JPH1188148A - Ecl論理回路 - Google Patents
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- JPH1188148A JPH1188148A JP9238627A JP23862797A JPH1188148A JP H1188148 A JPH1188148 A JP H1188148A JP 9238627 A JP9238627 A JP 9238627A JP 23862797 A JP23862797 A JP 23862797A JP H1188148 A JPH1188148 A JP H1188148A
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- hfe
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/082—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using bipolar transistors
- H03K19/086—Emitter coupled logic
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/013—Modifications for accelerating switching in bipolar transistor circuits
- H03K19/0136—Modifications for accelerating switching in bipolar transistor circuits by means of a pull-up or down element
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- Logic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ベース応答時間に加えて実効負荷抵抗を下げる
ことによりコレクタ応答時間を小さくしてECL論理回
路を高速化し、かつ回路ゲインを低下させないでECL
論理回路の出力振幅レベルを実用上問題ないレベルまで
大きくしたECL論理回路を提供する 【解決手段】ECL論理回路の出力負荷を、トランジス
タとそのトランジスタのベースと電源間に接続した抵抗
とで構成する。
ことによりコレクタ応答時間を小さくしてECL論理回
路を高速化し、かつ回路ゲインを低下させないでECL
論理回路の出力振幅レベルを実用上問題ないレベルまで
大きくしたECL論理回路を提供する 【解決手段】ECL論理回路の出力負荷を、トランジス
タとそのトランジスタのベースと電源間に接続した抵抗
とで構成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ECL(Emit
ter Coupled Logic)論理回路に関
し、特にECL論理回路の高速化に関する。
ter Coupled Logic)論理回路に関
し、特にECL論理回路の高速化に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のECL論理回路で構成されたOR
回路10とこのOR回路10に接続する後段回路の一例
を図3に示す。図3を参照すると、入力トランジスタQ
1,Q2と被入力トランジスタQ3は、それぞれのエミ
ッタを共通の定電流源に接続した差動アンプを構成し、
それらのコレクタに接続される出力負荷は抵抗R1,R
2を用いて構成される。
回路10とこのOR回路10に接続する後段回路の一例
を図3に示す。図3を参照すると、入力トランジスタQ
1,Q2と被入力トランジスタQ3は、それぞれのエミ
ッタを共通の定電流源に接続した差動アンプを構成し、
それらのコレクタに接続される出力負荷は抵抗R1,R
2を用いて構成される。
【0003】また容量C1,C2は、それぞれOR回路
10の出力端子であるOut1,Out2バーから後段
回路20の入力に接続する配線のGNDに対する寄生容
量である。OR回路10において、被入力端子3に基準
電位を入力し、入力端子1,2にECLレベルの入力信
号を印加すると、出力端子Out1,Out1バーに入
力信号の論理和が出力される。
10の出力端子であるOut1,Out2バーから後段
回路20の入力に接続する配線のGNDに対する寄生容
量である。OR回路10において、被入力端子3に基準
