JPS5932858A - 電極素子 - Google Patents

電極素子

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JPS5932858A
JPS5932858A JP57143683A JP14368382A JPS5932858A JP S5932858 A JPS5932858 A JP S5932858A JP 57143683 A JP57143683 A JP 57143683A JP 14368382 A JP14368382 A JP 14368382A JP S5932858 A JPS5932858 A JP S5932858A
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glass
electrode
film
electrode element
ions
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Takeshi Shimomura
猛 下村
Norihiko Ushizawa
牛沢 典彦
Noboru Koyama
昇 小山
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Terumo Corp
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/28Electrolytic cell components
    • G01N27/30Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
    • G01N27/36Glass electrodes

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 10発明の背景 〔技術分野〕 この発明は溶液中の水素イオン濃度を■、極電位応答で
検出するために用いられるII′1.極素子に関する。
〔先行技術および問題点〕
溶液中のイオン例えは水素イオンの濃度に感応してこれ
を測定するイオン電極(イオンセンサー)として現在知
られているものは、その感応膜が固体電解質であるか、
イオン交換液を主体とするかによって固体膜型電接と液
体模型電極とに大別される。溶液中のイオン濃度の測定
は、これら電極および基準電極(参照電極)を当該溶液
に浸漬し、両電極間の、゛電位差を求めることからなる
しかしながら、上記従来のイオン電極はいずわも、ガラ
ス電極と同様、内部基準液室を必要とする。したがって
、これら′電極には、内部基準液が漏れたυ、測定温度
の彩管を受けやすい等の欠点がありた。また、内部基準
液室を設ける必要があるため、その微小化には限度があ
った。
このような従来のイオン相極の欠点を解決するものとし
て、本出願人は、導電、体(特に白金)表面に窒素含有
芳香族化合物あるいはヒドロキシ芳香族化合物から誘導
された重合体膜を直接被着してなるイオンセンサーある
いはpHセンサーを先に出願した(特願昭56−429
5号、同F16−129750号および同56−150
895号)。これら特許出願に開示したイオンセンサー
あるいはP11センザーは、従来のイオン電極の考え方
とは全く異なり、導電体表面を重合体で化学修飾すると
いうこれまでほとんどおこなわり、ていなかった技術を
利用している。この化学修飾の技術によって導電体被覆
膜は溶存イオン種に対し選択的な透堝性を持ち、寸た表
面の腐食や溶解を防止し、導電体は溶液中のイオン濃度
に対して選択的にI[電位または電流変化で応答すると
いう全く新しい機能を発揮する。このイオンセンサーは
重合体で化学修飾した導電体の機能のうち特に、イオン
濃度に対する応答性を利用したものである。これらイオ
ンセンサーは、内部基準液室を設ける必要がないので、
導出、体の加工限度1で微小化でき、広範囲のP11領
域でネルンストの式を満足する等種々の利点を有する。
