JPH10242651A - 多層配線基板 - Google Patents

多層配線基板

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JPH10242651A
JPH10242651A JP9043677A JP4367797A JPH10242651A JP H10242651 A JPH10242651 A JP H10242651A JP 9043677 A JP9043677 A JP 9043677A JP 4367797 A JP4367797 A JP 4367797A JP H10242651 A JPH10242651 A JP H10242651A
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layer
resin insulating
hole
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健士 久米
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Abstract

(57)【要約】 【課題】配線導体が高密度に形成することができず、ま
た全体の形状が大型化する。 【解決手段】基板1上に、有機樹脂絶縁層3a、3b、
3cと薄膜配線導体層4a、4b、4cとを交互に多層
に配設するとともに上下に位置する薄膜配線導体層4
a、4b、4cを各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cに
設けたスルーホール導体9を介して接続してなる多層配
線基板であって、前記有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
の少なくとも1層に穴部Hを設け、該穴部H内に誘電体
磁器10を挿入させるととも誘電体磁器10の上下面に
有機樹脂層11を介して薄膜配線導体層4a、4bの一
部を対向配置させた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は多層配線基板に関
し、より詳細には混成集積回路装置や半導体素子を収容
する半導体素子収納用パッケージ等に使用される多層配
線基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子等の能動部品や容量素
子、抵抗器等の自動部品を多数搭載し、所定の電子回路
を構成するようになした混成集積回路装置は、通常、絶
縁基板の内部及び表面にタングステン、モリブデン等の
高融点金属粉末から成る配線導体を形成した構造の配線
基板を準備し、次に前記配線基板の表面に半導体素子や
容量素子、抵抗器等を搭載取着するとともに該半導体素
子等の電極を前記配線導体に接続することによって混成
集積回路装置となる。
【0003】かかる従来の混成集積回路装置等に使用さ
れる配線基板は一般にセラミックスの積層技術及びスク
リーン印刷法等の厚膜技術を採用することによって製作
されており、具体的には以下の方法によって製作されて
いる。
【0004】即ち、 (1)まず、アルミナ等の電気絶縁性に優れたセラミッ
ク原料粉末に有機溶剤、溶媒を添加混合して複数枚のセ
ラミック生シートを得るとともに該各セラミック生シー
トの上下面にタングステン、モリブデン等の高融点金属
粉末から成る導電ペーストを従来周知のスクリーン印刷
法等の厚膜技術を採用することによって所定パターンに
印刷塗布する。
【0005】(2)次に前記各セラミック生シートを積
層し、積層体を得るとともにこれを約1500℃の温度
で焼成し、内部及び表面にタングステン、モリブデン等
の高融点金属粉末から成る配線導体を有する絶縁基板を
得る。
【0006】(3)そして最後に、前記配線導体のう
ち、大気中に露出する表面にニッケル及び金等の耐蝕性
に優れ、良導電性で、半田等のロウ材と濡れ性(反応
性)の良い金属をめっき法により被着させ、これによっ
て製品としての配線基板が完成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の配線基板においては、配線導体がタングステンやモ
リブデン等の高融点金属粉末から成る導電ペーストをス
クリーン印刷法等の厚膜技術を採用し、所定パターンに
印刷塗布することによって形成されており、配線導体の
微細化が困難で配線導体を高密度に形成することができ
ないという欠点を有していた。
【0008】またこの従来の配線基板は表面に半導体素
子等の能動部品や容量素子、抵抗器等の受動部品が多数
搭載され、部品の搭載数に応じて大型化してしまうとい
