JPS5818947A - リ−ドフレ−ム - Google Patents
リ−ドフレ−ムInfo
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- JPS5818947A JPS5818947A JP56117436A JP11743681A JPS5818947A JP S5818947 A JPS5818947 A JP S5818947A JP 56117436 A JP56117436 A JP 56117436A JP 11743681 A JP11743681 A JP 11743681A JP S5818947 A JPS5818947 A JP S5818947A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- island
- lead frame
- semiconductor element
- plating layer
- lead
- Prior art date
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- Pending
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/456—Materials
- H10W70/457—Materials of metallic layers on leadframes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
-
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/951—Materials of bond pads
- H10W72/952—Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、リードフレームの改良に関する。
従来、例えば第1図に示す如く、半導体素子が装着され
るアイランド1とこのアイランド10表面して設けられ
た多数本のインナーリード2とからなるリードフレーム
3は、アイランド10表面の全域とインナーリード2の
先端部の表面領域に金、銀、或はニッケルのメッキ層4
を形成した構造になりている。而して、第2図に示す如
く、アイランド1上に半導体素子5を装着すると共に、
半導体素子50をンディングパッドとインナーリード2
のメッキ層4との間に一ンティyグ線6を架設している
。しかしながら、例えば消費電力の小さな相補型の半導
体素子5などのようなエポキシ系樹脂のペーストにより
て半導体素子5をアイランド1上和装着する場合には、
アイランド1上のメッキ層4は全く不要である。このた
め従来のり−ド7レーム3は、製造コストを十分に低減
させることができなかった。
るアイランド1とこのアイランド10表面して設けられ
た多数本のインナーリード2とからなるリードフレーム
3は、アイランド10表面の全域とインナーリード2の
先端部の表面領域に金、銀、或はニッケルのメッキ層4
を形成した構造になりている。而して、第2図に示す如
く、アイランド1上に半導体素子5を装着すると共に、
半導体素子50をンディングパッドとインナーリード2
のメッキ層4との間に一ンティyグ線6を架設している
。しかしながら、例えば消費電力の小さな相補型の半導
体素子5などのようなエポキシ系樹脂のペーストにより
て半導体素子5をアイランド1上和装着する場合には、
アイランド1上のメッキ層4は全く不要である。このた
め従来のり−ド7レーム3は、製造コストを十分に低減
させることができなかった。
本発明は、かかる点に艦みてなされたもので、製造コス
トの低減を図ったリードフレームを提供するものである
。
トの低減を図ったリードフレームを提供するものである
。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第3図は、本発明の一実施例の平面図である。
このリードフレーム10は、半導体素子が装着されるア
イランド11と、このアイランド11に対向して般社ら
れた多数本のインナーリード12とで形成されてお)、
インナーリード12の先端部の表面領域にのみAu、A
gb或はNlなどからなるメッキ層13が形成されてい
る。
イランド11と、このアイランド11に対向して般社ら
れた多数本のインナーリード12とで形成されてお)、
インナーリード12の先端部の表面領域にのみAu、A
gb或はNlなどからなるメッキ層13が形成されてい
る。
つtシ、アイランド11の表面にはメッキ層13は形成
されていなく下地の表面が直接露出されている。ここで
、インナーリード12に形成されるメッキ層13の大き
さは、半導体素子の仕様に応じて架設されるボンディン
グ線の長さ郷に応じて適宜設定するのが望ましい。
されていなく下地の表面が直接露出されている。ここで
、インナーリード12に形成されるメッキ層13の大き
さは、半導体素子の仕様に応じて架設されるボンディン
グ線の長さ郷に応じて適宜設定するのが望ましい。
而して、このように構成されたリードフレームIOKよ
れば、第4図に示す如く、例えばエポキシ系の樹脂ペー
ストを介して半導体素子14をアイランド1ノ上に装着
し、半導体素子14上のメンディングパッドとインナー
リード12のメッキ層13間にボンディング@15を架
設することにより、半導体装置16を製造することがで
きる。
れば、第4図に示す如く、例えばエポキシ系の樹脂ペー
ストを介して半導体素子14をアイランド1ノ上に装着
し、半導体素子14上のメンディングパッドとインナー
リード12のメッキ層13間にボンディング@15を架
設することにより、半導体装置16を製造することがで
きる。
この半導体装置16では、アイランド11上にはメッキ
層13が全く形成されていないので、例えば半導体素子
14の大きさくチップサイズ)が4×4鰭で必要なメン
ディング線15の数が15本の場合には、従来のアイラ
ンド上にもメッキ層を形成したものに比べて製造コスト
を681s低減させることができる。また、半導体素子