しかしながら、上記イオンセンザーは、測定溶液中に水
素イオン以外のイオン特に塩素イオン、臭素イオン、ヨ
ウ素イオン等のハロヶ゛ンイオンが共存すると、平衡宙
1位値がこれらイメン稀の影響を受け、水素イオンを正
確に測定できないことがあることがわかった。
凍/ヒ、上記化学修飾電極と同様の考え方で本出願人は
特願昭56−206095号に基準電極を出願した。し
かし、この基準電極も上ハ己イオンセンザーと同様ハロ
ヶ゛ンイオン等妨害イオンの影響を受ける。
11、発明の目的 したがって、この発明の目的は測定溶液中に水素イオン
以外の妨害イオンが共存していてもこれに影響を受けな
い電極素子すなわち、水素イオン濃度に感応するpi1
電極および基準電極を提供することにある。
この発明(′(丁よれば、溶液中の水素イオン【;”1
型度を市極電位応答で検出するために用いらhる電極素
子であって、導電体で形成された電極基体ヒドロキシ芳
香族化合物もし2くは窒素含有芳香族化合物から誘導さ
れた重合体の膜であって該電極基体の表面に直接被着さ
h f’r−もの、および該溶液中の妨害イ]ンの透過
を防止する膜として)該重合体膜の表面に真空蓄積によ
って被着されたケイ酸系ガラス膜からなるととをノ14
徴とする市、極素子が提供される。
上記り一イ酸系ガラスとしては5io2ガラス、Na2
0−A7203−5i02がラス、I−+ 70− A
A205−8i02がラス、Na20−B2O3−8j
02ガラス、N1120− TiO2−5402ガラス
、Nn70−へL203−P205−8102ガラス捷
だは5102− L120− La2O3−BaO−T
102ガラスかある。また、このガラス膜のJすさは、
一般に、10mないし1μmである。
上記重合体膜は電解酸化重合膜であることが好ましい。
ヒドロキシ芳香族化合物は式 () %式%() (とこで、Ar幻芳香核、名Rはボを操糸、nは1以上
の整数、mi、、io−また+a i以上の整数であっ
てn 1mはArの有効原子価数越えない)で示i−仁
とができる。このようなヒドロ率シ芳香族化合物として
フェノール、2,6−および:3,5−キシレノール、
o−、m−およびP−ヒドロキシベンゾフェノン、0−
およびm−ヒドロキシベンジルアルコール、2.2’、
 4.4’−テ1゛ラヒドロキシベンゾフェノン、o−
、m−およびp−ヒドロキシ/40ビオフエ、メン、o
−、m−おtひp−ヒドロキシベンズアルデヒド、0−
lm−およびp−ペンシフ5ノール、o−、m−および
p−ヒドロキンアセトフェノン、4−(p−ヒドロフェ
ニル)12−ブタツノ、並ヒにビスフェノールAよりな
る群の中から選はノt/こものがある。
また、窒素含有芳香族イ(−合物は式 %式%) () (ここで、Arは芳香核、Rは置換基、p id、 0
1叩1以上の整数およびqは1以上の整数てあっでP+
qi、jArの有効原子価数を越えない。
/ζだし、Arが含窒素抜素環の場合qは0であっても
よい)で示゛すことができる。このような窒素a有芳香
族化合物として1.2−−、’アミノベンゼン、アニリ
ン、2−アミノベンゾトリフルオリド、2−アミノピリ
シン、2,3−シアミノピリジン、4,4′−ノーアミ
ノジフェニルエーテル、4.4′−メチl/ンソアニリ
ン、ヂラミン、N−(o−ヒドロギンベンシル)アニリ
ンおよびカルバ・ブールよ(りなる群の中から選はわだ
ものがある。
上記市、極素了が水素イ刈ン濃度に感応するPH1(7
,極である相合、電極基体は少なくともその表面が白金
で構成・されていることが好11〜い。
件た、上記1ij、’、極素子が基準電極である場合、
7()極基体d少なくともその表面が銀寸たは銀に41
!持された塩イ、ヒ銀ア構率さ些ているこ、とが好オし
い。
■1発明の具体的胆、、明 。
本発明者らは重合体膜化学修飾電極に対するハワダンイ
オン等平衡電位値に影響を与える妨害イオンの影響を防
止すべく種り検討し次結果、重合体膜をガラス膜で被覆
