JPS59202079A - 電子部品の特性測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は電子部品の特性測定装置に係り、特に、ガラ
スシールダイオード等の各種の電子部品の高速測定ライ
ン機に好適な特性測定装置に関する。

従来の例えば、ガラスシールダイオードの測定ライン機
の特性測定装置は、ダイオードの正逆方向、測定基準電
圧の印加、測定信号等をリレーにより切換えて１つの測
定端子で複数項目の測定を行っていた。

このように１つの測定端子で複数項目の測定を順に行う
場合、例えば、５項目の測定では、測定項目工ないし■
の測定時間をｔｌないしｔ５とすると、５項目の全測定
時間はｔ＝ｔ、＋ｔ２＋ｊ３＋ｔ４　＋ｔ５となり、測
定項目数に比例して増加することになる。

また、測定項目の切換えにリレーを使用しているため、
リレー接点の摩耗に伴いリレー交換を頻繁に行う必要が
ある。さらに、測定精度を高めるため、水銀リレーを使
用した場合には測定コストが高くなる。

この発明は、測定項目毎に測定端子を設置し、測定端子
に電子部品を測定ドラムの回転により移送し、各項目別
に測定を行うようにし、測定時間の短縮化を図るととも
に、測定項目のリレーによる切換えを除いた電子部品の
特性測定装置の提供を目的とする。

この発明は、側面部に２以上の被測定電子部品を固定し
て回転させる固定測定ドラムと、この測定ドラムの被測
定電子部品のり−トに直接又は測定トラム上の導体を介
して間接的に接触させる測定端子と、この測定端子を介
して前記被測定電子部品の特性を測定する測定回路とを
具備したことを特徴とする。

以下、この発明を図面に示した実施例を参照して詳細に
説明する。

第１図及び第２図はこの発明の電子部品の特性測定装置
の実施例を示し、第１図はガラスシールダイオードの特
性測定装置、第２図はその測定ドラムを示している。

第１図において、この特性測定装置には複数の電子部品
を固定するために円筒状の測定ドラム２が設置され、こ
の測定ドラム２は一定の角度毎に又は一定速度で回転可
能にされている。この測定ドラム２の側面部には、複数
の被測定電子部品であるダイオード４が一定の間隔で固
定されている。

この固定にはダイオード４のリードが鉄線等の強磁性体
で形成されていることを利用しての磁石による吸引或い
は負圧による吸引を利用する。

この測定ドラム２０周面部には、前記ダイオード４のリ
ードに直接又はこのリードを固定している測定ドラム２
に取付けられた導体を介して前記リードに間接的に接触
する対をなす複数の測定端子５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄ、
５ｅが配設されている。

これら測定端子５ａないし５ｅは測定項目ＩないしＶ＠
番こ設置された測定回路ユニット６ａ、６ｂ、６ｃ、６
ｄ、６ｅに接続され、測定回路ユニット６ａないし６ｅ
は演算装置等で構成された判定装置８と連係され、判定
装置８は測定回路ユニット６ａないし６ｅに対して測定
条件入力等を付与し、各測定回路ユニッ１−６ａないし
６ｅがらの測定結果の取込み等を行う。

また、測定ドラム２の周辺部には、図示していないが、
矢印への方向からダイオード４を供給するための供給装
置ないし吸引可能にダイオードを保持する保持部、矢印
Ｂで示す方向に不良ダイオードを排出する排出装置、矢
印Ｃで示す方向には良品を取上げる移送装置が配設され
、これらは前記判定装置８の゛ｌ′ｌＪ定結果に定結へ
駆動可能に設定されるものとする。

第２図はｎｉｆ記測定ドラムの実施例を示している。

この実施例では、測定ドラム２は中空の絶縁体で形成さ
れ、その中心部に取付けられた支持１ｔｌｌｌ。

で回転可能に成っている。そして、この測定ドラム２の
両端部円面には一定の絶縁間隔を置いて導体部１２ａ、
１２ｂが配設され、この導体部１２ａ、Ｌ２ｂにダイオ
ード４のリード１４ａ、１４ｂがＩＬｓＩ別に固定可能
にされている。この場合、測定端子５ａないし５ｅは、
図面巾測定端子５ａ、５６で示すように、導体部１２ａ
、１２ｂに接触可能に配設されている。

以上の構成に基つき、その測定動作を説明する。

測定ドラム２を矢印ａで示ずように反時計方向に回転さ
せ、その側面部の導体部１２ａ、１２ｂ間にダイオード
４をそのリート１４ａ、１４ｂを接触させて固定する。

↑り定装置８から各測定回路ユニット６ａないし６ｅに
測定開始信号を送り、各測定項目Ｉないし■の測定を順
に行う。各測定項目Ｉないし■の測定時間を１．ないし
ｔ５とすると、測定ドラム２の回動間隔は測定項目工な
いし■の最大測定時間ｔ　ｍａｘに設定するものとする
。そして、測定時間毎にその測定結果は、判定装置８に
読取られて記憶され、測定ドラム２上の位置とともに、
良否の判定を行う。この場合、測定回路ユニット６ａな
いし６ｅでの測定結果が不良品であるとした場合には、
次の測定回路ユニソ１−６ｂないし６ｅでの測定は停止
させ、測定の効率化を図る。この測定結果に基づき、判
定装置８は良否の判別を行い、図示していない排出装置
及び移送装置を駆１ＴｈＬで不良品は、矢印Ｂの方向に
排出し、良品は矢印Ｃの方向に移送する。

このように構成すれば、全測定は測定項目■ないし■の
′いずれかの測定項目が持つ最大測定時間ｔ　ｍａｘで
行うことができ、Δ）り定時間の大幅な短縮化を図るこ
とができる。これば、測定項目が増加しても従来のよう
に測定時間が測定項目に比例して増加しないので、測定
項目の増加に従って測定時間効率が向上することを意味
している。

また、測定項目毎に専用の測定回路ユニット６ａないし
６ｅを設置しているので、従来のような切換えのための
リレー及びその回路が不要になるとともに、高価な水銀
リレーが不要になり、その交換の手数を必要とせず、測
定コストの低減を図ることができる。しかも、測定回路
ユニット６ａないし６ｅは、故障に際し交換できるので
、測定精度の向上とともに、取扱いが従来のものに比較
して容易になり、保全時間の短縮化を図ることができる
。

なお、実施例ではダイオードの特性測定を例に取って説
明したが、この発明はダイオード以外の電子部品にも同
様に適用し、同様の効果か期待できる。

以上説明したようにこの発明によれば、測定時間を短縮
でき、測定速度を高めることができるとともに、故障率
の低下、保全時間の短縮化が可能になり、測定コストの
低減を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

実施例を示すブロック図、第２図はその測定ドラムを示
す斜視図である。 ２・・・測定ドラム、４・・・電子部品、５ａ、５ｂ、
５Ｃ１５ｄ、５ｅ−−−測定端子、６ａ、６ｂ、６ｃ、
６ｄ、６ｅ・・・測定回路ユニット。 第１図 □□□−一 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 側面部に２以上の被測定電子部品を固定して回転させる
   固定測定ドラムと、この測定ドラムの被測定電子部品の
   リードに直接又は測定ドラム上の導体を介して間接的に
   接触させる測定端子と、この測定端子を介して前記被測
   定電子部品の特性を測定する測定回路とを具備したこと
   を特徴とする電子部品の特性測定装置。