT)を優先することに移行している。表面
実装技術の使用の増大とリニアコネクタの必要とされる
細かなピッチとの融合により、高容量かつ低コスト作動
のための表面実装技術の限界に近付いている。端子のピ
ッチを減少することは、はんだペーストのリフロー処理
中における隣接するはんだパッドあるいは端子間のブリ
ッジ形成の可能性が増大する。I/O密度の増大に対す
る必要性を満たすために、アレイコネクタが提案されて
いる。このようなコネクタは、絶縁基板上に装着された
端子の2次元配列を有し、密度を改善することができ
る。しかし、これらのコネクタは、端子の全てではない
としても、そのほとんどの表面実装用テイルがコネクタ
ボディの下側に配置されるため、表面実装技術により回
路基板に取付けることは、ある程度の困難を伴う。この
結果、実装技術は高い信頼性を有することが必要であ
り、これは、はんだ結合部あるいは欠陥があった場合の
補修部を視覚的に検査することが困難なためである。集
積回路(IC)をプラスチックあるいはセラミック基板
上に実装する際に、ボールグリッドアレイ(BGA)お
よび他の同様なパッケージを使用することが一般的にな
っている。ボールグリッドアレイパッケージでは、IC
パッケージに取付けられた球状のはんだボールが、典型
的にはスクリーンあるいはマスクを用いることによりは
んだペースト層が塗布された回路基板の電気コンタクト
パッド上に配置される。この後、はんだペーストおよび
はんだボールの少なくとも一部あるいは全てが溶融しか
つ回路基板上に形成された下側の導電パッドに融合する
温度に加熱される。これにより、集積回路は回路基板に
結合され、集積回路に外部リードを設けることを必要と
しない。
ある電子装置のサイズを減少し、更に、このような装置
の機能を追加するための技術開発が行われており、これ
により、全ての部材、特に電気コネクタの小型化が要求
されている。コネクタを小型化する開発動向には、シン
グルあるいはダブルの列のリニアコネクタにおける端子
間のピッチを減少することが含まれ、これにより、コネ
クタを受入れるために割当てられた回路基板の周部の狭
い領域に嵌合するコネクタにより、比較的多数のI/O
あるいは他のラインを接続することができる。小型化の
動向は、更に回路基板上に部材を装着するための表面実
装技術(SMT)を優先することに移行している。表面
実装技術の使用の増大とリニアコネクタの必要とされる
細かなピッチとの融合により、高容量かつ低コスト作動
のための表面実装技術の限界に近付いている。端子のピ
ッチを減少することは、はんだペーストのリフロー処理
中における隣接するはんだパッドあるいは端子間のブリ
ッジ形成の可能性が増大する。I/O密度の増大に対す
る必要性を満たすために、アレイコネクタが提案されて
いる。このようなコネクタは、絶縁基板上に装着された
端子の2次元配列を有し、密度を改善することができ
る。しかし、これらのコネクタは、端子の全てではない
としても、そのほとんどの表面実装用テイルがコネクタ
ボディの下側に配置されるため、表面実装技術により回
路基板に取付けることは、ある程度の困難を伴う。この
結果、実装技術は高い信頼性を有することが必要であ
り、これは、はんだ結合部あるいは欠陥があった場合の
補修部を視覚的に検査することが困難なためである。集
積回路(IC)をプラスチックあるいはセラミック基板
上に実装する際に、ボールグリッドアレイ(BGA)お
よび他の同様なパッケージを使用することが一般的にな
っている。ボールグリッドアレイパッケージでは、IC
パッケージに取付けられた球状のはんだボールが、典型
的にはスクリーンあるいはマスクを用いることによりは
んだペースト層が塗布された回路基板の電気コンタクト
パッド上に配置される。この後、はんだペーストおよび
はんだボールの少なくとも一部あるいは全てが溶融しか
つ回路基板上に形成された下側の導電パッドに融合する
温度に加熱される。これにより、集積回路は回路基板に
結合され、集積回路に外部リードを設けることを必要と
しない。
【0003】ボールグリッドアレイおよび同様なシステ
ムを用いて集積回路を基板に結合することは多くの利点
を有するものであるが、電気コネクタあるいは同様な部
材をプリント配線したプリント基板(PWB)あるいは
他の基板上に装着するための対応する手段は、まだ開発
の余地がある。多くの場合、はんだボールの基板係合面
は共通平面内に配置され(coplanar)、ほぼ平坦な装着
用インターフェースを形成することが重要であり、した
がって最終用途では、ボールはリフロー処理し、プリン
ト配線された基板に均一にはんだ付けする。所定の基板
上におけるはんだの共通平面性に大きな差があると、コ
ネクタがプリント基板上にリフローはんだ付けされたと
きに、はんだ付け機能が不良となる可能性がある。はん
だ付けの信頼性を高めるために、ユーザは極めて狭い範
囲の共通平面性を指定し、通常は0.004インチ(約
0.102mm)のオーダーである。はんだボールの共通
平面性ははんだボールのサイズおよびそのコネクタ上の
位置で影響される。ボールの最終的なサイズは、はんだ
ペーストおよびはんだボールの双方で当初に利用可能な
はんだの全体量にしたがう。はんだボールをコネクタの
コンタクトに設ける際、この考察は問題を提起し、これ
は、はんだ素材(solder mass )内に収容されたコネク
タコンタクトの量の変化が、はんだのサイズの潜在的な
変化、したがって装着用インターフェースに沿うコネク
タ上のはんだボールの共通平面性に影響を与えるためで
ある。
ムを用いて集積回路を基板に結合することは多くの利点
を有するものであるが、電気コネクタあるいは同様な部
材をプリント配線したプリント基板(PWB)あるいは
他の基板上に装着するための対応する手段は、まだ開発
の余地がある。多くの場合、はんだボールの基板係合面
は共通平面内に配置され(coplanar)、ほぼ平坦な装着
用インターフェースを形成することが重要であり、した
がって最終用途では、ボールはリフロー処理し、プリン
ト配線された基板に均一にはんだ付けする。所定の基板
上におけるはんだの共通平面性に大きな差があると、コ
ネクタがプリント基板上にリフローはんだ付けされたと
きに、はんだ付け機能が不良となる可能性がある。はん
だ付けの信頼性を高めるために、ユーザは極めて狭い範
囲の共通平面性を指定し、通常は0.004インチ(約
0.102mm)のオーダーである。はんだボールの共通
平面性ははんだボールのサイズおよびそのコネクタ上の
位置で影響される。ボールの最終的なサイズは、はんだ
ペーストおよびはんだボールの双方で当初に利用可能な
はんだの全体量にしたがう。はんだボールをコネクタの
コンタクトに設ける際、この考察は問題を提起し、これ
は、はんだ素材(solder mass )内に収容されたコネク
タコンタクトの量の変化が、はんだのサイズの潜在的な
変化、したがって装着用インターフェースに沿うコネク
タ上のはんだボールの共通平面性に影響を与えるためで
ある。
【0004】コネクタを基板にはんだ付けする際の他の
問題は、コネクタが、例えば多数の凹部を有する等の比
較的複雑な形状の絶縁ハウジングを有する場合があるこ
とである。このような熱可塑性ハウジングにおける残留
応力は、モールド成形工程、コンタクトの挿入あるいは
これらの双方の組合わせにより形成される。これらのハ
ウジングは、当初から、あるいは、はんだボールをリフ
ロー処理するために必要な熱等の表面実装工程に必要な
温度まで加熱したときに、歪みあるいはねじれを生じ
る。このようなハウジングの歪みあるいはねじれは、コ
ネクタ組立体とプリント基板との間で寸法上の不整合を
生じさせる可能性があり、これにより、はんだボール等
の表面実装部材がはんだペーストと十分に接触せずある
いははんだ付け前にプリント基板に近接するため、はん
だ付けの信頼性が損なわれる。
問題は、コネクタが、例えば多数の凹部を有する等の比
較的複雑な形状の絶縁ハウジングを有する場合があるこ
とである。このような熱可塑性ハウジングにおける残留
応力は、モールド成形工程、コンタクトの挿入あるいは
これらの双方の組合わせにより形成される。これらのハ
ウジングは、当初から、あるいは、はんだボールをリフ
ロー処理するために必要な熱等の表面実装工程に必要な
温度まで加熱したときに、歪みあるいはねじれを生じ
る。このようなハウジングの歪みあるいはねじれは、コ
ネクタ組立体とプリント基板との間で寸法上の不整合を
生じさせる可能性があり、これにより、はんだボール等
の表面実装部材がはんだペーストと十分に接触せずある
いははんだ付け前にプリント基板に近接するため、はん
だ付けの信頼性が損なわれる。
【0005】したがって、表面実装技術により、高密度
電気コネクタの基板上に信頼できかつ効果的に装着する
ことが望まれている。
電気コネクタの基板上に信頼できかつ効果的に装着する
ことが望まれている。
【0006】
【課題を解決するための手段および効果】本発明による
電気コネクタは、表面実装技術により、回路基板に高I
/O密度の信頼できる取付けを提供する。これらのコネ
クタは、装着用インターフェースに沿う高度の共通平面
性を示す。
電気コネクタは、表面実装技術により、回路基板に高I
/O密度の信頼できる取付けを提供する。これらのコネ
クタは、装着用インターフェースに沿う高度の共通平面
性を示す。
【0007】本発明の電気コネクタは、1または複数の
端子が可融導電材料により基板に接続可能である。この
可融導電材料は、リフロー処理して端子と回路基板との
間に主電流路を形成可能なはんだボールを含むのが好ま
しいはんだ素材である。
端子が可融導電材料により基板に接続可能である。この
可融導電材料は、リフロー処理して端子と回路基板との
間に主電流路を形成可能なはんだボールを含むのが好ま
しいはんだ素材である。
【0008】本発明の1の側面では、電気コネクタの部
材上に外側を溶融可能の導電性コンタクトを形成するた
めの方法が含まれる。1の方法によると、コネクタ部材
あるいはコンタクトの外側に凹部が形成される。導電コ
ンタクトの部分は導電性部材の内側の近部からハウジン
グの外側の凹部内に延びる。この凹部は制御された量の
はんだペーストを充填される。例えばはんだボールであ
る可融導電性部材は、ハウジングの外側の凹部内に配置
される。この凹部内に配置された導電性部材は、はんだ
ペーストを溶融し、この凹部内に延びるコンタクトの部
分に可融導電性部材を溶融するために十分な温度に加熱
される。
材上に外側を溶融可能の導電性コンタクトを形成するた
めの方法が含まれる。1の方法によると、コネクタ部材
あるいはコンタクトの外側に凹部が形成される。導電コ
ンタクトの部分は導電性部材の内側の近部からハウジン
グの外側の凹部内に延びる。この凹部は制御された量の
はんだペーストを充填される。例えばはんだボールであ
る可融導電性部材は、ハウジングの外側の凹部内に配置
される。この凹部内に配置された導電性部材は、はんだ
ペーストを溶融し、この凹部内に延びるコンタクトの部
分に可融導電性部材を溶融するために十分な温度に加熱
される。
【0009】本発明には、はんだボール等の可融導電性
部材に前記コンタクトが結合可能である端子タブ領域を
備える電気コネクタに使用するためのコンタクトが含ま
れる。コンタクトの中間領域は、端子タブとコンタクト
領域との間に配置される。中間領域は、例えばはんだぬ
れ性を有しない材料(non-solder wettable material)
のコーティングあるいはメッキを施すことにより、溶融
はんだ流に対して抵抗することができる。この配置によ
り、コンタクトに対する取付け領域からはんだボールを
吸上げるはんだウィッキングが防止される。
部材に前記コンタクトが結合可能である端子タブ領域を
備える電気コネクタに使用するためのコンタクトが含ま
れる。コンタクトの中間領域は、端子タブとコンタクト
領域との間に配置される。中間領域は、例えばはんだぬ
れ性を有しない材料(non-solder wettable material)
のコーティングあるいはメッキを施すことにより、溶融
はんだ流に対して抵抗することができる。この配置によ
り、コンタクトに対する取付け領域からはんだボールを
吸上げるはんだウィッキングが防止される。
【0010】コネクタの表面実装用インターフェースの
共通平面性(coplanarity )は、応力の形成を防止した
絶縁コネクタハウジングを設けることにより、維持され
る。本発明のこの観点によると、コンタクト端子がハウ
ジングの開口内に挿入される。開口の断面部は、端子が
開口内に挿入されるときに、端子により変形可能に形成
される成形突起を少なくとも一側に有するように形成さ
れる。この配置により、多数のコンタクトを挿入するこ
とで形成される応力が防止され、ハウジングの歪みおよ
びねじれが最小となる。
共通平面性(coplanarity )は、応力の形成を防止した
絶縁コネクタハウジングを設けることにより、維持され
る。本発明のこの観点によると、コンタクト端子がハウ
ジングの開口内に挿入される。開口の断面部は、端子が
開口内に挿入されるときに、端子により変形可能に形成
される成形突起を少なくとも一側に有するように形成さ
れる。この配置により、多数のコンタクトを挿入するこ
とで形成される応力が防止され、ハウジングの歪みおよ
びねじれが最小となる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1,図2,図12,図13を参
照すると、本発明の高密度コネクタの第1の実施の形態
による互いに噛合うコネクタのセットは、全体を符号1
0で示すレセプタクルを含む。レセプタクルの基部は全
体を符号12で示してある。この基部は、例えば液晶ポ
リマー(LCP)である表面実装リフロー温度に耐える
ことのできる好適な絶縁ポリマー材料をモールド成形す
ることにより形成するのが好ましい。最初に基部を参照
すると、この部材は、外側部16と内側部18とを有す
る基部壁14を備える。この外側部には、例えば凹部2
0,22,24,26,28(図12)等の外側凹部が
設けられている。内側部には、例えば凹部30,32,
34,36,38等の内側コンタクト収容凹部が設けら
れる。これらの内側および外側凹部は、例えばスロット
40,42,44,46,48等の中間スロットで接続
されている。外側凹部のそれぞれは、例えば基部壁50
および側壁52(図12)である基部壁および側壁を有
する。内側信号コンタクト収容凹部のそれぞれは、例え
ば基部壁54および側壁56,58で等の基部壁と互い
に交差する側壁とを有する。内側溝あるいはパワーコン
タクト収容凹部のそれぞれも、例えば基部壁60および
側壁62,64である基部壁および対角状の側壁を有す
る。これらの内側および外側凹部、および、接続用中間
スロットは、グランド/パワーコンタクトあるいは信号
コンタクトを受入れる。
照すると、本発明の高密度コネクタの第1の実施の形態
による互いに噛合うコネクタのセットは、全体を符号1