することによって、妨害イオンの透過が防止され、優れ
たp(1市極および基準電極が提供できることを見い出
し、本発明を完成するに至った。。
以下、この発明を添付の図面に沿って詳しく説明する。
第1図に示すように、この発明の電5極素子10fJ、
、白金、銀、タングステン、チタン、銅、鋼等導電体で
形成された任意形状の1@、極基体11にの周囲がポリ
オレフィンやテフロン等の電気絶縁体I2で被覆してお
シ、、そのh高表面に白金族金属膜11B、銀又は/さ
らに塩化銀を担持し、更にその表面にヒドロキシ芳香族
化合物または窒素含有芳香族化合物から誘導されへ重合
体(単独重含体および相互重合体の双方を含む)の膜1
3が直接被着されている。
ヒドロキシ芳香族化合物は芳香核に直接結合したヒドロ
キシル基を少なくとも1つ有する芳   :香族化自物
であシ1.例えば式 () %式%() (ここで、Arは芳香核、各Rは置換基、nは1上以の
整数、mはOまたは1以上の整数であってn −1−m
 ld Arの有効原子価数越えない)で示すことがで
きる。芳香核Arはベンゼン核、g IJジン核等の単
環式のものであっても、多核式のものであってもよい。
多核式芳香核にはナフタレン核、アントラセン核等の縮
合環タイプのもの、および芳香核同志がアルキレン、1 −C−1−O−等の架橋基によらて結合した架橋タイプ
のものが含まれる。置換基Rの例を挙げると、アルキル
基例えばメチル基、アリール基例えばフェニル基、アル
キルカル日?ニル基およびアリールカルがニル基(−d
R′)、ヒドロキシアルキル基(−R”OH)等である
このようなヒドロキシ芳香族化合物の具体例を挙げると
、フェノール、2,6−および3,5−−、m−および
p−ヒドロキ シベンゾフェノン、0−およびm−ヒドロキシペンシル
アルコール、2.2’、4.4’−テトラヒドロキシベ
ンゾフェノン、Q−、m−およびp−ヒドロキシグロビ
メフェノン、Q−、m−およびp−ヒドロキシベンズア
ルデヒド、O−2m−およびp−ベンゾフェノール、Q
−、m−およびp−ヒドロキシアセトフェノン、4−(
p−ヒドロフェニル)−2−ゲタノン、ビスフェノール
Δおよびこれら2種以上の混合物である。
あらかじめ重合して得た重合体としでは4?す(フェニ
レンオキシド)、ポリ(フェニレンオキシド)誘導体、
ぼり(ジフェニルフェニレンオキシド)、ホリ辷ジメチ
ルフェニレンオキシド)、ポリカーブネート等がある。
窒素含有芳香族化合物は少ガくとも1つの窒素原子を含
有する芳香族化合物であり、例えば、一般式 %式%) () (ここで、Arは芳香核、Rは置換基、pは0または1
以上の整数およびqは1以上の整数であってp +、q
はArの有効原子価数を越えない。
ただし、Arが含窒素複素環の場合qは0であってもよ
い)で示すことができる。芳香核Atおよび置換基Rは
ヒドロキシ芳香族化合物に関して述べたものと同じであ
る。これら化合物のN−置換誘導体も用いられる。
このような窒素含有芳香族化合物の具体例を挙ケると、
1,2−シアミンベンゼン、アニリン、2−アミノベン
ゾトリフルオリド、2−アミノピリジン、2,3−ノア
ミノピリジン、4.4’−ノアミノジフェニルニー“−
i′ル、4.4’−メチレンジアニリン、チラミン、N
−(0−ヒドロキシベンジル)アニリンおよびカルzZ
ゾール等である。
あらかじめ重合して得た重合体としてh:i +j51
J芳香族アミドおよびイミドかある。
以J−述べたヒドロキシ芳香族化合物井だは窒鷹・包有
芳香族化合物から誘導さ第1.た重合体膜を電極基体1
1Bの露出表面上に被着するためには、窒素含有芳香族
化合物−またはヒドロキシ芳香族化合物な電)n酸化重
合法によって電極基体11B表面上で重合させる方法、
予め合成された重合体を溶媒に溶かし、この溶液を浸漬
・塗布および乾燥により’FJj極基体IIB表曲に固
定する方法、さらには重合体膜を化学的処1p、物理的
処理もしくは照射処理によって電極基体11B表面に直
接固定する方法を採ることができる。