う欠点も有していた。
【0009】本発明は上述の欠点に鑑み案出されたもの
で、その目的は配線導体を薄膜技術により形成される薄
膜配線導体とすることによって配線を高密度とし、かつ
内部に容量素子を内蔵することによって混成集積回路装
置等としたとき装置を小型となすことができる多層配線
基板を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、基板上に、有
機樹脂絶縁層と薄膜配線導体層とを交互に多層に配設す
るとともに上下に位置する薄膜配線導体層を各有機樹脂
絶縁層に設けたスルーホール導体を介して接続してなる
多層配線基板であって、前記有機樹脂絶縁層の少なくと
も1層に穴部を設け、該穴部内に誘電体磁器を挿入させ
るととも誘電体磁器の上下面に有機樹脂層を介して薄膜
配線導体層の一部を対向配置させたことを特徴とするも
のである。
【0011】また本発明は、前記有機樹脂層の厚みが2
μm乃至40μmであることを特徴とするものである。
【0012】更に本発明は、前記有機樹脂層に、酸化珪
素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、チタン酸化
合物、ジルコン酸化合物の少なくとも1種から成る粉末
を10重量%乃至95重量%含有させたことを特徴とす
るものである。
【0013】本発明の多層配線基板によれば、配線導体
を薄膜技術によって形成したことから配線導体の微細化
が可能となり、配線導体を極めて高密度に形成すること
が可能となる。
【0014】また本発明の多層配線基板によれば、有機
樹脂絶縁層に穴部を設け、該穴部内に誘電体磁器を挿入
させるとともに誘電体磁器の上下面に薄膜配線導体層の
一部を対向配置させたことから、誘電体磁器の比誘電
率、厚み、幅、長さを調整することによって所定の静電
容量値を有する容量素子を任意数内蔵させることがで
き、多層配線基板に半導体素子や容量素子、抵抗器等の
部品を搭載して混成集積回路装置となす場合、多層配線
基板に別途容量素子を多数実装する必要はなく、その結
果、多層配線基板に実装される部品の数が減り、混成集
積回路装置等を小型となすこともできる。
【0015】更に本発明の多層配線基板によれば、誘電
体磁器の上下面と薄膜配線導体層との間に有機樹脂層を
介在させたことから有機樹脂層によって誘電体磁器と薄
膜配線導体層との接合が強固となり、薄膜配線導体層の
所定位置に所定静電容量値の容量素子を高い信頼性で電
気的接続することが可能となるとともに有機樹脂絶縁層
に設けた穴が誘電体磁器と有機樹脂層とによって完全に
埋められ、上部に位置する有機樹脂絶縁層を平坦として
薄膜配線導体層を断線等を招来することなく所定パター
ンに形成することが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】次に本発明を添付図面に基づき詳
細に説明する。図1及び図2は、本発明の多層配線基板
の一実施例を示し、1は基板、2は多層配線部である。
【0017】前記基板1はその上面に3つの有機樹脂絶
縁層3a、3b、3cと3つの薄膜配線導体層4a、4
b、4cを交互に多層に配設して成る多層配線部2が形
成されており、該多層配線部2を支持する支持部材とし
て作用する。
【0018】前記基板1は酸化アルミニウム質焼結体や
ムライト質焼結体等の酸化物系セラミックス、或いは表
面に酸化物膜を有する窒化アルミニウム質焼結体や炭化
珪素質焼結体等の非酸化物系セラミックス、更にはガラ
ス繊維を織り込んだ布にエポキシ樹脂やビスマレイミド
トリアジン樹脂を含浸させたガラスエポキシ樹脂基板や
ビスマレイミドトリアジン基板等の電気絶縁材料で形成
されており、例えば、酸化アルミニウム質焼結体で形成
されている場合には、アルミナ、シリカ、カルシア、マ
グネシア等の原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混
合して泥漿状となすとともにこれを従来周知のドクター
ブレード法やカレンダーロール法を採用することによっ
てセラミックグリーンシート(セラミック生シート)を
形成し、しかる後、前記セラミックグリーンシートに適
当な打ち抜き加工を施し、所定形状となすとともに高温
(約1600℃)で焼成することによって、或いはアル
ミナ等の原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混合し
て原料粉末を調整するとともに該原料粉末をプレス成形
機によって所定形状に成形し、最後に前記成形体を約1
600℃の温度で焼成することによって製作され、また
ガラスエポキシ樹脂基板やビスマレイミドトリアジン基