0で示すレセプタクルを含む。レセプタクルの基部は全
体を符号12で示してある。この基部は、例えば液晶ポ
リマー(LCP)である表面実装リフロー温度に耐える
ことのできる好適な絶縁ポリマー材料をモールド成形す
ることにより形成するのが好ましい。最初に基部を参照
すると、この部材は、外側部16と内側部18とを有す
る基部壁14を備える。この外側部には、例えば凹部2
0,22,24,26,28(図12)等の外側凹部が
設けられている。内側部には、例えば凹部30,32,
34,36,38等の内側コンタクト収容凹部が設けら
れる。これらの内側および外側凹部は、例えばスロット
40,42,44,46,48等の中間スロットで接続
されている。外側凹部のそれぞれは、例えば基部壁50
および側壁52(図12)である基部壁および側壁を有
する。内側信号コンタクト収容凹部のそれぞれは、例え
ば基部壁54および側壁56,58で等の基部壁と互い
に交差する側壁とを有する。内側溝あるいはパワーコン
タクト収容凹部のそれぞれも、例えば基部壁60および
側壁62,64である基部壁および対角状の側壁を有す
る。これらの内側および外側凹部、および、接続用中間
スロットは、グランド/パワーコンタクトあるいは信号
コンタクトを受入れる。
【0012】グランドあるいはパワーコンタクトは、全
体を符号66で示し、2つのコンタクトフォーク状部6
8,70から形成される上部を有するのが好ましい。こ
れらのフォーク状部のそれぞれは収束部72と、接点7
4と、外方拡散あるいは導入部76とを有する。グラン
ドあるいはパワーコンタクトも、レセプタクルの下側壁
を通る中間部78と、外側凹部内に延びる下側部80と
を含む。はんだボール82は、後述するように下側部8
0上に融合(fuse)される。
体を符号66で示し、2つのコンタクトフォーク状部6
8,70から形成される上部を有するのが好ましい。こ
れらのフォーク状部のそれぞれは収束部72と、接点7
4と、外方拡散あるいは導入部76とを有する。グラン
ドあるいはパワーコンタクトも、レセプタクルの下側壁
を通る中間部78と、外側凹部内に延びる下側部80と
を含む。はんだボール82は、後述するように下側部8
0上に融合(fuse)される。
【0013】信号コンタクト(図12および図13)の
それぞれは、全体を符号84で示す上側部を含み、この
上側部は、コンタクト突起86と導入湾曲部88と補強
リブ90とを有するのが好ましい。信号コンタクトも、
中間部92を含み、この中間部はレセプタクルの下側壁
を通る。信号コンタクトのそれぞれは、例えば図12お
よび図13に示す凹部22等の外側凹部内に延びる下側
部98(図13)を含み、はんだボール100は後述す
るように下側部98に融合される。
それぞれは、全体を符号84で示す上側部を含み、この
上側部は、コンタクト突起86と導入湾曲部88と補強
リブ90とを有するのが好ましい。信号コンタクトも、
中間部92を含み、この中間部はレセプタクルの下側壁
を通る。信号コンタクトのそれぞれは、例えば図12お
よび図13に示す凹部22等の外側凹部内に延びる下側
部98(図13)を含み、はんだボール100は後述す
るように下側部98に融合される。
【0014】特に図1および図2を参照すると、レセプ
タクルの基部は、例えば全体を符号102で示すラッチ
構造を備える。このラッチ構造は、垂直溝106の上に
重なり、外方突起108を有する上方タブ104を含
む。レセプタクルの基部も、他の同様なラッチ構造11
0,112,114を有する。レセプタクルは、更に、
全体を符号116で示す上側部を含み、この上側部は基
部の上に重ねられる。この上側部は、頂壁118と周側
壁120とを有する。この上側部は、例えば全体を符号
122で示すラッチ構造により、基部に固定される。こ
れらのラッチ構造のそれぞれは側壁凹部124とU字状
ラッチ126とを有し、このU字状ラッチは頂壁から下
方に延び、側壁凹部から離隔している。タブ104は、
U字状ラッチ126と側壁凹部124との間に嵌合し、
基部のラッチ構造102上の外方突起108に、U字状
ラッチを係合させることができる。上側部は、他の同様
なラッチ構造128,130,132を含み、これらの
ラッチ構造はそれぞれ基部のラッチ構造110,11
2,114と係合する。上側部116あるいは基部10
2は、装着ブラケット134,136を有してもよく、
これらの装着ブラケットはそれぞれファスナー用の孔1
38,140を有する。上側部116の頂壁118上
に、例えば孔142,144で示す信号コンタクト近接
孔が設けられる。これらの近接孔は、基部の信号コンタ
クトの列と対応した複数の列に配列される。これらの信
号コンタクト近接孔の列間には、例えばスロット14
6,148である長い接地あるいはパワーコンタクト近
接スロットが介挿される。上側部116は、レセプタク
ル10と後述する相手方プラグ150との間の係合用イ
ンターフェースを形成する。
タクルの基部は、例えば全体を符号102で示すラッチ
構造を備える。このラッチ構造は、垂直溝106の上に
重なり、外方突起108を有する上方タブ104を含
む。レセプタクルの基部も、他の同様なラッチ構造11
0,112,114を有する。レセプタクルは、更に、
全体を符号116で示す上側部を含み、この上側部は基
部の上に重ねられる。この上側部は、頂壁118と周側
壁120とを有する。この上側部は、例えば全体を符号
122で示すラッチ構造により、基部に固定される。こ
れらのラッチ構造のそれぞれは側壁凹部124とU字状
ラッチ126とを有し、このU字状ラッチは頂壁から下
方に延び、側壁凹部から離隔している。タブ104は、
U字状ラッチ126と側壁凹部124との間に嵌合し、
基部のラッチ構造102上の外方突起108に、U字状
ラッチを係合させることができる。上側部は、他の同様
なラッチ構造128,130,132を含み、これらの
ラッチ構造はそれぞれ基部のラッチ構造110,11
2,114と係合する。上側部116あるいは基部10
2は、装着ブラケット134,136を有してもよく、
これらの装着ブラケットはそれぞれファスナー用の孔1
38,140を有する。上側部116の頂壁118上
に、例えば孔142,144で示す信号コンタクト近接
孔が設けられる。これらの近接孔は、基部の信号コンタ
クトの列と対応した複数の列に配列される。これらの信
号コンタクト近接孔の列間には、例えばスロット14
6,148である長い接地あるいはパワーコンタクト近
接スロットが介挿される。上側部116は、レセプタク
ル10と後述する相手方プラグ150との間の係合用イ
ンターフェースを形成する。
【0015】図3,図4および図11を参照すると、コ
ネクタのプラグ部材の全体を符号150で示してある。
このプラグは基部壁152と周側壁154とを含む。側
壁内に対向した間隙156,158が配置され、基部壁
に対して対向した関係で開口側部160が配置されてい
る。プラグから側方に装着ブラケット162,164が
突出し、これらのブラケットはそれぞれファスナー収容
孔166,168を有し、これらのファスナー収容孔1
66,168はレセプタクルの装着ブラケットに設けら
れたファスナー収容孔138,140と整合可能であ
る。
ネクタのプラグ部材の全体を符号150で示してある。
このプラグは基部壁152と周側壁154とを含む。側
壁内に対向した間隙156,158が配置され、基部壁
に対して対向した関係で開口側部160が配置されてい
る。プラグから側方に装着ブラケット162,164が
突出し、これらのブラケットはそれぞれファスナー収容
孔166,168を有し、これらのファスナー収容孔1
66,168はレセプタクルの装着ブラケットに設けら
れたファスナー収容孔138,140と整合可能であ
る。
【0016】図11を参照すると、基部壁152の内側
には、凹部170等の内側信号コンタクト収容凹部が設
けられている。基部壁の内側にも、凹部172等の内側
パワーあるいは接地コンタクト収容凹部が設けられてい
る。基部壁の外側凹部に対向した関係で、凹部174等
の外側信号コンタクト収容凹部と、凹部176等の外側
パワーおよび接地コンタクト収容凹部とが設けられてい
る。これらの外側および内側信号コンタクト収容凹部
と、外側および内側パワーあるいは接地コンタクト収容
凹部とは、それぞれ中間スロット178,180で接続
されている。パワー/接地コンタクト収容凹部内に、中
間スロット180を介して、全体を符号182で示すパ
ワーあるいは接地コンタクトが装着されている。それぞ
れのコンタクト182は、長い内側部184と、基部壁
152に装着された長い中間部186と、凹部176内
に延びる外側部188とを有する。はんだボール190
が外側部188上に融合される。外側部188とはんだ
ボールとは一部が外側凹部176内に収容される。プラ
グも複数の信号コンタクト192を含む。これらの信号
コンタクトはそれぞれ内側部194と基部壁に装着され
た中間部196と凹部174内に延びる端子タブ198
とを有する。はんだボール200が端子端部198上に
融合される。これらの外側部とはんだボールも、符号1
70で示すような外側凹部内に部分的に収容される。
には、凹部170等の内側信号コンタクト収容凹部が設
けられている。基部壁の内側にも、凹部172等の内側
パワーあるいは接地コンタクト収容凹部が設けられてい
る。基部壁の外側凹部に対向した関係で、凹部174等
の外側信号コンタクト収容凹部と、凹部176等の外側
パワーおよび接地コンタクト収容凹部とが設けられてい
る。これらの外側および内側信号コンタクト収容凹部
と、外側および内側パワーあるいは接地コンタクト収容
凹部とは、それぞれ中間スロット178,180で接続
されている。パワー/接地コンタクト収容凹部内に、中
間スロット180を介して、全体を符号182で示すパ
ワーあるいは接地コンタクトが装着されている。それぞ
れのコンタクト182は、長い内側部184と、基部壁
152に装着された長い中間部186と、凹部176内
に延びる外側部188とを有する。はんだボール190
が外側部188上に融合される。外側部188とはんだ
ボールとは一部が外側凹部176内に収容される。プラ
グも複数の信号コンタクト192を含む。これらの信号
コンタクトはそれぞれ内側部194と基部壁に装着され
た中間部196と凹部174内に延びる端子タブ198
とを有する。はんだボール200が端子端部198上に
融合される。これらの外側部とはんだボールも、符号1
70で示すような外側凹部内に部分的に収容される。
【0017】図5から図7を参照すると、上述のプラグ
が剛性のプリント基板202等の回路基板上に装着さ
れ、レセプタクルが同様なプリント基板204に装着さ
れている。これらのプラグとレセプタクルとは、図6に
示すように基板対基板の連結部を形成する。プラグは、
符号192で示すような二次元的に配列された信号コン
タクトを有し、これらの信号コンタクト上にはんだボー
ル190が融合される。表面実装技術を用いることによ
り、はんだボールもプリント基板202に融合され、プ
ラグの全体をプリント基板に固定し、プラグおよびプリ
ント基板内の信号コンタクト間、および、接地あるいは
パワーコンタクト間の電気接触を形成する。図5には全
てのコンタクトは記載してないが、しかしこのようなコ
ンタクトの全ては、同じ方法ではんだボールおよびプリ
ント基板に接続される。同様に、はんだボール100
は、レセプタクル信号コンタクト84上に融合され、こ
れらのはんだボールはプリント基板204に融合され
る。レセプタクルの接地/パワーコンタクト66は、ス
ロット134内に装着され、はんだボール82に融合さ
れ、これらのはんだボールはプリント基板204に融合
される。
が剛性のプリント基板202等の回路基板上に装着さ
れ、レセプタクルが同様なプリント基板204に装着さ
れている。これらのプラグとレセプタクルとは、図6に
示すように基板対基板の連結部を形成する。プラグは、
符号192で示すような二次元的に配列された信号コン
タクトを有し、これらの信号コンタクト上にはんだボー
ル190が融合される。表面実装技術を用いることによ
り、はんだボールもプリント基板202に融合され、プ
ラグの全体をプリント基板に固定し、プラグおよびプリ
ント基板内の信号コンタクト間、および、接地あるいは
パワーコンタクト間の電気接触を形成する。図5には全
てのコンタクトは記載してないが、しかしこのようなコ
ンタクトの全ては、同じ方法ではんだボールおよびプリ
ント基板に接続される。同様に、はんだボール100
は、レセプタクル信号コンタクト84上に融合され、こ
れらのはんだボールはプリント基板204に融合され
る。レセプタクルの接地/パワーコンタクト66は、ス
ロット134内に装着され、はんだボール82に融合さ
れ、これらのはんだボールはプリント基板204に融合
される。
【0018】プラグは、レセプタクルと整合され、した
がってプラグの周側壁154はレセプタクルの上側部1
18の周側壁120と重なる。
がってプラグの周側壁154はレセプタクルの上側部1
18の周側壁120と重なる。
【0019】図7の(A)から(C)を参照すると、プ
ラグとレセプタクルとの係合状態を詳細に示してある。
図7の(A)は、初期整合の後、プラグ内の接地/パワ
ーコンタクトが最初に、レセプタクル内の接地/パワー
コンタクト収容スロット内に入り、レセプタクル内の対
応するパワー/接地コンタクトに係合することを示す。
信号コンタクトはレセプタクルの信号コンタクトスロッ
トに入る。図7の(B)は、プラグ内の信号コンタクト
がレセプタクル内の対応する信号コンタクトに初期係合
し、プラグ内のパワー/接地コンタクトがレセプタクル
内のパワー/接地コンタクトの対向する板部間に係合す
る。図7の(C)は、プラグの信号コンタクトが、レセ
プタクル内の信号コンタクトと完全に係合した状態を示
す。プラグ内のパワー/接地コンタクトは、レセプタク
ルのパワー/接地コンタクトのフォーク状部の基部に配
置されるようになる。
ラグとレセプタクルとの係合状態を詳細に示してある。
図7の(A)は、初期整合の後、プラグ内の接地/パワ
ーコンタクトが最初に、レセプタクル内の接地/パワー
コンタクト収容スロット内に入り、レセプタクル内の対
応するパワー/接地コンタクトに係合することを示す。
信号コンタクトはレセプタクルの信号コンタクトスロッ
トに入る。図7の(B)は、プラグ内の信号コンタクト
がレセプタクル内の対応する信号コンタクトに初期係合
し、プラグ内のパワー/接地コンタクトがレセプタクル
内のパワー/接地コンタクトの対向する板部間に係合す
る。図7の(C)は、プラグの信号コンタクトが、レセ
プタクル内の信号コンタクトと完全に係合した状態を示
す。プラグ内のパワー/接地コンタクトは、レセプタク
ルのパワー/接地コンタクトのフォーク状部の基部に配
置されるようになる。
【0020】図8を参照すると、レセプタクルの基部1
2の外側部16が、はんだボール付着前の状態で示して
