JPH1092006A - 光学ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成により、光学ベースのガラスエポ
キシ基板の貼着精度が低くても、光源や光検出器等の各
種光学部品が所定位置に高精度に取り付けられ得るよう
にした、光学ピックアップ及びこれを利用した光ディス
ク装置を提供すること。 【解決手段】 光学ピックアップの光学ベース３１が、
板金から成る板金ベース３１ａと、その上に載置された
ガラスエポキシ基板３１ｂとから構成されていて、上記
光源及び光検出器３２が、板金ベース上に設けられた基
準マーク４０により、光学ベース３１上の所定位置に位
置決めされるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク，光磁
気ディスク，相変化型ディスク等の光学式ディスク等
（以下、「光ディスク」という）の信号を記録及び／又
は再生するための光学ピックアップ、及びこの光学ピッ
クアップを備えた光ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスク用の光学ピックアップ
は、例えば図６に示すように構成されている。図６おい
て、光学ピックアップ１は、光源としての半導体レーザ
素子２から出射された光ビームの光路中に順次に配設さ
れた、グレーティング３，ビームスプリッタ４，コリメ
ータレンズ５及び対物レンズ６と、ビームスプリッタ４
を透過した光ディスクＤからの戻り光の分離光路中に配
設された光検出器７とから構成されている。

【０００３】このような構成の光学ピックアップ１にお
いては、半導体レーザ素子２からの光ビームは、グレー
ティング３により複数の光ビームに分割され、ビームス
プリッタ４にて反射された後、グレーティング５によっ
て平行光に変換されて、対物レンズ６により光ディスク
Ｄの信号記録面に照射される。そして、この信号記録面
で反射された戻り光ビームは、対物レンズ６，コリメー
タレンズ５から、ビームスプリッタ４を透過して、光検
出器７の受光面で受光され、記録信号が検出されるよう
になっている。

【０００４】ここで、対物レンズ６は、二軸方向即ちフ
ォーカス方向及びトラッキング方向に移動可能に、例え
ば図７に示す構成の二軸アクチュエータ１０によって支
持されている。図７において、二軸アクチュエータ１０
は、対物レンズ１１が取り付けられるレンズホルダー１
２と、このレンズホルダー１２に対して、接着等により
取り付けられたコイルボビン１３と、このレンズホルダ
ー１２を一端で支持する弾性材料から成るサスペンショ
ン１４と、このサスペンション１４の他端をベース部１
５等の固定側に固定保持する取付部材１６とから構成さ
れている。

【０００５】上記レンズホルダー１２の両側には、それ
ぞれ二本の互いに平行なサスペンション１４の一端が取
り付けられている。さらに、このサスペンション１４の
他端は、取付部材１６に対して固定保持されている。こ
れにより、このレンズホルダー１２は、ベース部１５に
対して垂直な二方向、即ち符号Ｔｒｋで示すトラッキン
グ方向及び、符号Ｆｃｓで示すフォーカシング方向に移
動可能に支持されることになる。

【０００６】上記コイルボビン１３には、フォーカス用
コイル１３ａ及びトラッキング用コイル１３ｂが巻回さ
れている。他方、ベース部１５に取り付けられたヨーク
１７の端部１７ａ，１７ｂは、各コイル１３ａ，１３ｂ
に対して対向すると共に、このヨーク１７の固定部側の
一端１７ａの内側面には、マグネット１８が取り付けら
れている。尚、上記コイルボビン１３は、その上部の一
側（図示の場合、対物レンズ１１側）が、カバー１９に
より覆われている。このカバー１９は、ヨークの端部１
７ａ，１７ｂの上端を連結して、閉磁路を画成するよう
になっている。

【０００７】このような構成の二軸アクチュエータ１０
によれば、各コイル１３ａ，１３ｂにそれぞれ駆動電流
を流すことにより、各コイル１３ａまたは１３ｂに発生
する磁界が、ヨーク１７及びマグネット１８による磁界
と相互作用することにより、レンズホルダー１２及び対
物レンズ１１が、二軸方向に移動調整されることにな
る。