板等で形成されている場合は、ガラス繊維を織り込んだ
布にエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂の前
駆体を含浸させたものを複数枚積層し、しかる後、前記
エポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂の前駆体
を所定の温度(100℃〜200℃)で熱硬化させるこ
とによって製作される。
【0019】また前記基板1には上下両主面に貫通する
孔径が例えば、直径300μm〜500μmの貫通孔5
が形成されており、該貫通孔5の内壁には両端が基板1
の上下両面に導出する導電層6が被着されている。
【0020】前記貫通孔5は後述する基板1の上面に形
成される多層配線部2の薄膜配線導体層4aと外部電気
回路とを電気的に接続する、或いは基板1の上下両主面
に多層配線部2を配設した場合には両主面の多層配線部
2の薄膜配線導体層同士を電気的に接続する導電層6を
形成するための形成孔として作用し、基板1にドリル孔
あけ加工法を施すことによって基板1の所定位置に所定
形状に形成される。
【0021】更に前記貫通孔5の内壁及び基板1の上下
両面に被着形成されている導電層6は例えば、銅やニッ
ケル等の金属材料から成り、従来周知のめっき法及びエ
ッチング法を採用することによって貫通孔5の内壁に両
端を基板1の上下両面に導出させた状態で被着形成され
る。
【0022】前記導電層6は基板1の主面に配設される
多層配線部2の薄膜配線導体層3aを外部電気回路に電
気的に接続したり、基板1の上下両主面に配設される各
々の多層配線部2の薄膜配線導体層同士を電気的に接続
する作用をなす。
【0023】また前記基板1に形成した貫通孔5はその
内部にエポキシ樹脂から成る有機樹脂充填体7が充填さ
れており、該有機樹脂充填体7によって貫通孔5が完全
に埋められ、同時に有機樹脂充填体7の両端面が基板1
の上下両主面に被着させた導電層6の面と同一平面とな
っている。
【0024】前記有機樹脂充填体7は基板1の上面及び
/又は下面に後述する複数の有機樹脂絶縁層3a、3
b、3cと複数の薄膜配線導体層4a、4b、4cとか
ら成る多層配線部2を形成する際、多層配線部2の各有
機樹脂絶縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導体層4
a、4b、4cの平坦化を維持する作用をなす。
【0025】なお、前記有機樹脂充填体7は基板1の貫
通孔5内にエポキシ樹脂の前駆体を充填し、しかる後、
これに80℃〜200℃の温度を0.5〜3時間印加
し、完全に熱硬化させることによって基板1の貫通孔5
内に充填される。
【0026】更に前記基板1はその上面に3つの有機樹
脂絶縁層3a、3b、3cと3つの薄膜配線導体層4
a、4b、4cとが交互に多層に配設された多層配線部
2が形成されており、かつ薄膜配線導体層4aは導電層
6と電気的に接続されている。
【0027】前記多層配線部2を構成する有機樹脂絶縁
層3a、3b、3cは上下に位置する薄膜配線導体層4
a、4b、4cの電気的絶縁を図る作用をなし、各薄膜
配線導体層4a、4b、4cは電気信号を伝達するため
の伝達路として作用する。
【0028】前記多層配線部2の各有機樹脂絶縁層3
a、3b、3cは、エポキシ樹脂、ビスマレイミドポリ
アジド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ふっ素樹脂
等の有機樹脂から成り、例えば、エポキシ樹脂から成る
場合、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ノボラック型
エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂等に
アミン系硬化剤、イミダゾール系硬化剤、酸無水物系硬
化剤等の硬化剤を添加混合してペースト状のエポキシ樹
脂前駆体を得るとともに該エポキシ樹脂前駆体を基板1
の上部にスピンコート法により被着させ、しかる後、こ
れを80〜200℃の熱で0.5〜3時間熱処理し、熱
硬化させることによって形成される。
【0029】また前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3
cはその各々の所定位置に最小径が有機樹脂絶縁層2の
厚みに対して約1.5倍程度のスルーホール8が形成さ
れており、該スルーホール8は後述する有機樹脂絶縁層
2を介して上下に位置する薄膜配線導体層3の各々を電
気的に接続するスルーホール導体9を形成するための形
成孔として作用する。
