JPS5834756Y2 - マイクロ波集積回路装置 - Google Patents
マイクロ波集積回路装置Info
- Publication number
- JPS5834756Y2 JPS5834756Y2 JP1978137592U JP13759278U JPS5834756Y2 JP S5834756 Y2 JPS5834756 Y2 JP S5834756Y2 JP 1978137592 U JP1978137592 U JP 1978137592U JP 13759278 U JP13759278 U JP 13759278U JP S5834756 Y2 JPS5834756 Y2 JP S5834756Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- gold
- circuit
- dielectric substrate
- bias
- Prior art date
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案はマイクロ波集積回路装置に関し、特に、半導体
素子にガン・ダイオードの如く直流バイアス電流が大電
流になる場合があっても、微小に構成された集積回路の
直流導体部分が焼損されないように構成したものに関す
る。
素子にガン・ダイオードの如く直流バイアス電流が大電
流になる場合があっても、微小に構成された集積回路の
直流導体部分が焼損されないように構成したものに関す
る。
例えば、ガン・ダイオードの如き素子を使用して発振器
を構成する場合、直流バイアスが必要であり、しかも大
電流が流れる場合があるので、直流バイアス供給導体は
充分大きなものが要求される。
を構成する場合、直流バイアスが必要であり、しかも大
電流が流れる場合があるので、直流バイアス供給導体は
充分大きなものが要求される。
しかしながら、このようなガン・ダイオードを使用した
発振器を集積回路(以下ICと称する)として構成する
場合、基板上に形成されるICパターンはその発振周波
数に比例して大きさが制限されるので、例えば30 G
Hz以上の周波数の発振器の場合には、IC回路パター
ンは小さなものとせざるを得ない。
発振器を集積回路(以下ICと称する)として構成する
場合、基板上に形成されるICパターンはその発振周波
数に比例して大きさが制限されるので、例えば30 G
Hz以上の周波数の発振器の場合には、IC回路パター
ンは小さなものとせざるを得ない。
また、上記ミリ波の領域においては、マイクロストリッ
プラインが形成されるIC基板の厚みは通常使用される
アルミナ基板においては、その厚さが0.2乃至Q、3
mm程度の非常に薄いものに制限される。
プラインが形成されるIC基板の厚みは通常使用される
アルミナ基板においては、その厚さが0.2乃至Q、3
mm程度の非常に薄いものに制限される。
その理由は、基板が厚いと基板上に、好ましくないTE
モードやTMモードが生じ、リップルが発生するなど好
ましくない現象を生ずるからである。
モードやTMモードが生じ、リップルが発生するなど好
ましくない現象を生ずるからである。
またライン・インピーダンスは基板の厚さhと導電回路
の幅Wに関係して決定されるが、上記の如く基板の厚さ
が小さく制限されると上記導電回路幅Wも小さく抑えら
れ、該導電路線幅Wだけ勝手に大きくすることはできな
い。
の幅Wに関係して決定されるが、上記の如く基板の厚さ
が小さく制限されると上記導電回路幅Wも小さく抑えら
れ、該導電路線幅Wだけ勝手に大きくすることはできな
い。
したがって、ガン・ダイオードの如き直流の大電流が流
れるような素子を使用して、非常に周波数の高い発振器
を集積回路で構成するときには、ライン・インピーダン
スの点からは導電線路幅を大きくすることはできず、し
かも大電流が流れ易くするために上記導電線路の直流抵
抗値を低下しなければならない。
れるような素子を使用して、非常に周波数の高い発振器
を集積回路で構成するときには、ライン・インピーダン
スの点からは導電線路幅を大きくすることはできず、し
かも大電流が流れ易くするために上記導電線路の直流抵
抗値を低下しなければならない。
本考案の目的は、このような問題点を改善したマイクロ
波IC発振器を提供するものであり、そのために、誘電
体基板面に形成された薄膜パターン回路と該薄膜パター
ン回路に接続された半導体素子より構成されたマイクロ
波集積回路において、上記半導体素子の直流バイアス回
路部を個別の金属部材で構成したことを特徴とする。
波IC発振器を提供するものであり、そのために、誘電
体基板面に形成された薄膜パターン回路と該薄膜パター
ン回路に接続された半導体素子より構成されたマイクロ
波集積回路において、上記半導体素子の直流バイアス回
路部を個別の金属部材で構成したことを特徴とする。
以下本考案の一実施例を第1図乃至第3図にもとづき説
明する。
明する。
第1図は本考案の一実施例構成を示す回路構成図、第2
図イ、町よその直流導電線路の構成及び使用する治具を
示すものであり、第3図は該直流導電線路の製作方法を
示すものである。
図イ、町よその直流導電線路の構成及び使用する治具を
示すものであり、第3図は該直流導電線路の製作方法を
示すものである。
図中、1は誘電体基板、2はバイアス・チョーク部、3
はガン・ダイオード、4は高周波出力部、5は直流電源
、6は外部負荷回路、7は橋絡線部、8は治具である。
はガン・ダイオード、4は高周波出力部、5は直流電源