【０００８】かくして、正確な再生信号の検出のため
に、半導体レーザ素子２からの光ビームが光ディスクＤ
の信号記録面の正しい位置にスポットを形成して、正確
な記録信号の再生が行われることにより、上記対物レン
ズ６が、所定のサーボ信号に基づいて、二軸アクチュエ
ータ１０により、二軸方向に微動調整されるようになっ
ている。この対物レンズ６のサーボとしては、光ディス
クＤの記録トラックに対して、光ディスクＤの径方向に
沿って対物レンズ６を微動させるトラッキングサーボ
と、光軸に沿って光ディスクＤの信号記録面に接近，離
間させる方向に対物レンズ６を微動させるフォーカシン
グサーボとが行われている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
構成の二軸アクチュエータ１０は、そのベース部１５
が、図８に示すように、光学ピックアップ１の光学ベー
ス８に対して空間調整された状態で、例えばハンダ付け
により調整プレート１５ａを介して固定保持されてい
る。この光学ベース８は、鉄製の板金により形成された
光学ベースであって、その上面に、光源としての半導体
レーザ素子２及び光検出器７が一体化された受発光装置
８ａや、チップコンデンサ８ｂ及びボリューム８ｃそし
てピンコネクタ８ｄが実装されたガラスエポキシ基板９
が載置・貼着されている。さらに、光学ベース８は、そ
の上面に、上記受発光装置８ａの光路を折曲げるための
ミラー組立体８ｅが載置され、上方からカバー８ｆが載
置されることにより、全体が覆われると共に、その下面
には、ガイドバネ８ｇが取り付けられる。

【００１０】ここで、図９に示すように、上記ガラスエ
ポキシ基板９は、受発光装置８ａの取付位置の領域に切
欠部９ａを備えており、受発光装置８ａは、この切欠部
９ａ内にて、板金から成る光学ベース８上に直接にダイ
ボンディング等により固定される。そして、受発光装置
８ａは、その半導体レーザ素子２，光検出器７への駆動
電流の供給や検出信号の取出しのために、ガラスエポキ
シ基板９上に形成された接続パターン９ｂに対して、ボ
ンディングワイヤ９ｃを介して、電気的に接続されるよ
うになっている。

【００１１】この受発光装置８ａは、従来、例えば図１
０に示すように、受発光装置８ａの一側縁が、ガラスエ
ポキシ基板９上に形成された導電パターンによる基準マ
ーク９ｄに基づいて、両側で等距離Ｌとなるように、光
学ベース８上にて所定位置に位置決めされた後、光学ベ
ース８上に設けられた取付孔を基準として、ミラー組立
体８ｅや二軸アクチュエータ１０が位置決め調整される
ようになっている。

【００１２】しかしながら、上記の構成においては、ガ
ラスエポキシ基板９は、光学ベース８上に貼着されてい
ることから、互いに位置ずれを生ずることになり、この
位置ずれは、一般的に０．０５乃至０．１５ｍｍ程度に
なる。このため、光学ベース８に対するガラスエポキシ
基板９の位置ずれがあると、上述した受発光装置８ａの
光学ベース８に対する位置決めも、同様のずれを生ずる
ことになってしまう。従って、他の光学部品即ちミラー
組立体８ｅ，二軸アクチュエータ１０も同様に、光学ベ
ース８に対して位置ずれした状態で取り付けられること
になる。かくして、このような位置ずれを回避するため
には、光学ベース８に対するガラスエポキシ基板の貼着
精度を高くする必要があり、組立コストが高くなってし
まうという問題があった。