【0030】前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cに
設けるスルーホール8は例えば、フォトリソグラフィー
技術、具体的には各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c上
にレジスト材を塗布するとともにこれに露光、現像を施
すことによって所定位置に所定形状の窓部を形成し、次
に前記レジスト材の窓部にエッチング液を配し、レジス
ト材の窓部に位置する有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
を除去して、有機樹脂絶縁層3a、3b、3cに穴(ス
ルーホール)を形成し、最後に前記レジスト材を有機樹
脂絶縁層3a、3b、3c上より剥離させ除去すること
によって行われる。
【0031】更に前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3
cの各々の上面には所定パターンの薄膜配線導体層4
a、4b、4cが、また各有機樹脂絶縁層3a、3b、
3cに設けたスルーホール8の内壁にはスルーホール導
体9が各々配設されており、スルーホール導体9によっ
て有機樹脂絶縁層3a、3b、3cを間に挟んで上下に
位置する各薄膜配線導体層4a、4b、4cが電気的に
接続されるようになっている。
【0032】前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cの
上面及びスルーホール8の内壁に配設される薄膜配線導
体層4a、4b、4c及びスルーホール導体9は銅、ニ
ッケル、金、アルミニウム等の金属材料を無電解めっき
法や蒸着法、スパッタリング法等の薄膜技術及びフォト
リソグラフィー技術を採用することによって形成され、
例えば、銅で形成されている場合には、有機樹脂絶縁層
3a、3b、3cの上面及びスルーホール8の内表面
に、硫酸銅0.06モル/リットル、ホルマリン0.3
モル/リットル、水酸化ナトリウム0.35モル/リッ
トル、エチレンジアミン四酢酸0.35モル/リットル
から成る無電解銅めっき浴を用いて厚さ1μm乃至40
μmの銅層を被着させ、しかる後、前記銅層をフォトリ
ソグラフィー技術により所定パターンに加工することに
よって各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c間、及びスル
ーホール8内壁に配設される。この場合、薄膜配線導体
層4a、4b、4c及びスルーホール導体9は薄膜技術
により形成されることから配線の微細化が可能であり、
これによって薄膜配線導体層4a、4b、4cを極めて
高密度に形成することが可能となる。
【0033】なお、前記多層配線部2は各有機樹脂絶縁
層3a、3b、3cの厚みが100μmを越えると各有
機樹脂絶縁層3a、3b、3cにフォトリソグラフィー
技術を採用することによってスルーホール8を形成する
際、エッチングの加工時間が長くなってスルーホール8
を所望する鮮明な形状に形成するのが困難となり、また
5μm未満となると各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
の上面に上下に位置する有機樹脂絶縁層の接合強度を上
げるための粗面加工を施す際、各有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cに不要な穴が形成され上下に位置する薄膜配
線導体層4a、4b、4cに不要な電気的短絡を招来し
てしまう危険性がある。従って、前記有機樹脂絶縁層3
a、3b、3cはその各々の厚みを5μm〜100μm
の範囲としておくことが好ましい。
【0034】また前記多層配線部2の各薄膜配線導体層
4a、4b、4cはその厚みが1μm未満となると各薄
膜配線導体層4a、4b、4cの電気抵抗値が大きなも
のとなって各薄膜配線導体層4a、4b、4cに所定の
電気信号を伝達させることが困難となり、また40μm
を越えると薄膜配線導体層4a、4b、4cを有機樹脂
絶縁層3a、3b、3cに被着させる際に薄膜配線導体
層4a、4b、4cの内部に大きな応力が内在し、該大
きな内在応力によって薄膜配線導体層4a、4b、4c
が有機樹脂絶縁層3a、3b、3cから剥離し易いもの
となる。従って、前記多層配線部2の各薄膜配線導体層
4a、4b、4cの厚みは1μm〜40μmの範囲とし
ておくことが好ましい。
【0035】更に前記有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
と薄膜配線導体層4a、4b、4cとで形成形成される
多層配線部2はその有機樹脂絶縁層3bに穴部Hが設け