電位を入力し、入力端子1,2にECLレベルの入力信
号を印加すると、出力端子Out1,Out1バーに入
力信号の論理和が出力される。
【0004】図3に示すOR回路10及び一般のECL
論理回路の高速性能は、ECL論理回路を構成するトラ
ンジスタそのもののスイッチング応答と、出力抵抗とこ
の出力抵抗に接続する全負荷容量(すなわち出力抵抗に
接続する負荷容量と配線及び抵抗に付随する寄生容量と
の加算値)との時定数とにより決定される。
論理回路の高速性能は、ECL論理回路を構成するトラ
ンジスタそのもののスイッチング応答と、出力抵抗とこ
の出力抵抗に接続する全負荷容量(すなわち出力抵抗に
接続する負荷容量と配線及び抵抗に付随する寄生容量と
の加算値)との時定数とにより決定される。
【0005】従って、ECL論理回路を高速化するため
には、プロセスの微細化によるトランジスタの速度向上
と、出力負荷抵抗値を下げるための電流及びゲインの最
適化、さらに寄生容量を低減するためのレイアウト設計
上の考慮が必要とされていた。
には、プロセスの微細化によるトランジスタの速度向上
と、出力負荷抵抗値を下げるための電流及びゲインの最
適化、さらに寄生容量を低減するためのレイアウト設計
上の考慮が必要とされていた。
【0006】次に、ECL論理回路のスイッチング速度
を決定する要因について説明する。ECL論理回路のス
イッチング速度は、次の3つの要因に分けて考えること
ができる。
を決定する要因について説明する。ECL論理回路のス
イッチング速度は、次の3つの要因に分けて考えること
ができる。
【0007】1)ECL論理回路を構成するトランジス
タのスイッチング応答時間 これは、トランジスタの順方向遷移時間τfで表すこと
ができ、プロセスの微細化とともに順方向遷移時間τf
は大幅に小さくなってきている。
タのスイッチング応答時間 これは、トランジスタの順方向遷移時間τfで表すこと
ができ、プロセスの微細化とともに順方向遷移時間τf
は大幅に小さくなってきている。
【0008】2)ベース応答時間(ミラー応答時間) これは、G0・rbb・Cjcとして表すことができ
る。ここで、G0は回路ゲイン、rbbはベース抵抗、
Cjcはベース・コレクタ接合容量である。ベース抵抗
rbb及びベース・コレクタ接合容量Cjcは、プロセ
スの微細化とともに小さくすることが可能であるが、回
路ゲインG0は回路構成から定まる定数であり、ベース
応答時間を小さくするためには回路ゲインG0を小さく
することが必須である。
る。ここで、G0は回路ゲイン、rbbはベース抵抗、
Cjcはベース・コレクタ接合容量である。ベース抵抗
rbb及びベース・コレクタ接合容量Cjcは、プロセ
スの微細化とともに小さくすることが可能であるが、回
路ゲインG0は回路構成から定まる定数であり、ベース
応答時間を小さくするためには回路ゲインG0を小さく
することが必須である。
【0009】3)コレクタ応答時間(抵抗負荷応答時
間) これは、RL・Cjs+RL・CLとして表すことがで
きる。ここで、RLは負荷抵抗、Cjsはコレクタ・半
導体基板間接合容量、CLは負荷容量である。コレクタ
・半導体基板間接合容量Cjs及び負荷容量CLはプロ
セスの微細化とともに小さくなるが、負荷抵抗RLは
2)で述べた回路ゲインG0と同様に、回路構成から定
まる定数であり、コレクタ応答時間を小さくするために
は負荷抵抗RLを小さくするように回路構成する必要が
ある。
間) これは、RL・Cjs+RL・CLとして表すことがで
きる。ここで、RLは負荷抵抗、Cjsはコレクタ・半
導体基板間接合容量、CLは負荷容量である。コレクタ
・半導体基板間接合容量Cjs及び負荷容量CLはプロ
セスの微細化とともに小さくなるが、負荷抵抗RLは
2)で述べた回路ゲインG0と同様に、回路構成から定
まる定数であり、コレクタ応答時間を小さくするために
は負荷抵抗RLを小さくするように回路構成する必要が
ある。
【0010】次に、図4に示すように入力差動トランジ
スタのコレクタにカスコード接続して2)で述べたベー
ス応答時間を改善したOR回路11と、このOR回路1
1に接続する後段回路20について説明する。
スタのコレクタにカスコード接続して2)で述べたベー
ス応答時間を改善したOR回路11と、このOR回路1
1に接続する後段回路20について説明する。
【0011】図4に示すOR回路11において、図3と
同様に、入力トランジスタQ1,Q2と被入力トランジ
スタQ3は、それぞれのエミッタを共通の定電流源に接
続した差動アンプを構成し、それらのコレクタにそれぞ