【００１３】本発明は、以上の点に鑑み、簡単な構成に
より、光学ベースのガラスエポキシ基板の貼着精度が低
くても、光源や光検出器等の各種光学部品が所定位置に
高精度に取り付けられ得るようにした、光学ピックアッ
プ及びこれを利用した光ディスク装置を提供することを
目的としている。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する光源と、この光源から出射さ
れた光ビームを光ディスクの信号記録面上に集束させる
光集束手段と、前記光源と光集束手段との間に配設され
た光分離手段と、前記光分離手段で分離された光ディス
クの信号記録面からの戻り光ビームを受光する受光部を
有する光検出器と、前記光源，光分離手段及び光検出器
を支持する光学ベースと、前記光集束手段を二軸方向に
駆動調整する駆動手段とを含んでおり、前記光学ベース
が、金属ベースと、その上に設けた基板とから構成され
ていて、前記光源及び光検出器が、前記金属ベース上に
設けられた基準マークにより、光学ベース上の所定位置
に位置決めされている、光学ピックアップにより、達成
される。

【００１５】上記構成によれば、光学ベースは、金属製
のベースと、その上に固定された基板から構成されてお
り、光学部品である光源及び光検出器、好ましくはこれ
らが一体化された受発光装置が、板金ベースに形成され
た基準マークに基づいて、金属ベース上にて所定位置に
位置決めされるようになっている。従って、上記基板が
金属ベースに対して位置ずれをもって貼着されていたと
しても、上記光源及び光検出器、好ましくはこれらが一
体化された受発光装置は、金属ベースに対して正確に位
置決めされることになる。これにより、例えば二軸アク
チュエータを含む他の光学部品が、位置ずれを生ずるこ
となく、光学ベースに対して正確に位置決めされること
になる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図１乃至図５を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。

【００１７】図１は、本発明による光学ピックアップを
組み込んだ光ディスク装置の一実施形態を示している。
図１において、光ディスク装置２０は、光ディスク２１
を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ２２
と、回転する光ディスク２１の信号記録面に対して光ビ
ームを照射して信号を記録し、この信号記録面からの戻
り光ビームにより記録信号を再生する光学ピックアップ
３０及びこれらを制御する制御部２３を備えている。こ
こで、制御部２３は、光ディスクコントローラ２４，信
号復調器２５，誤り訂正回路２６，インターフェイス２
７，ヘッドアクセス制御部２８及びサーボ回路２９を備
えている。

【００１８】光ディスクコントローラ２４は、スピンド
ルモータ２２を所定の回転数で駆動制御する。信号復調
器２５は、光学ピックアップ３０からの記録信号を復調
して誤り訂正し、インターフェイス２７を介して外部コ
ンピュータ等に送出する。これにより、外部コンピュー
タ等は、光ディスク２１に記録された信号を再生信号と
して受け取ることができるようになっている。

【００１９】ヘッドアクセス制御部２８は、光学ピック
アップ３０を例えば光ディスク２１上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
回路２９は、この移動された所定位置において、光学ピ
ックアップ３０の二軸アクチュエータに保持されている
対物レンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向
に移動させる。

【００２０】図２は、上記光ディスク装置２０に組み込
まれた光学ピックアップを示している。図２において、
光学ピックアップ３０は、それぞれ光学ベース３１上に
配設された、レーザ光源としての半導体レーザ素子及び
光検出器が一体に組み込まれた受発光装置３２（図３参
照）と、光路折曲げミラーとしての反射面３３ａを備え
たミラー組立体３３と、立ち上げミラーとしてのプリズ
ムミラー３４及び光集束手段としての対物レンズ３５
と、対物レンズ３５を二軸方向に移動させるための二軸
アクチュエータ３６とから構成されている。

【００２１】ここで、上記対物レンズ３５を除く各光学
素子、即ち受発光装置３２，ミラー組立体３３，プリズ
ムミラー３４は、図示しない手段によって、光ディスク
２１の半径方向に移動可能に支持された光学ベース３１
上に、それぞれ固定保持されている。