られているとともに該穴部H内に誘電体磁器10が挿入
されており、該誘電体磁器10をその上下両面に配設さ
れている薄膜配線導体層4a、4bの一部で対向挟持す
ることによって容量素子Aが形成され、該容量素子Aは
薄膜配線導体層4a、4bに電気的に接続されている。
【0036】前記有機樹脂絶縁層3bに形成されている
穴部Hは誘電体磁器10を収容するための空所として作
用し、有機樹脂絶縁層3bにスルーホール8を形成する
のと同様の方法、具体的には有機樹脂絶縁層3b上にレ
ジスト材を塗布するとともにこれに露光、現像を施すこ
とによって所定位置に所定形状の窓部を形成し、次に前
記レジスト材の窓部にエッチング液を配し、レジスト材
の窓部に位置する有機樹脂絶縁層3bを除去して、有機
樹脂絶縁層3bに穴部Hを形成し、最後に前記レジスト
材を有機樹脂絶縁層3b上より剥離させ除去することに
よって行われる。
【0037】また前記有機樹脂絶縁層3bの穴部H内に
挿入される誘電体磁器10はチタン酸バリウムやチタン
酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグ
ネシウム等の比誘電率が高い磁器から成り、例えば、チ
タン酸バリウムから成る場合、炭酸パリウム、酸化チタ
ン、チタン酸マグネシウム等の原料粉末を仮焼、反応さ
せてチタン酸バリウムを得、次にこれを微粉に粉砕する
とともに適当な有機溶剤、溶媒を添加混合して泥漿物と
なし、最後に前記泥漿物をドクターブレード法やカレン
ダーロール法等によりグリーンシートとなすとともにこ
れを高温で焼成することによって製作される。
【0038】前記有機樹脂絶縁層3bの穴部H内に挿入
された誘電体磁器10の上下両面を薄膜配線導体層4
a、4bの一部で対向挟持して成る容量素子Aはその静
電容量値が誘電体磁器10の比誘電率、誘電体磁器10
の厚み及び誘電体磁器10を挟んでの薄膜配線導体層4
a、4bの対向面積によって決定され、誘電体磁器10
の比誘電率や誘電体磁器10の厚み等を調整することに
よって所定の静電容量値が得られる。
【0039】また前記容量素子Aは基板1上に設けた多
層配線部2の内部に内蔵されており、そのためこの多層
配線基板に半導体素子や容量素子、抵抗器等の部品を搭
載して混成集積回路装置等となす場合、多層配線基板に
別途、容量素子を多数搭載実装する必要はなく、その結
果、多層配線基板に実装される部品の数が減り、混成集
積回路装置等を小型となすことが可能となる。
【0040】更に前記誘電体磁器10の上下両面を薄膜
配線導体層4a、4bの一部で対向挟持して成る容量素
子Aは図2に示す如く、誘電体磁器10の上下面と薄膜
配線導体層4a、4bとの間に有機樹脂層11が配され
ている。
【0041】前記有機樹脂層11は誘電体磁器10の上
下面に薄膜配線導体層4a、4bを強固に接合させると
ともに有機樹脂絶縁層3bに設けた穴部Hを誘電体磁器
10とで完全に埋める作用をなし、これによって薄膜配
線導体層4a、4bの所定位置に所定静電容量値の容量
素子Aを高い信頼性で電気的接続することが可能となる
とともに有機樹脂絶縁層3bの上部に位置する有機樹脂
絶縁層3cを平坦として薄膜配線導体層4b、4c等を
断線等を招来することなく所定パターンに形成すること
が可能となる。
【0042】前記有機樹脂層11は有機樹脂絶縁層3b
と同質の材料、具体的にはエポキシ樹脂、ビスマレイミ
ドポリアジド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ふっ
素樹脂等の有機樹脂から成り、例えば、エポキシ樹脂か
ら成る場合、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ノボラ
ック型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹
脂等にアミン系硬化剤、イミダゾール系硬化剤、酸無水
物系硬化剤等の硬化剤を添加混合してペースト状のエポ
キシ樹脂前駆体を得るとともに該エポキシ樹脂前駆体を
有機樹脂絶縁層3bの穴部H内に充填し、次に有機樹脂
絶縁層3bの穴部H内に誘電体磁器10を挿入させると
ともに該誘電体磁器10の上部に再度、前記エポキシ樹
脂前駆体を適量充填させ、最後に前記エポキシ樹脂前駆
体を80〜200℃の温度で熱処理し、熱硬化させるこ
とによって誘電体磁器10の上下面と薄膜配線導体層4
a、4bとの間に配される。
【0043】また前記有機樹脂層11はその厚みが2μ
m乃至40μmとなっており、厚みが2μm未満である
と誘電体磁器10の上下面と薄膜配線導体層4a、4b
との接合が弱くなる傾向にあり、また40μmを超える
