JPS5815264A - マルチチツプパツケ−ジ - Google Patents
マルチチツプパツケ−ジInfo
- Publication number
- JPS5815264A JPS5815264A JP56113050A JP11305081A JPS5815264A JP S5815264 A JPS5815264 A JP S5815264A JP 56113050 A JP56113050 A JP 56113050A JP 11305081 A JP11305081 A JP 11305081A JP S5815264 A JPS5815264 A JP S5815264A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring board
- wiring
- chip
- lsi
- multilayer wiring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/611—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers for connecting multiple chips together
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/67—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their insulating layers or insulating parts
- H10W70/68—Shapes or dispositions thereof
- H10W70/685—Shapes or dispositions thereof comprising multiple insulating layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、LSIパッケージの構造に関する。
従来、LSIパッケージは1個のLSIチップが入った
ケースをプリント板に半田付けしていたが、近年コンピ
ュータの高性能化等に伴ない、複数のLSIチップを実
装したLSIパツケーシが用いられるよう罠なっている
。この横のLsr)<ツケージは、第1図に示すように
、セラ5ツク基板lOの片面の外周部に入出力パッド1
1を配し、配線1!、LSIチップ接続パッド1g、L
SIチップ接着パッド14を有する絶縁層18をセラミ
ック基板lOの片面に形成し、配[i!12と入出力)
くラド11とは所要個所で接続されている。そして、L
8Iチッグ接着パッド14にLSIチップ15を接着し
、LSIチップ入出力@16によってLSIチップ接続
パッド18に接続している。またセライック基板10の
上記と反対側の面に放熱体17を密着させている。上述
の従来のLSI/くツケージは、入出力パッド11がL
SIチップ搭載面と同じ側に設けられているため、LS
Iチップの実装面積が小となり、チップの実装数量が制
限されるという欠点がある。
ケースをプリント板に半田付けしていたが、近年コンピ
ュータの高性能化等に伴ない、複数のLSIチップを実
装したLSIパツケーシが用いられるよう罠なっている
。この横のLsr)<ツケージは、第1図に示すように
、セラ5ツク基板lOの片面の外周部に入出力パッド1
1を配し、配線1!、LSIチップ接続パッド1g、L
SIチップ接着パッド14を有する絶縁層18をセラミ
ック基板lOの片面に形成し、配[i!12と入出力)
くラド11とは所要個所で接続されている。そして、L
8Iチッグ接着パッド14にLSIチップ15を接着し
、LSIチップ入出力@16によってLSIチップ接続
パッド18に接続している。またセライック基板10の
上記と反対側の面に放熱体17を密着させている。上述
の従来のLSI/くツケージは、入出力パッド11がL
SIチップ搭載面と同じ側に設けられているため、LS
Iチップの実装面積が小となり、チップの実装数量が制
限されるという欠点がある。
第2図に示すように、複数のセライックの生シート20
に配線導体22およびLSIチップ接続パッド28等を
印刷形成し、これらを積層し人出力量ビン21を植設し
て焼成したセラ(ツタ積層配線基板上にLSIチップ2
6を搭載し、LSIチッグバンプ24によfiLsIチ
ップ接続)(ラド28に接続した構造のパッケージも知
られている。
に配線導体22およびLSIチップ接続パッド28等を
印刷形成し、これらを積層し人出力量ビン21を植設し
て焼成したセラ(ツタ積層配線基板上にLSIチップ2
6を搭載し、LSIチッグバンプ24によfiLsIチ
ップ接続)(ラド28に接続した構造のパッケージも知
られている。