【００２２】ここで、上記受発光装置３２は、例えば図
３に示すように、構成されている。図３において、受発
光装置３２は、第一の半導体基板３２ａ上に光出力用の
第二の半導体基板３２ｂが載置され、この第二の半導体
基板３２ｂ上に発光素子としての半導体レーザ素子３２
ｃが搭載されている。半導体レーザ素子３２ｃの前方の
第一の半導体基板３２ａ上には、縦断面が台形形状のマ
イクロプリズム３２ｄが、その半透過面としての傾斜面
３２ｅを半導体レーザ素子３２ｃ側にして、設置されて
いる。ここで、上記マイクロプリズム３２ｄは、その傾
斜面３２ｅに、半透過膜（図示せず）が形成されてい
る。

【００２３】これにより、半導体レーザ素子３２ｃから
第二の半導体基板３２ｂの表面に沿って出射した光ビー
ムは、マイクロプリズム３２ｄの傾斜面にて反射され
て、上方に向かって進み、前述したミラー組立体３３の
反射面３３ａ，プリズムミラー３４及び対物レンズ３５
を介して、光ディスク２１に達することになる。また、
光ディスク２１の信号記録面からの戻り光は、対物レン
ズ３５，プリズムミラー３４及びミラー組立体３３の反
射面３３ａを介して、マイクロプリズム３２ｄの傾斜面
３２ｅを透過して、マイクロプリズム３２ｄの底面に達
する。このマイクロプリズム３２ｄの底面に達した戻り
光は、一部がこの底面を透過すると共に、一部がこの底
面で反射され、マイクロプリズム３２ｄの上面に向かっ
て進む。

【００２４】ここで、マイクロプリズム３２ｄの戻り光
入射位置の下部の第一の半導体基板３２ａ上には、第一
の光検出器３２ｆが形成されている。また、上記底面で
反射された戻り光は、マイクロプリズム３２ｄの上面に
て反射されて、再びマイクロプリズム３２ｄの底面に入
射される。そして、マイクロプリズム３２ｄの上面で反
射された戻り光の入射されるマイクロプリズム３２ｄの
底面部分の下部の第一の半導体基板３２ａには、第二の
光検出器３２ｇが形成されている。上記第一の光検出器
３２ｆ，第二の光検出器３２ｇは、それぞれ複数の受光
部に分割されており、各受光部の検出信号がそれぞれ独
立して出力されるようになっている。尚、第二の半導体
基板３２ｂ上には、半導体レーザ素子３２ｃの出射側と
は反対側に、第三の光検出器３２ｈが備えられている。
この第三の光検出器３２ｈは、半導体レーザ素子３２ｃ
の発光強度をモニタするためのものである。

【００２５】上記半導体レーザ素子３２ｃは、半導体の
再結合発光を利用した発光素子であり、レーザ光源とし
て使用される。

【００２６】ミラー組立体３３は、半導体レーザ素子３
２ｃから上方に向かうレーザ光ビームが、ミラー組立体
３３内に入射した後、その表面に形成された反射面によ
って内面反射されて、再びミラー組立体３３内をほぼ水
平方向に進んで、ミラー組立体３３から出射する、所謂
内面反射式光路折曲げミラーとして構成されている。こ
こで、ミラー組立体３３は、半導体レーザ素子３２ｃか
らのレーザ光ビームを透過させ得るような透明樹脂によ
って成形されており、光学ベース３１上の所定位置に載
置されることにより、反射面が所定位置に位置決めされ
るようになっている。

【００２７】プリズムミラー３４は、光学ベース３１上
にて、斜め４５度に配設されたミラーであって、ミラー
組立体３３からのほぼ水平方向に進む光ビームを垂直方
向上方に向かって反射させるようになっている。

