JPH1154870A - 配線基板及びその製造方法 - Google Patents
配線基板及びその製造方法Info
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Abstract
プ(突起)と導体パタ−ンが共存する為、高密度配線化
やパタ−ン設計の自由度の増大が可能であるばかりでな
く、バンプの先端がくぼんだ形状(凹状)となっている
ため、被接触物が凸状の場合でも十分な接触が得られる
配線基板及びその製造方法の提供。 【解決手段】 絶縁性基材4を表面銅箔7と裏面銅箔8
で挟み込み、表面銅箔7に開口部を設け、絶縁性基材を
4を露出する。次に絶縁性基材4にプラズマエッチンッ
グ、化学エッチンッグ、レ−ザ加工等により貫通孔6を
設け、裏面銅箔8に貫通孔6を設けて表裏両面導体パタ
−ンを形成する。表裏両面導体パタ−ンをレジスト(マ
スキング)9し、裏面の導体パタ−ンの端面よりメッキ
を析出させてバンプを形成して、レジスト(マスキン
グ)9を除去する。
Description
タ−ンを持ち、表面はバンプ(突起)と導体パタ−ンが
共存する為、高密度配線化やパタ−ン設計の自由度の増
大が可能であるばかりでなく、バンプの先端がくぼんだ
形状(凹状)となっているため、被接触物が凸状の場合
でも十分な接触が得られる配線基板及びその製造方法に
関する。
通穴を有し、その開口部にバンプ状の金属突起物を設け
た配線基板では、バンプが突出している面にはバンプの
みで導体パタ−ンが共存せず、この為、高密度配線化に
対応出来ず、バンプ周辺への必要なパタ−ン形成が行え
ない等問題点があった。又、バンプの先端形状が凸状で
被接触物の形状が凸状の場合、ややもすると接触性は十
分とはいい難かった。本発明は、これらの問題点を解決
するために、バンプ突出面に導体パタ−ンが共存し、バ
ンプ先端の中央部が凹形状を持つ配線基板及びその製造
法を提供しようとするものである。
は、表裏両面に導体パタ−ンを持ち、表面は、バンプと
導体パタ−ンが共存する構造である。第2番目として
は、第1番目のバンプの先端がくぼんだ形状(凹状)と
なっている構造である。第3番目としては、絶縁性基材
4を表面銅箔7と裏面銅箔8で挟み込む第1工程と、表
面銅箔7に開口部を設け、絶縁性基材4を露出する第2
工程と、絶縁性基材4にプラズマエッチンッグ、化学エ
ッチンッグ、レ−ザ加工等により貫通孔6を設ける第3
工程と、裏面銅箔8に貫通孔6を設けかつ、表裏両面導
体パタ−ンを形成する第4工程と、表裏両面導体パタ−
ンをレジスト(マスキング)9し、裏面の導体パタ−ン
の端面よりメッキを析出させてバンプを形成する第5工
程と、バンプを熟成させ、レジスト(マスキング)9を
除去して完了する第6工程からなる配線基板の製造方法
である。
と導体パタ−ンが共存する為、高密度配線化やパタ−ン
設計の自由度の増大が可能である。又、バンプの先端が
くぼんだ形状(凹状)のため、被接触物が凸状の場合で
も十分な接触が得られる。
製造方法の実施例を添付図面を参照して詳細に説明す
る。図1は、本発明の配線基板1の断面図、図2は、本
発明の配線基板1の製造方法で、製造工程説明図であ
る。図から明らかなように、第1番目としては、絶縁性
基材4を表裏導体パタ−ンで挟んだ配線基板において、
バンプ形成位置に表面の導体パタ−ン3と絶縁性基材4
と裏面導体パタ−ン5に貫通孔6を設け、前記貫通孔6
には、バンプ状の金属突出物2が絶縁性基材4の表面上
に盛り上がって形成され、かつ貫通孔6以外の部分にお
いては、表裏の両面導体パタ−ンが共存していることを
特徴とする配線基板1である。第2番目としては、第1
番目のバンプ状の金属突出物2の中央が凹状に形成され
ていることを特徴とする配線基板1である。ここで、バ
ンプの先端がくぼんだ形状(凹状)の方が好ましいが、
これに限らず、通常のバンプ(突起)形状でも構わな
い。第3番目としては、絶縁性基材4を表面銅箔7と裏
面銅箔8で挟み込む第1工程と、表面銅箔7に開口部を
設け、絶縁性基材4を露出する第2工程と、絶縁性基材
4にプラズマエッチンッグ、化学エッチンッグ、レ−ザ
加工等により貫通孔6を設ける第3工程と、裏面銅箔8
に貫通孔6を設けかつ、表裏両面導体パタ−ンを形成す
る第4工程と、表裏両面導体パタ−ンをレジスト(マス
キング)9し、裏面の導体パタ−ンの端面よりメッキを
析出させてバンプを形成する第5工程と、バンプを熟成
させ、レジスト(マスキング)9を除去して完了する第
6工程からなることを特徴とする配線基板の製造方法で
ある。以下、本発明の具体的実施例は下記の通りであ
る。
け、絶縁基材であるポリイミドを露出させる。 第3工程: ポリイミドに貫通孔を設ける。(プラズマ
等によるポリイミドエッチング、銅箔の部分はエッチン
グされない) 第4工程: 両面にパタ−ンを形成。(銅箔のエッチン
グによる) 裏面銅箔の貫通孔部分もエッチングされ除
去される。 第5工程: バンプ形成(電気メッキ) 表面と裏面の
導体パタ−ンをレジスト(マスキング)し、裏面の導体
パタ−ンの端面よりメッキを析出させバンプを形成す
る。 第6工程: バンプを熟成させ、レジスト(マスキン
グ)9を除去して完了。
定した結果、従来品と比較して接触性が向上しており、
良好な結果が得られた。