しかし、このようなパッケージは、セラミックの生シー
ト20に配線導体22等を印刷によって形成するため、
印刷技術上から配線導体220−幅は200ミクロン程
kが限度であり、線間ピッチは500ミクロン@度が限
度である。すなわち、配線密度を大にすることができな
いという欠点がある。
ト20に配線導体22等を印刷によって形成するため、
印刷技術上から配線導体220−幅は200ミクロン程
kが限度であり、線間ピッチは500ミクロン@度が限
度である。すなわち、配線密度を大にすることができな
いという欠点がある。
本発明の目的は、上述の従来の欠点を解決し、配線台k
が大で、しかも、LSIチップを多数搭載することが可
能なマルチチップパッケージを提供することにある。
が大で、しかも、LSIチップを多数搭載することが可
能なマルチチップパッケージを提供することにある。
本発明のパッケージは、内部および表面に配線導体を有
するセラミック積層配線基板と、該セライック積層配線
基板の一方の園に央出し上記配線導体に接続された入出
力用ピンと、前記セラミック積1−配線基板の上記ビン
と反対側の面に形成され絶縁層および緻細な配線パター
ンが交互に配され九多層配線基板と、該多層配線基板上
に搭載されり複数のLSIチップとを備え、該LSIチ
ップは上記多層配線基板上の配線パターンに接続され、
上記多層配線基板上の配線パターンは前記セラずツク積
層配線基板の表面に形成された配線導体22して前記入
出力用ピンに接続され九ことを物像とする。
するセラミック積層配線基板と、該セライック積層配線
基板の一方の園に央出し上記配線導体に接続された入出
力用ピンと、前記セラミック積1−配線基板の上記ビン
と反対側の面に形成され絶縁層および緻細な配線パター
ンが交互に配され九多層配線基板と、該多層配線基板上
に搭載されり複数のLSIチップとを備え、該LSIチ
ップは上記多層配線基板上の配線パターンに接続され、
上記多層配線基板上の配線パターンは前記セラずツク積
層配線基板の表面に形成された配線導体22して前記入
出力用ピンに接続され九ことを物像とする。
次に1本発明について、図面を参照して詳細に説明する
。
。
第8図は、本発明の一実施例を示す断面図である。すな
わち、セラミックシート80の各層に配線導体82を印
刷形成し、入出力ビン81を立設して積j−燐成したセ
フイック横層配・線基板を基体として用いる。人出力ビ
ン81は、セラミックシート各j−に印刷された配線導
体82と接続されていて、外部との接続に用いる。セラ
ミックシート80に設けられた配線導体82のうち、図
中最上層のものVit述の多層配線パターンと接続され
る。
わち、セラミックシート80の各層に配線導体82を印
刷形成し、入出力ビン81を立設して積j−燐成したセ
フイック横層配・線基板を基体として用いる。人出力ビ
ン81は、セラミックシート各j−に印刷された配線導
体82と接続されていて、外部との接続に用いる。セラ
ミックシート80に設けられた配線導体82のうち、図
中最上層のものVit述の多層配線パターンと接続され
る。
i九、各り一配線導体82間の所要部は、スルーホール
89によって相互に接続される。
89によって相互に接続される。
上記セラミック積層配線基板上に、48縁層88と微細
な配線パターン84とが交互に積層された多層配−基板
を形成する。諌多層配線基板は、例えば有機樹脂の塗布
乾燥又は、無機絶縁ペーストの焼成によって形成され九
絶縁層上に、選択メッキ法9選択エツチング法又はスク
リーン印刷等によりて黴細な配線パターンを形成するこ
とKよって多層に形成される。なお、上記配線パターン
の層間の所要個所はグイアホール(VIA)40によっ
て相互に接続されている。また、前述のセラミック積層
配線基板の最上層(表面)の配線導体82との間も所要
個所が接続されている。上記絶縁ペースト、は、空気中
で低温焼成可能な絶縁ペースト、又は窒素雰囲気中で焼
成可能な絶縁ペーストなどであって、その形成プロセス
中に同時に形成される配線パターンの金属材料を劣化さ
せないものを用いることが必要である。また、前記配線
パターンは、選択金めつき法による金配線により、微細
パターンを形成すれば、黴−で信頼性の良い配線パター
ンを形成できる。勿論、選択鋼めっき法9選択銅エツチ
ング法によって形成しても差支えなく、ま九、銅ペース
ト印刷焼成法によって形成することもできる。そして、
多層配線層の最上7IKは、LSIテッグ接続パット4
1を設ける。
な配線パターン84とが交互に積層された多層配−基板
を形成する。諌多層配線基板は、例えば有機樹脂の塗布
乾燥又は、無機絶縁ペーストの焼成によって形成され九
絶縁層上に、選択メッキ法9選択エツチング法又はスク
リーン印刷等によりて黴細な配線パターンを形成するこ
とKよって多層に形成される。なお、上記配線パターン
