JPH11307614A - 半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム - Google Patents
半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステムInfo
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Abstract
を最小化する半導体素子製造用エッチング設備のマルチ
チャンバーシステムを提供する。 【解決手段】 ウェーハを積載したカセット41が安着
されるカセットステージ42と、カセットステージ42
に面してウェーハの移送に必要な空間を有する長方形移
送通路と、移送通路の側面に並んで配列される多数個の
工程チャンバー45及び移送通路に設置され、カセット
ステージに積載されたウェーハを多数個の工程チャンバ
ーにそれぞれローディング及びアンローディングさせる
ウェーハ移送装置52とを備える。従って、多数個の工
程チャンバー45を多層に直列配置して設備の面積及び
設備幅を画期的に縮小することができ、不必要な真空面
積を縮小することで装置費及び設置費を最小化すること
ができ、他工程設備との連結及び空間活用が容易であ
る。
Description
ッチング設備のマルチチャンバーシステムに関する。
程の効率及び空間設置効率を向上させるため、多数個の
チャンバーでいくつかの種類のウェハ加工作業が同時に
進行されることが可能であるマルチチャンバーシステム
が採択されている。
工程で使用するマルチチャンバーシステムは、プラズマ
生成のために高真空環境が要求される多数個の工程チャ
ンバーを備え、低真空状態の中央チャンバー内で多数個
の真空チャンバーにウェハをローディング及びアンロー
ディングするチャンバー内移送装置を備える集中型マル
チチャンバーシステムである。
グ設備のマルチチャンバーシステムを図1に示す。図1
に示すように、従来の半導体素子製造用エッチング設備
の集中型マルチチャンバーシステムは、中央に6角柱型
の中央チャンバー16が設置され、中央チャンバー16
の側面にそれぞれ工程が行われる4つの工程チャンバー
15が連結される構成である。中央チャンバー16とそ
れぞれの工程チャンバー15の間には、ぞれぞれウェハ
の選択的な出入が自由である図示しない多数個のゲート
が設置される。そのゲートを通じ中央チャンバー16に
設置されたチャンバー内移送装置14がウェハを選択的
にそれぞれの工程チャンバー15にローディング及びア
ンローディングすることが可能である。
ャンバー15の個数によって四角形、五角形、七角形等
の形態が可能で、図1では最も一般的な六角形構造の中
央チャンバーを示した。
央チャンバー16は図示しない真空圧形成装置を備え
る。従って、チャンバー内移送装置14は、真空の環境
下でウェハを工程チャンバー15に移送する。
ムの中央チャンバー16には、中央チャンバー16にカ
セット11内のウェハを移送することができるようにウ
ェハの環境を大気圧で低真空状態に転換し、ウェハの中
間待機場所としてローディング前、またはアンローディ
ング後のウェハが積載されるロードロックチャンバー1
3が設置される。通常このようなロードロックチャンバ
ー13は、加工前のウェハが積載される入力側のロード
ロックチャンバー及び加工を終えた後のウェハが積載さ
れる出力側ロードロックチャンバーによって構成され
る。
ンバー13には、大気中でカセット単位のウェハ運搬が
容易であるようにカセット11が安着されるカセットス
テージ12が連結されて設置される。
グ設備のマルチチャンバーシステムは、カセットステー
ジ12にカセット11が安着されると、ロードロックチ
ャンバー13の内部に設置された自動移送装置または作
業者等がウェハを積載したカセット11をロードロック
チャンバー13に供給し、ロードロックチャンバー13
は密閉された後低真空状態になる。ロードロックチャン
バー13が所定水準の真空状態に到達すると、ロードロ
ックチャンバー13のゲートが開放され、中央チャンバ
ー16のチャンバー内の移送装置14が低真空状態でウ
ェハを個別または一定な個数単位に図示しない移送アー
ムに安着させた後、特定角度に水平回転しながら特定角
度線上に位置した特定工程チャンバーに先進して移送す
る。
ると、工程チャンバー15のゲートが密閉された後に工
程が遂行され、工程を終えたウェハは、再びチャンバー
内移送装置14によって逆方向に移送されてロードロッ
クチャンバー13内のカセットに再積載される。
る途中に、チャンバー内移送装置14は連続して他の工
程チャンバー15にウェハをローディング及びアンロー
ディングすることが可能である。従って、多数個の工程
チャンバーで同時に多数個のウェハを加工することが可
能である。
ャンバーシステムは、前述したように六角形型の中央チ
ャンバーを構成することにおいて(基本的に4つの工程
チャンバーと2つのロードロックチャンバーで構成され
る場合)、六角形型の中央チャンバーが占める面積のた
め、設備全体の面積は勿論、製造ライン内の設備配置に
おいて重視される設備幅“w”が必要以上に増大し、中
央チャンバーを真空状態に維持するのに必要な真空設備
の規模が増大し設備費用及び設置費用が増加する。
は、設置される工程チャンバーの個数の増加に伴って増
加するものである。例えば、設置される同一の大きさの
工程チャンバーを4つから6つに増加させようとする
と、中央チャンバーを正八角形型に構成しなければなら
ない。この場合中央チャンバーの面積増加はさらに増大
される。従って、必要な工程チャンバーの個数が増加す
ると、前述のような集中型マルチチャンバーシステムを
さらに一つ追加して設置するようになる。
を購入する購入費が増加し、また設置費が過重に所要さ
れ、必要以上に設備の面積が広くなるので設備の設置面
積が増加し、高価な維持費が所要される清浄室を広く占
有し、工程チャンバーやロードロックチャンバーに付設
される各種の工程ガス及び真空関連装置が重複するなど
の問題があった。従って、マルチチャンバーシステムの
工程チャンバの個数を増やす方法が多角度から考えられ
た。
ムにおいて工程チャンバーの個数を増加に伴う設置面積
の増加を抑制する方法の一つは、図2に示すようにそれ
ぞれ3個の工程チャンバー15と連結された2つの中央
チャンバー16を互いに連結し、2つの中央チャンバー
