JPS5851409B2 - コンデンサの製造方法 - Google Patents
コンデンサの製造方法Info
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- JPS5851409B2 JPS5851409B2 JP9834478A JP9834478A JPS5851409B2 JP S5851409 B2 JPS5851409 B2 JP S5851409B2 JP 9834478 A JP9834478 A JP 9834478A JP 9834478 A JP9834478 A JP 9834478A JP S5851409 B2 JPS5851409 B2 JP S5851409B2
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプラスチックフィルムのヒートシールにより外
装を施してなるコンデンサの製造方法に関する。
装を施してなるコンデンサの製造方法に関する。
一般にコンデンサの外装は外囲器としてアルミニウムケ
ースやプラスチック成形ケースが多用されているが、最
近プラスチックフィルムの性能向上にともないコンデン
サ素子を金属プラスチックラミネートフィルムで直接包
みヒートシールする方法が提案されている。
ースやプラスチック成形ケースが多用されているが、最
近プラスチックフィルムの性能向上にともないコンデン
サ素子を金属プラスチックラミネートフィルムで直接包
みヒートシールする方法が提案されている。
前記ラミネートフィルムに用いる各プラスチックフィル
ムの厚さは通常10〜250μの範囲内にあるが第1図
に示すようにコンデンサ素子のリード線1直径が0.5
〜1.0mmと太いためヒートシールしたときラミネー
トフィルム2とリード線1との融着部に隙間3が生じや
すい。
ムの厚さは通常10〜250μの範囲内にあるが第1図
に示すようにコンデンサ素子のリード線1直径が0.5
〜1.0mmと太いためヒートシールしたときラミネー
トフィルム2とリード線1との融着部に隙間3が生じや
すい。
またアルミニウムのような金属箔を中間に介在させたラ
ミネートフィルムでは金属箔とリード線1との接触ある
いは金属箔を介してのリード線1相互間の短絡をひきお
こしやすいという欠点があった。
ミネートフィルムでは金属箔とリード線1との接触ある
いは金属箔を介してのリード線1相互間の短絡をひきお
こしやすいという欠点があった。
本発明は上記のような実情に鑑みてなされたものでリー
ド線を取着したコンデンサ素子の上下にプラスチックフ
ィルム−金属箔−プラスチックフィルムのように中間に
金属箔を介在させたラミネートフィルムを配置して、該
ラミネートフィルムをヒートシールする場合少なくとも
リード線融着部側の金属箔幅をプラスチックフィルム幅
より狭くし該プラスチックフィルム端面から金属箔が露
出しないようにすることによってリード線融着部に隙間
の生じることがなくなるため密閉性がよくかつ金属箔と
リード線との接触を防止し小形で量産加工性がよく安価
なコンデンサの製造方法を提供せんとするものである。
ド線を取着したコンデンサ素子の上下にプラスチックフ
ィルム−金属箔−プラスチックフィルムのように中間に
金属箔を介在させたラミネートフィルムを配置して、該
ラミネートフィルムをヒートシールする場合少なくとも
リード線融着部側の金属箔幅をプラスチックフィルム幅
より狭くし該プラスチックフィルム端面から金属箔が露
出しないようにすることによってリード線融着部に隙間
の生じることがなくなるため密閉性がよくかつ金属箔と
リード線との接触を防止し小形で量産加工性がよく安価
なコンデンサの製造方法を提供せんとするものである。
以下本発明の一実施例につき図面を参照しながら説明す
る。
る。
すなわち第2図に示すようにリード線11を取着したコ
ンデンサ素子12の上下にラミネートフィルム13を配
置する。
ンデンサ素子12の上下にラミネートフィルム13を配
置する。
該ラミネートフィルム13はポリプロピレン、ポリアミ
ド、ポリエステル、ポリ弗化ビニリデン、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリカーボネート、アイオノマー、ポリサルホ
ン、ポリ三弗化毛チレン、ポリ四弗化エチレン、ポリエ
チレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポ
リフェニリンオキサイド、ポリ弗化ビニル、ポリ塩化ビ
ニル、ポリパラキシレン、エチレン−酢酸ビニル共重合
体、ビニロンなどのプラスチックフィルムのうち同種ま
たは異種の2枚のプラスチックフィルム14の中間にア
ルミニウム、錫などの金属箔15を介在させて貼り合わ
せたもので少なくとも一端面、すなわちリード線11融
着部側の金属箔15の幅をプラスチックフィルム14の
幅よりも狭くする。
ド、ポリエステル、ポリ弗化ビニリデン、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリカーボネート、アイオノマー、ポリサルホ
ン、ポリ三弗化毛チレン、ポリ四弗化エチレン、ポリエ
チレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポ
リフェニリンオキサイド、ポリ弗化ビニル、ポリ塩化ビ
ニル、ポリパラキシレン、エチレン−酢酸ビニル共重合
体、ビニロンなどのプラスチックフィルムのうち同種ま
たは異種の2枚のプラスチックフィルム14の中間にア
ルミニウム、錫などの金属箔15を介在させて貼り合わ
せたもので少なくとも一端面、すなわちリード線11融
着部側の金属箔15の幅をプラスチックフィルム14の
幅よりも狭くする。
この場合融着部の寸法が1〜4朋程度になるので金属箔
15の幅はプラスチックフィルム14の幅よりも1.5
〜5mm程度狭くしておく。
15の幅はプラスチックフィルム14の幅よりも1.5
〜5mm程度狭くしておく。
また金属箔15はリード線11融着部側だけでなく両端
面を狭くしておいて何等支障はなくリード線反射方向形
コンデンサにも適用できる。
面を狭くしておいて何等支障はなくリード線反射方向形
コンデンサにも適用できる。
しかして前記ラミネートフィルム13を上下に対向させ
その間にリード線11を取着したコンデンサ素子12を
装填して熱板や圧子などの加熱装置でヒートシールして
密封し、要すればヒートシールしたのち冷却して外装を
形成するものである。
その間にリード線11を取着したコンデンサ素子12を
装填して熱板や圧子などの加熱装置でヒートシールして
密封し、要すればヒートシールしたのち冷却して外装を
形成するものである。
金属箔15の幅を少なくともリード線11融着部側にお
いてプラスチックフィルム14の幅より狭くしてヒート
シールしたことによってリード線11融着部に生じる隙
間が完全になくなり、かつ金属箔15とリード線11と
の接触あるいは金属箔15を介してのリード線11相互
間の短絡を完全に防止することができる。
いてプラスチックフィルム14の幅より狭くしてヒート
シールしたことによってリード線11融着部に生じる隙
間が完全になくなり、かつ金属箔15とリード線11と
の接触あるいは金属箔15を介してのリード線11相互
間の短絡を完全に防止することができる。
金属箔15とプラスチックフィルム14との幅寸法差が
1.5間未満では融着部において金属箔15端面が露出
してリード線11と接触することがあるので少なくとも
1.5間以上に設定しなげればならない。
1.5間未満では融着部において金属箔15端面が露出
してリード線11と接触することがあるので少なくとも
1.5間以上に設定しなげればならない。
しかし幅寸法差が5間を越えると融着部付近がプラスチ
ックフィルム14だげのラミネートフィルムでヒートシ
ールしたものと同じになり金属箔15を介在させた防湿
効果が減少するので5間以内に設定しなげればならない
。
ックフィルム14だげのラミネートフィルムでヒートシ
ールしたものと同じになり金属箔15を介在させた防湿
効果が減少するので5間以内に設定しなげればならない
。
前記ラミネートフィルム13を第3図に示すように内側
面のプラスチックフィルム16に厚いフィルム好ましく
はリード線11の半径寸法以上の厚さく250〜100
0μ)のものを用いるとリード線11融着部の隙間発生
の防止と短絡防止に一層効果的である。
面のプラスチックフィルム16に厚いフィルム好ましく
はリード線11の半径寸法以上の厚さく250〜100
0μ)のものを用いるとリード線11融着部の隙間発生
の防止と短絡防止に一層効果的である。