上記被着方法のうち最も好都合な方法に1山解酸化重合
法による方法である。この電解に化重合は適当な溶媒中
で窒素含有芳香族化合物才だはヒドロキシ芳香族化合物
を電解酸化重合させ、動作電極としての所望基体の表面
に重合体膜を被着するものである。例えば、1,2−シ
アミンよび4,4′−シアミン・ジフェニルメタンの電
解酸化重合fipH7のリン酸緩衝溶液中で、アニリン
の重合しjビ゛リソンおよび過塩素酸プトリウムを含む
アセトニトリル溶液中で、4.4’−ノアミノジフェニ
ルエーテルの重合は過塩素酸ナトリウムを含41rアセ
にトリル リウムを含むメタノール溶液中でお?Cfzう。ヒドロ
キシ力香族化合物の電解酸化重合しl,アルカリ性のメ
タノール等の溶媒中でおこなう。
市、解酸化重合によって被着した重合体膜は被着安定性
が極めてよく、−また膜表面も滑らかである。
小合体膜j3の厚べに特にilill限はないが0.0
1μないし71μ程度が適当である。
このように形成された重合体膜13を祷って二酸□化ケ
イ素系ガラスの膜14が形成されている。二酸化り゛イ
素系ガラスとしては別02ガラス、並びにS102を一
成分とする混合ガラス例えは、Na20 − At20
3 − S102ガラス、I,120−At20,5 
−sio2ガラス、Na20 − B203 − Si
02 :tfガラスNa20 − TiO2 − Si
02ガラス、NII2o − At205 −p2o5
 − S102ガラス、およびSi02 − Li20
−La205− BnO − T102ガラスがある。
この発明の市,他素子を生体分野に適用する場合、応答
速度、平衡′11.位値の安定性、再現性等の点から、
混合ガラスを用いることが望ましい。
に) このようなガラス普通には重合体膜第3上に強固に被着
することが卸しい。そこで、この発明でケ91、既述の
ように、ガラス膜Z4は重合体膜1 3):に7<空蓄
積によって形成さitでいる。
ζこで、「真空蓄積」とはjカポの被養源(ここでニ(
−、8102系ガラス)を減yL下で気化あるいはイオ
ン化し、所定の目標物(ここでは、基体11B上の重合
体膜13)表面上に蓄積・被着する技術をいい、よく知
らfまた真空蒸着,イオングレーティング、イオンスパ
.,夕等が含プオしる.、特にイオンス・やツタが好ヰ
しい。このイオンス・ぐツタは第2図に示すような高周
波ス・ぐツタ装置匠を用いてお仁なうと一Lい。このス
パッタ装置20は不活性ガス例えd:アルコンカスの2
冴入口21aおよび排気[:、1 2 l bを1−下
に備メ。た真空室21内にカソード+lL22としての
金属板およびアノード極としての基体支持台23を所定
間隔(例えば40覗)隔てて対向配置してなるものであ
り、カソード極22,上ぐ(−はガラス膜22Aが設け
ら)1,、一方アノード極2 3−1−に、ガス導入日
218からアルゴンガスを涌1人しつつ排気114 2
 l bから真空,I?ンプ(図示せず)等により排気
[7ながら真空室2)内を例メは約I F5Torrに
1呆1.!l(、アルコンカス(Ar)全白金系金属板
22に指向さl±−る。この状態でカソード極22とア
ノード44i 23との間に、市、分■から高周波重用
を加乏ると、アルコンカスがイオン化して加速され、高
エネルギー粒子としてガラス(偉2.2A表面にイ荀突
し、ガラス朕22A表面の原子゛井/トは分イをはじき
出し、基体11上の申合体膜表面上にガラス膜として抗
Aへさ)7る。また、大電力量で生成する金属イオンを
磁力で制御してアノード極に衝突さぜるマグネトロン放
電方式による方法も利用できる。この方法によれば、屯
らに低温でス・やッ)がおこなえるので、熱変性が生じ
にくく、薄膜□形成ができる。
こうして形成さすするガラス膜I4の厚さはあまシ厚い
と不導体となり、薄すぎると妨害イオン透過防止機能が
なくなる。一般に、l’nmないし1μmの厚さ、好甘
しくfqlo、o’65μm雇いしくL 1μmの厘さ
が適当である。
このガラス膜ゴ4は、−8i02−の網目構括を形成し