を互いに連結するための連結ロードロックチャンバー1
3を間に設置し、従来の集中型マルチチャンバーシステ
ム10を互いに連結して結合させるものである。
いても、7個の工程チャンバー15を設置する場合、集
中型マルチチャンバーシステム10を一つさらに購入し
て設置することに比べ、高価の維持費が所要される清浄
室内の占有面積を効果的に削減し、工程チャンバーやロ
ードロックチャンバーに付設される各種の工程ガス及び
真空関連装置が重複する等の問題点を克服することがで
きなかった。
ステージが設備の前方に配置される従来の集中型マルチ
チャンバーシステム10が、半導体製造ライン内に他工
程設備20と一緒に設置されると、集中型マルチチャン
バーシステムを始めとした他工程設備20のカセットス
テージが全て前方に向くようになるので設備から設備に
カセットを運搬する自動カセット運搬車または作業者等
が必要になり、附随的なカセット運搬装置を備えなけれ
ばならないという問題点があった。
テムは、チャンバー内の移送装置が真空の環境下でウェ
ハを移送するためウェハを真空吸着することができな
い。このため移送アームがウェハを単純に重力支持する
構成であり、移動時ウェハの慣性によってウェハが離脱
しないようにウェハの移送速度を非常に低速にしなけれ
ばならないという問題点があった。
創作されたものであり、多数個の工程チャンバーを多層
に直列配置して、設備の面積及び設備の幅を画期的に縮
小し、不必要な真空面積を縮小することで装置費及び設
置費を最小化させ、他工程設備との連結及び空間活用が
容易で、ウェハの移送速度を向上させる半導体素子製造
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムを提供す
ることを目的とする。
半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシ
ステムによると、ウェハを積載したカセットが安着され
るカセットステージと、カセットステージに面しウェハ
の移送に必要な空間を有する長方形の移送通路と、移送
通路の側面に並んで配列される多数個の工程チャンバー
と、移送通路に設置され、カセットステージに積載され
たウェハを多数個の工程チャンバーにそれぞれローディ
ング及びアンローディングさせることが可能なウェハ移
送装置とを備える。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、
工程チャンバーは、多層をなす。本発明の請求項3記載
の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバー
システムによると、工程チャンバーは、移送通路方向
に、ウェハの出入が可能で選択的に開閉が可能なゲート
が形成される。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、
工程チャンバーは、一側面にウェハの待機場所であるロ
ードロックチャンバーを連結して備える。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、
ロードロックチャンバーは、内部にウェハ移送装置から
ウェハを引受け、これを工程チャンバーに移送するよう
にウェハが安着される移送アーム及び移送アームを移動
させるチャンバー内移送装置を備え、移送通路側の一面
と工程チャンバー側の一面にそれぞれウェハの出入が可
能で、選択的な開閉が可能なゲートが形成される。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、
ロードロックチャンバーは、同時に多数個のウェハを個
別移送するための多数個の移送アームを備える。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、
ロードロックチャンバーは、内部の真空圧を形成するた
めの真空圧形成装置を備える。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、
工程チャンバーは、多数個の工程チャンバーが1個のロ
ードロックチャンバーを共有する。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、
工程チャンバーは、工程の連続する工程チャンバー間で
ウェハが直接移送されるようにゲートを通じて互いに連
結される。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、工程チャンバーは、内部の真空圧を形成するための
真空圧形成装置を備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、ウェハを選択的に把持する移送
アームと、移送アームを移動させることにより工程チャ
ンバーにウェハをローディング及びアンローディングさ
せることが可能な移送ロボットと、移送ロボットを水平
移動させる水平移動駆動部と、移送ロボット及び水平移
動駆動部に制御信号を与えてこれらを制御する制御部と
を備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、制御部から制御信号を与えられ
て制御され、移送ロボットを昇下降させる昇下降駆動部
を備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、移送アームは、ウェハを真空吸着可能な真空ライン
を備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、多数個のウェハを同時に個別移
送するための多数個の移送アームを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、水平移動駆動部は、モータまたは空圧シリンダーを
備える。本発明の請求項16記載の半導体素子製造用エ
ッチング設備のマルチチャンバーシステムによると、昇
下降駆動部は、モータまたは空圧シリンダーを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、移送通路の長さが長い場合、ウェハを互いに引受
け、引き継ぐことが可能な複数個のウェハ移送装置を備
える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、工程が行われる前のウェハを積
