JPS5885177A - 半導体電力増幅器の試験装置 - Google Patents
半導体電力増幅器の試験装置Info
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- JPS5885177A JPS5885177A JP56183284A JP18328481A JPS5885177A JP S5885177 A JPS5885177 A JP S5885177A JP 56183284 A JP56183284 A JP 56183284A JP 18328481 A JP18328481 A JP 18328481A JP S5885177 A JPS5885177 A JP S5885177A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 201000004569 Blindness Diseases 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2608—Circuits therefor for testing bipolar transistors
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この失明は、半導体装置、特に電力増幅用呆槓回路（以
下、パワーｌＣという）のノくワーサイクル試験に関す
るものである。
下、パワーｌＣという）のノくワーサイクル試験に関す
るものである。
現在パワー１ｃにおいては、１ハ頼性区験の一つとして
、牛尋体系子に断続的に′−力を印加することで、＋に
合部一度を周期的に変化した場合、充分な鍔砧が侍らγ
しるかを試験するパワーサイクル試験が行なわ扛ている
。従来、との′−力印加の方法として直流−力を印加１
°る万伝とパワーｌＣに入力１ぎ号を加え拠除の動作状
態にすることで電力を印加する方法とがめった。
、牛尋体系子に断続的に′−力を印加することで、＋に
合部一度を周期的に変化した場合、充分な鍔砧が侍らγ
しるかを試験するパワーサイクル試験が行なわ扛ている
。従来、との′−力印加の方法として直流−力を印加１
°る万伝とパワーｌＣに入力１ぎ号を加え拠除の動作状
態にすることで電力を印加する方法とがめった。
直随′−力印訓万沃の例を第１図ｒＣエク説明する。
出力トランジスタ４＋５に有するパワーｌＣ６の電源ｗ
Ａ子ｌにスイッチ７を介し′嵯諒８に接続し、出力交怒
子２全貝向抵抗ｌＯ會介して接地する。この状態でスイ
ッチ７を閉じると直流′喝θｎ９が訛ｎる。逃冨無１６
号状妙では出力端子２は′−源８の電圧の約１／２に珠
持さＥているｌこめ（ハ）部用カトランジスタ４には（
篭億゛亀圧／２）ｘ直流’ｍｉ９なる１力が印加さｌし
る。
Ａ子ｌにスイッチ７を介し′嵯諒８に接続し、出力交怒
子２全貝向抵抗ｌＯ會介して接地する。この状態でスイ
ッチ７を閉じると直流′喝θｎ９が訛ｎる。逃冨無１６
号状妙では出力端子２は′−源８の電圧の約１／２に珠
持さＥているｌこめ（ハ）部用カトランジスタ４には（
篭億゛亀圧／２）ｘ直流’ｍｉ９なる１力が印加さｌし
る。
ルｙｉｓし、第１図の様に内部出力トランジスタ４−５
ρ１ブツ７ユ・プル接続さｎている場合には、実際の動
作状態でに試験に必貴とさ３７）電力印加時間（例えば
１分程坂）で考えると、２つの出力トランジスタ４ｓ５
に交流出カ電θＩＬによって同時に電力が印加さ牡ると
みなさｎる。ところが、上述の従来の直流電力を印加す
る方法では片側の出力トランジスタ４のみに電力印加さ
′ｎ、実際の使用状態とかけはなｎた試験になってしま
う。
ρ１ブツ７ユ・プル接続さｎている場合には、実際の動
作状態でに試験に必貴とさ３７）電力印加時間（例えば
１分程坂）で考えると、２つの出力トランジスタ４ｓ５
に交流出カ電θＩＬによって同時に電力が印加さ牡ると
みなさｎる。ところが、上述の従来の直流電力を印加す
る方法では片側の出力トランジスタ４のみに電力印加さ
′ｎ、実際の使用状態とかけはなｎた試験になってしま
う。