れエミッタを接続したトランジスタQ4,Q5とはカス
コード接続をしている。また、トランジスタQ4,Q5
のコレクタにそれぞれ負荷抵抗R1,R2が接続され、
各ベースにはバイアス端子4が接続され一定バイアスが
トランジスタQ4,Q5のベースに供給される。OR回
路11の回路動作は、図3に示すOR回路10と同様で
あり、被入力端子3に基準電位を入力し、入力端子1,
2にECLレベルの入力信号を印加すると、出力端子O
ut2,Out2バーに入力信号の論理和が出力され
る。
同様に、入力トランジスタQ1,Q2と被入力トランジ
スタQ3は、それぞれのエミッタを共通の定電流源に接
続した差動アンプを構成し、それらのコレクタにそれぞ
れエミッタを接続したトランジスタQ4,Q5とはカス
コード接続をしている。また、トランジスタQ4,Q5
のコレクタにそれぞれ負荷抵抗R1,R2が接続され、
各ベースにはバイアス端子4が接続され一定バイアスが
トランジスタQ4,Q5のベースに供給される。OR回
路11の回路動作は、図3に示すOR回路10と同様で
あり、被入力端子3に基準電位を入力し、入力端子1,
2にECLレベルの入力信号を印加すると、出力端子O
ut2,Out2バーに入力信号の論理和が出力され
る。
【0012】このOR回路では、入力端子1,2から電
源に対しての回路ゲインが理論計算上は1となるため、
上記の2)で説明したベース応答時間G0・rbb・C
jcの回路ゲインG0がOR回路10の回路ゲインに比
べて小さくなり、ベース応答時間を小さくすることがで
きる。シミュレーションにより、OR回路11のスイッ
チング応答時間は、OR回路10のスイッチング応答時
間に比べて5〜6%程度改善することが示された。
源に対しての回路ゲインが理論計算上は1となるため、
上記の2)で説明したベース応答時間G0・rbb・C
jcの回路ゲインG0がOR回路10の回路ゲインに比
べて小さくなり、ベース応答時間を小さくすることがで
きる。シミュレーションにより、OR回路11のスイッ
チング応答時間は、OR回路10のスイッチング応答時
間に比べて5〜6%程度改善することが示された。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のECL
論理回路は、プロセスの微細化と入力差動トランジスタ
をカスコード接続することにより、トランジスタのスイ
ッチング応答時間及びベース応答時間を小さくできるも
のの、コレクタ応答時間を小さくすることは困難であっ
た。すなわち、回路ゲインを確保するために負荷抵抗R
Lの値をある程度以上大きくする必要があり、一方負荷
抵抗RLを大きくすると、コレクタ応答速度が遅くなる
という問題がある。
論理回路は、プロセスの微細化と入力差動トランジスタ
をカスコード接続することにより、トランジスタのスイ
ッチング応答時間及びベース応答時間を小さくできるも
のの、コレクタ応答時間を小さくすることは困難であっ
た。すなわち、回路ゲインを確保するために負荷抵抗R
Lの値をある程度以上大きくする必要があり、一方負荷
抵抗RLを大きくすると、コレクタ応答速度が遅くなる
という問題がある。
【0014】このため、本発明の目的は、ベース応答時
間に加えてコレクタ応答時間を小さくしてECL論理回
路を高速化し、かつ回路ゲインを低下させないでECL
論理回路の出力振幅レベルを実用上問題ないレベルまで
大きくしたECL論理回路を提供することにある。
間に加えてコレクタ応答時間を小さくしてECL論理回
路を高速化し、かつ回路ゲインを低下させないでECL
論理回路の出力振幅レベルを実用上問題ないレベルまで
大きくしたECL論理回路を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明による
ECL論理回路は、入力信号が各ベースに印加される差
動バイポーラトランジスタと、前記差動バイポーラトラ
ンジスタのコレクタに接続した負荷用トランジスタと、
前記負荷用トランジスタのベースと電源間に接続した抵
抗とを有している。
ECL論理回路は、入力信号が各ベースに印加される差
動バイポーラトランジスタと、前記差動バイポーラトラ
ンジスタのコレクタに接続した負荷用トランジスタと、
前記負荷用トランジスタのベースと電源間に接続した抵
抗とを有している。
【0016】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【0017】図1は、本発明のECL論理回路の実施の