載したカセットが安着される第1カセットステージによ
りウェハを工程チャンバーに移送し、その工程チャンバ
ーで工程を終えたウェハを次の工程のためのウェハ移送
に適した位置に設置された第2カセットステージに移送
する。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハを積載したカセットが安着されるカセットス
テージと、カセットステージに面し、ウェハの移送に必
要な空間を有する長方形の移送通路と、移送通路の側面
に多層をなして並んで配列され、ウェハの加工が行われ
る多数個の工程チャンバーと、移送通路に設置され、垂
直及び水平方向の往復移動が可能で、カセットステージ
に積載されたウェハを多数個の工程チャンバーにそれぞ
れローディング及びアンローディングすることが可能な
ウェハ移送装置とを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、工程チャンバーは、2層から5層構造である。本発
明の請求項21記載の半導体素子製造用エッチング設備
のマルチチャンバーシステムによると、工程チャンバー
は、一側面にウェハの待機場所であるロードロックチャ
ンバーを連結して備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ロードロックチャンバーは、内部にウェハ移送装置
からウェハを引受け、これを工程チャンバーに移送する
ようにウェハが安着される移送アーム及び移送アームを
移動させるチャンバー内移送装置を備え、移送通路側の
一面と工程チャンバー側の一面にそれぞれウェハの出入
が可能で、選択的な開閉が可能なゲートが形成される。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ロードロックチャンバーは、多数個のウェハを同時
に個別移送するための多数個の移送アームを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、ウェハを選択的に真空吸着して
把持するための真空ラインを有する移送アームと、移送
アームを移動させることにより工程チャンバーにウェハ
をローディング及びアンローディングさせることが可能
な移送ロボットと、移送ロボットを昇下降させる昇下降
駆動部と、移送ロボットを水平移動させる水平移動駆動
部と、移送ロボット、昇下降駆動部及び水平移動駆動部
に制御信号を与えて制御する制御部とを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、多数個のウェハを同時に個別移
送するための多数個の移送アームを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、昇下降駆動部及び水平移動駆動部は、モータまたは
空圧シリンダーを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、移送通路の長さが長い場合、ウェハを互いに引受
け、引き継ぐことが可能である複数個のウェハ移送装置
を備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、工程が行われる前のウェハを積
載したカセットが安着される第1カセットステージによ
りウェハを工程チャンバーに移送し、工程チャンバーで
工程を終えたウェハを次の工程のためのウェハ移送に適
した位置に設置された第2カセットステージに移送す
る。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、工程以前にウェハを積載したカセットが安着される
第1カセットステージと、第1カセットステージに面
し、ウェハの移送に必要な空間を有する長方形の移送通
路と、移送通路の側面に多層をなして並んで配列され、
ウェハの工程が行われる多数個の工程チャンバーと、移
送通路に設置され、垂直及び水平方向の往復運動が可能
で、第1カセットステージに積載されたウェハを多数個
の工程チャンバーにそれぞれローディング及びアンロー
ディングすることが可能なウェハ移送装置と、第1カセ
ットステージに対向し移送通路に面し、工程後のウェハ
を積載するカセットが安着される第2カセットステージ
とを備える。
用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによる
と、ウェハ移送装置は、ウェハを選択的に真空吸着して
把持するための真空ラインを有する移送アームと、移送
アームを移動させることにより工程チャンバーにウェハ
をローディング及びアンローディングさせることが可能
な移送ロボットと、移送ロボットを昇下降させる昇下降
駆動部と、移送ロボットを水平移動させる水平移動駆動
部と、移送ロボット、昇下降駆動部及び水平移動駆動部
に制御信号を与えて制御する制御部とを備える。
複数の実施例を添付した図面に基づき詳細に説明する。 (第1実施例)本発明の第1実施例による半導体素子製
造用エッチング設備のマルチチャンバーシステムを図4
に示す。
の第1実施例による半導体素子製造用エッチング設備の
マルチチャンバーシステムは、前方にウェハを積載した
カセット41が安着されるカセットステージ42と、ウ
ェハの移送に必要な空間である長方形移送通路の両側面
に並んで多層に配列されウェハの加工が行われる8つの
工程チャンバー45と、前記移送通路に設置され、前記
カセットステージ42に積載されたウェハを前記8つの
工程チャンバー45にそれぞれローディング及びアンロ
ーディングさせることが可能なウェハ移送装置52とを
備える。
昇下降することができるようにカセットエレベーターが
設置され得るし、カセット間の位置を交代することがで
きるように左右に水平移動され得る。
能であるが、空間の効率性を考慮して図5に図示された
ように2層をなし、各層にはそれぞれ4つの工程チャン
バー45が直列で並んで配列される構成である。
る構成である場合、図1の従来の集中型マルチチャンバ
ーシステム10と比べると、従来のような規格の4つの
工程チャンバー45と2つのロードロック43を設置す
るとき、図4でのように、本発明のマルチチャンバーシ
ステム40の設備幅“W”は2つの工程チャンバー45
の幅と1つの移送通路の幅を合わせたものと同じであ
る。必要以上に肥大化した従来の中央チャンバーの幅を
ウェハ1枚の幅を超える最小の幅に製作することができ
る移送通路の幅に代置することができる。このため、設