、6は外部負荷回路、7は橋絡線部、8は治具である。
第1図において、誘電体基板1は、例えばアルミナで構
成され、0.2乃至Q、3mm位の厚さを有し、裏面に
は金属導体膜が形成されている。
成され、0.2乃至Q、3mm位の厚さを有し、裏面に
は金属導体膜が形成されている。
該誘電体基板1にはバイアス・チョーク部2及び高周波
出力部4が形成されているが、これらの各部は例えば周
知のフォトエツチング法により形成することができる。
出力部4が形成されているが、これらの各部は例えば周
知のフォトエツチング法により形成することができる。
誘電体基板1の各面に形成された金の如き導体は、誘電
体基板1との密着性を良好ならしめるために、あらかじ
め誘電体基板1にニクロム層を設け、該ニクロム層の上
に金の如き導体層を形成する。
体基板1との密着性を良好ならしめるために、あらかじ
め誘電体基板1にニクロム層を設け、該ニクロム層の上
に金の如き導体層を形成する。
そして片面はマイクロ・ストリップラインの下部導体と
してそのまま使用する。
してそのまま使用する。
他の面は、上記の如く、バイアス・チョーク部2及び高
周波出力部4を残して、該ニクロム層と導体層を除去す
る。
周波出力部4を残して、該ニクロム層と導体層を除去す
る。
バイアス・チョーク部2は、幅広部2−2及び24と幅
狭部2−1及び2−3が形成され、その一端は直流電源
5が接続され、他端には、発振素子としてガン・ダイオ
ード3が接続されている。
狭部2−1及び2−3が形成され、その一端は直流電源
5が接続され、他端には、発振素子としてガン・ダイオ
ード3が接続されている。
そして該ガン・ダイオード3から得られる高周波出力は
、幅広部2−5及び高周波出力部4により形成されたコ
ンデンサ部分により直流分がカットされて、高周波出力
部4から取出される。
、幅広部2−5及び高周波出力部4により形成されたコ
ンデンサ部分により直流分がカットされて、高周波出力
部4から取出される。
この高周波出力は、幅広部2−2.2−4及び幅狭部2
−1.2−3により構成される高周波阻止用チョーク部
のために直流電源5に流入することはない。
−1.2−3により構成される高周波阻止用チョーク部
のために直流電源5に流入することはない。
本考案においては、第2図イに拡大して示す如く上記バ
イアス・チョーク部の幅狭部2−1及び2−3として、
例えば金で構成された金属リボンまたは金属ワイヤ7を
熱圧着もしくはボンデング等の適当な手段で上記幅広部
2−4,2−2及び2−5に接続する。
イアス・チョーク部の幅狭部2−1及び2−3として、
例えば金で構成された金属リボンまたは金属ワイヤ7を
熱圧着もしくはボンデング等の適当な手段で上記幅広部
2−4,2−2及び2−5に接続する。
熱圧着する場合には、例えば第2図口に示す如き、治具
8を使用する。
8を使用する。
該治具8の下方には溝部81が形成されている。
いま、第3図イに示す如く、金ワイヤ7を治具8の溝部
8−1の下に位置させ、口に示す如く、熱圧着すれば、
八に示す如く、金ワイヤは押しつぶされつつ幅広部2−
5等に密着される。
8−1の下に位置させ、口に示す如く、熱圧着すれば、
八に示す如く、金ワイヤは押しつぶされつつ幅広部2−
5等に密着される。
かくして各幅広部2−5.2−3及び2−4間はこの熱
圧着された、厚みの大きな金ワイヤ7により橋絡される
ため幅狭部2−1.2−3の直流抵抗は著しく低下され
る。
圧着された、厚みの大きな金ワイヤ7により橋絡される
ため幅狭部2−1.2−3の直流抵抗は著しく低下され
る。
この金ワイヤ7は、上記幅狭部2−1,2−3を構成す
るとともに、幅広部2−2,2−4とともにバイアス・
チョーク部2をも構成するものである。
るとともに、幅広部2−2,2−4とともにバイアス・
チョーク部2をも構成するものである。
なお第2図の例では、幅広部2−4.2−2及び25を
、共通の金属リボンまたは金属ワイヤを使用してこれを
熱圧着もしくは溶接することにより橋絡部を構成する例
を示しているが、本考案では第4図に示す如き状態で橋
絡してもよい。
、共通の金属リボンまたは金属ワイヤを使用してこれを
熱圧着もしくは溶接することにより橋絡部を構成する例
を示しているが、本考案では第4図に示す如き状態で橋
絡してもよい。
即ち、第4図においては、幅広部9−10及び11の中
間を、各幅広部の端部でそれぞれ別の金ワイヤまたは金
リボン12.13を用いて接続する。
間を、各幅広部の端部でそれぞれ別の金ワイヤまたは金
リボン12.13を用いて接続する。
この場合でも、第2図及び第3図で説明した場合と同様
に、通常のIC配線またはプリント配線の場合に比して
、その幅狭橋絡部の厚さ、つまり上記金ワイヤまたは金
リボン12及び13の厚みを増大することが可能となり
、その直流抵抗値を小さくすることができる。
に、通常のIC配線またはプリント配線の場合に比して
、その幅狭橋絡部の厚さ、つまり上記金ワイヤまたは金
リボン12及び13の厚みを増大することが可能となり
、その直流抵抗値を小さくすることができる。
したがって、ガン・ダイオード3に大電流が流れるよう
な場合でも、その直流電流通路となる幅狭部2−1.2
−3が焼損するようなことはない。
な場合でも、その直流電流通路となる幅狭部2−1.2
−3が焼損するようなことはない。
このような構成によっても高周波阻止機能をもつバイア
ス・チョークとして使用できものであることは明らかで
ある。
ス・チョークとして使用できものであることは明らかで
ある。
また、以上の説明においては、幅広部2−2.2−4.