【００２８】上記対物レンズ３５は、光集束手段であ
り、この場合、凸レンズであって、プリズムミラー３４
からの光を、回転駆動される光ディスク２１の信号記録
面の所望のトラック上に集束させる。したがって、同様
の機能を果たすものであれば、例えばホログラム素子等
種々のものが用いられる。

【００２９】ここで、対物レンズ３５は、図２に示す二
軸アクチュエータ３６により、二軸方向即ちフォーカシ
ング方向及びトラッキング方向に移動可能に支持されて
いる。二軸アクチュエータ３６は、光学ベース３１に対
してスキュー調整された状態で、調整プレート（図示せ
ず）を介して、取り付けられる固定部３６ａと、固定部
３６ａに対して互いに平行な左右二対の弾性支持部材３
６ｂにより二軸方向に移動可能に支持された可動部３６
ｃと、可動部３６ｃに取り付けられたフォーカス用コイ
ル３６ｄと、トラッキング用コイル３６ｅと、を備えて
いる。

【００３０】これに対して、光学ベース３１上には、上
記フォーカス用コイル３６ｄ及びトラッキング用コイル
３６ｅを挟んで、互いに対向するように配設されたヨー
ク３６ｆと、その内側に取り付けられたマグネット３６
ｇが備えられている。

【００３１】これにより、フォーカス用コイル３６ｄに
対して駆動電流が流れると、フォーカス用コイル３６ｄ
に発生する磁界と、マグネット３６ｇ及びヨーク３６ｆ
を流れる磁束との相互作用によって、可動部３６ｃがフ
ォーカス方向に駆動される。また、トラッキング用コイ
ル３６ｅに対して駆動電流が流れると、トラッキング用
コイル３６ｅに発生する磁界が、マグネット３６ｇ及び
ヨーク３６ｆを流れる磁束との相互作用によって、可動
部３６ｃがトラッキング方向に駆動される。かくして、
可動部３６ｃに保持された対物レンズ３５が二軸方向に
関して駆動制御されることになる。

【００３２】上記光学ベース３１は、金属製のベース部
材であり、図４及び図５に示すように、例えば板金から
成る板金ベース３１ａと、その上に載置された基板とし
ての例えばガラスエポキシ基板３１ｂとから構成されて
いる。

【００３３】上記ガラスエポキシ基板３１ｂ上には、受
発光装置３２，ミラー組立体３３，プリズムミラー３４
が実装されていると共に、受発光装置３２の半導体レー
ザ素子３２ｃのための駆動制御回路（図示せず）や、光
検出器３２ｆ，３２ｇの出力信号を処理するための回路
（図示せず）等が形成されている。ここで、上記受発光
装置３２は、図４に示すように、ガラスエポキシ基板３
１ｂに設けられた切欠部３７内にて、板金ベース３１ａ
上に直接にダイボンディングにより取り付けられてい
る。さらに、受発光装置３２は、その半導体レーザ素子
３２ｃ，光検出器３２ｆ，３２ｇへの駆動電流の供給や
検出信号の取出しのために、ガラスエポキシ基板３１ｂ
上に形成された接続パターン３８に対して、ボンディン
グワイヤ３９を介して、電気的に接続されるようになっ
ている。

【００３４】さらに、上記板金ベース３１ａは、図４及
び図５に示すように、受発光装置３２の所定の取付位置
を示す基準マーク４０を備えている。

【００３５】本実施形態による光学ピックアップ３０を
組み込んだ光ディスク装置２０は、以上のように構成さ
れており、組立の際には、先づ上記受発光装置３２の一
側縁が、図５に示すように、ガラスエポキシ基板３１ｂ
上に形成された導電パターンによる基準マーク４０に基
づいて、両側で等距離Ｌとなるように、受発光装置３２
が光学ベース３１ａ上にて所定位置に位置決めされ、ダ
イボンディング等により固定される。その後、板金ベー
ス３１ａ上に設けられた取付孔を基準として、ミラー組
立体３３や二軸アクチュエータ３６が位置決め調整され
るようになっている。