と薄膜配線導体層4a、4b間に接続される容量素子A
の静電容量値が小さくなり、大きな静電容量値の容量素
子Aを内蔵することが困難となる危険性がある。従っ
て、前記有機樹脂層11はその厚みを2μm乃至40μ
mの範囲としておくことが好ましい。
【0044】更に前記有機樹脂層11はその内部に酸化
珪素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、チタン酸
化合物、ジルコン酸化合物の少なくとも1種から成る粉
末を10重量%乃至95重量%含有させておくと、有機
樹脂層11の表面に微小な凹凸が多量に形成されて薄膜
配線導体層4a、4bと有機樹脂層11との接合面積が
増大し、これによって両者の接合強度を大幅に向上させ
ることができるとともに有機樹脂層11の熱膨張係数を
調整し、熱が印加された際に有機樹脂層11が穴部Hよ
り膨張突出しその上下に位置する薄膜配線導体層4a、
4bを押圧して薄膜配線導体層4a、4bに断線等を招
来させるのが有効に防止できる。従って、前記有機樹脂
層11はその内部に酸化珪素、酸化アルミニウム、窒化
アルミニウム、チタン酸化合物、ジルコン酸化合物の少
なくとも1種から成る粉末を添加混合させておくことが
好ましい。
【0045】また更に前記有機樹脂層11の内部に酸化
珪素や酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、チタン酸
化合物、ジルコン酸化合物等から成る粉末を添加混合さ
せておく場合、その添加量が10重量%未満であると有
機樹脂層11の熱膨張係数を充分に調整することができ
ず、熱の印加によって有機樹脂層11の一部が穴部Hの
上下側に膨張突出し、薄膜配線導体層4a、4bに断線
等を招来させてしまう危険性があり、また95重量%を
越えると有機樹脂層11の強度が劣化してしまう危険性
がある。従って、前記有機樹脂層11の内部に酸化珪素
や酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、チタン酸化合
物、ジルコン酸化合物等から成る粉末を添加混合させて
おく場合、粉末の添加量は10重量%乃至95重量%の
範囲が好ましい。
【0046】かくして上述の多層配線基板によれば、最
上層の有機樹脂絶縁層2上面に設けたボンディングパッ
ド10に半導体素子や容量素子等の電子部品Aの電極を
熱圧着等により接続させ、電子部品Aの電極をボンディ
ングパッド10を介して薄膜配線導体層3に電気的に接
続させることによって半導体装置や混成集積回路装置と
なり、薄膜配線導体層3の一部を外部電気回路に接続す
れば前記電子部品Aが外部電気回路に接続されることと
なる。
【0047】なお、本発明は上述の実施例に限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば
種々の変更は可能であり、例えば上述の実施例において
は基板1の上面側のみに複数の有機樹脂絶縁層3a、3
b、3cと複数の薄膜配線導体層4a、4b、4cとを
交互に積層して形成される多層配線部2を被着させた
が、該多層配線部2を基板1の下面側のみに設けても、
上下の両主面に設けてもよい。
【0048】また上述の実施例において、有機樹脂絶縁
層3a、3b、3cと薄膜配線導体層4a、4b、4c
とを交互に多層に配設して形成される多層配線部2は各
有機樹脂絶縁層3a、3b、3cの上面を中心線平均粗
さ(Ra)で0.05μm≦Ra≦5μmの粗面として
おくと有機樹脂絶縁層3a、3b、3cと薄膜配線導体
層4a、4b、4cとの接合及び上下に位置する有機樹
脂絶縁層3a、3b、3c同士の接合を強固となすこと
ができる。従って、前記多層配線部2の各有機樹脂絶縁
層3a、3b、3cはその上面をエッチング加工法等に
よって粗し、中心線平均粗さ(Ra)で0.05μm≦
Ra≦5μmの粗面としておくことが好ましい。
【0049】更に前記有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
はその表面の2.5mmの長さにおける凹凸の高さ(P
c)のカウント値を、1μm≦Pc≦10μmが500
個以上、0.1μm≦Pc≦1μmが2500個以上、
0.01μm≦Pc≦0.1μmが12500以上とし
ておくと有機樹脂絶縁層3a、3b、3cと薄膜配線導
体層4a、4b、4cとの接合及び上下に位置する有機
樹脂絶縁層3a、3b、3c同士の接合がより強固とな
る。従って、前記有機樹脂絶縁層3a、3b、3cはそ
の表面の2.5mmの長さにおける凹凸の高さ(Pc)
のカウント値を、1μm≦Pc≦10μmが500個以
上、0.1μm≦Pc≦1μmが2500個以上、0.