形態を示す回路図であり、図3に示す従来例と共通の構
成要素には共通の参照文字/数字を付してある。
形態を示す回路図であり、図3に示す従来例と共通の構
成要素には共通の参照文字/数字を付してある。
【0018】図1を参照すると、OR回路100を構成
する入力トランジスタQ1,Q2と被入力トランジスタ
Q3は、それぞれのエミッタを共通の定電流源に接続し
た差動アンプを構成し、それらのコレクタに接続される
出力負荷は、トランジスタQ6,Q7とトランジスタQ
6,Q7の各ベースと電源間に接続されたポリシリコ
ン、薄膜抵抗など寄生容量が少ない抵抗R3,R4とで
構成される。また、容量C1,C2はOR回路100の
出力端子Out3,Out3バーとトランジスタQ8,
Q9を含む後段回路20の各入力端子を配線する配線の
GNDに対する寄生容量である。
する入力トランジスタQ1,Q2と被入力トランジスタ
Q3は、それぞれのエミッタを共通の定電流源に接続し
た差動アンプを構成し、それらのコレクタに接続される
出力負荷は、トランジスタQ6,Q7とトランジスタQ
6,Q7の各ベースと電源間に接続されたポリシリコ
ン、薄膜抵抗など寄生容量が少ない抵抗R3,R4とで
構成される。また、容量C1,C2はOR回路100の
出力端子Out3,Out3バーとトランジスタQ8,
Q9を含む後段回路20の各入力端子を配線する配線の
GNDに対する寄生容量である。
【0019】OR回路100の基本動作は、被入力端子
3に基準電位を入力し、入力端子1,2にECLレベル
の入力信号を印加すると、出力端子Out3,Out3
バーに入力信号の論理和が出力される。すなわち、入力
端子1,2に共にECLロウレベルが入力すると、トラ
ンジスタQ1,Q2は共にオフ、トランジスタQ3がオ
ンする。従って、出力端子Out3はロウレベルにな
り、出力端子Out3バーはハイレベルとなる。これよ
り、後段回路を構成するトランジスタQ8がオンし、ト
ランジスタQ9がオフする。
3に基準電位を入力し、入力端子1,2にECLレベル
の入力信号を印加すると、出力端子Out3,Out3
バーに入力信号の論理和が出力される。すなわち、入力
端子1,2に共にECLロウレベルが入力すると、トラ
ンジスタQ1,Q2は共にオフ、トランジスタQ3がオ
ンする。従って、出力端子Out3はロウレベルにな
り、出力端子Out3バーはハイレベルとなる。これよ
り、後段回路を構成するトランジスタQ8がオンし、ト
ランジスタQ9がオフする。
【0020】一方、入力端子1,2のいずれか一方ある
いは両方にECLハイレベルが入力すると、トランジス
タQ1,Q2はいずれか一方あるいは両方がオンし、ト
ランジスタQ3がオフする。従って、出力端子Out3
はハイレベルになり、出力端子Out3バーはロウレベ
ルとなる。これより、トランジスタQ8がオフし、トラ
ンジスタQ9がオンする。
いは両方にECLハイレベルが入力すると、トランジス
タQ1,Q2はいずれか一方あるいは両方がオンし、ト
ランジスタQ3がオフする。従って、出力端子Out3
はハイレベルになり、出力端子Out3バーはロウレベ
ルとなる。これより、トランジスタQ8がオフし、トラ
ンジスタQ9がオンする。
【0021】ここで、出力端子Out3の直流レベルに
おける高電位をVout(H)、低電位をVout
(L)とすると、各電位は次式により得ることができ
る。
おける高電位をVout(H)、低電位をVout
(L)とすると、各電位は次式により得ることができ
る。
【0022】 Vout(H)=Vcc−(kT/q)・ln(I2/Is) ・・・(1) Vout(L)=Vcc−(kT/q)・ln(I1/Is)−R・I1/h FE ・・・(2) ここで、Vccは電源電圧、kはボルツマン定数、Tは
絶対温度、qは電子の電荷量、Isは逆飽和電流、I1
はトランジスタQ3がオンしたときのトランジスタQ7
のエミッタ電流、I2はトランジスタQ3がオフ、トラ
ンジスタQ9がオンしたときのトランジスタQ9のベー
ス電流、Rは抵抗R3,R4の抵抗値、hFEはトラン
ジスタQ7の直流電流増幅率である。
絶対温度、qは電子の電荷量、Isは逆飽和電流、I1
はトランジスタQ3がオンしたときのトランジスタQ7
のエミッタ電流、I2はトランジスタQ3がオフ、トラ
ンジスタQ9がオンしたときのトランジスタQ9のベー
ス電流、Rは抵抗R3,R4の抵抗値、hFEはトラン
ジスタQ7の直流電流増幅率である。
【0023】従って、(1)式及び(2)式より出力端
子Out3の直流レベルでの直流出力振幅ΔVout