備の幅“W”を最小化するようになることは勿論であ
り、このような設備の幅Wの縮小は設備の長さにも適用
することができ、従来の中央チャンバーの長さをロード
ロックチャンバー43の長さに代置することができ、そ
の中でロードロックチャンバー43の形態も1辺の長さ
がウェハ1枚の直径を超える範囲で薄い正四角柱型に最
小化して全体設備の幅及び長さを最小化することができ
るようになる。
算した設備面積は、本発明の単層構造であるマルチチャ
ンバーシステムの場合、従来と比べ大幅に縮小され、さ
らに複層構造が可能な本発明の多層構造のマルチチャン
バーは、設備をさらにコンパクトに構成することができ
るものである。
を最小化することによって真空設備等付設装置の容量を
減らすようになり装置費及び設置費を最小化することが
できる。
装置52が真空圧を利用して把持することでウェハを高
速移動させることが可能であるように別途の真空圧形成
装置を設置する必要がない構成である。
される移送通路が従来の中央チャンバーのように真空環
境が形成されたものではないので、前記工程チャンバー
の多層構造が可能で、中央チャンバー内で移送アームが
ウェハを単純に重力支持して移動時、ウェハの慣性によ
ってウェハが離脱しないように低速で移動させる従来の
場合より高速なウェハの移送が可能である。
程、アシング(Ashig)工程等エッチング工程の前後工
程で比較的低真空状態が要求される前記工程チャンバー
の場合、ウェハの出入が可能で、選択的に開閉されるよ
うに前記移送通路方向にゲート(図示しない)が形成さ
れることが可能である。
行される前記工程チャンバー45は、内部の真空圧を形
成するための真空圧形成装置が設置されるので、プラズ
マを形成するために内部に高真空環境を形成することが
可能な高真空用工程チャンバーを設置する場合が多い。
部が直接露出されて再び高真空状態に真空圧が形成され
るのにかかる時間及びエネルギーの浪費を最小化するた
めに前記工程チャンバー45の一側面にウェハの待機場
所として低真空が形成されるロードロックチャンバー4
3を連結し、ロードロックチャンバー43の一面に移送
通路方向にゲート46、49を形成する。
バー43は、内部に前記ウェハ移送装置52からウェハ
を引受け、これを前記工程チャンバーに移送するように
ウェハが安着される図6の移送アーム54及び前記移送
アーム54を移動させるチャンバー内移送装置44が設
置され、移送通路側の一面にウェハの出入が可能で、選
択的な開閉が可能な図4のゲート46、49が形成さ
れ、それぞれ2つの工程チャンバー側の一面にウェハの
出入が可能で、選択的な開閉が可能なゲート47、4
8、50、51が形成される構成である。
ーム及びチャンバー内移送装置44は、2つの工程チャ
ンバーにそれぞれ1枚ずつのウェハを同時に個別移送す
ることができるように前記ロードロックチャンバー内に
2つが設置され得る。
は、前記高真空環境の工程チャンバー45の間に設置さ
れたゲート47、48、50、51が開いてウェハが移
送される時、前記工程チャンバー内部の急激な真空圧相
殺形状が起こらないように前記ロードロックチャンバー
43内部の低真空圧を形成するための真空圧形成装置
(図示しない)が設置される。
が可能で、真空ポンプを利用する一般的な真空圧形成装
置として、当業者にとって実施が容易なものなので詳し
い説明は省略する。
び図5に図示されるように、2つの工程チャンバー45
がロードロックチャンバー43の前後に位置して1つの
ロードロックチャンバー43を共有する構成であるが、
3つまたは多数個の工程チャンバーが1つのロードロッ
クチャンバーを供給するようにする構成も可能である。
バーで加工を終えたウェハが次の工程が行われる工程チ
ャンバーに直接移送することができるようにゲートを通
じて工程チャンバーと工程チャンバーがお互い連結され
る形態として、工程チャンバーと工程チャンバーの間の
ウェハ移送が可能な形態に製作されることも可能であ
る。
前記ウェハ移送装置52は、ウェハを選択的に把持する
図6の移送アーム53と、前記移送アーム53を移動さ
せることで前記工程チャンバーにウェハをローディング
及びアンローディングさせることが可能な移送ロボット
(図示しない)と、前記移送ロボットを水平移動させる
水平移動駆動部(図示しない)と、前記移送ロボットを
昇下降させる昇下降駆動部(図示しない)及び前記移送
ロボット、昇下降駆動部及び水平移動駆動部に制御信号
を与えてこれらを制御する制御部(図示しない)を備え
る。
真空吸着することが可能であるように真空ライン(図示
しない)が設置される。また、前記移送アーム53は、
図5に図示されたように、一度に一枚のウェハを移送す
るように設置されることも可能であるがウェハの移送時
間を短縮させるために各層にそれぞれ2つずつ設置され
たロードロックチャンバーに、それぞれ2枚ずつのウェ
ハを同時に個別移送することができるように4つが連結
されて設置されるフォーアームシステム(4-Arm Syste
m)であることが可能である。
ームシステムを始めとして2枚及び3枚のウェハを同時
に移送することができるツーアームシステム(2-Arm S
ystem)、スリーアームシステム(3-Arm System)など
は、半導体工程で常用化された技術で、当業者にとって
多様な形態の変更及び実施が可能であることは当然なも
のである。
下降駆動部(図示しない)は、モータまたは空圧シリン
ダーを駆動源として移動する経路を案内するレールまた
はガイド棒に沿って水平移動する水平移動駆動部に再び
移動する経路を案内するレールまたはガイド棒に沿って
昇下降移動する昇下降駆動部に前記移送アーム及び移送
ロボットが設置されるものである。これもまた、半導体
工程で常用化された技術で、当業者において多様な形態
の変更及び実施が容易であることは当然なことであるの
で詳しい説明は省略する。
明の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバ
ーシステムは、図6に示すように、多数個のウェハを積
載したカセット41が前記カセットステージ42に安着
されると、制御部の制御信号を受けた前記ウェハ移送装
置52の水平移動駆動部及び昇下降駆動部が駆動して前
記移送ロボットを前記カセット41内に積載されたウェ
ハに接近させる。
接近すると、前記移送ロボットは、制御部の制御信号を
受け前記移送アーム53を前記ウェハに接触させ、真空