、測定試料水溶液中に浸漬するとこの構造中に水が浸入
して水和し、水和層を形成してガラス膜表面でケ゛ル化
が生じる。水素イオンはこの水和層中を透過してゆくと
考えらノ′する。このノfラス膜中には5IO4−イオ
ンも存在し、これによってハロケ゛ンイオン、ハロゲン
化Qfaイオン(例えばcto4− )等の負イメンの
透過が静電反撥によって、防止されるものと考えられる
。さらに、このガラス膜はNg”、K+□等のイオンの
透過も防止する機能を持つ。            
1□なお、□この発明の電極素子10をPH組電極して
用いる場合、その基体11は少なくともその表面が白金
で構成されていることが望ましい。
また、この発明の@4門素子1′0を基準苺、極とし 
  □て用いる場合、その基体11Aは少なくともその
表面が銀、捷たは銀に担持されたハロゲン化銀(特に塩
化銀)では成されていることが望ましい。−一担持され
苑・・・ケ・ン化物層を形成するためには、7Ji定の
ハロケ゛ンイオンを含有する   :水溶液部に銀また
は少な□くとも表面に銀層を有    □する基体11
を浸漬して甫1極をおこなう。例えば、涛電体としての
銀を0.1. M塩化ナトリウム水溶液に浸漬し、02
5・A/−2の市、−密度で30分間電解すると、ハロ
グし化物層として塩   □化銀層が得られる。
以下、この発明の実施例を記す。
実施例 1 直径1−の白金線(の周囲をテフロンで絶縁し、その露
出先端をシリコンカーバイド(粒径8.0μm)紙およ
びアルミナ粉末(粒径0.3μm)で研磨し平滑にした
後、水洗およびメタノール洗浄し乾燥した。こうして処
理した白金線の露出先端面にフェノールの電解酸化重合
膜を被着した。この電解酸化重合は、辿常の3電極式セ
ルを使用し、対極として白金網、基準電極として市販の
飽和カロメル電極(SSCFJ)、そして動作電極とし
て上記白金線を用いてお・こ々っだ。電解液としてlQ
mMフェノールおよび30 mM水酸化ナトリウムを含
むメタノール溶液を用い、電解前にこれをアルゴンガス
で十分に脱酸素した。印加電圧を走査し、フェノール里
方j一体の酸化反応が白金表面で生起していることを確
認した後、印加電圧を1.0ボルト(対5SCE)で止
め、3分間定電解した。こうして、基体の白金線露出先
端面にフェノールの電解酸化重合膜(以下ppo膜とい
う)が被着され、こノ1.を蒸留水で洗浄した。
このPPO膜を有する白金線のPPO膜上に、高周波2
極ス・やツクマグネトロン放電装置、を用いて二酸化ケ
イ素の膜を形成した。このときのスパッタは、カソード
−アノード間4cn1、アルゴン雰囲気10−2Tor
r 、  13.56 MHzの高周波電場で電力量2
00Wの条件の下に10秒問おこなった。二酸化ケイ素
膜の厚さは約0.009μmであった。こうして、この
発明の電極素子を得た。
との市1極素子の、H電極としての性能を調べるために
基準電極としての8SCEと組合せて、試料水溶液のP
llを6.86と一定にし、この水溶液中のKClの濃
度を10−’M/L〜1.’ OM/lと変化させてそ
れぞわ、の場合における平衡電位値および応答速度を測
定し/ζ。比較として、ガラス膜を形成しない以外は上
記と同様にして得たPPO膜被膜被覆白金極を用いて同
様の測定をおこなった。
第3図は、各Kct倣度における平衡翫イゾ値(線aは
ガラス膜あり、線すはガラス膜なし)を、第4八図は本
発明の電極の応答速度を、電4B図は比較例電極の応答
速度をぞJlぞ牙1示l。
でいる。この結果、塩素イオン濃度10  M/7から
、10  M、/l tで共存さ44でも、塩素イオン
に影響さノ1ずに水素イメン1農度が測定できることが
わかった。壕だ、比較のために、白金基板/ I’PO
膜被伊′中1極の場合、上記同様に塩素イオン濃度の影
響を検削した(比較例1.第3図参照)。塩素イメンが
徴用(1o−’M/′z )に存在する場合、電極′亀
位仙が無添加の場合にくらべて約2Q mV低斗り7.
