JPS59214211A - 粒界絶縁型半導体磁器コンデンサの製造方法 - Google Patents
粒界絶縁型半導体磁器コンデンサの製造方法Info
- Publication number
- JPS59214211A JPS59214211A JP58089632A JP8963283A JPS59214211A JP S59214211 A JPS59214211 A JP S59214211A JP 58089632 A JP58089632 A JP 58089632A JP 8963283 A JP8963283 A JP 8963283A JP S59214211 A JPS59214211 A JP S59214211A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic capacitor
- semiconductor ceramic
- semiconductor
- manufacturing
- diffusion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、拡散処理及びセラミックの緻密化(理論落度
99%TD以上)が同時に行なえる半導体セラミックコ
ンデンサの製造方法に関する。
99%TD以上)が同時に行なえる半導体セラミックコ
ンデンサの製造方法に関する。
従来例の構成とその問題点
粒界層m体層型半導体コンデンサは、1′導体化結晶間
の粒界領域を高抵抗化し、結晶粒界に誘電体層を設けた
ものである。この粒界層型は結晶粒界近傍の10〜数μ
n1を利用するものであり、納品粒界の状態にてコンデ
ンサ特性が左右される。従来の方式だと結晶匂界周辺部
にボアの集合等がみられ結晶粒界の結合強度が弱く、結
晶粒界に誘電体層を設けた場合、誘電体層の厚みのバラ
ツキや誘電体11′Mの強度が弱く、耐電圧特性、誘電
損失等が悪いものであった。
の粒界領域を高抵抗化し、結晶粒界に誘電体層を設けた
ものである。この粒界層型は結晶粒界近傍の10〜数μ
n1を利用するものであり、納品粒界の状態にてコンデ
ンサ特性が左右される。従来の方式だと結晶匂界周辺部
にボアの集合等がみられ結晶粒界の結合強度が弱く、結
晶粒界に誘電体層を設けた場合、誘電体層の厚みのバラ
ツキや誘電体11′Mの強度が弱く、耐電圧特性、誘電
損失等が悪いものであった。
また、熱間静水圧プレス(HIP)後、拡散処理をする
ちシ界誘′I“1゛体/i′η型半導体コンデンサもあ
るが、拡散処理工程、熱f7q静水圧プレス工程と別々
にあるためコスト高となる。
ちシ界誘′I“1゛体/i′η型半導体コンデンサもあ
るが、拡散処理工程、熱f7q静水圧プレス工程と別々
にあるためコスト高となる。
発明の目的
本発明は従7・1この欠点を除去し、高い耐電圧特性、
K イ1i+)rri日失、?−これた枇能持性、さら
には製造工程短’g’5によるコメ1−0〕低’、:’
Eを可能にする半導体セラミソクコンテンサの製造方法
を提供することを目的とするもので、ゴする。
K イ1i+)rri日失、?−これた枇能持性、さら
には製造工程短’g’5によるコメ1−0〕低’、:’
Eを可能にする半導体セラミソクコンテンサの製造方法
を提供することを目的とするもので、ゴする。
発明の掃成
上記目的を遅成するために、本発明は半導体磁器に拡;
1文剤成分を付着させ、有礪成分を除去した後、拡散、
温度にて耐量静水7圧プレヌするもので、高い耐電圧特
性、低い誘電ノ墜失、儂れた機械特性、さらにコストの
低域を可能な粒界誘電体層型半導体セラミックコンデン
サを得ることができた。
1文剤成分を付着させ、有礪成分を除去した後、拡散、
温度にて耐量静水7圧プレヌするもので、高い耐電圧特
性、低い誘電ノ墜失、儂れた機械特性、さらにコストの
低域を可能な粒界誘電体層型半導体セラミックコンデン
サを得ることができた。
実施例
以下、本発明について一実施例とともに説明する。試料
の調整工程では、半導体磁器組成として、工’WS J
111Q料SrCO3粉末(純j’p499.9%以上
)、TiQ2粉木(純曳99.9%以上)、及び市販の
試痔:特級Nb2O5の各粉末を第1表の組成比になる
よう配合し、ウレタン内張ポットを用いて湿式混合し、
乾燥した後1200°Cの温度で仮焼成した。
の調整工程では、半導体磁器組成として、工’WS J
111Q料SrCO3粉末(純j’p499.9%以上
)、TiQ2粉木(純曳99.9%以上)、及び市販の
試痔:特級Nb2O5の各粉末を第1表の組成比になる
よう配合し、ウレタン内張ポットを用いて湿式混合し、
乾燥した後1200°Cの温度で仮焼成した。
第1表
半導体磁器組成(モル%)
S r C()3 T i 02 Nb、+
Us50.10 49.85 0.05この仮
焼物を湿式粉砕し、乾燥した後、ポリビニルアルコール
水溶液をバインダにしてDA合し、32メツシユパスに
整粒した。この整粒粉を直径13mW厚さ0.5闘の円
板形に1 t、泡の加肚カで成型し、これらの成形体を
空気中1000°Cで加圧処理した後に、90%N2
10%ト12の混合ガス気流中においテ1850°C’
) nu 19’、 18時間(t16成し半導体磁器
を得た。
Us50.10 49.85 0.05この仮
焼物を湿式粉砕し、乾燥した後、ポリビニルアルコール
水溶液をバインダにしてDA合し、32メツシユパスに
整粒した。この整粒粉を直径13mW厚さ0.5闘の円
板形に1 t、泡の加肚カで成型し、これらの成形体を
空気中1000°Cで加圧処理した後に、90%N2
10%ト12の混合ガス気流中においテ1850°C’
) nu 19’、 18時間(t16成し半導体磁器
を得た。
次に拡ji(剤として、組成としてはBi203 C