ラインが設置された前記移送アーム53は前記ウェハを
真空吸着して一側面に固定させる。
1層の特定工程チャンバー45に移送されるウェハであ
る場合には、制御部が前記水平移動駆動部を制御して1
層の特定工程チャンバー45と連結されたロードロック
チャンバー43に移送する。
3の移送通路方向に形成されたゲート46が開き、前記
ウェハ移送装置52の移送アーム53が挿入された後、
真空ラインの真空圧が切れると前記ウェハが前記ロード
ロックチャンバー43の内部の移送アーム54に安着さ
れる。
が前記ロードロックチャンバー43を抜けると、前記ゲ
ート46が閉じられ、前記ロードロックチャンバー43
の真空圧形成装置が稼動してロードロックチャンバー4
3の内部を低真空状態にする。
準の低真空状態に到達すると、前記ロードロックチャン
バー43の工程チャンバー側のゲート50が開き、前記
ロードロックチャンバー43のチャンバー内移送装置4
4は、前記移送アーム54に安着されたウェハを前記工
程チャンバー45内に移送する。
低真空状環境によってウェハの真空吸着は難しいが、前
記ロードロックチャンバー43の面積が従来の場合のよ
うに広くないので、移送アームがウェハを安着させ、低
速移動される区間が相対的に非常に短い。
45から抜けると、前記ゲート46が閉じられ、前記工
程チャンバー45に設置された真空圧形成装置が稼動し
て前記工程チャンバー45内に高真空を形成してエッチ
ング工程が遂行されるようにする。
程チャンバー45に移送されるウェハである場合には、
制御部が前記水平移動駆動部及び昇下降駆動部を制御し
て2層の特定工程チャンバー45と連結されたロードロ
ックチャンバー43に移送する。
送アーム53に真空吸着された状態に昇降して前記ロー
ドロックチャンバー43内に挿入された後、以後の過程
は前述された1層の移送経路と同一である。
にウェハを移送するウェハローディング作業が終ると、
前記ウェハ移送装置52が工程が完了される順にウェハ
をアンローディングして、再び前記カセットステージ4
2に移送するか、次の工程が遂行される特定層の特定工
程チャンバーに制御部の制御信号を受けて前記ウェハを
移送する過程を経るようになる。
ムシステムを設置する場合には、前記ウェハ移送装置5
2は、前記カセット内に積載されたウェハを4枚ずつ移
送して特定工程チャンバーと連結されたロードロックチ
ャンバーにそれぞれ2枚ずつ移送するようになり、前記
チャンバー内移送装置及び移送アームはツーアームシス
テムに設置され2つの工程チャンバーにそれぞれ1枚ず
つウェハを移送した後、工程が終ると、再びウェハ移送
装置52に2枚または1枚のウェハを伝達して後続加工
が行われるようにする。
半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシ
ステムは、図7に示すように、加工前のウェハを積載す
るカセットが安着される第1カセットステージ60と、
加工後のウェハを積載するカセットが安着される第2カ
セットステージ70と、ウェハの移送に必要な空間であ
る長方形移送通路の両側面に多層をなして並んで配列さ
れウェハの加工が行われる多数個の工程チャンバー45
と、前記移送通路に設置されて垂直及び水平往復運動が
可能で、前記第1カセットステージ60に積載されたウ
ェハを前記多数個の工程チャンバー45にそれぞれ移送
し、加工を終えたウェハを前記第2カセットステージ7
0に移送することが可能な移送ロボットを含むウェハ移
送装置52とを備える。
ーシステムは前述した第1実施例のウェハ加工を全て終
えたウェハが前記第2カセットステージ70に積載され
て図8に示すように他工程設備20と連結されることが
容易であるように形成された構成である。
置された第1カセットステージ60を通じて本発明のマ
ルチチャンバーシステムに供給されて多数個の工程チャ
ンバー45内で工程を終えたウェハが設備の後方に設置
された第2カセットステージ70に積載された後、再び
他工程設備20の自動移送装置によって他工程設備20
で他工程が遂行された後、前記他工程設備20の側方に
移送され、また異なる他工程設備20を経た後、本発明
のマルチチャンバーシステムの右側前方の他工程設備カ
セットステージに積載されるウェハ経路を構成すること
ができるものである。これは本実施例が半導体製造ライ
ン内に設置される一例であって、本実施例が製造ライン
内に設置される場合、多様な形態の適用が可能であるこ
とを示している。
の前方に配置される従来の集中型マルチチャンバーシス
テムのカセットステージが全て前方に向くようになるの
で、設備から設備にカセットを運搬する作業者または自
動カセット運搬車等が必ず必要になり、付随的なカセッ
ト運搬装置を備えなければならないという事とは別に、
本発明の第2実施例によると、設備から設備にカセット
を運搬する作業者または自動カセット運搬車等の付随的
なカセット運搬装置をなくすか、または大幅に減らすこ
とができるという利点がある。
ルチチャンバーシステムを延長させて設置される工程チ
ャンバー45の個数をさらに増加させる場合には、前記
移送通路を延長し、また、いくつかの工程チャンバー4
5とロードロックチャンバー43を前記移送通路の両側
面に直列に並んでさらに配置させることが可能である。
とき、互いに引受け、引継ぐことが可能な2つの第1ウ
ェハ移送装置62及び第2ウェハ移送装置72を設置す
る事が可能である。
ステムとは別に、設備幅は変わらず、理論的に設置され
る工程チャンバーを無限に増加させることが可能なもの
である。しかし、このような場合、設備の長さの限界
と、設備制御の限界等の制約がある。
半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシ
ステムは、図10に示すように、ウェハを積載したカセ
ットが安着されるカセットステージ42と、ウェハの移
送に必要な空間である長方形移送通路の一側面に多層を
なして並んで配列されウェハの加工が行われる多数個の
工程チャンバー45と、前記移送通路に設置されて垂直
及び水平往復運動が可能で、前記カセットステージに積
載されたウェハを前記多数個の工程チャンバーにそれぞ
れローディング及びアンローディングさせる事が可能で
あるウェハ移送装置52とを備える。
送通路の一側面にのみ多層に配列される構成で、やはり
一側面にウェハの待機場所であるロードロックチャンバ
ー43が連結される。