14の大きさが4×4箇でがンノイング線15の本数が
40本の場合には、同様に従来のアイランド上にメッキ
層を有するものに比べて製造コストを571低減させる
ことができる。
層13が全く形成されていないので、例えば半導体素子
14の大きさくチップサイズ)が4×4鰭で必要なメン
ディング線15の数が15本の場合には、従来のアイラ
ンド上にもメッキ層を形成したものに比べて製造コスト
を681s低減させることができる。また、半導体素子
14の大きさが4×4箇でがンノイング線15の本数が
40本の場合には、同様に従来のアイランド上にメッキ
層を有するものに比べて製造コストを571低減させる
ことができる。
以上説明した如く、本発明に係るリードフレームによれ
ば、アイランド上にはメッキ層を形成せず罠インナーリ
ードの表面にのみ形成するようにしたので、製造コスト
を著しく低減させることができるものである。
ば、アイランド上にはメッキ層を形成せず罠インナーリ
ードの表面にのみ形成するようにしたので、製造コスト
を著しく低減させることができるものである。
第1図は、従来のり−ド7レー°ムの平面図、第2図は
、同リードフレームに半導体素子を装着してボンディン
グ線を架設した状態を示す平面図、第3図は、本発明の
一実施例の平面図、第4図は、同実施例のリードフレー
ムに半導体素子を装着してビンディング線を架設した状
態を示す平面図である。 10・・・リードフレーム、11・・・アイランド、1
2・・・インナーリード、13・・・メッキ層、14・
・・半導体素子、15・・・ボンディング線、16・・
・半導体装置。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
第2図 第3図 第4図 K 坦
、同リードフレームに半導体素子を装着してボンディン
グ線を架設した状態を示す平面図、第3図は、本発明の
一実施例の平面図、第4図は、同実施例のリードフレー
ムに半導体素子を装着してビンディング線を架設した状
態を示す平面図である。 10・・・リードフレーム、11・・・アイランド、1
2・・・インナーリード、13・・・メッキ層、14・
・・半導体素子、15・・・ボンディング線、16・・
・半導体装置。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
第2図 第3図 第4図 K 坦
Claims (1)
- 半導体素子が装着されるアイランドと、該アイランド九
対向して設けられたインナーリードと、蚊インナーリー
ドの先端部の表面領域に形成された金、銀、或はニッケ
ルからなるメッキ層とを具備することを特徴とするリー
ドフレーム・
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56117436A JPS5818947A (ja) | 1981-07-27 | 1981-07-27 | リ−ドフレ−ム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56117436A JPS5818947A (ja) | 1981-07-27 | 1981-07-27 | リ−ドフレ−ム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5818947A true JPS5818947A (ja) | 1983-02-03 |
Family
ID=14711597
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56117436A Pending JPS5818947A (ja) | 1981-07-27 | 1981-07-27 | リ−ドフレ−ム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5818947A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009231322A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
| CN105702656A (zh) * | 2014-12-10 | 2016-06-22 | 意法半导体私人公司 | 在引线互连点上具有镀层的集成电路器件及其形成方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51130170A (en) * | 1975-05-07 | 1976-11-12 | Nec Corp | Ic lead frame process |
| JPS5373969A (en) * | 1976-12-14 | 1978-06-30 | Toshiba Corp | Lead frame for semicinductor |
-
1981
- 1981-07-27 JP JP56117436A patent/JPS5818947A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51130170A (en) * | 1975-05-07 | 1976-11-12 | Nec Corp | Ic lead frame process |
| JPS5373969A (en) * | 1976-12-14 | 1978-06-30 | Toshiba Corp | Lead frame for semicinductor |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009231322A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
| CN105702656A (zh) * | 2014-12-10 | 2016-06-22 | 意法半导体私人公司 | 在引线互连点上具有镀层的集成电路器件及其形成方法 |
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