u20−ZnO系よりなる酸化〕白粉末をペースト状に
したものを用い、8’J記半導体磁器素子表面にむらな
く塗布した。然る後に、大気中800’Cにて有機成分
を除去する。以上のように拡散剤無イブ5成分を付着さ
せた半導体4J Hjr ;F:≦子をバッキング材中
にて、Arガス雰囲気、1200” C(拡散温度)−
2000気圧下テ熱間静水圧プレスした。
u20−ZnO系よりなる酸化〕白粉末をペースト状に
したものを用い、8’J記半導体磁器素子表面にむらな
く塗布した。然る後に、大気中800’Cにて有機成分
を除去する。以上のように拡散剤無イブ5成分を付着さ
せた半導体4J Hjr ;F:≦子をバッキング材中
にて、Arガス雰囲気、1200” C(拡散温度)−
2000気圧下テ熱間静水圧プレスした。
このようにして街られた粒界誘゛市体層型半導体0器の
1.!1仮1’−表子のli:il面にA9電極を焼付
けてコンデンザ、1子とし、誘″tu率εa(測定周波
数IK)h)、1(jj 1!1体づ9失janδ(I
KI(z ) 、昇圧破壊1’jY EfE Vb (
V、/+m )及びヒノカースイ1:U 暦Hv (k
q/n1n2.50(1g、15秒荷重)を測定した3
、その結果を第1図〜負)3図及び第2表に示す。第1
し1から第3図において、■は拡散処理後のq:i:r
界、T、い、ヱ体り11型半導体磁気を粉砕した粒子を
バッキング材として使用した場合のεa、tanl、V
b を示し、■は従来品のそilらを示し、バッキン
グ材としてはZrO2を用いた。
1.!1仮1’−表子のli:il面にA9電極を焼付
けてコンデンザ、1子とし、誘″tu率εa(測定周波
数IK)h)、1(jj 1!1体づ9失janδ(I
KI(z ) 、昇圧破壊1’jY EfE Vb (
V、/+m )及びヒノカースイ1:U 暦Hv (k
q/n1n2.50(1g、15秒荷重)を測定した3
、その結果を第1図〜負)3図及び第2表に示す。第1
し1から第3図において、■は拡散処理後のq:i:r
界、T、い、ヱ体り11型半導体磁気を粉砕した粒子を
バッキング材として使用した場合のεa、tanl、V
b を示し、■は従来品のそilらを示し、バッキン
グ材としてはZrO2を用いた。
FJ4 2 表
Hv (kg/’tu 2)
本発明試料 1000
従来試料 740
本発明による試料を従来試料と比・、:にすると、εa
で約60%% Vl)で約40%、[−1vで約30%
アップし、tanδ では約60%ダワンするなどの侃
れたコンデンサ特性が得られた。
で約60%% Vl)で約40%、[−1vで約30%
アップし、tanδ では約60%ダワンするなどの侃
れたコンデンサ特性が得られた。
なお、耐熱酸化物粒子への拡1′1シ剤の1:(L14
100含有jrU4.が0,1モル%未満の場合はta
nδ、Vl)が悪化し、70モル%を超えるとεaが)
ル下する。また、バッキング材が耐熱性酸化・;刃拉子
のみを用いた場合、tanδ、Vb が悪化するが、
従来品にくらべると[署ねでおり、またεaは高目に出
るなど有益な面が多い。
100含有jrU4.が0,1モル%未満の場合はta
nδ、Vl)が悪化し、70モル%を超えるとεaが)
ル下する。また、バッキング材が耐熱性酸化・;刃拉子
のみを用いた場合、tanδ、Vb が悪化するが、
従来品にくらべると[署ねでおり、またεaは高目に出
るなど有益な面が多い。
また、従来の拡散処理前後に熱+ih静水圧プレスする
方式に比べ、本発明は当社比ではあるが、コストが10
”/’5低減する。
方式に比べ、本発明は当社比ではあるが、コストが10
”/’5低減する。
本発明では、パツキングイ4としてZrO+を用いたが
、Al2O3,5iOz 、BaTiO3,5rTiO
a 、CaTiO3等耐熱性酸化物を用いても同等の結
果が出る。
、Al2O3,5iOz 、BaTiO3,5rTiO
a 、CaTiO3等耐熱性酸化物を用いても同等の結
果が出る。
発明の効果
以上木兄1フ1」によれば、次のような効婁かもたらさ
れる。
れる。
(1)論理匣)度比99%TD以上の高1g度セラミッ
クスが得ら11る。
クスが得ら11る。
(2) コンデンサの特性が向上し、安定化する。
(3) 製造コストが低減する。
(4) 結晶1澄界に析出したボアがなくなり、結晶
粒界強度等が強化できる。
粒界強度等が強化できる。
このように、本発明の半尋体セラミックコンデンサのご
゛J造方法はヲト常に優れた性能を備えており、工)°
(的÷J1重fヒに43いても著しく安定であり、産業
的価イ1αの犬なるものである。
゛J造方法はヲト常に優れた性能を備えており、工)°
(的÷J1重fヒに43いても著しく安定であり、産業
的価イ1αの犬なるものである。
第1図は本発明の詳細な説明するためのバッキング材中
の拡散剤無機成分量とεaの関係を示すグラフ、第2図
はバッキング材中の拡散剤無機成分量とtanδ の関
部を示ずグラフ、5S3図はバッキング材中の拡散剤無
機成分量とvbの11:J孫を示すグラフである。 代理人 青本シ曳弘
の拡散剤無機成分量とεaの関係を示すグラフ、第2図
はバッキング材中の拡散剤無機成分量とtanδ の関
部を示ずグラフ、5S3図はバッキング材中の拡散剤無
機成分量とvbの11:J孫を示すグラフである。 代理人 青本シ曳弘
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、貯界誘電体層型半導体セラミックコンデンサの半導
体臓器の表面に拡散剤成分を伺若し、前記拡1:i剤成
分中の有、殿方を熱処理により除去した後、4j’:
:丘個度にて熱間静水圧プレスすること’J”!j 4
”、’l、とする半導体セラミックコンデンザの年V
d’i方法。 2、 粒界層91体1・ミ)型半導体セラミックコンデ