ある。はんだボールの取付け前に、例えば端子タブ82
である信号コンタクトの端子タブと、例えば端子タブ9
8であるパワー/接地コンタクトの端子タブとが、基部
12の対向面18内にコンタクトを挿入することによ
り、例えば外側凹部20,22,24,26,28であ
る対応する外側凹部内に配置される。好適な成分のはん
だペーストが、それぞれの外側凹部にほぼ充填される。
そして、はんだボールが基部の外側面あるいは装着面の
上に配置される。外側凹部ははんだボールよりも横方向
寸法が小さく、したがって、はんだボールはコンタクト
の端子タブに近接する位置で、凹部の縁部で支えられ
る。凹部内におけるはんだボールの安定性を最大とする
ために、凹部は、断面が丸められあるいは正多角形形状
であるのが好ましい。はんだペーストは、図9に示すよ
うに、露出した凹部のそれぞれに、はんだボールを保持
するのを支援し、これには、凹部20内のはんだボール
82および凹部22内のはんだボール100で例示して
ある。追加のはんだボール230,232,234が、
例えば凹部24,26,28内に示してある。はんだボ
ールは、レセプタクルの外側凹部の全てに配置される。
図8に示すようなはんだボールの配置前、および、図1
1に示すようなはんだボールの配置後、プラグの外側部
は、レセプタクルの外側部とほぼ同じであることが理解
される。はんだボールを外側凹部内に配置した後、コネ
クタはリフロー工程ではんだボールを端子タブ上に融合
される。コネクタの外側部は、はんだボールおよび特に
はんだボールの外面と共に、ほぼ平坦な装着用インター
フェイスを形成し、この装着用インターフェイスに沿っ
て、コネクタがプリント基板等の支持回路基板上に装着
される。
2の外側部16が、はんだボール付着前の状態で示して
ある。はんだボールの取付け前に、例えば端子タブ82
である信号コンタクトの端子タブと、例えば端子タブ9
8であるパワー/接地コンタクトの端子タブとが、基部
12の対向面18内にコンタクトを挿入することによ
り、例えば外側凹部20,22,24,26,28であ
る対応する外側凹部内に配置される。好適な成分のはん
だペーストが、それぞれの外側凹部にほぼ充填される。
そして、はんだボールが基部の外側面あるいは装着面の
上に配置される。外側凹部ははんだボールよりも横方向
寸法が小さく、したがって、はんだボールはコンタクト
の端子タブに近接する位置で、凹部の縁部で支えられ
る。凹部内におけるはんだボールの安定性を最大とする
ために、凹部は、断面が丸められあるいは正多角形形状
であるのが好ましい。はんだペーストは、図9に示すよ
うに、露出した凹部のそれぞれに、はんだボールを保持
するのを支援し、これには、凹部20内のはんだボール
82および凹部22内のはんだボール100で例示して
ある。追加のはんだボール230,232,234が、
例えば凹部24,26,28内に示してある。はんだボ
ールは、レセプタクルの外側凹部の全てに配置される。
図8に示すようなはんだボールの配置前、および、図1
1に示すようなはんだボールの配置後、プラグの外側部
は、レセプタクルの外側部とほぼ同じであることが理解
される。はんだボールを外側凹部内に配置した後、コネ
クタはリフロー工程ではんだボールを端子タブ上に融合
される。コネクタの外側部は、はんだボールおよび特に
はんだボールの外面と共に、ほぼ平坦な装着用インター
フェイスを形成し、この装着用インターフェイスに沿っ
て、コネクタがプリント基板等の支持回路基板上に装着
される。
【0021】図10および図13は、図1に示す実施の
形態の変形例を示し、ここでは、フォーク状のレセプタ
クルコンタクト66に代えて、対向配置されたブレード
形式のコンタクトの対66a,66bが接地/パワー端
子182に係合している。
形態の変形例を示し、ここでは、フォーク状のレセプタ
クルコンタクト66に代えて、対向配置されたブレード
形式のコンタクトの対66a,66bが接地/パワー端
子182に係合している。
【0022】図14から図18は、本発明の互いに嵌合
するコネクタのセットの第2の好ましい実施の形態を示
す。特に図14および図15を参照すると、このコネク
タのセットは、全体を符号236で示すレセプタクルを
備える。このレセプタクルは、全体を符号238で示す
絶縁ハウジングを備え、この絶縁ハウジングは内側部2
40と側部242と外側部244とを有する。ハウジン
グも対向した整合用突起246,248を備える。ハウ
ジングの内側には、コンタクト250,251,252
が設けられ、これらのコンタクトは互いに湾曲して離隔
した後、接点に収束し、この接点から再度広がる。コン
タクト251は図1から図13に示す実施の形態と同様
な態様で基部231に装着される。はんだボール254
等のはんだボールは、上述と同様な態様でコンタクト2
51の板側に装着される。特に図16および図17を参
照すると、このコネクタのセットは全体を符号258で
示すプラグを備え、このプラグは全体を符号260で示
す絶縁ハウジングを備え、この絶縁ハウジングは内側部
262と周側部264と外側部266とを有する。ハウ
ジングの一端には、一対の垂直な端壁部268,270
が設けられ、これらの間に中間端部凹部272が設けら
れる。ハウジングの反対側の端部には、中間端部凹部2
78を有する他の対の端壁部274,276が設けられ
る。ハウジングの内側から、符号282で示す凹部から
延びるコンタクト280等の複数のコンタクトが延在し
ている。これらのコンタクトのそれぞれは、はんだボー
ル284が融合される。これらのコンタクトは、食違い
状あるいはあ千鳥配列に配置されていることが明らかで
ある。例えばコンタクト286はコンタクト280に対
してオフセットしており、したがってコンタクトの列を
より密な間隔に配置してコンタクトの密度を増大するこ
とができる。特に図18を参照すると、コンタクト28
0等のプラグ内の各コンタクトは、例えばコンタクト2
50,252等のレセプタクル内の収束する複数のコン
タクト対の1の対と垂直に整合し、これらの収束するコ
ンタクト間に介挿される。整合用突起246,248
も、プラグ内の端部凹部272,278に整合すること
が明らかである。この実施の形態では、図1から図13
の実施の形態で用いた別個の接地/パワーコンタクトは
設けられていない。必要な場合には、この機能は非分割
のコンタクト対に組込んでもよい。
するコネクタのセットの第2の好ましい実施の形態を示
す。特に図14および図15を参照すると、このコネク
タのセットは、全体を符号236で示すレセプタクルを
備える。このレセプタクルは、全体を符号238で示す
絶縁ハウジングを備え、この絶縁ハウジングは内側部2
40と側部242と外側部244とを有する。ハウジン
グも対向した整合用突起246,248を備える。ハウ
ジングの内側には、コンタクト250,251,252
が設けられ、これらのコンタクトは互いに湾曲して離隔
した後、接点に収束し、この接点から再度広がる。コン
タクト251は図1から図13に示す実施の形態と同様
な態様で基部231に装着される。はんだボール254
等のはんだボールは、上述と同様な態様でコンタクト2
51の板側に装着される。特に図16および図17を参
照すると、このコネクタのセットは全体を符号258で
示すプラグを備え、このプラグは全体を符号260で示
す絶縁ハウジングを備え、この絶縁ハウジングは内側部
262と周側部264と外側部266とを有する。ハウ
ジングの一端には、一対の垂直な端壁部268,270
が設けられ、これらの間に中間端部凹部272が設けら
れる。ハウジングの反対側の端部には、中間端部凹部2
78を有する他の対の端壁部274,276が設けられ
る。ハウジングの内側から、符号282で示す凹部から
延びるコンタクト280等の複数のコンタクトが延在し
ている。これらのコンタクトのそれぞれは、はんだボー
ル284が融合される。これらのコンタクトは、食違い
状あるいはあ千鳥配列に配置されていることが明らかで
ある。例えばコンタクト286はコンタクト280に対
してオフセットしており、したがってコンタクトの列を
より密な間隔に配置してコンタクトの密度を増大するこ
とができる。特に図18を参照すると、コンタクト28
0等のプラグ内の各コンタクトは、例えばコンタクト2
50,252等のレセプタクル内の収束する複数のコン
タクト対の1の対と垂直に整合し、これらの収束するコ
ンタクト間に介挿される。整合用突起246,248
も、プラグ内の端部凹部272,278に整合すること
が明らかである。この実施の形態では、図1から図13
の実施の形態で用いた別個の接地/パワーコンタクトは
設けられていない。必要な場合には、この機能は非分割
のコンタクト対に組込んでもよい。
【0023】図19から図23は、第3の好ましい形態
の互いに嵌合するコネクタのセットを示す。このプラグ
は、全体を符号290で示してある。このプラグは、全
体を符号292で示すハウジングを備え、このハウジン
グは基部壁294と周側壁296と対校した整合用突起
298,300とを有する。ハウジングの基部壁は、内
側部302と外側部304とを有する。コンタクト30
6等の信号コンタクトは、内側部302から延びる。こ
れらの信号コンタクトも、食違い状の千鳥配列に配置さ
れ、あるいは一列おきにオフセットしてコンタクト密度
を増大させていることが明らかである。プラグも、側壁
の一側と平行なプラグの側部のそれぞれに隣接して配置
された接地あるいはパワーコンタクト310,312,
314,316を備える。基部壁の外側部には、はんだ
ボール318等の信号コンタクト用はんだボールと、は
んだボール320等のパワー/接地コンタクト用はんだ
ボールとが設けられ、これらのはんだボールは、第1の
実施の形態で説明したと同様な方法で、各コンタクトに
融合される。レセプタクルは全体を符号322で示して
あり、絶縁ハウジング324を有し、この絶縁ハウジン
グは基部壁326と周側壁328と整合用突起収容凹部
330,332とを有する。基部壁は更に外側部334
と内側部336とを有する。内側部からは、コンタクト
338,340等の信号コンタクトが突出する。隣接す
る横方向列のコンタクトは、軸方向にオフセットし、コ
ンタクト密度を増大することができる。周壁部の各側部
に平行に、側部パワーあるいは接地コンタクト342,
344,346,350が設けられる。基部壁の外側部
上には、はんだボール352で示すような各信号コンタ
クト用のはんだボールが設けられる。更に、はんだボー
ル354等のはんだボールが、パワーあるいは接地ピン
のそれぞれを取付けるために設けられる。特に図23を
参照すると、プラグ290がレセプタクル322に係合
することが明らかである。
の互いに嵌合するコネクタのセットを示す。このプラグ
は、全体を符号290で示してある。このプラグは、全
体を符号292で示すハウジングを備え、このハウジン
グは基部壁294と周側壁296と対校した整合用突起
298,300とを有する。ハウジングの基部壁は、内
側部302と外側部304とを有する。コンタクト30
6等の信号コンタクトは、内側部302から延びる。こ
れらの信号コンタクトも、食違い状の千鳥配列に配置さ
れ、あるいは一列おきにオフセットしてコンタクト密度
を増大させていることが明らかである。プラグも、側壁
の一側と平行なプラグの側部のそれぞれに隣接して配置
された接地あるいはパワーコンタクト310,312,
314,316を備える。基部壁の外側部には、はんだ
ボール318等の信号コンタクト用はんだボールと、は
んだボール320等のパワー/接地コンタクト用はんだ
ボールとが設けられ、これらのはんだボールは、第1の
実施の形態で説明したと同様な方法で、各コンタクトに
融合される。レセプタクルは全体を符号322で示して
あり、絶縁ハウジング324を有し、この絶縁ハウジン
グは基部壁326と周側壁328と整合用突起収容凹部
330,332とを有する。基部壁は更に外側部334
と内側部336とを有する。内側部からは、コンタクト
338,340等の信号コンタクトが突出する。隣接す
る横方向列のコンタクトは、軸方向にオフセットし、コ
ンタクト密度を増大することができる。周壁部の各側部
に平行に、側部パワーあるいは接地コンタクト342,
344,346,350が設けられる。基部壁の外側部
上には、はんだボール352で示すような各信号コンタ
クト用のはんだボールが設けられる。更に、はんだボー
ル354等のはんだボールが、パワーあるいは接地ピン
のそれぞれを取付けるために設けられる。特に図23を
参照すると、プラグ290がレセプタクル322に係合
することが明らかである。
【0024】前述のように、表面実装技術により回路基
板上に装着されるべき電気コネクタ等の部材は、共通平
面性に対して極めて厳格であることが要求されている。
通常は約0.003から約0.004インチ(約0.0
76から約0.102mm)のオーダーである共通平面
性の狭い公差が維持されない場合は、はんだ付け不良に
より、製品に高い欠陥率を生じさせる。回路基板からの
各コンタクトの表面実装部の距離の変異は、コンタクト
挿入工程の結果による絶縁ハウジング内のコンタクトの
位置の変異、および、コネクタボディの装着用インター
フェイスの湾曲あるいは歪みによるハウジングの変形で
生じる。本発明によるコネクタは、コネクタを基板に結
合するために使用する融合可能なボディの配置およびサ
イズを正確なものとする特徴を用いることにより、更
に、ハウジングを歪ませる傾向のあるコネクタハウジン
グ内の応力の蓄積を防止するコンタクト固定用配置を用
いることにより、厳密な共通平面性の要求を達成するこ
とができる。
板上に装着されるべき電気コネクタ等の部材は、共通平
面性に対して極めて厳格であることが要求されている。
通常は約0.003から約0.004インチ(約0.0
76から約0.102mm)のオーダーである共通平面
性の狭い公差が維持されない場合は、はんだ付け不良に
より、製品に高い欠陥率を生じさせる。回路基板からの
各コンタクトの表面実装部の距離の変異は、コンタクト
挿入工程の結果による絶縁ハウジング内のコンタクトの
位置の変異、および、コネクタボディの装着用インター
フェイスの湾曲あるいは歪みによるハウジングの変形で
生じる。本発明によるコネクタは、コネクタを基板に結
合するために使用する融合可能なボディの配置およびサ
イズを正確なものとする特徴を用いることにより、更
に、ハウジングを歪ませる傾向のあるコネクタハウジン
グ内の応力の蓄積を防止するコンタクト固定用配置を用
いることにより、厳密な共通平面性の要求を達成するこ
とができる。
【0025】図1から図23の実施の形態では、ハウジ
ングのボディ内に応力を形成するのを防止する態様で絶
縁ハウジング内に金属コンタクトが固定される。この固
定は、コンタクトの固定部が挿入される成形スロットあ
るいは開口を用いることにより、行われる。より小さな
信号コンタクトに特に有用な1の配置では、スロット