01μm≦Pc≦0.1μmが12500以上としてお
くとことが好ましい。
【0050】前記中心線平均粗さ(Ra)が0.05μ
m≦Ra≦5μm、2.5mmの長さにおける凹凸の高
さ(Pc)のカウント値が、1μm≦Pc≦10μmが
500個以上、0.1μm≦Pc≦1μmが2500個
以上、0.01μm≦Pc≦0.1μmが12500以
上の有機樹脂絶縁層3a、3b、3cは、該有機樹脂絶
縁層3a、3b、3cの上面にCHF3 、CF4 、Ar
等のガスを吹きつけリアクティブイオンエッチング処理
をすることによって表面が所定の粗さに粗される。
【0051】なお、前記有機樹脂絶縁層3a、3b、3
c上面の中心線平均粗さ(Ra)及び2.5mmの長さ
における凹凸の高さ(Pc)のカウント値は、有機樹脂
絶縁層3a、3b、3cの表面を原子間力顕微鏡(Digi
tal Instruments Inc.製のDimension 3000-Nano Scope
III)で50μm角の対角(70μm)に走査させてその
表面状態を検査測定し、その測定結果より各々の数値を
出した。
【0052】
【発明の効果】本発明の多層配線基板によれば、基板上
に薄膜技術によって配線を形成したことから配線の微細
化が可能となり、配線を極めて高密度に形成することが
可能となる。
【0053】また本発明の多層配線基板によれば、有機
樹脂絶縁層に穴部を設け、該穴部内に誘電体磁器を挿入
させるとともに誘電体磁器の上下面に薄膜配線導体層の
一部を対向配置させたことから、誘電体磁器の比誘電
率、厚み、幅、長さを調整することによって所定の静電
容量値を有する容量素子を任意数内蔵させることがで
き、多層配線基板に半導体素子や容量素子、抵抗器等の
部品を搭載して混成集積回路装置となす場合、多層配線
基板に別途容量素子を多数実装する必要はなく、その結
果、多層配線基板に実装される部品の数が減り、混成集
積回路装置等を小型となすこともできる。
【0054】更に本発明の多層配線基板によれば、誘電
体磁器の上下面と薄膜配線導体層との間に有機樹脂層を
介在させたことから有機樹脂層によって誘電体磁器と薄
膜配線導体層との接合が強固となり、薄膜配線導体層の
所定位置に所定静電容量値の容量素子を高い信頼性で電
気的接続することが可能となるとともに有機樹脂絶縁層
に設けた穴が誘電体磁器と有機樹脂層とによって完全に
埋められ、上部に位置する有機樹脂絶縁層を平坦として
薄膜配線導体層を断線等を招来することなく所定パター
ンに形成することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の多層配線基板の一実施例を示す断面図
である。
【図2】図1に示す多層配線基板の要部拡大断面図であ
る。
【符号の説明】
1・・・・・・・・・・・基板 2・・・・・・・・・・・多層配線部 3a、3b、3c・・・・有機樹脂絶縁層 4a、4b、4c・・・・薄膜配線導体層 8・・・・・・・・・・・スルーホール 9・・・・・・・・・・・スルーホール導体 10・・・・・・・・・・誘電体磁器 11・・・・・・・・・・有機樹脂層 A・・・・・・・・・・・容量素子 H・・・・・・・・・・・穴部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に、有機樹脂絶縁層と薄膜配線導体
    層とを交互に多層に配設するとともに上下に位置する薄
    膜配線導体層を各有機樹脂絶縁層に設けたスルーホール
    導体を介して接続してなる多層配線基板であって、前記
    有機樹脂絶縁層の少なくとも1層に穴部を設け、該穴部
    内に誘電体磁器を挿入させるととも誘電体磁器の上下面
    に有機樹脂層を介して薄膜配線導体層の一部を対向配置
    させたことを特徴とする多層配線基板。
  2. 【請求項2】前記有機樹脂層の厚みが2μm乃至40μ
    mであることを特徴とする請求項1記載の多層配線基
    板。
  3. 【請求項3】前記有機樹脂層に、酸化珪素、酸化アルミ
    ニウム、窒化アルミニウム、チタン酸化合物、ジルコン
    酸化合物の少なくとも1種から成る粉末を10重量%乃
    至95重量%含有させたことを特徴とする請求項1記載
    の多層配線基板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007515809A (ja) * 2003-12-23 2007-06-14 インテル・コーポレーション 薄膜キャパシタ構造を備える集積回路パッケージ基板

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