(DC)は、次の(3)式により得ることができる。
子Out3の直流レベルでの直流出力振幅ΔVout
(DC)は、次の(3)式により得ることができる。
【0024】 ΔVout(DC)=Vout(H)−Vout(L)=(kT/q)・ln (I1/I2)+R・I1/hFE=(kT/q)・lnhFE+R・Ic/h FE ・・・(3) ここで、Icは定電流源を流れる電流であり、トランジ
スタQ7,Q9の直流電流増幅率hFEはそれぞれ等し
いとし、I1=Ic,I2=I1/hFEの関係を用い
た。
スタQ7,Q9の直流電流増幅率hFEはそれぞれ等し
いとし、I1=Ic,I2=I1/hFEの関係を用い
た。
【0025】また、交流信号が入力した場合の出力端子
Out3における交流出力振幅ΔVout(AC)は、
(3)式からわかるように次の(4)式により計算する
ことができる。
Out3における交流出力振幅ΔVout(AC)は、
(3)式からわかるように次の(4)式により計算する
ことができる。
【0026】 ΔVout(AC)=(kT/q)・lnhfe+R・I1/hfe ・・・・(4) ここで、hfeはトランジスタQ7の交流電流増幅率で
ある。また、交流信号が入力したときの実効負荷抵抗R
(AC)は、次の(5)式により得ることができる。
ある。また、交流信号が入力したときの実効負荷抵抗R
(AC)は、次の(5)式により得ることができる。
【0027】 R(AC)=α・(hfe/hFE)・(re(Ic/2)+R/hfe) ・・・(5) ここで、αは定数、re(Ic/2)はコレクタ電流が
Ic/2のときのトランジスタQ7のエミッタ抵抗であ
る。
Ic/2のときのトランジスタQ7のエミッタ抵抗であ
る。
【0028】(4)式からわかるように、交流電流増幅
率hfeを高くすることにより交流出力振幅ΔVout
(AC)を大きくすることができる。一方、(5)式か
らわかるように、交流出力振幅ΔVout(AC)は
(hfe/hFE)の項だけ低下し、さらに(5)式の
第2項はhfeで除算されるため実効値R(AC)を従
来のECL論理回路における負荷抵抗RLに比べて大幅
に小さくすることができる。
率hfeを高くすることにより交流出力振幅ΔVout
(AC)を大きくすることができる。一方、(5)式か
らわかるように、交流出力振幅ΔVout(AC)は
(hfe/hFE)の項だけ低下し、さらに(5)式の
第2項はhfeで除算されるため実効値R(AC)を従
来のECL論理回路における負荷抵抗RLに比べて大幅
に小さくすることができる。
【0029】従って、負荷抵抗の実効値を下げることが
できるので、コレクタ応答時間が高速化し、ECL論理
回路全体としての高速性能が大幅に改善される。
できるので、コレクタ応答時間が高速化し、ECL論理
回路全体としての高速性能が大幅に改善される。
【0030】また、スイッチング応答の際に回路ゲイン
が非線形となり出力信号に歪が生じることが懸念される
が、アナログ動作ではなく論理動作としての応用では、
出力信号を差動で受けるように回路を構成すれば問題な
い。
が非線形となり出力信号に歪が生じることが懸念される
が、アナログ動作ではなく論理動作としての応用では、
出力信号を差動で受けるように回路を構成すれば問題な
い。
【0031】ここで具体的に、定電流源を流れる電流I
cを0.5mA、直流電流増幅率hFEを100、交流
電流増幅率hfeを20、トランジスタQ6,Q7の各
ベースと電源に接続している抵抗R3,R4の抵抗値R
を30KΩ、エミッタ抵抗re(250μA)を104
Ωとすると、(3)式及び(5)式は次のように
(3)’及び(5)’として計算される。
cを0.5mA、直流電流増幅率hFEを100、交流
電流増幅率hfeを20、トランジスタQ6,Q7の各
ベースと電源に接続している抵抗R3,R4の抵抗値R
を30KΩ、エミッタ抵抗re(250μA)を104
Ωとすると、(3)式及び(5)式は次のように
(3)’及び(5)’として計算される。
【0032】 ΔVout(DC)=26mV・ln(100)+30KΩ・0.5mA/1 00=270mV ・・・(3)’ RL(AC)=20/100・(104+30KΩ/20)=320Ω ・・・(5)’ ここで、(5)式のαは経験上の値として1を用いた。
【0033】一方、従来のECL論理回路の実効負荷抵
抗はΔVout(DC)/Icで計算することができ、
(3)’式よりΔVout(DC)/Ic=270mV
/0.5mA=540Ωとなる。この値と(4)’式と
を比較すると、本発明のECL論理回路において、実効