は、コンタクトの全ての面のうちの1の形状および寸法
に密に対応する形状を有する。この1の面に対向するス
ロットの面は、スロット内に突出する一体的にモールド
成形された側部突起を有する。突起の先端部とスロット
の対向壁との間の距離は、コンタクトの厚さよりも少な
い。したがって、突起の先端部は、スロット内に挿入さ
れるときに、コンタクトに係合しかつ変形される。突起
の先端部は変形しないため、ハウジング内に応力が形成
されるのが防止される。図示の好ましい実施の形態で
は、突起はスロットの側壁の1に一体的に形成されたピ
ラミッド状のリブを備える。
ングのボディ内に応力を形成するのを防止する態様で絶
縁ハウジング内に金属コンタクトが固定される。この固
定は、コンタクトの固定部が挿入される成形スロットあ
るいは開口を用いることにより、行われる。より小さな
信号コンタクトに特に有用な1の配置では、スロット
は、コンタクトの全ての面のうちの1の形状および寸法
に密に対応する形状を有する。この1の面に対向するス
ロットの面は、スロット内に突出する一体的にモールド
成形された側部突起を有する。突起の先端部とスロット
の対向壁との間の距離は、コンタクトの厚さよりも少な
い。したがって、突起の先端部は、スロット内に挿入さ
れるときに、コンタクトに係合しかつ変形される。突起
の先端部は変形しないため、ハウジング内に応力が形成
されるのが防止される。図示の好ましい実施の形態で
は、突起はスロットの側壁の1に一体的に形成されたピ
ラミッド状のリブを備える。
【0026】図示の特定のリブ構造は、これが用いられ
る特定のハウジングに対して最適なものと考えられる
が、しかし、形状およびサイズが僅かに異なる他の同様
なリブも他の形式のハウジングに有益に採用することが
できる。特に図32および図33を参照すると、信号コ
ンタクト494がスロット496内に保持され、リブ4
98に当接する。このリブは、コンタクト494に当接
する平坦面500と、対向した傾斜部502,504と
を有する。コンタクト494は、スロット496の背部
および側縁部をリブ498に係合させることにより、ス
ロット内に強固に保持される。面500に近接するリブ
の部分は、コンタクト494がスロット496内に押圧
されるために、変形されず、これにより、接触挿入によ
る応力が形成されない。
る特定のハウジングに対して最適なものと考えられる
が、しかし、形状およびサイズが僅かに異なる他の同様
なリブも他の形式のハウジングに有益に採用することが
できる。特に図32および図33を参照すると、信号コ
ンタクト494がスロット496内に保持され、リブ4
98に当接する。このリブは、コンタクト494に当接
する平坦面500と、対向した傾斜部502,504と
を有する。コンタクト494は、スロット496の背部
および側縁部をリブ498に係合させることにより、ス
ロット内に強固に保持される。面500に近接するリブ
の部分は、コンタクト494がスロット496内に押圧
されるために、変形されず、これにより、接触挿入によ
る応力が形成されない。
【0027】同様に、パワー/接地コンタクトはスロッ
ト508内に保持され、変形可能なリブ510で支えら
れる。リブは、コンタクトに当接する先端部512と、
対向した傾斜部514,516とを有する。この配置で
は、例えばリブ518のような対向したリブも設けられ
る。この対向した絶縁リブも先端部520と傾斜側部5
22,524とを有する。対向した変形可能なリブはよ
り大きなコンタクトを保持し、コンタクトをスロット内
でセンタリングするために用いることができる。当該分
野における技術者であれば、このようなリブの特定の形
状、サイズ、数および配置を異なる形式のハウジングに
応じて変更可能であり、これらのファクターは、変形可
能なリブがハウジング内の応力から最大限絶縁されるよ
うに選定される。図34は、ペンシルバニア州ヒュース
トンのアンシス社(Ansys, Inc)から市販されている応
力分析ソフトウェア「ANSYS 」を用いたものであり、図
32および図33に示すコンタクト固定配置を使用する
ことにより、高レベルの応力がリブにほとんど作用せ
ず、特にコンタクト装着スロットより先にはほとんど作
用せず、これにより、従来技術では多数のコンタクトの
挿入で生じる虞のあるハウジングの歪みあるいはねじれ
の発生がほとんどなくなる。図34では種々の応力領域
の単位はN/mm2 であり、変位の単位はmm(ミリメ
ートル)で示してある。図35は、典型的なコンタクト
494に対して、約0.0004インチ(約0.010
mm)までの変形可能なリブの先端部の変形(圧縮)
が、リブによりコンタクトに作用する垂直方向の力(no
rmal force)によるコンタクトとハウジングとの間の保
持力の増大で生じることを示す。変形(圧縮)が0.0
004インチに達した後は、保持力により僅かに増加す
るだけである。
ト508内に保持され、変形可能なリブ510で支えら
れる。リブは、コンタクトに当接する先端部512と、
対向した傾斜部514,516とを有する。この配置で
は、例えばリブ518のような対向したリブも設けられ
る。この対向した絶縁リブも先端部520と傾斜側部5
22,524とを有する。対向した変形可能なリブはよ
り大きなコンタクトを保持し、コンタクトをスロット内
でセンタリングするために用いることができる。当該分
野における技術者であれば、このようなリブの特定の形
状、サイズ、数および配置を異なる形式のハウジングに
応じて変更可能であり、これらのファクターは、変形可
能なリブがハウジング内の応力から最大限絶縁されるよ
うに選定される。図34は、ペンシルバニア州ヒュース
トンのアンシス社(Ansys, Inc)から市販されている応
力分析ソフトウェア「ANSYS 」を用いたものであり、図
32および図33に示すコンタクト固定配置を使用する
ことにより、高レベルの応力がリブにほとんど作用せ
ず、特にコンタクト装着スロットより先にはほとんど作
用せず、これにより、従来技術では多数のコンタクトの
挿入で生じる虞のあるハウジングの歪みあるいはねじれ
の発生がほとんどなくなる。図34では種々の応力領域
の単位はN/mm2 であり、変位の単位はmm(ミリメ
ートル)で示してある。図35は、典型的なコンタクト
494に対して、約0.0004インチ(約0.010
mm)までの変形可能なリブの先端部の変形(圧縮)
が、リブによりコンタクトに作用する垂直方向の力(no
rmal force)によるコンタクトとハウジングとの間の保
持力の増大で生じることを示す。変形(圧縮)が0.0
004インチに達した後は、保持力により僅かに増加す
るだけである。
【0028】上述のように、ボールグリッドアレイ(B
GA)装着を用いたコネクタの基板装着面の共通平面性
に影響する他のファクターは、はんだボールのサイズの
均一性、およびコネクタハウジングの基板装着面に対す
るはんだボールの位置である。上述の好ましい実施の形
態では、各コンタクトの端子タブは凹部内に配置され
る。外側凹部は、サイズおよび形状がほぼ均一である。
これらの凹部は、本発明に対するいくつかの重要な特徴
を提供する。凹部は、例えば単純な堆積およびスキーズ
(squeegee)操作により、極めて均一な量のはんだペー
ストを受入れることができる。したがって、コンタクト
上の各はんだボールを固定するために利用可能なはんだ
の量は、ほぼ均等である。これらの凹部は、はんだボー
ルをコンタクトに取付ける前に、横方向のX−Y方向で
各はんだボールの位置を設定する。これらの凹部は、更
に、ハウジングの底面に対してZ方向にはんだボールを
位置決めし、コンタクトの端子タブからのはんだボール
の距離を設定する。凹部内におけるタブの最小の広がり
は、凹部内におけるタブの広がりのための最大公差で、
このタブがはんだボールに接触し、これによりそのZ方
向位置に影響することがないように設定される。しか
し、コンタクトタブ上におけるはんだボールの融合は、
凹部内に、はんだペーストから比較的均一で好適な量の
はんだを有することにより確保される。コンタクトタブ
とはんだボールとの間の距離の変動は、凹部内に置かれ
たはんだペーストの量の変化により吸収される。
GA)装着を用いたコネクタの基板装着面の共通平面性
に影響する他のファクターは、はんだボールのサイズの
均一性、およびコネクタハウジングの基板装着面に対す
るはんだボールの位置である。上述の好ましい実施の形
態では、各コンタクトの端子タブは凹部内に配置され
る。外側凹部は、サイズおよび形状がほぼ均一である。
これらの凹部は、本発明に対するいくつかの重要な特徴
を提供する。凹部は、例えば単純な堆積およびスキーズ
(squeegee)操作により、極めて均一な量のはんだペー
ストを受入れることができる。したがって、コンタクト
上の各はんだボールを固定するために利用可能なはんだ
の量は、ほぼ均等である。これらの凹部は、はんだボー
ルをコンタクトに取付ける前に、横方向のX−Y方向で
各はんだボールの位置を設定する。これらの凹部は、更
に、ハウジングの底面に対してZ方向にはんだボールを
位置決めし、コンタクトの端子タブからのはんだボール
の距離を設定する。凹部内におけるタブの最小の広がり
は、凹部内におけるタブの広がりのための最大公差で、
このタブがはんだボールに接触し、これによりそのZ方
向位置に影響することがないように設定される。しか
し、コンタクトタブ上におけるはんだボールの融合は、
凹部内に、はんだペーストから比較的均一で好適な量の
はんだを有することにより確保される。コンタクトタブ
とはんだボールとの間の距離の変動は、凹部内に置かれ
たはんだペーストの量の変化により吸収される。
【0029】コンタクト上にはんだボールを取付け、コ
ンタクトの係合面へのはんだのウィッキングを防止する
ために使用するリフロー工程の際、はんだボールの近部
に好適な量のはんだを保持するために、コンタクトは処
理されてはんだウィッキングを阻止される。特に図36
を参照すると、コンタクト526,528がキャリアス
トリップ530に取付けられた状態で示されている。コ
ンタクトは、通常は金、パラジウムあるいはパラジウム
合金等の酸化されない金属でメッキされるコンタクト係
合領域532を有する。コンタクトは更に中央領域53
4を有し、この中央領域の一部はハウジング内にコンタ
クト保持領域を形成する。この中央領域に、はんだウィ
ッキング防止あるいははんだ濡れ性を有しない金属が配
置される。このための好適な材料の一例は、ニッケルメ
ッキである。特定の理論で拘束されることを意図したも
のではないが、このニッケルメッキ領域のはんだ抵抗の
特徴は、例えば数日間にわたって周囲空気に晒して、メ
ッキしたニッケルを酸化することにより、得られるか、
あるいは、強化される。ニッケルあるいはニッケル酸化
物のバリヤは、このようなコンタクトにおけるはんだウ
ィッキングを極めて大きく防止するかあるいは減少する
ことが判明した。このような不動態化機能をニッケルあ
るいはニッケル酸化物に与えるため、メッキの厚さは1
0μインチから100μインチ(約0.00025〜
0.0025mm)で、約50μインチ(約0.001
3mm)であるのがより好ましい。他のはんだウィッキ
ング防止材料もこのために使用可能であり、例えばフッ
素含有の耐はんだコーティングを用いることができる。
これらは、コンタクトの全体が例えば金等のはんだぬれ
性を有する金属の連続した外側層でメッキされる場合に
特に有益である。コンタクトタブ領域536は、金、す
ず、あるいはすず合金等のはんだ受容金属(solderrece
ptive material )でメッキするのが好ましい。コンタ
クトの全体はニッケルでメッキされるのが好ましい。上
部では、ニッケル上に貴金属層が選択的にメッキされ
る。この上部の貴金属メッキは、10μインチから10
0μインチ(約0.00025〜0.0025mm)で
あるのが好ましく、約30μインチ(0.00076m
m)であるのがより好ましい。下部には、はんだぬれ性
を有する金属層が選択的にメッキされている。あるい
は、ニッケル層に代えてクロムの電気メッキ層を用いる
こともできる。図37を参照すると、プラグ信号コンタ
クト538,540がキャリヤストリップ542に取付
けられて示されている。これらのコンタクトのそれぞれ
は金メッキされたタブ領域544と、ニッケルメッキさ
れた中央保持およびウィッキング防止領域536と、貴
金属メッキの係合領域548とを有する。図38でも同
様に、接地/パワーコンタクト550がキャリヤストリ
ップ552に取付けられた状態で示されている。このコ
ンタクトは、下側の金メッキされたタブ領域554と、
ニッケルメッキされた中央のウィッキング防止領域55
6と、上側の金メッキされたコンタクト係合領域558
とを有する。ウィッキングを減少することが判明した接
地/パワーコンタクト550の他の特徴は、例えばノッ
チ560,562,564等のタブ領域554における
一連のノッチである。上述の実施の形態に含まれる接地
/パワーコンタクト550の他の特徴は、スロット56
6等の垂直スロットである。図39を参照すると、プラ
グの接地/パワーコンタクト568が示されており、こ
のコンタクトは下側の金メッキされたタブ領域570
と、ニッケルメッキされた中央ウィッキング防止領域5
72と、上側の金メッキされた領域574とを有する。
接地/パワーコンタクト568は別個のキャリヤストリ
ップを有しないが、しかし例えば孔576等の孔を有
し、この孔自体がこれをキャリヤとして作用させること
ができる。上述のコンタクトのそれぞれは、すず等のは
んだぬれ性を有する材料を下側領域の金に置換えること
ができる。図36から図39に示すコンタクトの全て
は、下側の金メッキされたタブ領域の幅は、例えば図3
9に符号w1 で示すように、約0.1mmから約0.2
5mmであるのが好ましい。ニッケルメッキされた中央
領域の幅は、例えば図39に符号w2 で示すように約
0.1mmから約1mmであるのが好ましい。
ンタクトの係合面へのはんだのウィッキングを防止する
ために使用するリフロー工程の際、はんだボールの近部
に好適な量のはんだを保持するために、コンタクトは処
理されてはんだウィッキングを阻止される。特に図36
を参照すると、コンタクト526,528がキャリアス
トリップ530に取付けられた状態で示されている。コ
ンタクトは、通常は金、パラジウムあるいはパラジウム
合金等の酸化されない金属でメッキされるコンタクト係
合領域532を有する。コンタクトは更に中央領域53
4を有し、この中央領域の一部はハウジング内にコンタ
クト保持領域を形成する。この中央領域に、はんだウィ
ッキング防止あるいははんだ濡れ性を有しない金属が配
置される。このための好適な材料の一例は、ニッケルメ
ッキである。特定の理論で拘束されることを意図したも
のではないが、このニッケルメッキ領域のはんだ抵抗の
特徴は、例えば数日間にわたって周囲空気に晒して、メ