は、内部に前記ウェハ移送装置52からウェハを引受
け、これを前記工程チャンバーに移送するようにウェハ
が安着される移送アーム及び前記移送アームを移動させ
るチャンバー内移送装置が設置され、移送通路側の一面
と工程チャンバー側の一面にそれぞれウェハの出入が可
能で、選択的な開閉が可能なゲートが形成される。
置52の構成は、第1実施例や第2実施例と実質的に同
じであり、前記工程チャンバー45及びロードロックチ
ャンバー43が前記移送通路の一側面にのみ配置されて
いるので、前記ウェハ移送装置52は前記カセットステ
ージ42でウェハを真空吸着して90度水平回転した
後、一側の方向にのみ前記ウェハをローディングするよ
うになるという点で異なる。
行われる前のウェハを積載したカセットが安着される第
1カセットステージ60で前記ウェハを前記工程チャン
バー45に移送し、前記工程チャンバーで工程を終えた
ウェハを次の工程のためのウェハの移送が便利な位置に
設置された第2カセットステージ70に移送する。
0は、図10に図示されるように前記工程チャンバー4
5及びロードロックチャンバー43が設置された移送通
路の一側方向に対向する方向に設置されて工程を終えた
ウェハが前記他工程設備20に供給されることが容易で
あるように形成される。
製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステムによ
ると、半導体製造ラインを設置するとき、多様な形態と
面積を有する各種設備を清浄室に設置し、残りの清浄室
の空き地に効果的に配置して空間効率を高める利点があ
る。
体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステ
ムによると、多数個の工程チャンバーを多層に直列配置
して設備の面積及び設備の幅を画期的に縮小することが
できる。また、不要な真空面積を縮小することにより設
備費用及び設置費用を最小化する事ができる。さらに、
他工程設備との連結及び空間活用が容易であり、また、
ウェハの移送速度が向上する。
のみ詳しく説明されたが、本発明の技術思想範囲内で多
様な変形及び修正が可能であることは当業者にとって明
白なことであり、このような変形及び修正が添付された
特許請求の範囲に属することは当然なことである。
型マルチチャンバーシステムを示す模式的な平面図であ
る。
型マルチチャンバーシステムを連結して結合させた状態
を示す模式的な平面図である。
型マルチチャンバーシステムが半導体製造ライン内に設
置された状態を示す図である。
ッチング設備のマルチチャンバーシステムを示す模式的
な平面図である。
ッチング設備のマルチチャンバーシステムを示す斜視図
である。
を概略的に示した側面図である。
ッチング設備のマルチチャンバーシステムを示す模式的
な平面図である。
ッチング設備のマルチチャンバーシステムが半導体製造
ライン内に設置された一例を示す平面図である。
ッチング設備のマルチチャンバーシステムが延長された
状態を示した模式的な平面図である。
エッチング設備のマルチチャンバーシステムが半導体製
造ライン内に設置された一例を示す平面図である。
Claims (30)
- 【請求項1】 ウェハを積載したカセットが安着される
カセットステージと、 前記カセットステージに面しウェハの移送に必要な空間
を有する長方形の移送通路と、 前記移送通路の側面に並んで配列される多数個の工程チ
ャンバーと、 前記移送通路に設置され、前記カセットステージに積載
されたウェハを前記多数個の工程チャンバーにそれぞれ
ローディング及びアンローディングさせることが可能な
ウェハ移送装置と、 を備えることを特徴とする半導体素子製造用エッチング
設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項2】 前記工程チャンバーは、多層をなすこと
を特徴とする請求項1に記載の半導体素子製造用エッチ
ング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項3】 前記工程チャンバーは、前記移送通路方
向に、ウェハの出入が可能で選択的に開閉が可能なゲー
トが形成されることを特徴とする請求項1に記載の半導
体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステ
ム。 - 【請求項4】 前記工程チャンバーは、一側面にウェハ
の待機場所であるロードロックチャンバーを連結して備
えることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子製造
用エッチング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項5】 前記ロードロックチャンバーは、内部に
前記ウェハ移送装置からウェハを引受け、これを前記工
程チャンバーに移送するようにウェハが安着される移送
アーム及び前記移送アームを移動させるチャンバー内移
送装置を備え、前記移送通路側の一面と前記工程チャン
バー側の一面にそれぞれウェハの出入が可能で、選択的
な開閉が可能なゲートが形成されることを特徴とする請
求項4に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマル
チチャンバーシステム。 - 【請求項6】 前記ロードロックチャンバーは、同時に
多数個のウェハを個別移送するための多数個の前記移送
アームを備えることを特徴とする請求項5に記載の半導
体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステ
ム。 - 【請求項7】 前記ロードロックチャンバーは、内部の
真空圧を形成するための真空圧形成装置を備えることを
特徴とする請求項4に記載の半導体素子製造用エッチン
グ設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項8】 前記工程チャンバーは、多数個の工程チ
ャンバーが1個の前記ロードロックチャンバーを共有す
ることを特徴とする請求項4に記載の半導体素子製造用
エッチング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項9】 前記工程チャンバーは、工程の連続する
工程チャンバー間でウェハが直接移送されるようにゲー
トを通じて互いに連結されることを特徴とする請求項1