又、パワーＩＣに入力信号を加え、動作させることによ
り、電力印加をする場合は、パワー１ｃを交流動作させ
るための外付部品が必要となる。
り、電力印加をする場合は、パワー１ｃを交流動作させ
るための外付部品が必要となる。
このパワーサイクル試験は通常、２０ヶ〜３０ケ程度の
パワーＩＣを同時試験することが多く上記の交流動作に
よる方法では試験装置は非常に大きく複雛なものになり
、又、数抛のパワーｌＣを同時に試験する場合、全ての
外付回路の組換えが必要になり試験装置の標準化が１賭
でめった。
パワーＩＣを同時試験することが多く上記の交流動作に
よる方法では試験装置は非常に大きく複雛なものになり
、又、数抛のパワーｌＣを同時に試験する場合、全ての
外付回路の組換えが必要になり試験装置の標準化が１賭
でめった。
本発明の目的はかかる欠点を解消して、極めて藺単に実
際の使用状態に近いパワーサイクル試験が出来、かつ装
置の標準化に適しｆｃ試験装置を提供することにおる。
際の使用状態に近いパワーサイクル試験が出来、かつ装
置の標準化に適しｆｃ試験装置を提供することにおる。
本発明によ−ＴＬは、パワー１ｃに′電力を印加した状
態で出力端子に交流信号を加え、もってパワー１Ｃの試
験ｔするパワーＩＪイタル賦顧４装置金得る。
態で出力端子に交流信号を加え、もってパワー１Ｃの試
験ｔするパワーＩＪイタル賦顧４装置金得る。
以下％図囲により本発明をより計細に説明する。
本′Ａ明の一実施例にょ扛ば、第２図に示すように、パ
ワーＩＣ６の一源端子１を奄侭８に接続し、接地端子３
を接地子ることに裏ジ、パワーＩＵ６を動作状態とする
。出力端子２全角何抵抗１ｏとスイッチ７全介して父匠
電Ｄｉｅ印加装設置１の出力端子１３に接続ｔ６゜出刃
端子１３にはパワーｌし６の出刃端子２の匣派′１位と
同程度の電位と中心に嶽ｎる。ν１ｊえば１ｋ）ｉｚ程
度の止・ｊヌ阪出カ電圧１２が出力柚子１３に％圧して
いる。この出方電圧は正’ＩＫ阪以外でも艮くνりえは
矩形波でも艮い。
ワーＩＣ６の一源端子１を奄侭８に接続し、接地端子３
を接地子ることに裏ジ、パワーＩＵ６を動作状態とする
。出力端子２全角何抵抗１ｏとスイッチ７全介して父匠
電Ｄｉｅ印加装設置１の出力端子１３に接続ｔ６゜出刃
端子１３にはパワーｌし６の出刃端子２の匣派′１位と
同程度の電位と中心に嶽ｎる。ν１ｊえば１ｋ）ｉｚ程
度の止・ｊヌ阪出カ電圧１２が出力柚子１３に％圧して
いる。この出方電圧は正’ＩＫ阪以外でも艮くνりえは
矩形波でも艮い。
この状態でスイッチ７を閑ると上記止弦波出力電Ｉｔｈ
１２と貝伺抵仇１０による反流−防ｃ１５がパワーｉｃ
６の出力トランジスタ４．５に谷々半周期こと包４し、
笑味の便用時と全く同じ一カが印加さ７Ｌる。スイッチ
７を閘絖することで、パワーサイクル試験が出来る。こ
の方法の場合、パワーＩＵ６にはｉＪＣバイアス會侍６
に必安な外付部品のみの接続で信み、ＡＣ動作させるた
めの部品は全く必要としない。
１２と貝伺抵仇１０による反流−防ｃ１５がパワーｉｃ
６の出力トランジスタ４．５に谷々半周期こと包４し、
笑味の便用時と全く同じ一カが印加さ７Ｌる。スイッチ
７を閘絖することで、パワーサイクル試験が出来る。こ
の方法の場合、パワーＩＵ６にはｉＪＣバイアス會侍６
に必安な外付部品のみの接続で信み、ＡＣ動作させるた
めの部品は全く必要としない。
第３図は９．流電流印加装瀘１１と電源８の出カ電流谷
′ｋを大きくすることで交匠電流印加装置１台で斧数の
パワー１ｃ６を試験出来る接続図である。
′ｋを大きくすることで交匠電流印加装置１台で斧数の
パワー１ｃ６を試験出来る接続図である。
この方法では、１）Ｃバイアスを侍るに必要な部品のみ
悟載した試験用プリント基板１４のみ交換するだけでど
の様なＩＣでも試験出来、標準化が極めて容易：Ｃある
。
悟載した試験用プリント基板１４のみ交換するだけでど
の様なＩＣでも試験出来、標準化が極めて容易：Ｃある
。
第１図は従来の試験装置を示すブロック図、第２図、第
３図はそｎぞｎ本発明の来翔ψりを示アブロック図でる
る。 ｌ・・・・・・被測定ＩＣの電Ｗ端、２・・・・・・被