ッキしたニッケルを酸化することにより、得られるか、
あるいは、強化される。ニッケルあるいはニッケル酸化
物のバリヤは、このようなコンタクトにおけるはんだウ
ィッキングを極めて大きく防止するかあるいは減少する
ことが判明した。このような不動態化機能をニッケルあ
るいはニッケル酸化物に与えるため、メッキの厚さは1
0μインチから100μインチ(約0.00025〜
0.0025mm)で、約50μインチ(約0.001
3mm)であるのがより好ましい。他のはんだウィッキ
ング防止材料もこのために使用可能であり、例えばフッ
素含有の耐はんだコーティングを用いることができる。
これらは、コンタクトの全体が例えば金等のはんだぬれ
性を有する金属の連続した外側層でメッキされる場合に
特に有益である。コンタクトタブ領域536は、金、す
ず、あるいはすず合金等のはんだ受容金属(solderrece
ptive material )でメッキするのが好ましい。コンタ
クトの全体はニッケルでメッキされるのが好ましい。上
部では、ニッケル上に貴金属層が選択的にメッキされ
る。この上部の貴金属メッキは、10μインチから10
0μインチ(約0.00025〜0.0025mm)で
あるのが好ましく、約30μインチ(0.00076m
m)であるのがより好ましい。下部には、はんだぬれ性
を有する金属層が選択的にメッキされている。あるい
は、ニッケル層に代えてクロムの電気メッキ層を用いる
こともできる。図37を参照すると、プラグ信号コンタ
クト538,540がキャリヤストリップ542に取付
けられて示されている。これらのコンタクトのそれぞれ
は金メッキされたタブ領域544と、ニッケルメッキさ
れた中央保持およびウィッキング防止領域536と、貴
金属メッキの係合領域548とを有する。図38でも同
様に、接地/パワーコンタクト550がキャリヤストリ
ップ552に取付けられた状態で示されている。このコ
ンタクトは、下側の金メッキされたタブ領域554と、
ニッケルメッキされた中央のウィッキング防止領域55
6と、上側の金メッキされたコンタクト係合領域558
とを有する。ウィッキングを減少することが判明した接
地/パワーコンタクト550の他の特徴は、例えばノッ
チ560,562,564等のタブ領域554における
一連のノッチである。上述の実施の形態に含まれる接地
/パワーコンタクト550の他の特徴は、スロット56
6等の垂直スロットである。図39を参照すると、プラ
グの接地/パワーコンタクト568が示されており、こ
のコンタクトは下側の金メッキされたタブ領域570
と、ニッケルメッキされた中央ウィッキング防止領域5
72と、上側の金メッキされた領域574とを有する。
接地/パワーコンタクト568は別個のキャリヤストリ
ップを有しないが、しかし例えば孔576等の孔を有
し、この孔自体がこれをキャリヤとして作用させること
ができる。上述のコンタクトのそれぞれは、すず等のは
んだぬれ性を有する材料を下側領域の金に置換えること
ができる。図36から図39に示すコンタクトの全て
は、下側の金メッキされたタブ領域の幅は、例えば図3
9に符号w1 で示すように、約0.1mmから約0.2
5mmであるのが好ましい。ニッケルメッキされた中央
領域の幅は、例えば図39に符号w2 で示すように約
0.1mmから約1mmであるのが好ましい。
【0030】図24および図25を参照すると、はんだ
ボールを取付けるための他の配置を有する本発明の実施
の形態が示されている。このコネクタのレセプタクルは
全体を符号324で示してある。このレセプタクルは基
部壁326を有し、この基部壁は外側部328と内側部
330とを有する。外側部には、凹部332,334,
336,338,340(図25),342,344
(図24)等の凹部が設けられている。これらの凹部の
それぞれは、湾曲面362を有する傾斜した基部壁36
0を備えるのが好ましい。内側部330には、凹部34
6,348,350,352,354(図25),35
6,358(図24)等の凹部が設けられている。外側
凹部と内側凹部との間には、スロット364,366,
368,370,372(図25),374,376
(図24)等の中間スロットが設けられている。これら
のスロットのそれぞれは、図32および図33に関連し
て説明したものとほぼ同様な態様でスロット内にコンタ
クトを保持するための保持突起(図示しない)を有す
る。内側部では、レセプタクルは図1および図2とほぼ
同じ構造を有する。レセプタクルは、図1および図2に
関して説明したものと同様に、ラッチ(図示しない)が
好ましい好適な態様で基部326に固定された上側部4
36を備える。上側部あるいはカバー436は、例えば
開口452,460である複数の開口を有し、相手方プ
ラグからの個々のコンタクトを受入れ、更に、例えばス
ロット454,456,468(図25)である複数の
スロットを有し、相手方コンタクトからの接地あるいは
パワーコンタクトを受入れる。コンタクト408等の信
号コンタクトおよび接地/パワーコンタクトは、上述の
実施の形態のいずれかのものとほぼ同じ形状に形成され
る。例えば接地コンタクト382(図25)は下側部3
84を有し、これからタブ386が突出する。このコン
タクトは、更に全体を符号388で示す上側部を有し、
この上側部はフォーク390,392で形成されてい
る。これらのフォークのそれぞれは、収束部394と外
方に広がる導入部396とを有する。タブ386は凹部
336内に配置される。コンタクト407等の各信号コ
ンタクトは、前部突起412と後部湾曲部414とを持
つ上部410を有する。信号コンタクトは、更に中間部
416を有し、この中間部で絶縁ハウジングと、凹部3
34内に配置された下側タブ418とに係合する。
ボールを取付けるための他の配置を有する本発明の実施
の形態が示されている。このコネクタのレセプタクルは
全体を符号324で示してある。このレセプタクルは基
部壁326を有し、この基部壁は外側部328と内側部
330とを有する。外側部には、凹部332,334,
336,338,340(図25),342,344
(図24)等の凹部が設けられている。これらの凹部の
それぞれは、湾曲面362を有する傾斜した基部壁36
0を備えるのが好ましい。内側部330には、凹部34
6,348,350,352,354(図25),35
6,358(図24)等の凹部が設けられている。外側
凹部と内側凹部との間には、スロット364,366,
368,370,372(図25),374,376
(図24)等の中間スロットが設けられている。これら
のスロットのそれぞれは、図32および図33に関連し
て説明したものとほぼ同様な態様でスロット内にコンタ
クトを保持するための保持突起(図示しない)を有す
る。内側部では、レセプタクルは図1および図2とほぼ
同じ構造を有する。レセプタクルは、図1および図2に
関して説明したものと同様に、ラッチ(図示しない)が
好ましい好適な態様で基部326に固定された上側部4
36を備える。上側部あるいはカバー436は、例えば
開口452,460である複数の開口を有し、相手方プ
ラグからの個々のコンタクトを受入れ、更に、例えばス
ロット454,456,468(図25)である複数の
スロットを有し、相手方コンタクトからの接地あるいは
パワーコンタクトを受入れる。コンタクト408等の信
号コンタクトおよび接地/パワーコンタクトは、上述の
実施の形態のいずれかのものとほぼ同じ形状に形成され
る。例えば接地コンタクト382(図25)は下側部3
84を有し、これからタブ386が突出する。このコン
タクトは、更に全体を符号388で示す上側部を有し、
この上側部はフォーク390,392で形成されてい
る。これらのフォークのそれぞれは、収束部394と外
方に広がる導入部396とを有する。タブ386は凹部
336内に配置される。コンタクト407等の各信号コ
ンタクトは、前部突起412と後部湾曲部414とを持
つ上部410を有する。信号コンタクトは、更に中間部
416を有し、この中間部で絶縁ハウジングと、凹部3
34内に配置された下側タブ418とに係合する。
【0031】接地コンタクト382のタブ386および
信号コンタクト408のタブ418は、基部326内に
コンタクトを挿入した後、面362の回りで各端子のテ
イル部を曲げることにより形成される。各面362は、
対応するコンタクトのテイル部の曲げマンドレルとして
作用する。テイル部は、傾斜面360の延びる範囲まで
曲げられ、はね返り可能であり、したがってタブはコン
タクトの長手方向軸線に対して横方向で、かつ、面32
8とほぼ平行に延びる。これは、タブの共通平面性を高
度のものとする。タブの形成に続いて、はんだペースト
が各タブの外面に配置される。符号398,400,4
02,404,406(図25),426,428(図
24)で示すようなはんだボールが、タブに付着され、
この組立体が加熱されてはんだペーストおよびはんだボ
ールが各タブ上に融合される。図24の(B)に示す他
の構造では、凹部334aはより深く形成され、したが
って面360a,362aは底面328aから更に離隔
して配置される。これにより、はんだボール398a
は、一部が凹部334a内に配置され、特に図12およ
び図13を参照して説明したようにその縁部で安定状態
にされる。これにより、極めて均一なサイズのはんだボ
ールが用いられたときに、これらの配置は、装着用イン
ターフェイスを横切るコンタクトの共通平面性を有する
完成コネクタを形成することができる。
信号コンタクト408のタブ418は、基部326内に
コンタクトを挿入した後、面362の回りで各端子のテ
イル部を曲げることにより形成される。各面362は、
対応するコンタクトのテイル部の曲げマンドレルとして
作用する。テイル部は、傾斜面360の延びる範囲まで
曲げられ、はね返り可能であり、したがってタブはコン
タクトの長手方向軸線に対して横方向で、かつ、面32
8とほぼ平行に延びる。これは、タブの共通平面性を高
度のものとする。タブの形成に続いて、はんだペースト
が各タブの外面に配置される。符号398,400,4
02,404,406(図25),426,428(図
24)で示すようなはんだボールが、タブに付着され、
この組立体が加熱されてはんだペーストおよびはんだボ
ールが各タブ上に融合される。図24の(B)に示す他
の構造では、凹部334aはより深く形成され、したが
って面360a,362aは底面328aから更に離隔
して配置される。これにより、はんだボール398a
は、一部が凹部334a内に配置され、特に図12およ
び図13を参照して説明したようにその縁部で安定状態
にされる。これにより、極めて均一なサイズのはんだボ
ールが用いられたときに、これらの配置は、装着用イン
ターフェイスを横切るコンタクトの共通平面性を有する
完成コネクタを形成することができる。
【0032】上述のプラグとほぼ同様に形成されたプラ
グが、全体を符号430で示してある。このプラグは、
外側部434と内側部436とを有する基部壁432を
備える。外側部には、凹部438,440,442,4
44等の凹部が設けられる。これらの凹部のそれぞれ
は、傾斜した基部壁448と湾曲壁部450とを有す
る。これらの凹部は、コンタクトスロット452,45
4,456,458,460で接続されている。更に、
プラグは、例えば全体を符号462で示すような多数の
パワー/接地コンタクトを有する。これらのコンタクト
のそれぞれは、レセプタクルの接地/パワーコンタクト
のフォーク部と係合するコンタクト部464を有する。
これらのコンタクトは更に中間部466を有し、これら
の中間部はハウジングと、はんだボール470を受入れ
るはんだボールタブ468とに係合する。プラグは更
に、例えば全体を符号476で示すような多数の信号コ
ンタクトを備える。これらの信号コンタクトは、レセプ
タクル内の信号コンタクトと係合するコンタクト部47
8と、ハウジングに係合する中間部480と、はんだボ
ールを受入れるためのはんだボールタブ482とを備え
る。符号486,488で示すような他の信号コンタク
トは、それぞれ符号490,492で示すような他のは
んだボールに係合する。はんだボールタブが形成され、
はんだボール470,474,484,490,492
が、上述のレセプタクルに関する説明とほぼ同様な態様
でプラグに配置される。
グが、全体を符号430で示してある。このプラグは、
外側部434と内側部436とを有する基部壁432を
備える。外側部には、凹部438,440,442,4
44等の凹部が設けられる。これらの凹部のそれぞれ
は、傾斜した基部壁448と湾曲壁部450とを有す
る。これらの凹部は、コンタクトスロット452,45
4,456,458,460で接続されている。更に、
プラグは、例えば全体を符号462で示すような多数の
パワー/接地コンタクトを有する。これらのコンタクト
のそれぞれは、レセプタクルの接地/パワーコンタクト
のフォーク部と係合するコンタクト部464を有する。
これらのコンタクトは更に中間部466を有し、これら
の中間部はハウジングと、はんだボール470を受入れ
るはんだボールタブ468とに係合する。プラグは更
に、例えば全体を符号476で示すような多数の信号コ
ンタクトを備える。これらの信号コンタクトは、レセプ
タクル内の信号コンタクトと係合するコンタクト部47
8と、ハウジングに係合する中間部480と、はんだボ
ールを受入れるためのはんだボールタブ482とを備え
る。符号486,488で示すような他の信号コンタク
トは、それぞれ符号490,492で示すような他のは
んだボールに係合する。はんだボールタブが形成され、
はんだボール470,474,484,490,492
が、上述のレセプタクルに関する説明とほぼ同様な態様
でプラグに配置される。
【0033】本発明の方法では、導電性部材ははんだボ
ールであるのが好ましい。しかし、当該分野における技
術者であれば、絶縁ボディの融解温度よりも融解温度が
低い他の好適な可融材料で置換え可能なことは明らかで
ある。可融部材は、球状形状以外の他の形状を持つこと
ができる。はんだボールあるいは他の導電性部材は凹部
の幅の約50パーセントから200パーセントの径を有
することが好ましい。更に、この径は凹部の深さにも関
係し、この深さの50パーセントから200パーセント
であることが好ましい。はんだボールの体積は、凹部の
容積の約75パーセントから約150パーセントである
のが好ましく、凹部の容積とほぼ同じであるのが更に好
ましい。コンタクトタブは、凹部内に十分に延び、はん
だボールが融合するのに好適な大きさの表面積を形成
し、一般的には、この凹部内に延びる量は、上述のよう
に凹部の深さの約25パーセントから75パーセントで
特に約50パーセントであるのが好ましい。通常、凹部
は円形、方形あるいは他の正多角形の断面形状を有す
る。導電性部材がはんだの場合は、約90%Snおよび
10%Pbの成分比率から約55%Snおよび45%P
bの成分比率の範囲の合金であるのが好ましい。より好