負荷抵抗R(AC)は従来のECL論理回路の実効負荷
抵抗に比べて40%小さくなることがわかる。
抗はΔVout(DC)/Icで計算することができ、
(3)’式よりΔVout(DC)/Ic=270mV
/0.5mA=540Ωとなる。この値と(4)’式と
を比較すると、本発明のECL論理回路において、実効
負荷抵抗R(AC)は従来のECL論理回路の実効負荷
抵抗に比べて40%小さくなることがわかる。
【0034】また、本発明によるECL論理回路のスイ
ッチング速度は、前述のようにプロセスによって異なる
ものの、標準プロセスの一例として、τf=10pS、
rbb=1kΩ、Cjc=10fF、Cjs=50f
F、CL=100fFの値を用いて計算すると、1)ト
ランジスタのスイッチング応答時間τf、2)ベース応
答時間G0・rbb・Cjc、3)コレクタ応答時間R
L・Cjs+RL・CLはそれぞれ、次のように計算さ
れる。
ッチング速度は、前述のようにプロセスによって異なる
ものの、標準プロセスの一例として、τf=10pS、
rbb=1kΩ、Cjc=10fF、Cjs=50f
F、CL=100fFの値を用いて計算すると、1)ト
ランジスタのスイッチング応答時間τf、2)ベース応
答時間G0・rbb・Cjc、3)コレクタ応答時間R
L・Cjs+RL・CLはそれぞれ、次のように計算さ
れる。
【0035】1)トランジスタのスイッチング応答時間
τf:10pS 2)ベース応答時間G0・rbb・Cjc:2.6×1
kΩ×10fF=26pSとなる。ここで、G0=ΔV
out(DC)/(4kT/q)=270mV/(4×
26mV)=2.6として計算した。
τf:10pS 2)ベース応答時間G0・rbb・Cjc:2.6×1
kΩ×10fF=26pSとなる。ここで、G0=ΔV
out(DC)/(4kT/q)=270mV/(4×
26mV)=2.6として計算した。
【0036】3)コレクタ応答時間RL・Cjs+RL
・CL:(5)’式のRL(AC)を用いて計算する
と、320Ω・(50fF+100fF)=48pSと
なる。ちなみに、従来のECL論理回路でコレクタ応答
時間が80pSとなり、実効負荷抵抗R(AC)が従来
のECL論理回路の実効負荷抵抗に比べて40%低下す
ることに対応して、40%高速化することがわかる。
・CL:(5)’式のRL(AC)を用いて計算する
と、320Ω・(50fF+100fF)=48pSと
なる。ちなみに、従来のECL論理回路でコレクタ応答
時間が80pSとなり、実効負荷抵抗R(AC)が従来
のECL論理回路の実効負荷抵抗に比べて40%低下す
ることに対応して、40%高速化することがわかる。
【0037】上記の計算結果より、トータルのスイッチ
ング時間は10pS+26pS+48pS=84pSと
なり、従来のECL論理回路のトータルスイッチング時
間10pS+26pS+80pS=116pSに比べ
て、84/116=0.72すなわち28%トータルス
イッチング時間が高速化することがわかる。
ング時間は10pS+26pS+48pS=84pSと
なり、従来のECL論理回路のトータルスイッチング時
間10pS+26pS+80pS=116pSに比べ
て、84/116=0.72すなわち28%トータルス
イッチング時間が高速化することがわかる。
【0038】また今後、プロセスの微細化進むにつれ
て、トータルスイッチング時間に占めるコレクタ応答時
間の割合が大きくなるため、一層高速化を計ることがで
きる。
て、トータルスイッチング時間に占めるコレクタ応答時
間の割合が大きくなるため、一層高速化を計ることがで
きる。
【0039】次に、本発明のECL論理回路の第2の実
施の形態について説明する。
施の形態について説明する。
【0040】図2は、本発明のECL論理回路の第2の
実施の形態を示す回路図であり、マスタフリップフロッ
プ30と、スレーブフリップフロップ40とからなる。
マスタフリップフロップ30は、差動トランジスタQ1
0,Q11と、トランジスタQ10,Q11の各コレク
タと電源間に接続したトランジスタQ6,Q7と、トラ
ンジスタQ6,Q7の各ベースと電源間に接続した抵抗
R3,R4と、トランジスタQ10,Q11の共通エミ
ッタと定電流源との間に接続したトランジスタQ12と
から構成される。また、トランジスタQ12のベースに
はクロック入力端子6が接続し、トランジスタQ10,
Q11の各ベースには、それぞれデータ入力端子4及び
反転データ入力端子5とが接続する。
実施の形態を示す回路図であり、マスタフリップフロッ