に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャ
ンバーシステム。 - 【請求項10】 前記工程チャンバーは、内部の真空圧
を形成するための真空圧形成装置を備えることを特徴と
する請求項1に記載の半導体素子製造用エッチング設備
のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項11】 前記ウェハ移送装置は、 ウェハを選択的に把持する移送アームと、 前記移送アームを移動させることにより前記工程チャン
バーにウェハをローディング及びアンローディングさせ
ることが可能な移送ロボットと、 前記移送ロボットを水平移動させる水平移動駆動部と、 前記移送ロボット及び水平移動駆動部に制御信号を与え
てこれらを制御する制御部と、 を備えることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子
製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項12】 前記ウェハ移送装置は、前記制御部か
ら制御信号を与えられて制御され、前記移送ロボットを
昇下降させる昇下降駆動部を備えることを特徴とする請
求項11に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマ
ルチチャンバーシステム。 - 【請求項13】 前記移送アームは、ウェハを真空吸着
可能な真空ラインを備えることを特徴とする請求項11
に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャ
ンバーシステム。 - 【請求項14】 前記ウェハ移送装置は、多数個のウェ
ハを同時に個別移送するための多数個の前記移送アーム
を備えることを特徴とする請求項11に記載の半導体素
子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項15】 前記水平移動駆動部は、モータまたは
空圧シリンダーを備えることを特徴とする請求項11に
記載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャン
バーシステム。 - 【請求項16】 前記昇下降駆動部は、モータまたは空
圧シリンダーを備えることを特徴とする請求項12に記
載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバ
ーシステム。 - 【請求項17】 前記移送通路の長さが長い場合、ウェ
ハを互いに引受け、引き継ぐことが可能な複数個の前記
ウェハ移送装置を備えることを特徴とする請求項1に記
載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバ
ーシステム。 - 【請求項18】 前記ウェハ移送装置は、工程が行われ
る前のウェハを積載したカセットが安着される第1カセ
ットステージにより前記ウェハを前記工程チャンバーに
移送し、その工程チャンバーで工程を終えたウェハを次
の工程のためのウェハ移送に適した位置に設置された第
2カセットステージに移送することを特徴とする請求項
1に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチ
ャンバーシステム。 - 【請求項19】 ウェハを積載したカセットが安着され
るカセットステージと、 前記カセットステージに面し、ウェハの移送に必要な空
間を有する長方形の移送通路と、 前記移送通路の側面に多層をなして並んで配列され、ウ
ェハの加工が行われる多数個の工程チャンバーと、 前記移送通路に設置され、垂直及び水平方向の往復移動
が可能で、前記カセットステージに積載されたウェハを
前記多数個の工程チャンバーにそれぞれローディング及
びアンローディングすることが可能なウェハ移送装置
と、 を備えることを特徴とする半導体素子製造用エッチング
設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項20】 前記工程チャンバーは、2層から5層
構造であることを特徴とする請求項19に記載の半導体
素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステ
ム。 - 【請求項21】 前記工程チャンバーは、一側面にウェ
ハの待機場所であるロードロックチャンバーを連結して
備えることを特徴とする請求項19に記載の半導体素子
製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項22】 前記ロードロックチャンバーは、内部
に前記ウェハ移送装置からウェハを引受け、これを前記
工程チャンバーに移送するようにウェハが安着される移
送アーム及び前記移送アームを移動させるチャンバー内
移送装置を備え、移送通路側の一面と工程チャンバー側
の一面にそれぞれウェハの出入が可能で、選択的な開閉
が可能なゲートが形成されることを特徴とする請求項2
1に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチ
ャンバーシステム。 - 【請求項23】 前記ロードロックチャンバーは、多数
個のウェハを同時に個別移送するための多数個の前記移
送アームを備えることを特徴とする請求項22に記載の
半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシ
ステム。 - 【請求項24】 前記ウェハ移送装置は、 ウェハを選択的に真空吸着して把持するための真空ライ
ンを有する移送アームと、 前記移送アームを移動させることにより前記工程チャン
バーにウェハをローディング及びアンローディングさせ
ることが可能な移送ロボットと、 前記移送ロボットを昇下降させる昇下降駆動部と、 前記移送ロボットを水平移動させる水平移動駆動部と、 前記移送ロボット、昇下降駆動部及び水平移動駆動部に
制御信号を与えて制御する制御部と、 を備えることを特徴とする請求項19に記載の半導体素
子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項25】 前記ウェハ移送装置は、多数個のウェ
ハを同時に個別移送するための多数個の前記移送アーム
を備えることを特徴とする請求項24に記載の半導体素