【００３６】従って、上記ガラスエポキシ基板が板金ベ
ースに対して位置ずれをもって貼着されていたとして
も、上記光源及び光検出器、好ましくはこれらが一体化
された受発光装置は、板金ベースに対して正確に位置決
めされることになる。これにより、例えば二軸アクチュ
エータを含む他の光学部品が、位置ずれを生ずることな
く、光学ベースに対して正確に位置決めされることにな
る。かくして、各光学部品が、光学ベースの板金ベース
に対して正確に位置決めされると共に、ガラスエポキシ
基板の板金ベースに対する貼着精度があまり高くなくて
もよいので、組立が容易に且つ低コストで行われること
になる。

【００３７】このようにして組み立てられた光ディスク
装置２０は、次のように動作する。先づ、光ディスク装
置２０のスピンドルモータ２２が回転することにより、
光ディスク２１が回転駆動される。そして、光学ピック
アップ３０が、光ディスク２１の半径方向に移動される
ことにより、対物レンズ３５の光軸が、光ディスク２１
の所望のトラック位置まで移動されることにより、アク
セスが行なわれる。

【００３８】この状態にて、光学ピックアップ３０に
て、受発光装置３２の半導体レーザ素子からの光ビーム
は、ミラー組立体３３内に入射し、その反射面３３ａに
て内面反射することにより、光路が折曲げられて、ミラ
ー組立体３３から出射した後、プリズムミラー３４で光
ディスク２１に向かって反射され、対物レンズ３５を介
して、光ディスク２１の信号記録面に集束される。光デ
ィスク２１からの戻り光は、再び対物レンズ３５，プリ
ズムミラー３４及びミラー組立体３３を介して、受発光
装置３２に入射する。そして、受発光装置３２の光検出
器（図示せず）に集束する。これにより、光検出器の検
出信号に基づいて、光ディスク２１の信号が再生され
る。

【００３９】その際、信号復調器２５は、光検出器から
の検出信号により、トラッキングエラー信号及びフォー
カシングエラー信号を検出する。そして、サーボ回路２
９は、光ディスクドライブコントローラ２４を介して、
フォーカス用コイル及びトラッキング用コイルへの駆動
電流をサーボ制御する。即ち、フォーカス用コイルに発
生する磁界が、マグネット３６ｈ及びヨーク３６ｇによ
る磁界と作用することにより、可動部３６ｃが、フォー
カシング方向に移動調整され、フォーカシングが行なわ
れる。また、トラッキング用コイルに発生する磁界が、
マグネット３６ｈ及びヨーク３６ｇによる磁界と作用す
ることにより、可動部３６ｃが、トラッキング方向に移
動調整されて、トラッキングが行なわれる。

【００４０】上記実施形態による光ディスク装置２０及
び光学ピックアップ３０においては、レーザ光源とし
て、半導体レーザ素子及び光検出器が一体に構成された
受発光装置３２が使用されているが、これに限らず、レ
ーザ光源と光検出器が別体に構成されていても、本発明
を適用し得ることは明らかである。この場合、レーザ光
源及び光検出器が、板金ベース３１ａ上に形成された基
準マーク４０に基づいて、板金ベース３１ａ上の所定位
置に正確に位置決めされることになる。

【００４１】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、簡
単な構成により、光学ベースのガラスエポキシ基板の貼
着精度が低くても、光源や光検出器等の各種光学部品が
所定位置に高精度に取り付けられるようにした、光学ピ
ックアップ及びこれを利用した光ディスク装置を提供す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学ピックアップを組み込んだ光
ディスク装置の一実施形態の全体構成を示すブロック図
である。