また第4図に示すように少なくとも一枚のラミネートフ
ィルム13をあらかじめ熱成形してコンデンサ素子12
を収容できる形状に加工しておきそれをヒートシールし
てもよい。
ィルム13をあらかじめ熱成形してコンデンサ素子12
を収容できる形状に加工しておきそれをヒートシールし
てもよい。
さらに第5図および第6図に示すようにコンデンサ素子
12の外周にラミネートフィルム13を巻回して片側と
両端面をヒートシールするようにしてもよい。
12の外周にラミネートフィルム13を巻回して片側と
両端面をヒートシールするようにしてもよい。
本発明におけるラミネートフィルム13のヒートシール
には熱板溶接(温度120−180℃、時間2〜7秒)
、インパルス溶接(温度120〜180℃、時間2〜8
秒)、超音波溶接(周波数15〜30 KHz 、荷重
10〜20kg/c111時間1〜10秒)または高周
波溶接(周波数10〜70MHz、荷重2〜15 kg
/cyd、時間1〜7秒)などいずれの方法でもよい。
には熱板溶接(温度120−180℃、時間2〜7秒)
、インパルス溶接(温度120〜180℃、時間2〜8
秒)、超音波溶接(周波数15〜30 KHz 、荷重
10〜20kg/c111時間1〜10秒)または高周
波溶接(周波数10〜70MHz、荷重2〜15 kg
/cyd、時間1〜7秒)などいずれの方法でもよい。
前記ラミネートフィルム13はラミネートする前にあら
かじめ電子線照射、コロナ放電処理、二軸延伸などの二
次加工を施すと機械的、熱的特性を向上することもでき
ヒートシールも能率よく行うことができる。
かじめ電子線照射、コロナ放電処理、二軸延伸などの二
次加工を施すと機械的、熱的特性を向上することもでき
ヒートシールも能率よく行うことができる。
またプラスチックフィルム14と金属箔15とのラミネ
ート方法は加熱融着するか接着剤で貼り合わせるかある
いは金属箔15の両面にそれぞれ加熱溶融した材料をシ
ャワ一式または帯状に滴下せしめこれを圧延ローラか延
伸ローラを通して一体化するかあるいは加熱溶融した材
料をローラ塗布して一体化するものである。
ート方法は加熱融着するか接着剤で貼り合わせるかある
いは金属箔15の両面にそれぞれ加熱溶融した材料をシ
ャワ一式または帯状に滴下せしめこれを圧延ローラか延
伸ローラを通して一体化するかあるいは加熱溶融した材
料をローラ塗布して一体化するものである。
つぎに本発明の実施例と従来の参考例との比較の一例を
第1表に示す。
第1表に示す。
第1表から明らかなように本発明の実施例はいずれも従
来の参考例よりも耐湿試験後の静電容量変化率が小さく
リード線11とラミネートフィルム13との融着部に隙
間の生じることがなくなるため必然的に吸湿に起因する
特性の劣化が少なく密閉性が優れ、しかも金属箔15と
リード線11との接触による短絡の発生が絶無となるこ
とがわかる。
来の参考例よりも耐湿試験後の静電容量変化率が小さく
リード線11とラミネートフィルム13との融着部に隙
間の生じることがなくなるため必然的に吸湿に起因する
特性の劣化が少なく密閉性が優れ、しかも金属箔15と
リード線11との接触による短絡の発生が絶無となるこ
とがわかる。
以上詳述したように本発明はリード線を取着したコンデ
ンサ素子の上下に2枚のプラスチックフィルムの中間に
金属箔を介在させたラミネートフィルムを配置して該ラ
ミネートフィルムをヒートシールする場合、少なくとも
リード線融着部側の金属箔幅をプラスチックフィルム幅
より狭くし該プラスチックフィルム端面力)ら金属箔が
露出しないようにしたことによってリード線融着部に隙
間の生じることがなくなるため密閉性がよく、かつ金属
箔とリード線との接触を防止し小形で量産力ロ工性がよ
く安価なコンデンサの製造方法を提供することができる
。
ンサ素子の上下に2枚のプラスチックフィルムの中間に
金属箔を介在させたラミネートフィルムを配置して該ラ
ミネートフィルムをヒートシールする場合、少なくとも
リード線融着部側の金属箔幅をプラスチックフィルム幅
より狭くし該プラスチックフィルム端面力)ら金属箔が
露出しないようにしたことによってリード線融着部に隙
間の生じることがなくなるため密閉性がよく、かつ金属
箔とリード線との接触を防止し小形で量産力ロ工性がよ
く安価なコンデンサの製造方法を提供することができる
。
第1図は従来の方法によるコンデンサのリード線融着部