子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項26】 前記昇下降駆動部及び水平移動駆動部
は、モータまたは空圧シリンダーを備えることを特徴と
する請求項24に記載の半導体素子製造用エッチング設
備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項27】 前記移送通路の長さが長い場合、ウェ
ハを互いに引受け、引き継ぐことが可能である複数個の
前記ウェハ移送装置を備えることを特徴とする請求項1
9に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチチ
ャンバーシステム。 - 【請求項28】 前記ウェハ移送装置は、工程が行われ
る前のウェハを積載したカセットが安着される第1カセ
ットステージにより前記ウェハを前記工程チャンバーに
移送し、前記工程チャンバーで工程を終えたウェハを次
の工程のためのウェハ移送に適した位置に設置された第
2カセットステージに移送することを特徴とする請求項
19に記載の半導体素子製造用エッチング設備のマルチ
チャンバーシステム。 - 【請求項29】 工程以前にウェハを積載したカセット
が安着される第1カセットステージと、 前記第1カセットステージに面し、ウェハの移送に必要
な空間を有する長方形の移送通路と、 前記移送通路の側面に多層をなして並んで配列され、ウ
ェハの工程が行われる多数個の工程チャンバーと、 前記移送通路に設置され、垂直及び水平方向の往復運動
が可能で、前記第1カセットステージに積載されたウェ
ハを前記多数個の工程チャンバーにそれぞれローディン
グ及びアンローディングすることが可能なウェハ移送装
置と、 前記第1カセットステージに対向し前記移送通路に面
し、工程後のウェハを積載するカセットが安着される第
2カセットステージと、 を備えることを特徴とする半導体素子製造用エッチング
設備のマルチチャンバーシステム。 - 【請求項30】 前記ウェハ移送装置は、 ウェハを選択的に真空吸着して把持するための真空ライ
ンを有する移送アームと、 前記移送アームを移動させることにより前記工程チャン
バーにウェハをローディング及びアンローディングさせ
ることが可能な移送ロボットと、 前記移送ロボットを昇下降させる昇下降駆動部と、 前記移送ロボットを水平移動させる水平移動駆動部と、 前記移送ロボット、昇下降駆動部及び水平移動駆動部に
制御信号を与えて制御する制御部と、 を備えることを特徴とする請求項29に記載の半導体素
子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019980014228A KR100265287B1 (ko) | 1998-04-21 | 1998-04-21 | 반도체소자 제조용 식각설비의 멀티챔버 시스템 |
| KR1998P14228 | 1998-04-21 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006270706A Division JP2007036284A (ja) | 1998-04-21 | 2006-10-02 | 半導体装置素子の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11307614A true JPH11307614A (ja) | 1999-11-05 |
| JPH11307614A5 JPH11307614A5 (ja) | 2004-08-12 |
Family
ID=19536537
Family Applications (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10293387A Pending JPH11307614A (ja) | 1998-04-21 | 1998-10-15 | 半導体素子製造用エッチング設備のマルチチャンバーシステム |
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| JP2009062953A Expired - Lifetime JP5134575B2 (ja) | 1998-04-21 | 2009-03-16 | マルチ−チャンバーシステムで半導体素子を製造する方法 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2006270706A Pending JP2007036284A (ja) | 1998-04-21 | 2006-10-02 | 半導体装置素子の製造方法 |
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| Country | Link |
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| JP (3) | JPH11307614A (ja) |
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| JP2009147368A (ja) | 2009-07-02 |
| JP2012186506A (ja) | 2012-09-27 |
| JP5491579B2 (ja) | 2014-05-14 |
| KR100265287B1 (ko) | 2000-10-02 |
| US6930050B2 (en) | 2005-08-16 |
| US6503365B1 (en) | 2003-01-07 |
| JP2007036284A (ja) | 2007-02-08 |
| JP5134575B2 (ja) | 2013-01-30 |
| TW502284B (en) | 2002-09-11 |
| DE19901426A1 (de) | 1999-11-04 |
| US20050236092A1 (en) | 2005-10-27 |
| KR19990080759A (ko) | 1999-11-15 |
| DE19964479B4 (de) | 2011-03-31 |
| US20090291558A1 (en) | 2009-11-26 |
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