絶縁性基材4としてポリイミドを代表例にとり図示した
が、これに限るものではない。このように、設計上本発
明の範囲内で各種の変形を含むものであることはいうま
でもない。
の配線基板及びその製造方法によれば、表裏両面に導体
パタ−ンを持ち、表面は、バンプと導体パタ−ンが共存
する為、高密度配線化やパタ−ン設計の自由度の増大が
可能となるものである。又、バンプの先端がくぼんだ形
状(凹状)となっているため、被接触物が凸状の場合で
も十分な接触が得られるという効果があり、その工業的
価値は大なるものがある。
明図。
Claims (3)
- 【請求項1】 絶縁性基材4を表裏導体パタ−ンで挟ん
だ配線基板において、バンプ形成位置に表面の導体パタ
−ン3と絶縁性基材4と裏面導体パタ−ン5に貫通孔6
を設け、前記貫通孔6には、バンプ状の金属突出物2が
絶縁性基材4の表面上に盛り上がって形成され、かつ貫
通孔6以外の部分においては、表裏の両面導体パタ−ン
が共存していることを特徴とする配線基板1。 - 【請求項2】 請求項1のバンプ状の金属突出物2の中
央が凹状に形成されていることを特徴とする配線基板
1。 - 【請求項3】 絶縁性基材4を表面銅箔7と裏面銅箔8
で挟み込む第1工程と、 表面銅箔7に開口部を設け、絶縁性基材4を露出する第
2工程と、 絶縁性基材4に貫通孔6を設ける第3工程と、 裏面銅箔8に貫通孔6を設けかつ、表裏両面導体パタ−
ンを形成する第4工程と、 表裏両面導体パタ−ンをレジスト(マスキング)9し、
裏面の導体パタ−ンの端面よりメッキを析出させてバン
プを形成する第5工程と、 バンプを熟成させ、レジスト(マスキング)9を除去し
て完了する第6工程からなることを特徴とする配線基板
の製造方法。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP22111297A JP3889485B2 (ja) | 1997-08-01 | 1997-08-01 | 配線基板の製造方法 |
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| JP22111297A JP3889485B2 (ja) | 1997-08-01 | 1997-08-01 | 配線基板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1154870A true JPH1154870A (ja) | 1999-02-26 |
| JP3889485B2 JP3889485B2 (ja) | 2007-03-07 |
Family
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| JP22111297A Expired - Fee Related JP3889485B2 (ja) | 1997-08-01 | 1997-08-01 | 配線基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3889485B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100572880B1 (ko) * | 2000-07-14 | 2006-04-24 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마를 이용한 기판의 홀가공방법 |
| JP2006253176A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Tdk Corp | 基板及び電子部品の製造方法 |
| US7589416B2 (en) | 2005-05-26 | 2009-09-15 | Tdk Corporation | Substrate, electronic component, and manufacturing method of these |
-
1997
- 1997-08-01 JP JP22111297A patent/JP3889485B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100572880B1 (ko) * | 2000-07-14 | 2006-04-24 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마를 이용한 기판의 홀가공방법 |
| JP2006253176A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Tdk Corp | 基板及び電子部品の製造方法 |
| US7589416B2 (en) | 2005-05-26 | 2009-09-15 | Tdk Corporation | Substrate, electronic component, and manufacturing method of these |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3889485B2 (ja) | 2007-03-07 |
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