を示す断面図、第2図は本発明の一実施例に係るコンデ
ンサを示す断面図、第3図は本発明の他の実施例に係る
コンデンサを示す断面図、第4図は本発明の別の実施例
に係るヒートシール方法を示す斜視図、第5図はさらに
別の実施例に係るヒートシール方法を示す斜視図、第6
図は第5図の方法によって得られたコンデンサを示す斜
視図である。 11・・・・・・リード線、12・・・・・・コンデン
サ素子、13・・・・・・ラミネートフィルム、14・
・・・・・プラスチックフィルム、15・・・・・・金
属箔。
を示す断面図、第2図は本発明の一実施例に係るコンデ
ンサを示す断面図、第3図は本発明の他の実施例に係る
コンデンサを示す断面図、第4図は本発明の別の実施例
に係るヒートシール方法を示す斜視図、第5図はさらに
別の実施例に係るヒートシール方法を示す斜視図、第6
図は第5図の方法によって得られたコンデンサを示す斜
視図である。 11・・・・・・リード線、12・・・・・・コンデン
サ素子、13・・・・・・ラミネートフィルム、14・
・・・・・プラスチックフィルム、15・・・・・・金
属箔。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 リード線を取着したコンデンサ素子の上下に2枚の
プラスチックフィルムの中間に金属箔を介在させたラミ
ネートフィルムを配置し、該ラミネートフィルムをヒー
トシールして外装を施すコンデンサの製造方法において
、少なくとも前記リード線の融着部側の金属箔幅をプラ
スチックフィルム幅より狭<シ、該プラスチックフィル
ム端面かう金属箔が露出しないようにしてヒートシール
したことを特徴とするコンデンサの製造方法。 2 ラミネートフィルムをあらかじめ熱成形してコンデ
ンサ素子を収容しうる形状に加工してヒートシールした
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のコンデン
サの製造方法。 3 ラミネートフィルムをコンデンサ素子の外周に巻回
してヒートシールして外装を形成したことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のコンデンサの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9834478A JPS5851409B2 (ja) | 1978-08-11 | 1978-08-11 | コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9834478A JPS5851409B2 (ja) | 1978-08-11 | 1978-08-11 | コンデンサの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5524493A JPS5524493A (en) | 1980-02-21 |
| JPS5851409B2 true JPS5851409B2 (ja) | 1983-11-16 |
Family
ID=14217277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9834478A Expired JPS5851409B2 (ja) | 1978-08-11 | 1978-08-11 | コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5851409B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57147234A (en) * | 1981-03-06 | 1982-09-11 | Marukon Denshi Kk | Capacitor and method of producing same |
-
1978
- 1978-08-11 JP JP9834478A patent/JPS5851409B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5524493A (en) | 1980-02-21 |
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