測定１ｃの出力端、３・・・・・・被測定１ＵＬ７）接
地端、４，５８．。 被測定ＩＣの内部出力トランジスタ、６・・・・・・被
測ｙｆＵ、７・・・・・・スイッチ、８・・・・・・電
源、９・旧・・直流電流、１０・・・・・・負荷抵抗、
１１”°・“・・父匠篭Ｘ印加装置、１２・・・・・・
父流′ＷＩＬ流印加装置の出力電圧波形、１３・・・・
・・交流１１流印加装置の出力端子、１４・・・・・・
試験用プリント板、１５・・・・・・交在し電流。 第１図 ７ 第２図 第３図
３図はそｎぞｎ本発明の来翔ψりを示アブロック図でる
る。 ｌ・・・・・・被測定ＩＣの電Ｗ端、２・・・・・・被
測定１ｃの出力端、３・・・・・・被測定１ＵＬ７）接
地端、４，５８．。 被測定ＩＣの内部出力トランジスタ、６・・・・・・被
測ｙｆＵ、７・・・・・・スイッチ、８・・・・・・電
源、９・旧・・直流電流、１０・・・・・・負荷抵抗、
１１”°・“・・父匠篭Ｘ印加装置、１２・・・・・・
父流′ＷＩＬ流印加装置の出力電圧波形、１３・・・・
・・交流１１流印加装置の出力端子、１４・・・・・・
試験用プリント板、１５・・・・・・交在し電流。 第１図 ７ 第２図 第３図
Claims (1)
- 半導体電力増幅器のパワーサイクルｌｉｔを試験する試
験装置において、上記半導体電力増幅器を直流バイアス
印加状態にする手段と、直流ノくイアスミ加状態におい
て、上記半導体電力増幅器の出力端子に外部から強制的
に又流″直流を猟す手段とを有し、もって上記半導体電
力増幅器の内部素子にＫｍバイアス及び交流電流による
電力上印加することを特徴とする半導体電力増１＠器の
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56183284A JPS5885177A (ja) | 1981-11-16 | 1981-11-16 | 半導体電力増幅器の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56183284A JPS5885177A (ja) | 1981-11-16 | 1981-11-16 | 半導体電力増幅器の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5885177A true JPS5885177A (ja) | 1983-05-21 |
Family
ID=16132954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56183284A Pending JPS5885177A (ja) | 1981-11-16 | 1981-11-16 | 半導体電力増幅器の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5885177A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103063955A (zh) * | 2012-12-27 | 2013-04-24 | 贵阳航空电机有限公司 | 反流割断器空载试验检测装置 |
| CN108051681A (zh) * | 2017-12-20 | 2018-05-18 | 北京遥感设备研究所 | 一种对数放大器幅频响应一致性筛选装置及方法 |
-
1981
- 1981-11-16 JP JP56183284A patent/JPS5885177A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103063955A (zh) * | 2012-12-27 | 2013-04-24 | 贵阳航空电机有限公司 | 反流割断器空载试验检测装置 |
| CN108051681A (zh) * | 2017-12-20 | 2018-05-18 | 北京遥感设备研究所 | 一种对数放大器幅频响应一致性筛选装置及方法 |
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