適な合金は、63%Snおよび37%Pbで溶融点が1
83°Cである共晶合金である。典型的には、鉛をより
多く含有する「硬質」のはんだ合金がセラミック等の材
料と組合わせる(mate)ために用いられる。「硬質」の
はんだボールは、「マッシュルーム」状か、あるいは典
型的な表面実装条件で軟化すると僅かに変形するが、し
かし融解しない。「軟質」の共晶ボールはプリント基板
に対する取付け用に用いられ、通常は典型的な表面実装
条件下で溶解し、再形成する。電子部品用に好適なもの
として知られている他のはんだも、この方法に使用する
ことができる。このようなはんだには、電子部品に用い
ることができるすず−アンチモン合金、すず−銀合金、
鉛−銀合金およびインジウムが含まれるが、これに限定
されるものではない。凹部内にはんだボールあるいは他
の導電性部材を配置する前、通常は、この凹部がはんだ
ペーストを充填される。
ールであるのが好ましい。しかし、当該分野における技
術者であれば、絶縁ボディの融解温度よりも融解温度が
低い他の好適な可融材料で置換え可能なことは明らかで
ある。可融部材は、球状形状以外の他の形状を持つこと
ができる。はんだボールあるいは他の導電性部材は凹部
の幅の約50パーセントから200パーセントの径を有
することが好ましい。更に、この径は凹部の深さにも関
係し、この深さの50パーセントから200パーセント
であることが好ましい。はんだボールの体積は、凹部の
容積の約75パーセントから約150パーセントである
のが好ましく、凹部の容積とほぼ同じであるのが更に好
ましい。コンタクトタブは、凹部内に十分に延び、はん
だボールが融合するのに好適な大きさの表面積を形成
し、一般的には、この凹部内に延びる量は、上述のよう
に凹部の深さの約25パーセントから75パーセントで
特に約50パーセントであるのが好ましい。通常、凹部
は円形、方形あるいは他の正多角形の断面形状を有す
る。導電性部材がはんだの場合は、約90%Snおよび
10%Pbの成分比率から約55%Snおよび45%P
bの成分比率の範囲の合金であるのが好ましい。より好
適な合金は、63%Snおよび37%Pbで溶融点が1
83°Cである共晶合金である。典型的には、鉛をより
多く含有する「硬質」のはんだ合金がセラミック等の材
料と組合わせる(mate)ために用いられる。「硬質」の
はんだボールは、「マッシュルーム」状か、あるいは典
型的な表面実装条件で軟化すると僅かに変形するが、し
かし融解しない。「軟質」の共晶ボールはプリント基板
に対する取付け用に用いられ、通常は典型的な表面実装
条件下で溶解し、再形成する。電子部品用に好適なもの
として知られている他のはんだも、この方法に使用する
ことができる。このようなはんだには、電子部品に用い
ることができるすず−アンチモン合金、すず−銀合金、
鉛−銀合金およびインジウムが含まれるが、これに限定
されるものではない。凹部内にはんだボールあるいは他
の導電性部材を配置する前、通常は、この凹部がはんだ
ペーストを充填される。
【0034】あるいは、上述のはんだボールに代え、表
面実装温度では融解しない材料で形成されたボディを、
コンタクトの凹部内のはんだペーストをリフローすなわ
ち溶融することにより、取付けることもできる。コネク
タ装着インターフェイスは、正確な共通平面のアレイ内
に複数の溶融しない球状体を備えることになる。このよ
うなコネクタは、通常の表面実装技術により基板上に固
定される。
面実装温度では融解しない材料で形成されたボディを、
コンタクトの凹部内のはんだペーストをリフローすなわ
ち溶融することにより、取付けることもできる。コネク
タ装着インターフェイスは、正確な共通平面のアレイ内
に複数の溶融しない球状体を備えることになる。このよ
うなコネクタは、通常の表面実装技術により基板上に固
定される。
【0035】この方法には、適宜の有機あるいは無機は
んだフラックスを用いることが可能であるが、一酸化窒
素を含まない(no clean)はんだペーストあるいはクリ
ームが好ましい。このようなはんだペーストあるいはク
リームは、好適な溶剤内に懸濁された微細な粉体の形態
のはんだ合金を含む。この粉体は通常は合金であり、そ
の成分の混合物ではない。フラックスに対するはんだの
比は、通常は高く、はんだ重量が80%−95%の範囲
あるいは容積がほぼ80%の範囲である。はんだクリー
ムは、はんだ材料がロジンフラックス内に懸濁されたと
きに形成される。ロジンフラックスは、ホワイトロジン
あるいは低活動度ロジンフラックスが好ましいが、種々
の目的のために活性あるいは超活性ロジンを使用するこ
ともできる。はんだペーストは、微細な粉体の形態のは
んだ合金が有機酸フラックスあるいは無機酸フラックス
内に懸濁されたときに形成される。このような有機酸
は、乳酸、オレイン酸、ステアリン酸、フタレン酸、ク
エン酸あるいは他の同様な酸から選択することができ
る。このような無機酸は、塩酸、フッ化水素酸およびオ
ルトリン酸から選択することができる。クリームあるい
はペーストは、ブラッシング、スクリーニングあるいは
押出しにより表面上に塗布することができ、この表面部
は良好なぬれ性を確保するために徐々に予熱することが
有益である。はんだペーストあるいはクリームを用いた
ときにコンタクト上におけるはんだのウィッキングが大
きく減少することが判明したが、好適な不動態化剤が用
いられる場合は、ペーストタイプのはんだフラックスだ
けでも使用することができる。このような好適な不動態
化剤には、3M社から市販されている「FLOURA
D」等のフッ化物含有のはんだレジストコーティングが
含まれる。
んだフラックスを用いることが可能であるが、一酸化窒
素を含まない(no clean)はんだペーストあるいはクリ
ームが好ましい。このようなはんだペーストあるいはク
リームは、好適な溶剤内に懸濁された微細な粉体の形態
のはんだ合金を含む。この粉体は通常は合金であり、そ
の成分の混合物ではない。フラックスに対するはんだの
比は、通常は高く、はんだ重量が80%−95%の範囲
あるいは容積がほぼ80%の範囲である。はんだクリー
ムは、はんだ材料がロジンフラックス内に懸濁されたと
きに形成される。ロジンフラックスは、ホワイトロジン
あるいは低活動度ロジンフラックスが好ましいが、種々
の目的のために活性あるいは超活性ロジンを使用するこ
ともできる。はんだペーストは、微細な粉体の形態のは
んだ合金が有機酸フラックスあるいは無機酸フラックス
内に懸濁されたときに形成される。このような有機酸
は、乳酸、オレイン酸、ステアリン酸、フタレン酸、ク
エン酸あるいは他の同様な酸から選択することができ
る。このような無機酸は、塩酸、フッ化水素酸およびオ
ルトリン酸から選択することができる。クリームあるい
はペーストは、ブラッシング、スクリーニングあるいは
押出しにより表面上に塗布することができ、この表面部
は良好なぬれ性を確保するために徐々に予熱することが
有益である。はんだペーストあるいはクリームを用いた
ときにコンタクト上におけるはんだのウィッキングが大
きく減少することが判明したが、好適な不動態化剤が用
いられる場合は、ペーストタイプのはんだフラックスだ
けでも使用することができる。このような好適な不動態
化剤には、3M社から市販されている「FLOURA
D」等のフッ化物含有のはんだレジストコーティングが
含まれる。
【0036】加熱は、パネル状赤外線ヒータ方式はんだ
リフロー炉の中にコンベアで通して行うのが好ましい。
はんだ部材は通常は約183°Cから約195°Cに加
熱されるが、しかし、ハウジングの材料にしたがって種
々の融解温度を有するはんだを用いることができる。炉
内に搬送するコンベアは、毎秒約10から14インチ
(約25cmから約36cm)の速度で、複数の連続的
な加熱段を通して、全体で約5分から約10分で移動す
るのが好ましい。コンベア炉(conveyor oven )内に挿
入する前、コネクタハウジングとコンタクトとはんだ部
材とが少なくとも1時間にわたって所定温度に予熱され
る。コンベア炉内では、好適なピーク温度と最大スロー
プとリフロー温度における時間とにしたがって温度分布
(temperature profile )が形成される。ピーク温度
は、ハウジングの最大温度である。183°Cの融点を
有するはんだ部材については、ピーク温度は通常185
°Cと195°Cとの間である。最大スロープは、°C
/sec(毎秒当りの温度変化)で測定され、歪みある
いは湾曲を防止するために許容可能なコネクタハウジン
グの温度変化を特定する。この方法による場合の多く
は、最大の上向スロープが最初は約2°C/secから
15°C/secであるのが好ましい。はんだのぬれ温
度(wetting point )に達した後は、−2°C/sec
から−15°C/secの下向スロープが好ましい。本
発明の重要な観点は、リフロー上の時間を最小とするこ
とである。リフロー上の時間は、はんだ部材がその液相
状態にある長さで測定される。はんだが液相状態にある
時間が最小のときに、凹部からコンタクトまでのウィッ
キングが排除されあるいは大きく減少することが判明し
た。180°Cと200°Cとの間の基板上で測定した
温度の上昇時間、および、200°Cと180°Cとの
間の基板上で測定した温度の降下時間は、双方とも約1
0秒から約100秒であるのが好ましい。特定の理論に
拘束されるものではないが、このような比較的短い時間
では、液体はんだ部材の表面張力は、この液体はんだを
凹部の基部におけるコンタクト受入れスロットを介して
流れるのを防止すると考えられる。しかし、このような
時間の経過の後は、液体はんだはコンタクト受入れスロ
ット介して流れ始め、コンタクトに沿って上昇する(wi
ck up )。はんだ部材をその融解温度にする前は、最初
に比較的急激なスロープとし、融解温度に達する前に温
度の上昇あるいは降下速度を遅くし、この後、融解温度
に達するまでは、比較的急激なスロープとすることが有
益である。好適なハウジング材料を選定することによ
り、改善することができる。ハウジング材料は、高いガ
ラス転移温度と、低い熱係数(thermal coefficient )
と、低い吸湿性と、高い破壊じん性と、良好な流動性お
よび低い粘度と、高温度の高い引火点との特徴を有する
全体的に芳香族液晶ポリエステル(LCP)が好まし
い。
リフロー炉の中にコンベアで通して行うのが好ましい。
はんだ部材は通常は約183°Cから約195°Cに加
熱されるが、しかし、ハウジングの材料にしたがって種
々の融解温度を有するはんだを用いることができる。炉
内に搬送するコンベアは、毎秒約10から14インチ
(約25cmから約36cm)の速度で、複数の連続的
な加熱段を通して、全体で約5分から約10分で移動す
るのが好ましい。コンベア炉(conveyor oven )内に挿
入する前、コネクタハウジングとコンタクトとはんだ部
材とが少なくとも1時間にわたって所定温度に予熱され
る。コンベア炉内では、好適なピーク温度と最大スロー
プとリフロー温度における時間とにしたがって温度分布
(temperature profile )が形成される。ピーク温度
は、ハウジングの最大温度である。183°Cの融点を
有するはんだ部材については、ピーク温度は通常185
°Cと195°Cとの間である。最大スロープは、°C
/sec(毎秒当りの温度変化)で測定され、歪みある
いは湾曲を防止するために許容可能なコネクタハウジン
グの温度変化を特定する。この方法による場合の多く
は、最大の上向スロープが最初は約2°C/secから
15°C/secであるのが好ましい。はんだのぬれ温
度(wetting point )に達した後は、−2°C/sec
から−15°C/secの下向スロープが好ましい。本
発明の重要な観点は、リフロー上の時間を最小とするこ
とである。リフロー上の時間は、はんだ部材がその液相
状態にある長さで測定される。はんだが液相状態にある
時間が最小のときに、凹部からコンタクトまでのウィッ
キングが排除されあるいは大きく減少することが判明し
た。180°Cと200°Cとの間の基板上で測定した
温度の上昇時間、および、200°Cと180°Cとの
間の基板上で測定した温度の降下時間は、双方とも約1
0秒から約100秒であるのが好ましい。特定の理論に
拘束されるものではないが、このような比較的短い時間
では、液体はんだ部材の表面張力は、この液体はんだを
凹部の基部におけるコンタクト受入れスロットを介して
流れるのを防止すると考えられる。しかし、このような
時間の経過の後は、液体はんだはコンタクト受入れスロ
ット介して流れ始め、コンタクトに沿って上昇する(wi
ck up )。はんだ部材をその融解温度にする前は、最初
に比較的急激なスロープとし、融解温度に達する前に温
度の上昇あるいは降下速度を遅くし、この後、融解温度
に達するまでは、比較的急激なスロープとすることが有
益である。好適なハウジング材料を選定することによ
り、改善することができる。ハウジング材料は、高いガ
ラス転移温度と、低い熱係数(thermal coefficient )
と、低い吸湿性と、高い破壊じん性と、良好な流動性お
よび低い粘度と、高温度の高い引火点との特徴を有する
全体的に芳香族液晶ポリエステル(LCP)が好まし
い。
【0037】本発明の方法について、以下の具体例を参
照して更に説明する。
照して更に説明する。
【0038】具体例1 図1から図18に関連して上述したコネクタプラグおよ
びレセプタクル用の絶縁ハウジングを形成した。コンタ
クトも、ほぼこの記載にしたがってハウジング内に配置
した。これらのコンタクトはベリリウム銅であり、その
全面領域を30ミクロンの厚さに金メッキした。ハウジ
ング材料はDUPONT H6130(商品名)の液晶
ポリマー(LCP)とした。プラグの長さおよび幅はそ
れぞれ52.5mm(装着ブラケットを含む)および4
2.36mmである。プラットフォーム部およびレセプ
タクルハウジングの外面上の凹部は、横寸法0.62m
m、深さ0.4mmの方形の断面形状を有する。コンタ
クトの約2mmが凹部内に延在する。他の寸法は、図1
から図18に対応してほぼ比例している。プラグおよび
レセプタクルの双方の外側部では、ニュージャージー州
ジャージー市のアルファメタルス社(Alphametals, In
c. )から市販されている一酸化窒素の少ないはんだク
リーム(no clean solder cream )であるCLEANL
INE LR725を充填されている。プラグおよびレ
セプタクルの双方が、外側部を多量の球状形状のはんだ
ボール上に転倒され、これにより、はんだボールがそれ
ぞれの凹部内にはめ込まれる。使用したはんだボール
は、ALPHAMETAL noflux 63SN/
37PBの球状はんだボールであり、0.030インチ
±0.001インチ(0.762mm±0.025m
m)の径と約0.00195gの重さとを有する。プラ
グおよびレセプタクルは、3M社(3M Corporation)か