プ30と、スレーブフリップフロップ40とからなる。
マスタフリップフロップ30は、差動トランジスタQ1
0,Q11と、トランジスタQ10,Q11の各コレク
タと電源間に接続したトランジスタQ6,Q7と、トラ
ンジスタQ6,Q7の各ベースと電源間に接続した抵抗
R3,R4と、トランジスタQ10,Q11の共通エミ
ッタと定電流源との間に接続したトランジスタQ12と
から構成される。また、トランジスタQ12のベースに
はクロック入力端子6が接続し、トランジスタQ10,
Q11の各ベースには、それぞれデータ入力端子4及び
反転データ入力端子5とが接続する。
【0041】スレーブフリップフロップ40は、差動ト
ランジスタQ14,Q15とQ14,Q15の共通エミ
ッタと定電流源との間に接続したトランジスタQ13と
から構成される。また、トランジスタQ14,Q15の
各コレクタには、それぞれQ出力端子8及びQバー出力
端子9とが接続する図2に示す本発明によるECL論理
回路は、高周波の信号をデジタル信号処理回路で処理可
能な周波数まで下げる分周回路などに用いることができ
る。
ランジスタQ14,Q15とQ14,Q15の共通エミ
ッタと定電流源との間に接続したトランジスタQ13と
から構成される。また、トランジスタQ14,Q15の
各コレクタには、それぞれQ出力端子8及びQバー出力
端子9とが接続する図2に示す本発明によるECL論理
回路は、高周波の信号をデジタル信号処理回路で処理可
能な周波数まで下げる分周回路などに用いることができ
る。
【0042】また、差動トランジスタQ10,Q11の
各コレクタと電源間には、図1に示すOR回路100と
同様に、ベースと電源間に抵抗を接続したトランジスタ
Q6,Q7が接続しているため、ベース応答時間に加え
てコレクタ応答時間を小さくしてデータ入力端子4及び
反転データ入力端子5からQ出力端子8及びQバー出力
端子9までのトータルスイッチング時間を高速化し、か
つ回路ゲインを高くしてECL論理回路の出力振幅レベ
ルを実用上問題ないレベルまで大きくしたECL論理回
路を提供することができる。
各コレクタと電源間には、図1に示すOR回路100と
同様に、ベースと電源間に抵抗を接続したトランジスタ
Q6,Q7が接続しているため、ベース応答時間に加え
てコレクタ応答時間を小さくしてデータ入力端子4及び
反転データ入力端子5からQ出力端子8及びQバー出力
端子9までのトータルスイッチング時間を高速化し、か
つ回路ゲインを高くしてECL論理回路の出力振幅レベ
ルを実用上問題ないレベルまで大きくしたECL論理回
路を提供することができる。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のECL論
理回路は、その出力負荷をトランジスタとそのトランジ
スタのベースと電源間に接続した抵抗とで構成すること
により、実効負荷抵抗を小さくし、ECL論理回路を大
幅に高速化することができる。
理回路は、その出力負荷をトランジスタとそのトランジ
スタのベースと電源間に接続した抵抗とで構成すること
により、実効負荷抵抗を小さくし、ECL論理回路を大
幅に高速化することができる。
【0044】また、高周波のスイッチング動作時にはト
ランジスタ交流電流増幅率hfeの低下によるゲイン補
正を行うことにより高速性能を大幅に改善することがで
きる。
ランジスタ交流電流増幅率hfeの低下によるゲイン補
正を行うことにより高速性能を大幅に改善することがで
きる。
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す回路図であ
る。
る。
【図2】本発明の第2の実施の形態を示す回路図であ
る。
る。
【図3】従来技術による抵抗負荷型のECLOR回路で
ある。
ある。
【図4】従来技術によるカスコード接続のECLOR回
路である。
路である。
1,2 入力端子 3 被入力端子 4 データ入力端子 5 反転データ入力端子 6 クロック入力端子 7 反転クロック入力端子 8 Q出力端子 9 Qバー出力端子 10,11,100 OR回路 20 後段回路 30 マスタフリップフロップ 40 スレーブフリップフロップ Q1〜Q15 トランジスタ R1〜R4 抵抗 C1,C2 寄生容量
Claims (4)
- 【請求項1】 入力信号が各ベースに印加される差動バ
イポーラトランジスタと、前記差動バイポーラトランジ
スタのコレクタに接続した負荷用トランジスタと、前記
負荷用トランジスタのベースと電源間に接続した抵抗と