の層間の所要個所はグイアホール(VIA)40によっ
て相互に接続されている。また、前述のセラミック積層
配線基板の最上層(表面)の配線導体82との間も所要
個所が接続されている。上記絶縁ペースト、は、空気中
で低温焼成可能な絶縁ペースト、又は窒素雰囲気中で焼
成可能な絶縁ペーストなどであって、その形成プロセス
中に同時に形成される配線パターンの金属材料を劣化さ
せないものを用いることが必要である。また、前記配線
パターンは、選択金めつき法による金配線により、微細
パターンを形成すれば、黴−で信頼性の良い配線パター
ンを形成できる。勿論、選択鋼めっき法9選択銅エツチ
ング法によって形成しても差支えなく、ま九、銅ペース
ト印刷焼成法によって形成することもできる。そして、
多層配線層の最上7IKは、LSIテッグ接続パット4
1を設ける。
L81テップ35は、チップキャリア87によって上記
多層配線基板上に搭載し、LSIチップ入出力@86に
よって前記LSIチップ接続パッド41に接続する。そ
して、チップキャリア87の図中上面には、放熱体88
を取付けることができる。放熱体88の放熱効果により
、L8Iチップ85はより高密度搭載が可能となる。上
述の実施例では、第1図に示した従来のパッケージのよ
うに1人出力パッド11が必要でないから、LSIチッ
プの実装数を大にすることができる効果がある。また、
@記多層配線基板は、微細配線パターンの形成が可能で
あシ、高密度配線が可能であるから、両者相まって、L
SI1ツブの嵩密度搭載が可能となる。
多層配線基板上に搭載し、LSIチップ入出力@86に
よって前記LSIチップ接続パッド41に接続する。そ
して、チップキャリア87の図中上面には、放熱体88
を取付けることができる。放熱体88の放熱効果により
、L8Iチップ85はより高密度搭載が可能となる。上
述の実施例では、第1図に示した従来のパッケージのよ
うに1人出力パッド11が必要でないから、LSIチッ
プの実装数を大にすることができる効果がある。また、
@記多層配線基板は、微細配線パターンの形成が可能で
あシ、高密度配線が可能であるから、両者相まって、L
SI1ツブの嵩密度搭載が可能となる。
以上のように1本発明においては、セラミック積層配線
基板の片面に微細配線ノ(クーンが形成可能な多層配線
基板を形成し、入出力用ビンを前記積層配線基板の反対
側の片面に集設した構造としたから、多層配線基板上に
入出力用/くラドを形成する必要がな(、LSIチップ
の実装可能面積を大とし、かつ、多層配線基板によって
高密度配線が可能であり、両者相まってLSIチップの
高密度実装ができる効果を有する。
基板の片面に微細配線ノ(クーンが形成可能な多層配線
基板を形成し、入出力用ビンを前記積層配線基板の反対
側の片面に集設した構造としたから、多層配線基板上に
入出力用/くラドを形成する必要がな(、LSIチップ
の実装可能面積を大とし、かつ、多層配線基板によって
高密度配線が可能であり、両者相まってLSIチップの
高密度実装ができる効果を有する。
第1図および第2図はそ九ぞれ従来のLSIパッケージ
の一例を示す断面図、第8図は本発明の一実施例を示す
断面図である。 図において、10・・・セラばツク基板、11・・・入
出力用パッド、12・・・配線パターン、18.2g。 41・・・LSIチップ接続パッド、14・・・LSI
チップ接着パッド、15,25.sト・・LSIチップ
。 16.86・・・LSIチップ入出力線、17.88・
・・放熱体、18.88・・・絶縁層、20.80・・
・セ’): :yクシート、21.81・・・入出力用
ピン、22.82・・・配線導体、87・・・チップキ
ャリア、89・・・スルーホール、40・・・グイアホ
ール。 代理人 弁理士住田俊宗 第1図 jI2図
の一例を示す断面図、第8図は本発明の一実施例を示す
断面図である。 図において、10・・・セラばツク基板、11・・・入
出力用パッド、12・・・配線パターン、18.2g。 41・・・LSIチップ接続パッド、14・・・LSI
チップ接着パッド、15,25.sト・・LSIチップ
。 16.86・・・LSIチップ入出力線、17.88・
・・放熱体、18.88・・・絶縁層、20.80・・
・セ’): :yクシート、21.81・・・入出力用
ピン、22.82・・・配線導体、87・・・チップキ
ャリア、89・・・スルーホール、40・・・グイアホ
ール。 代理人 弁理士住田俊宗 第1図 jI2図
Claims (4)
- (1) 内部および表面に配線導体を有するセラミッ
ク積層配線基板と、該セラミック積層配線基板の一方の
面に突出し壽上記配締導体に接続された入出力用ピンと
、前記セライック積層配線基板の上記ピンと反対側のr
TJK形成され絶縁f−および緻細な配線パターンが交
互に配された多層配線基板と、咳多層配線基板上に搭載