ら市販されているはんだウィッキング防止材料であるF
LUORADで処理される。このような処理の後、プラ
グおよびレセプタクルは対流炉(convectionoven )内
で105°Cで2時間にわたって乾燥される。プラグお
よびレセプタクルは、通常の強化エポキシ材製のプリン
ト基板材料で形成され、0.061インチ(約1.55
mm)の厚さの別個の回路基板上に配置される。図9を
参照すると、プラグの外面の位置Tに、熱電対を配置さ
れる。他の熱電対が、プラグに近接する支持基板面上の
中央に配置される。プラグおよびレセプタクルの双方
は、赤外線パネル(IR)コンベアはんだリフロー炉内
で処理される。この形式の炉の場合と同様に、プラグお
よびレセプタクルはリフロー炉内の6つの帯域を通して
移動される。コンベア速度は13in/min(約毎分
33cm)である。各帯域における加熱温度は表1に示
す。プラグおよび支持基板の最低および最高温度を表2
に示す。正および負の最大スロープをそれぞれ表3に示
す。180°Cと200°Cとの間の基板上で測定した
上昇時間および降下時間を表4に示す。図26の(A)
に、時間および距離に対するプラグの温度を示し、ここ
で太い線Aは支持基板上の熱電対の温度であり、細い線
Bはプラグ外面上の熱電対の温度である。はんだリフロ
ー処理の後、プラグおよびレセプタクルを目で見て検査
したところ、ほぼ全てのはんだボールがコンタクトの凹
部内でそれぞれのリード部に融合していた。プラグおよ
びレセプタクルの外面上のはんだボールの高さも比較的
均一であった。ハウジングの歪みあるいは曲りはほとん
ど見られなかった。
びレセプタクル用の絶縁ハウジングを形成した。コンタ
クトも、ほぼこの記載にしたがってハウジング内に配置
した。これらのコンタクトはベリリウム銅であり、その
全面領域を30ミクロンの厚さに金メッキした。ハウジ
ング材料はDUPONT H6130(商品名)の液晶
ポリマー(LCP)とした。プラグの長さおよび幅はそ
れぞれ52.5mm(装着ブラケットを含む)および4
2.36mmである。プラットフォーム部およびレセプ
タクルハウジングの外面上の凹部は、横寸法0.62m
m、深さ0.4mmの方形の断面形状を有する。コンタ
クトの約2mmが凹部内に延在する。他の寸法は、図1
から図18に対応してほぼ比例している。プラグおよび
レセプタクルの双方の外側部では、ニュージャージー州
ジャージー市のアルファメタルス社(Alphametals, In
c. )から市販されている一酸化窒素の少ないはんだク
リーム(no clean solder cream )であるCLEANL
INE LR725を充填されている。プラグおよびレ
セプタクルの双方が、外側部を多量の球状形状のはんだ
ボール上に転倒され、これにより、はんだボールがそれ
ぞれの凹部内にはめ込まれる。使用したはんだボール
は、ALPHAMETAL noflux 63SN/
37PBの球状はんだボールであり、0.030インチ
±0.001インチ(0.762mm±0.025m
m)の径と約0.00195gの重さとを有する。プラ
グおよびレセプタクルは、3M社(3M Corporation)か
ら市販されているはんだウィッキング防止材料であるF
LUORADで処理される。このような処理の後、プラ
グおよびレセプタクルは対流炉(convectionoven )内
で105°Cで2時間にわたって乾燥される。プラグお
よびレセプタクルは、通常の強化エポキシ材製のプリン
ト基板材料で形成され、0.061インチ(約1.55
mm)の厚さの別個の回路基板上に配置される。図9を
参照すると、プラグの外面の位置Tに、熱電対を配置さ
れる。他の熱電対が、プラグに近接する支持基板面上の
中央に配置される。プラグおよびレセプタクルの双方
は、赤外線パネル(IR)コンベアはんだリフロー炉内
で処理される。この形式の炉の場合と同様に、プラグお
よびレセプタクルはリフロー炉内の6つの帯域を通して
移動される。コンベア速度は13in/min(約毎分
33cm)である。各帯域における加熱温度は表1に示
す。プラグおよび支持基板の最低および最高温度を表2
に示す。正および負の最大スロープをそれぞれ表3に示
す。180°Cと200°Cとの間の基板上で測定した
上昇時間および降下時間を表4に示す。図26の(A)
に、時間および距離に対するプラグの温度を示し、ここ
で太い線Aは支持基板上の熱電対の温度であり、細い線
Bはプラグ外面上の熱電対の温度である。はんだリフロ
ー処理の後、プラグおよびレセプタクルを目で見て検査
したところ、ほぼ全てのはんだボールがコンタクトの凹
部内でそれぞれのリード部に融合していた。プラグおよ
びレセプタクルの外面上のはんだボールの高さも比較的
均一であった。ハウジングの歪みあるいは曲りはほとん
ど見られなかった。
【0039】具体例2 上記の具体例1とほぼ同様な方法で他のプラグおよびレ
セプタクルを準備し、はんだボールを外側部の凹部内に
配置した。具体例1のはんだリフロー炉内での処理の数
時間後、周囲状態が僅かに異なるときに、具体例1で使
用したものとほぼ同様な他のプラグおよびレセプタクル
を、具体例1で使用したものと同様なリフロー加熱を行
った。炉の状態を表1に示す。プラグおよび近接する支
持基板の最低および最高温度は表2に示す。正および負
の最大スロープを表3に示し、180°Cと200°C
との間で測定した上昇および降下時間を表4に示す。図
26の(B)に時間および距離に対する温度を示す。図
26の(B)に示す曲線は、図26の(A)に示すもの
と僅かに異なり、この差は周囲の大気状態の差によるも
のである。このコネクタを目で検査したところ、具体例
1の場合と同様の結果が得られた。
セプタクルを準備し、はんだボールを外側部の凹部内に
配置した。具体例1のはんだリフロー炉内での処理の数
時間後、周囲状態が僅かに異なるときに、具体例1で使
用したものとほぼ同様な他のプラグおよびレセプタクル
を、具体例1で使用したものと同様なリフロー加熱を行
った。炉の状態を表1に示す。プラグおよび近接する支
持基板の最低および最高温度は表2に示す。正および負
の最大スロープを表3に示し、180°Cと200°C
との間で測定した上昇および降下時間を表4に示す。図
26の(B)に時間および距離に対する温度を示す。図
26の(B)に示す曲線は、図26の(A)に示すもの
と僅かに異なり、この差は周囲の大気状態の差によるも
のである。このコネクタを目で検査したところ、具体例
1の場合と同様の結果が得られた。
【0040】
【表1】
【表2】
【表3】
【表4】
【0041】具体例3 他のコネクタを、具体例1および2に説明したものとほ
ぼ同じ条件で形成した。但し、図26の(A)および
(B)に示す特定曲線は大気状態が異なるためある程度
相違する。このコネクタの完成の後、プラグの外面の6
か所の位置のはんだボールをミネソタ州ミネアポリスの
サイバーオプティクス社(Cyber Optics Corporation)
から市販されているレーザポイントレンジセンサ(Lase
r Point Range Sensor(PRS ))で検査した。図9を参
照すると、これらの位置は、レーザがL1 から向けられ
たときに領域27a,27bとして、レーザがL2 から
向けられたときに領域27c,27dとして、レーザが
L3 から向けられたときに領域27e,27fとして示
されている。これらの領域の全てでは、レーザプロフィ
ル(laser profile )がこれらの領域のそれぞれにおけ
る5つのはんだボールの輪郭から得られる。これらのレ
ーザプロフィルの状態を図27から図29に示す。ここ
に図27は領域27a,27bを示し、図28は領域2
7c,27dを示し、図29は領域27e,27fを示
す。それぞれ縦軸および横軸は5MIL の増分(INCREMEN
TS)の目盛りを付してある。プラグの外側部の平面内の
最高点におけるはんだボールのそれぞれの高さは、表3
に示す。それぞれのグループについて、図9に示すよう
にプラグの前部に最も近接するはんだボールは、表5の
第1位置と考えられ、図27から図29のそれぞれの
(A)および(B)に示すグラフの左のはんだボールで
ある。これらの検査結果から、5つのはんだボールから
なる各グループは、はんだボールの高さの均一性が受入
れ可能と考えられる程度であった。
ぼ同じ条件で形成した。但し、図26の(A)および
(B)に示す特定曲線は大気状態が異なるためある程度
相違する。このコネクタの完成の後、プラグの外面の6
か所の位置のはんだボールをミネソタ州ミネアポリスの
サイバーオプティクス社(Cyber Optics Corporation)
から市販されているレーザポイントレンジセンサ(Lase
r Point Range Sensor(PRS ))で検査した。図9を参
照すると、これらの位置は、レーザがL1 から向けられ
たときに領域27a,27bとして、レーザがL2 から
向けられたときに領域27c,27dとして、レーザが
L3 から向けられたときに領域27e,27fとして示
されている。これらの領域の全てでは、レーザプロフィ
ル(laser profile )がこれらの領域のそれぞれにおけ
る5つのはんだボールの輪郭から得られる。これらのレ
ーザプロフィルの状態を図27から図29に示す。ここ
に図27は領域27a,27bを示し、図28は領域2
7c,27dを示し、図29は領域27e,27fを示
す。それぞれ縦軸および横軸は5MIL の増分(INCREMEN
TS)の目盛りを付してある。プラグの外側部の平面内の
最高点におけるはんだボールのそれぞれの高さは、表3
に示す。それぞれのグループについて、図9に示すよう
にプラグの前部に最も近接するはんだボールは、表5の
第1位置と考えられ、図27から図29のそれぞれの
(A)および(B)に示すグラフの左のはんだボールで
ある。これらの検査結果から、5つのはんだボールから
なる各グループは、はんだボールの高さの均一性が受入
れ可能と考えられる程度であった。
【0042】
【表5】
【0043】具体例4 他のコネクタは、大気状態が異なるために図26の
(A)および(B)に示す特性曲線がある程度相違する
点を除き、具体例1および具体例2で説明した条件にほ
ぼしたがって形成した。ほとんど全ての場合、はんだボ
ールは満足できる態様でコンタクトリードに融合され、
はんだボールの高さは、目で見て検査したときに、プラ
グおよびレセプタクルの外面の平面内で受入れ可能な均
一性を有していた。プラグおよびレセプタクルの双方の
はんだボールと対応する(matching)パターンを有する
ステンシルを用いてはんだペーストを、0.061イン
チ(約1.55mm)の厚さを有する2つのコンタクト
なる回路基板上の導電はんだパッド上に塗布した。プラ
グは、一方の回路基板上に配置し、レセプタクルは他方
に配置した。この後、コンベア速度を11in/sec
(約28cm/秒)に減速した点を除いて、上述のはん
だボールをコンタクトに融合した条件と同様な条件下で
プラグおよびレセプタクルをコンベア炉内で再度処理す
る。冷却後、プラグおよびレセプタクルは、それぞれの
基板に満足できる程度に融合されたことが判明した。選
択したはんだボールのX線写真が図30の(A)および
(B)に示してある。断面を示す電子顕微鏡写真は、信
号コンタクトのリード部に対するはんだボールの融合、
および、プリント基板材料に対するはんだボールの融合
状態を示す。これらの電子顕微鏡写真は図31の(A)
および(B)に示してある。隣接する信号コンタクトと
の間に1の充填不良部(short )のみが存在するだけ
で、他の全ての点では、コンタクトとはんだボールとの
間、および、はんだボールと基板との間に良好な接続部
が形成されている。
(A)および(B)に示す特性曲線がある程度相違する
点を除き、具体例1および具体例2で説明した条件にほ
ぼしたがって形成した。ほとんど全ての場合、はんだボ
ールは満足できる態様でコンタクトリードに融合され、
はんだボールの高さは、目で見て検査したときに、プラ
グおよびレセプタクルの外面の平面内で受入れ可能な均
一性を有していた。プラグおよびレセプタクルの双方の
はんだボールと対応する(matching)パターンを有する
ステンシルを用いてはんだペーストを、0.061イン
チ(約1.55mm)の厚さを有する2つのコンタクト
なる回路基板上の導電はんだパッド上に塗布した。プラ
グは、一方の回路基板上に配置し、レセプタクルは他方
に配置した。この後、コンベア速度を11in/sec
(約28cm/秒)に減速した点を除いて、上述のはん
だボールをコンタクトに融合した条件と同様な条件下で
プラグおよびレセプタクルをコンベア炉内で再度処理す
る。冷却後、プラグおよびレセプタクルは、それぞれの
基板に満足できる程度に融合されたことが判明した。選
択したはんだボールのX線写真が図30の(A)および
(B)に示してある。断面を示す電子顕微鏡写真は、信
号コンタクトのリード部に対するはんだボールの融合、
および、プリント基板材料に対するはんだボールの融合
状態を示す。これらの電子顕微鏡写真は図31の(A)
および(B)に示してある。隣接する信号コンタクトと
の間に1の充填不良部(short )のみが存在するだけ
で、他の全ての点では、コンタクトとはんだボールとの
間、および、はんだボールと基板との間に良好な接続部
が形成されている。
【0044】以上、プリント基板に実装するためにボー
ルグリッドアレイ(BGA)技術を用いることが可能な
電気コネクタおよびその製造方法について記載してき
た。はんだボールの輪郭、特にはんだボールの重さ及び
/又は容積の高度の均一性が予期しなかったほどである
ことが判明した。
ルグリッドアレイ(BGA)技術を用いることが可能な
電気コネクタおよびその製造方法について記載してき
た。はんだボールの輪郭、特にはんだボールの重さ及び
/又は容積の高度の均一性が予期しなかったほどである
ことが判明した。
【0045】本発明について種々の図の好ましい実施の
態様との関連で説明してきたが、他の同様な実施の形態
も使用可能であり、本発明から逸脱することなく、本発
明と同じ機能をなすために上述の実施の形態に変更を加
え、追加することも可能なことは明らかである。更に、
上述の配置はコネクタ他、プリント基板あるいは他の電
気基板上に融合する部材を装架する絶縁材料性のハウジ
ングを備える他の部材にも使用可能である。
態様との関連で説明してきたが、他の同様な実施の形態
も使用可能であり、本発明から逸脱することなく、本発
明と同じ機能をなすために上述の実施の形態に変更を加
え、追加することも可能なことは明らかである。更に、
上述の配置はコネクタ他、プリント基板あるいは他の電
気基板上に融合する部材を装架する絶縁材料性のハウジ
ングを備える他の部材にも使用可能である。
【0046】したがって、本発明はいずれかの1の実施
の形態に限定されるものではなく、添付の請求の範囲の