を有するECL論理回路。 - 【請求項2】 前記差動バイポーラトランジスタの各ベ
ースに入力信号とこの入力信号の反転信号が印加される
と共にそれぞれのコレクタから出力信号を取り出し、前
記差動バイポーラトランジスタの共通エミッタにコレク
タを接続しベースにクロック信号を入力するバイポーラ
トランジスタを備える請求項1記載のECL論理回路。 - 【請求項3】 ベースに第1の入力信号が印加されコレ
クタから出力信号を取り出す第1のトランジスタ及びベ
ースに基準電圧が印加される第2のトランジスタからな
る差動バイポーラトランジスタと、 前記第1のトランジスタのエミッタ及びコレクタをそれ
ぞれ共通接続しベースに第2の入力信号が印加される第
3のトランジスタと、 前記第1のトランジスタ及び前記第2のトランジスタの
各コレクタに接続した負荷用トランジスタと、前記負荷
用トランジスタのベースと電源間に接続した抵抗とを有
するECL論理回路。 - 【請求項4】 前記差動バイポーラトランジスタ及び前
記負荷用トランジスタは全てNPNトランジスタである
請求項1乃至3記載のECL論理回路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9238627A JPH1188148A (ja) | 1997-09-03 | 1997-09-03 | Ecl論理回路 |
| KR1019980036057A KR19990029445A (ko) | 1997-09-03 | 1998-09-02 | 고속에서 동작가능한 이미터결합 논리회로 |
| CN98118598A CN1213224A (zh) | 1997-09-03 | 1998-09-03 | 能够在更高速度下工作的发射级耦合逻辑电路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9238627A JPH1188148A (ja) | 1997-09-03 | 1997-09-03 | Ecl論理回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1188148A true JPH1188148A (ja) | 1999-03-30 |
Family
ID=17032964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9238627A Pending JPH1188148A (ja) | 1997-09-03 | 1997-09-03 | Ecl論理回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1188148A (ja) |
| KR (1) | KR19990029445A (ja) |
| CN (1) | CN1213224A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4597966B2 (ja) * | 2003-03-14 | 2010-12-15 | エヌエックスピー ビー ヴィ | 全高調波歪みが非常に小さい正弦波成形器 |
| US7218174B2 (en) * | 2005-02-14 | 2007-05-15 | Semiconductor Components Industries, L.L.C. | Delay circuit and method therefor |
| CN113472339A (zh) * | 2021-07-07 | 2021-10-01 | 弘大芯源(深圳)半导体有限公司 | 一种在连续辐射照射下具有稳定性能的晶体管逻辑电路 |
-
1997
- 1997-09-03 JP JP9238627A patent/JPH1188148A/ja active Pending
-
1998
- 1998-09-02 KR KR1019980036057A patent/KR19990029445A/ko not_active Ceased
- 1998-09-03 CN CN98118598A patent/CN1213224A/zh active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1213224A (zh) | 1999-04-07 |
| KR19990029445A (ko) | 1999-04-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000905 |