2−5は金ワイヤもしくは金リボンのみにより短絡され
る場合について説明したが、しがしながら、誘電体基板
1上に、幅狭の導体層を形成しておき、その上に金ワイ
ヤや金リボンを熱圧着または溶接することにより、直流
抵抗値の小さな幅狭部分を形成することもできる。
2−5は金ワイヤもしくは金リボンのみにより短絡され
る場合について説明したが、しがしながら、誘電体基板
1上に、幅狭の導体層を形成しておき、その上に金ワイ
ヤや金リボンを熱圧着または溶接することにより、直流
抵抗値の小さな幅狭部分を形成することもできる。
この場合は、金ワイヤや金リボンは、幅広部のみならず
幅狭部においても誘電体基板上に形成しである導体層と
しっかりと固着するようになる。
幅狭部においても誘電体基板上に形成しである導体層と
しっかりと固着するようになる。
しかも、ガン・ダイオードに大電流が流れる場合には、
抵抗値の低い金ワイヤや金リボン部分にほとんど電流が
流れるようになる。
抵抗値の低い金ワイヤや金リボン部分にほとんど電流が
流れるようになる。
以上説明した如く、本考案によれば、非常に簡単な手段
により、直流バイアス大電流の流れる部分をその幅を変
えることなく厚く構成することが可能になるので、マイ
クロ波ICの特性インピーダンスに悪影響を与えること
なく直流バイアス電流の流れる部分の抵抗値を低下する
ことができる。
により、直流バイアス大電流の流れる部分をその幅を変
えることなく厚く構成することが可能になるので、マイ
クロ波ICの特性インピーダンスに悪影響を与えること
なく直流バイアス電流の流れる部分の抵抗値を低下する
ことができる。
したがってガン・ダイオードの如き大電流の流れる発振
素子を使用した場合でも、回路パターンが焼損するよう
な欠点を有効に改善することができる。
素子を使用した場合でも、回路パターンが焼損するよう
な欠点を有効に改善することができる。
尚本考案は負性抵抗素子を用いた増幅器のICにも有効
である。
である。
第1図は、本考案の一実施例を示す回路パターン図、第
2図はその要部の拡大図及び治具を示すもの、第3図は
直流導電路の製作方法を示すもの、第4図は本考案の他
の実施例を示すものである。 図中、1は誘電体基板、2はバイアス・チョーク部、3
はガン・ダイオード、4は高周波出力部、5は直流電源
、6は外部負荷回路、7は導電カバー線、8は治具、9
乃至11は幅広部、12.13は金線または金ノボンを
それぞれ示す。
2図はその要部の拡大図及び治具を示すもの、第3図は
直流導電路の製作方法を示すもの、第4図は本考案の他
の実施例を示すものである。 図中、1は誘電体基板、2はバイアス・チョーク部、3
はガン・ダイオード、4は高周波出力部、5は直流電源
、6は外部負荷回路、7は導電カバー線、8は治具、9
乃至11は幅広部、12.13は金線または金ノボンを
それぞれ示す。
Claims (1)
- 誘電体基板面に形成された薄膜パターン回路と該薄膜パ
ターン回路に接続された半導体素子より構成されるマイ
クロ波集積回路において、上記半導体素子の直流バイア
ス回路部を個別の金属部材で構成したことを特徴とする
マイクロ波集積回路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978137592U JPS5834756Y2 (ja) | 1978-10-06 | 1978-10-06 | マイクロ波集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978137592U JPS5834756Y2 (ja) | 1978-10-06 | 1978-10-06 | マイクロ波集積回路装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5554959U JPS5554959U (ja) | 1980-04-14 |
| JPS5834756Y2 true JPS5834756Y2 (ja) | 1983-08-04 |
Family
ID=29109933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1978137592U Expired JPS5834756Y2 (ja) | 1978-10-06 | 1978-10-06 | マイクロ波集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5834756Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63173099U (ja) * | 1987-05-01 | 1988-11-10 |
-
1978
- 1978-10-06 JP JP1978137592U patent/JPS5834756Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5554959U (ja) | 1980-04-14 |
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