ンサの半導体16藩の表面に拡散剤成分を付着し、前記
拡散Djz分中の有(幾分を熱処理により除去した後、
51:1熱性容器中にバッキング材とともに前記半導体
臓器を投入して拡散温度にて熱間;浄水圧プレスするこ
とを′特徴とする半導体セラミックコンデンサの製造方
法。 3、 バッキング材として、拡散処j年後の粒界誘電体
層r、11半導体!a 2”aを、粉砕した粒子を用い
ることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の半導体
セラミックコンデンサの製造方法。 4、 バッキング材として、耐熱性酸化物粒子を用いる
ことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の半導体セ
ラミックコンデンサの製造方法。 5 バッキング材とし゛C1m:i4熱性−炭化物11
2子に拡1ニジ剤の無機成分を合2q1o 、 1〜7
0 モル%含ませることを特徴とする特JF請求の範
囲第2項記載の半導体セラミックコンデンサの製造方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58089632A JPS59214211A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 粒界絶縁型半導体磁器コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58089632A JPS59214211A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 粒界絶縁型半導体磁器コンデンサの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59214211A true JPS59214211A (ja) | 1984-12-04 |
| JPH0153494B2 JPH0153494B2 (ja) | 1989-11-14 |
Family
ID=13976136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58089632A Granted JPS59214211A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 粒界絶縁型半導体磁器コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59214211A (ja) |
-
1983
- 1983-05-20 JP JP58089632A patent/JPS59214211A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0153494B2 (ja) | 1989-11-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0421739A (ja) | 複合材料及びその製造方法 | |
| JPS62138360A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| CN109608194A (zh) | 一种锆钛酸铅厚膜陶瓷及其制备方法和应用 | |
| CN100347123C (zh) | 一种高介电常数软性压电陶瓷材料及制备方法 | |
| US2915407A (en) | Ceramic electrical bodies | |
| CN113185282A (zh) | 一种高温稳定钛酸铋钠基储能电容材料及其制备方法 | |
| JPH02225357A (ja) | 複合誘電体 | |
| JPS6042277A (ja) | 磁器組成物 | |
| JPS59214212A (ja) | 粒界絶縁型半導体磁器コンデンサの製造方法 | |
| JPS61275160A (ja) | 超低温焼結セラミツク組成物 | |
| JPS6053408B2 (ja) | 還元型半導体磁器組成物 | |
| JPH0412021A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| CN103382111A (zh) | 钛酸铌铜钠基巨介电陶瓷材料及其制备方法 | |
| JPS6036366A (ja) | 磁器組成物 | |
| JPH03223162A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPS59197117A (ja) | 粒界絶縁型半導体磁器コンデンサの製造方法 | |
| CN116598045A (zh) | 电介质陶瓷组合物 | |
| JPH0153494B2 (ja) | ||
| JPS5910004B2 (ja) | ユウデンタイジキノ セイゾウホウホウ | |
| JPS59214213A (ja) | 半導体セラミックコンデンサの製造方法 | |
| JPS6050812A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPS59146977A (ja) | 磁気ヘツド用非磁性セラミツクス | |
| JPH02267162A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02267161A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPS63121209A (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 |