された複数のLSIチップとを備え、該L8Iチップは
上記多層配線基板中の配線パターンに接続され、上記多
層配線基板中の配線パターンは前記セラミック積層配線
基板の表面に形成された配線導体を介して前記入出力用
ビンKII続されたことを特徴とするマルチチップパッ
ケージ。 - (2) 特許請求の範囲第1項記載のマルチチップパ
ッケージにおいて、前記多層配線基板は、有機高分子の
41!!l醸層と、選択めっき法又は選択エツチング法
で形成された配線層とから成ることを特徴とするもの。 - (3) 特許請求の範囲第1項記載のマルチチツプノ
(ッケージにおいて、前記多層配線基板は、空気中又は
窒素中で焼成可能な絶縁ペーストで焼成成形され九絶縁
層と、空気中又は窒素中で焼成可能な導体ペーストの焼
成にようで形成された配線)(ターンとから成ることを
特徴とするもの。 - (4) 特許請求の範囲第1項、第2項又は第8項記
載のマルチチップパッケージにおいて、前記多層配線基
板の表面にLSIチップと接続するためのパッドを形成
し、前記LSIチップはチップキャリアによって上記多
層配線基板に搭載し、上記チップキャリアのLSIチッ
プ接着向の反対側の面に放熱体を備えたことを特徴とす
るもの。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56113050A JPS5815264A (ja) | 1981-07-21 | 1981-07-21 | マルチチツプパツケ−ジ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56113050A JPS5815264A (ja) | 1981-07-21 | 1981-07-21 | マルチチツプパツケ−ジ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5815264A true JPS5815264A (ja) | 1983-01-28 |
Family
ID=14602219
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56113050A Pending JPS5815264A (ja) | 1981-07-21 | 1981-07-21 | マルチチツプパツケ−ジ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5815264A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2563656A1 (fr) * | 1984-04-27 | 1985-10-31 | Nec Corp | Bloc de circuits a integration a grande echelle |
| JPS61191239U (ja) * | 1985-05-23 | 1986-11-28 | ||
| JPH01119047A (ja) * | 1987-10-30 | 1989-05-11 | Nec Corp | 集積回路装置 |
| JPH02119164A (ja) * | 1989-09-20 | 1990-05-07 | Hitachi Ltd | 半導体モジユール |
| US4930002A (en) * | 1987-04-01 | 1990-05-29 | Hitachi, Ltd. | Multi-chip module structure |
-
1981
- 1981-07-21 JP JP56113050A patent/JPS5815264A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2563656A1 (fr) * | 1984-04-27 | 1985-10-31 | Nec Corp | Bloc de circuits a integration a grande echelle |
| JPS61191239U (ja) * | 1985-05-23 | 1986-11-28 | ||
| US4930002A (en) * | 1987-04-01 | 1990-05-29 | Hitachi, Ltd. | Multi-chip module structure |
| JPH01119047A (ja) * | 1987-10-30 | 1989-05-11 | Nec Corp | 集積回路装置 |
| JPH02119164A (ja) * | 1989-09-20 | 1990-05-07 | Hitachi Ltd | 半導体モジユール |
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