【図２】図１の光ディスク装置における光学ピックアッ
プの構成を示す斜視図である。

【図３】図２の光学ピックアップにおける受発光装置の
拡大斜視図である。

【図４】図２の光学ピックアップにおける受発光装置と
光学ベースとの関係を示す部分拡大斜視図である。

【図５】図２の光学ピックアップにおける受発光装置と
光学ベースとの関係を示す部分拡大平面図である。

【図６】従来の光学ピックアップの一例における光学系
を示す側面図である。

【図７】図６の光学ピックアップにおける二軸アクチュ
エータの構成を示す分解斜視図である。

【図８】図６の光学ピックアップの構成を示す分解斜視
図である。

【図９】図６の光学ピックアップにおける受発光装置と
光学ベースとの関係を示す部分拡大斜視図である。

【図１０】図６の光学ピックアップにおける受発光装置
と光学ベースとの関係を示す部分拡大平面図である。

【符号の簡単な説明】

２０・・・光ディスク装置、２１・・・光ディスク、２
２・・・スピンドルモータ、２３・・・制御部、２４・
・・光ディスクトライブコントローラ、２５・・・信号
復調器、２６・・・誤り訂正回路、２７・・・インター
フェイス、２８・・・ヘッドアクセス制御部、３０・・
・光学ピックアップ、３１・・・光学ベース、３１ａ・
・・板金ベース、３１ｂ・・・ガラスエポキシ基板、３
２・・・受発光装置、３２ｃ・・・半導体レーザ素子
（光源）、３２ｆ，３２ｇ・・・光検出器、３３・・・
ミラー組立体、３４・・・プリズムミラー、３５・・・
対物レンズ、３６・・・二軸アクチュエータ、３７・・
・切欠部、３８・・・接続パターン、３９・・・ボンデ
ィングワイヤ、４０・・・基準マーク。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ビームを出射する光源と、 この光源から出射された光ビームを光ディスクの信号記
   録面上に集束させる光集束手段と、 前記光源と光集束手段との間に配設された光分離手段
   と、 前記光分離手段で分離された光ディスクの信号記録面か
   らの戻り光ビームを受光する受光部を有する光検出器
   と、 前記光源，光分離手段及び光検出器を支持する光学ベー
   スと、 前記光集束手段を二軸方向に駆動調整する駆動手段と を含んでおり、 前記光学ベースが、金属ベースと、その上に設けた基板
   とから構成されていて、 前記光源及び光検出器が、前記金属ベース上に設けられ
   た基準マークにより、光学ベース上の所定位置に位置決
   めされていることを特徴とする光学ピックアップ。
2. 【請求項２】 前記光源及び光検出器が、一体の受発光
   装置として構成されていて、前記金属ベース上に取り付
   けられると共に、前記基板上に形成された接続パターン
   に対して電気的に接続されていることを特徴とする請求
   項１に記載の光学ピックアップ。
3. 【請求項３】 前記基板はガラスエポキシ基板であり、
   このガラスエポキシ基板は、前記受発光装置の取付位置
   に対応する領域に切欠部を備えていることを特徴とする
   請求項２に記載の光学ピックアップ。
4. 【請求項４】 光源から出射した光ビームを光ディスク
   の信号記録面上に集束する光集束手段と、 光ディスクの信号記録面からの戻り光ビームを受光する
   受光部を有する光検出手段と、 前記光集束手段を二軸方向に駆動調整する駆動手段と、 前記光検出手段の受光部からの信号に基づいて、サーボ
   信号を得る演算部と、 前記サーボ信号に基づいて、前記駆動手段に駆動電流を
   供給するサーボ手段と、 前記光源，光分離手段及び光検出器を支持する光学ベー
   スと、 前記光集束手段を二軸方向に駆動調整する駆動手段とを
   含んでおり、 前記光学ベースが、金属ベースと、その上に設けた基板
   とから構成されていて、 前記光源及び光検出器が、前記金属ベース上に設けられ
   た基準マークにより、光学ベース上の所定位置に位置決
   めされていることを特徴とする光ディスク装置。