JPS5818947A - リ−ドフレ−ム - Google Patents

リ−ドフレ−ム

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Publication number
JPS5818947A
JPS5818947A JP56117436A JP11743681A JPS5818947A JP S5818947 A JPS5818947 A JP S5818947A JP 56117436 A JP56117436 A JP 56117436A JP 11743681 A JP11743681 A JP 11743681A JP S5818947 A JPS5818947 A JP S5818947A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
island
lead frame
semiconductor element
plating layer
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56117436A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Sasaki
栄夫 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP56117436A priority Critical patent/JPS5818947A/ja
Publication of JPS5818947A publication Critical patent/JPS5818947A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/40Leadframes
    • H10W70/456Materials
    • H10W70/457Materials of metallic layers on leadframes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • H10W72/07541Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
    • H10W72/07551Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
    • HELECTRICITY
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    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
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    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/541Dispositions of bond wires
    • H10W72/5449Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • H10W72/951Materials of bond pads
    • H10W72/952Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
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    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、リードフレームの改良に関する。
従来、例えば第1図に示す如く、半導体素子が装着され
るアイランド1とこのアイランド10表面して設けられ
た多数本のインナーリード2とからなるリードフレーム
3は、アイランド10表面の全域とインナーリード2の
先端部の表面領域に金、銀、或はニッケルのメッキ層4
を形成した構造になりている。而して、第2図に示す如
く、アイランド1上に半導体素子5を装着すると共に、
半導体素子50をンディングパッドとインナーリード2
のメッキ層4との間に一ンティyグ線6を架設している
。しかしながら、例えば消費電力の小さな相補型の半導
体素子5などのようなエポキシ系樹脂のペーストにより
て半導体素子5をアイランド1上和装着する場合には、
アイランド1上のメッキ層4は全く不要である。このた
め従来のり−ド7レーム3は、製造コストを十分に低減
させることができなかった。
本発明は、かかる点に艦みてなされたもので、製造コス
トの低減を図ったリードフレームを提供するものである
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第3図は、本発明の一実施例の平面図である。
このリードフレーム10は、半導体素子が装着されるア
イランド11と、このアイランド11に対向して般社ら
れた多数本のインナーリード12とで形成されてお)、
インナーリード12の先端部の表面領域にのみAu、A
gb或はNlなどからなるメッキ層13が形成されてい
る。
つtシ、アイランド11の表面にはメッキ層13は形成
されていなく下地の表面が直接露出されている。ここで
、インナーリード12に形成されるメッキ層13の大き
さは、半導体素子の仕様に応じて架設されるボンディン
グ線の長さ郷に応じて適宜設定するのが望ましい。
而して、このように構成されたリードフレームIOKよ
れば、第4図に示す如く、例えばエポキシ系の樹脂ペー
ストを介して半導体素子14をアイランド1ノ上に装着
し、半導体素子14上のメンディングパッドとインナー
リード12のメッキ層13間にボンディング@15を架
設することにより、半導体装置16を製造することがで
きる。
この半導体装置16では、アイランド11上にはメッキ
層13が全く形成されていないので、例えば半導体素子
14の大きさくチップサイズ)が4×4鰭で必要なメン
ディング線15の数が15本の場合には、従来のアイラ
ンド上にもメッキ層を形成したものに比べて製造コスト
を681s低減させることができる。また、半導体素子
14の大きさが4×4箇でがンノイング線15の本数が
40本の場合には、同様に従来のアイランド上にメッキ
層を有するものに比べて製造コストを571低減させる
ことができる。
以上説明した如く、本発明に係るリードフレームによれ
ば、アイランド上にはメッキ層を形成せず罠インナーリ
ードの表面にのみ形成するようにしたので、製造コスト
を著しく低減させることができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のり−ド7レー°ムの平面図、第2図は
、同リードフレームに半導体素子を装着してボンディン
グ線を架設した状態を示す平面図、第3図は、本発明の
一実施例の平面図、第4図は、同実施例のリードフレー
ムに半導体素子を装着してビンディング線を架設した状
態を示す平面図である。 10・・・リードフレーム、11・・・アイランド、1
2・・・インナーリード、13・・・メッキ層、14・
・・半導体素子、15・・・ボンディング線、16・・
・半導体装置。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図   
 第2図 第3図     第4図 K         坦

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体素子が装着されるアイランドと、該アイランド九
    対向して設けられたインナーリードと、蚊インナーリー
    ドの先端部の表面領域に形成された金、銀、或はニッケ
    ルからなるメッキ層とを具備することを特徴とするリー
    ドフレーム・
JP56117436A 1981-07-27 1981-07-27 リ−ドフレ−ム Pending JPS5818947A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56117436A JPS5818947A (ja) 1981-07-27 1981-07-27 リ−ドフレ−ム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56117436A JPS5818947A (ja) 1981-07-27 1981-07-27 リ−ドフレ−ム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5818947A true JPS5818947A (ja) 1983-02-03

Family

ID=14711597

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56117436A Pending JPS5818947A (ja) 1981-07-27 1981-07-27 リ−ドフレ−ム

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009231322A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
CN105702656A (zh) * 2014-12-10 2016-06-22 意法半导体私人公司 在引线互连点上具有镀层的集成电路器件及其形成方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51130170A (en) * 1975-05-07 1976-11-12 Nec Corp Ic lead frame process
JPS5373969A (en) * 1976-12-14 1978-06-30 Toshiba Corp Lead frame for semicinductor

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51130170A (en) * 1975-05-07 1976-11-12 Nec Corp Ic lead frame process
JPS5373969A (en) * 1976-12-14 1978-06-30 Toshiba Corp Lead frame for semicinductor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009231322A (ja) * 2008-03-19 2009-10-08 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
CN105702656A (zh) * 2014-12-10 2016-06-22 意法半导体私人公司 在引线互连点上具有镀层的集成电路器件及其形成方法

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