にしたがう幅および範囲を含むものである。
の形態に限定されるものではなく、添付の請求の範囲の
にしたがう幅および範囲を含むものである。
【図1】本発明のコネクタの好ましい形態によるレセプ
タクルコネクタの平面図、
タクルコネクタの平面図、
【図2】図1のレセプタクルの一部を断面で示す端面
図、
図、
【図3】本発明の好ましい実施の形態のプラグ部材の平
面図、
面図、
【図4】図3に示すプラグ部材の一部を断面で示す端面
図、
図、
【図5】図1から図4に示すレセプタクルおよびプラグ
を分離した状態で示す一部を断面とした端面図、
を分離した状態で示す一部を断面とした端面図、
【図6】図5に示すレセプタクルおよびプラグを嵌合さ
せた状態の端面図、
せた状態の端面図、
【図7】図5に示すレセプタクルおよびプラグを嵌合さ
せる状態をそれぞれ(A)、(B)および(C)の3つ
の段階にしたがって示す部分断面図、
せる状態をそれぞれ(A)、(B)および(C)の3つ
の段階にしたがって示す部分断面図、
【図8】はんだボールを配置する前の図1に示すレセプ
タクルの底面図、
タクルの底面図、
【図9】はんだボールを配置した後の図8に示すレセプ
タクルの底面図、
タクルの底面図、
【図10】図1のXIIの領域の拡大図、
【図11】図4の断面で示す領域の拡大図、
【図12】図10に示す領域の拡大断面図、
【図13】図10に示す領域の拡大断面図、
【図14】本発明のレセプタクルコネクタの第2の好ま
しい実施の形態の平面図、
しい実施の形態の平面図、
【図15】図14に示すレセプタクルの端面図、
【図16】本発明のプラグコネクタの第2の好ましい実
施の形態の平面図、
施の形態の平面図、
【図17】図16に示すプラグの端面図、
【図18】図14から図17に示すレセプタクルおよび
プラグの嵌合状態の端面図、
プラグの嵌合状態の端面図、
【図19】本発明のレセプタクルコネクタの第3の好ま
しい実施の形態に使用するレセプタクルの平面図、
しい実施の形態に使用するレセプタクルの平面図、
【図20】図14に示すレセプタクルの端面図、
【図21】本発明のプラグコネクタの第3の好ましい実
施の形態によるプラグ部材の平面図、
施の形態によるプラグ部材の平面図、
【図22】図20に示すプラグ部材の端面図、
【図23】図19から図22に示すレセプタクルおよび
プラグの嵌合状態の端面図、
プラグの嵌合状態の端面図、
【図24】本発明によるコネクタの他の実施の形態を概
略的に示し、(A)はその一部の断面図、(B)は
(A)よりも凹部を深く形成した変形例の一部の概略的
な断面図、
略的に示し、(A)はその一部の断面図、(B)は
(A)よりも凹部を深く形成した変形例の一部の概略的
な断面図、
【図25】図24に示すコネクタのレセプタクルとプラ
グとを分離した状態で示す概略的な前部断面図、
グとを分離した状態で示す概略的な前部断面図、
【図26】本発明による方法の具体例1および具体例2
におけるはんだリフロー中の時間および距離に対する温
度の関係を示すグラフ図、
におけるはんだリフロー中の時間および距離に対する温
度の関係を示すグラフ図、
【図27】本発明の方法の具体例3におけるレーザによ
る輪郭線を示し、(A)および(B)は図9の領域27
a,27bのグラフ図、
る輪郭線を示し、(A)および(B)は図9の領域27
a,27bのグラフ図、
【図28】図27と同様な輪郭線を示し、(A)および
(B)は図9の領域27c,27dのグラフ図、
(B)は図9の領域27c,27dのグラフ図、
【図29】図27と同様な輪郭線を示し、(A)および
(B)は図9の領域27e,27fのグラフ図、
(B)は図9の領域27e,27fのグラフ図、
【図30】本発明の方法の具体例4による製品のX線写
真による状態を示す図、
真による状態を示す図、
【図31】本発明の方法の具体例4による製品の電子顕
微鏡写真による状態を示す図、
微鏡写真による状態を示す図、
【図32】接地およびパワーコンタクトを省略した状態
の絶縁ハウジングの図10と同様な図、
の絶縁ハウジングの図10と同様な図、
【図33】ハウジング内に信号コンタクトを固定する状
態を示す断面図、
態を示す断面図、
【図34】本発明による好ましい実施の形態の絶縁ハウ
ジングと同様なハウジング内に形成される応力状態をコ
ンピュータ画面で示すグラフ図、
ジングと同様なハウジング内に形成される応力状態をコ
ンピュータ画面で示すグラフ図、
【図35】図32に示す絶縁ハウジングのリブの変形
(圧縮)量とコンタクトに作用する垂直方向の保持力と
の関係を概略的に示すグラフ図、
(圧縮)量とコンタクトに作用する垂直方向の保持力と
の関係を概略的に示すグラフ図、
【図36】本発明のコネクタの好ましい実施の形態に使
用するレセプタクル用信号コンタクトの概略的な前部立
面図、
用するレセプタクル用信号コンタクトの概略的な前部立
面図、
【図37】本発明のコネクタの好ましい実施の形態に使
用するプラグ用信号コンタクトの概略的な前部立面図、
用するプラグ用信号コンタクトの概略的な前部立面図、
【図38】本発明のコネクタの好ましい実施の形態に使
用するレセプタクル用接地/パワーコンタクトをキャリ
ヤストリップと共に示す前部立面図、
用するレセプタクル用接地/パワーコンタクトをキャリ
ヤストリップと共に示す前部立面図、
【図39】本発明のコネクタの好ましい実施の形態に使
用するプラグ用接地/パワーコンタクトをキャリヤスト
リップと共に示す前部立面図。
用するプラグ用接地/パワーコンタクトをキャリヤスト
リップと共に示す前部立面図。
10…レセプタクル、12…基部部材、14,50,5
4,60…基部壁、16…外側部、18…内側部、2
0,22,24,26,28…外側凹部、30,32,
34,36,38…コンタクト収容凹部、40,42,
44,46,48…スロット、52,56,58,6
2,64…側壁、66…上側部、76…導入部、78…
中間部、80…下側部、82,100,190,200
…はんだボール、84…上側部、90…リブ、92…中
間部、98…下側部、102,110,112,11
4,128,130,132…ラッチ構造、104…タ
ブ、116…上側部、118…頂壁、120…周側壁、
124…側壁凹部、126…ラッチ、134,136…
装着ブラケット、150…プラグ、152…基部壁、1
54…周側壁、156,158…間隙、160…開口側
部、162,164…装着ブラケット、170,174
…信号コンタクト収容凹部、172,176…パワー/
接地コンタクト収容凹部、178,180…中間スロッ
ト、182…パワー/接地コンタクト、184…内側
部、186…中間部、188…外側部、192…信号コ
ンタクト、198…タブ、202,204…プリント基
板。
4,60…基部壁、16…外側部、18…内側部、2
0,22,24,26,28…外側凹部、30,32,
34,36,38…コンタクト収容凹部、40,42,
44,46,48…スロット、52,56,58,6
2,64…側壁、66…上側部、76…導入部、78…
中間部、80…下側部、82,100,190,200
…はんだボール、84…上側部、90…リブ、92…中
間部、98…下側部、102,110,112,11
4,128,130,132…ラッチ構造、104…タ
ブ、116…上側部、118…頂壁、120…周側壁、
124…側壁凹部、126…ラッチ、134,136…
装着ブラケット、150…プラグ、152…基部壁、1
54…周側壁、156,158…間隙、160…開口側
部、162,164…装着ブラケット、170,174
…信号コンタクト収容凹部、172,176…パワー/
接地コンタクト収容凹部、178,180…中間スロッ
ト、182…パワー/接地コンタクト、184…内側
部、186…中間部、188…外側部、192…信号コ
ンタクト、198…タブ、202,204…プリント基
板。
フロントページの続き (31)優先権主張番号 778398 (32)優先日 1996年12月31日 (33)優先権主張国 米国(US) (31)優先権主張番号 777806 (32)優先日 1996年12月31日 (33)優先権主張国 米国(US) (72)発明者 ティモシー・ダブリュ・ホウツ アメリカ合衆国、ペンシルバニア州 17319、エッタース、バレー・グリーン・ ロード 1905
Claims (17)
- 【請求項1】 導電性部材を有する基板上に装着可能な
電気コネクタであって、 前記導電性部材に電気的に接続可能な接続部を有するコ
ンタクトと、 この接続部に配置されたリフロー可能な導電性材料から
形成されたボディ部とを備え、このボディ部は、コネク
タと基板との間に主電路を形成可能である、 電気コネクタ。 - 【請求項2】 導電性部材を有する基板上に装着可能な
電気コネクタであって、 基板に対向可能な外側部を有する絶縁ハウジングと、 前記導電性部材に電気的に接続可能な接続部を有するコ
ンタクトと、 前記ハウジングの外側部の近接で、接続部に配置された
リフロー可能な導電性材料から形成されたボディ部と、 を備える電気コネクタ。 - 【請求項3】 基部壁が内側部と外側部とこの外側部に
設けられた複数の凹部とを有する絶縁ハウジングと、そ
れぞれが前記基部壁の内側部から前記凹部の1に延びる
複数のコンタクト収容スロットと、これらのスロットの
それぞれに配置されるコンタクトと、リフロー可能な導
電性材料から形成された複数のボディ部とを備え、それ
ぞれのボディ部は凹部を設けられ、この凹部に配置され
て前記コンタクトに融合される部分を有する、 電気コネクタ。 - 【請求項4】 コンタクト支持側と装着側とを有する絶
縁部材と、 この絶縁部材に装着され、この絶縁部材のコンタクト支
持側に配置された接触部と、絶縁部材の少なくとも一部
を貫通して延びる固定部を設けられた装着部とを有する
電気ターミナルと、 固定部から絶縁ボディの装着側の外面に延びる導電性の
熱溶融可能部と、 を備える電気コネクタ。 - 【請求項5】 回路基板上に表面実装可能な電気素子で
あって、 絶縁材料から形成され、回路基板に対向した関係で配置
可能な装着面と、この装着面に向けて内部に延びる開口
とを有するボディ部と、 このボディ部に装着される導電性部材とを備え、この導
電性部材は、開口内を装着面に向けて延びる端子部と、
この端子部から装着面に向けて延び、回路基板とこの導
電性部材との電気的な連続性を確率する固定部とを有
し、この固定部は熱溶融可能部を含む、電気素子。 - 【請求項6】 基板上に装着するための装着用インター
フェースと、相手方コネクタのコンタクトと係合して電
気接触する係合用インターフェースと、 絶縁ボディに装着された複数のコンタクトと、 コンタクトのそれぞれに固定され、コンタクトから装着
用インターフェースに向けて延びるリフロー可能部材
と、 を備える電気コネクタ。 - 【請求項7】 相手方コネクタと係合する係合用インタ
ーフェースと導電性部材を含む基板上に装着するための
装着用インターフェースとを有する絶縁ハウジングと、 このハウジングに装着され、それぞれが相手方コネクタ
のコンタクトに係合可能な係合部と、基板上の導電性部
材に固定可能な結合部とを有する複数のコンタクトと、 それぞれが前記コンタクトの1の結合部に固定される複
数のはんだボールと、 を備える電気コネクタ。 - 【請求項8】 絶縁基部と、 この基部に装着される複数のコンタクトと、 それぞれがコンタクトの少なくとも1に固定され、コネ
クタを基板上に装着するための装着用インターフェース
を形成する複数のはんだボールと、 を備える電気コネクタ。 - 【請求項9】 絶縁基部と、 この基部に装着される複数のコンタクトと、 基板係合面を有する複数の導電性部材とを備え、それぞ
れの導電性部材が少なくとも1のコンタクトに固定さ
れ、基板係合面が基板上に装着するための装着用インタ
ーフェースを形成する、 電気コネクタ。 - 【請求項10】 外側部と内側部とを形成する基部を有
する電気コネクタ上に、外側導電性コンタクトを配置す
るための方法であって、 基部の外側に少なくとも1の凹部を設け、 導電体部材の内側の近部から基部の外側の凹部まで延び
る導電コンタクトを設け、 導電性部材の少なくとも一部を、基部の外側に設けた凹
部内に配置し、 導電性部材を凹部に配置しつつ、コンタクト上に導電性
部材を固定する、 工程を備える方法。 - 【請求項11】 コンタクト端子を絶縁部材の1の面に
装着して、このコンタクト端子の一部を絶縁部材の第2
の面に向けてこの絶縁部材内で延設し、 溶融可能な導電性ボディを、第2の面に向けて延びる端
子の部分に固定する、方法。 - 【請求項12】 外側部と内側部とを持つ基部を有する
電気コネクタであって、 基部の外側部に少なくとも1の凹部を設け、 導電体部材の内側の近部から基部の外側部の凹部に延び
る導電性コンタクトを設け、 基部の外側部に設けられた凹部内に、その少なくとも一
部を配置して導電性部材を位置決めし、 導電性部材を凹部に配置しつつ、コンタクト上に導電性
部材を固定する、工程を備える方法で形成される電気コ
ネクタ。 - 【請求項13】 コンタクト端子を絶縁部材の1の面に
装着して、このコンタクト端子の一部を絶縁部材の第2
の面に向けてこの絶縁部材内で延設し、 溶融可能な導電性ボディを、第2の面に向けて延びる端
子の部分に固定する、電気コネクタの製造方法。 - 【請求項14】 コンタクト端子を絶縁部材の1の面に
装着して、このコンタクト端子の一部を絶縁部材の第2
の面に向けてこの絶縁部材内で延設し、 ほぼ球状の導電性部材を、第2の面に向けて延びる端子
の一部に固定する、 電気コネクタの製造方法。 - 【請求項15】 コネクタボディと、 コネクタボディに装着可能なコンタクトの一部を収容す
る少なくとも1のコンタクト収容開口とを備え、この開
口は側壁部を有し、更に、 この側壁部に近接配置され、開口内に挿入されたコンタ
クトにより変形可能で、このコンタクトを開口内に固定
する可変形部材と、 を備える電気コネクタ。 - 【請求項16】 電気コネクタのハウジング内にコンタ
クトを挿入することによりこのハウジング内に形成され
る応力を最小にするための方法であって、 複数のコンタクト収容開口をハウジングに設け、 これらの開口内にコンタクトを挿入し、 コンタクトを挿入した状態に維持しつつ開口内に可変形
構造体を係合し、 コンタクトの挿入で形成されるハウジングの応力を、可
変形部材に近接する開口の領域にほぼ局地化する、 工程を備える方法。 - 【請求項17】 電気コネクタ用コンタクトであって、 中間部と、 中間部から延びるコンタクト係合部とを備え、このコン
タクト係合部は相手方コンタクトに係合可能であり、更
に、 中間部から延び、その上に溶融されるはんだを受入れ可
能なはんだターミナル部を備え、 前記中間部は、このターミナル部から係合部へのはんだ
のウィッキングを防止するコーティングを有し、このコ
ーティングはニッケル層を有する、 コンタクト。
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