10−’ M/l〜10−” Matの範囲内では、水
素イオンイパ1.(0−にUはとんど影響を及り1さな
い。
こハらのことから、本発明のJl負被9電極はr<ct
共存中の水素イメン濃[11111定かKctr+何度
1.0’M/)は内であノロ(Ct、t゛)・沿加系と
11ぼ)11極電旬値書化がほぼ同程度で、↓(ff中
の塩素イ1ンに妨害さオ″1ずに水素イオンσp度をi
ll定できる。
なお、平衡箱5缶(if″1か一定に惇する応老1ぜf
l)tl lql第4A図および第4B図から次の連り
Tある。
表I   KC1濃度変佳さく111r時の応答速度第
1表から、5t07膜/ Pl’O/白金4 Mi %
、 ii<がr’po膜/白金卑板1(1□極にくらべ
塩化カリウノ、が共存した系のI晶合+、1″、、各連
座が速くなる(二、1−がJ)かる。
この理由kJS1071Fご中のS 104− カC1
−i、 JfJ、 lieし7.11ル1中(てCt’
−イオンをとりこ寸ないこと、お・よび、S i 07
 gl′t1(7−)水、?−,f、fl−ン選択率カ
Pi フイ2)プtめと思わi]る。
゛まだ、平衡′山イ\ンの安宇件H2O−0,2mVの
911」囲しごある。
本発明のFIl、極の1・It ′4;化Gこ力[−す
る3F′衡札イ1゛)値(・:1直線関係を示し−1こ
の直線の勾配lす56mV、/pH(25℃−4−t)
、 I  c  )  +  1ij  (rll R
ii’i、 囲 2(1〜10(1) 、は1・・1ネ
ルンストの1刀係を満足する。
以上のことから、本発明のW極はハロヶ゛ンイオン共育
する系で 、ハロケ゛ンイメンの妨害をヴC)ずに水素
イオン濃度を測定できる。
実施例 実施例1と同様、動作極11’ns+02膜/ PPO
/ 白金lit、板電極、基準極にs i0211! 
7 ppo 7銀占・、板電極を用い、LtA化カリウ
ム共存中で水素イオン濃度測定を行った(第5図参照)
。?i′!5図から、pH値4()1及び686を一定
にし、KCr=共存中で水軍イ]ン濃mを測定しまた。
塩化カリウム濃度10 M、/′l以下で1liCt−
イオンの影響を生けず水素−1オン濃度の測定ができる
。t7かし、pH9,3及び100のアルカリt1溶液
中ではpHII’lll定の際C/−イオンの影響を受
けることがわかっ/、−8″まプこ、測定液のpH値変
化に対する電極型6璽Ihの変化d1塩化カリウム必゛
む度(1、1F’へVt 。
i o−32’tで各々59 mV/IJ(、59r 
50である。
しだがって、はぼネルンスト式の関係を満足し、この条
ft(C1−F4度〜10 ’M7’t 、 rll 
4.0及び6.86)で水素イオン濃度1tll定がで
きる。
ま六−1本発明電極の塩化カリウム共7j中の平衡電1
位値が一定に達する応答時間は、2分〜・10分間であ
った。
■ 発明の具体的効果 宙、極1子は以下に述べる効果を奏する。
(1)  共存イオン、判に、ハロケ゛ンイ」ンが共存
゛する系においてさえも、水素イオン濃度測定ができる
。この5io2 Mの特徴Q」膜中に存在する5i04
−イメンがハロデ〉・イ附ンを反撥し、膜中に又膜近傍
に負イ」ンを近J゛けることを直重する効果をイjし、
又、水素イオン選択透過イ([も11(ね倫えているだ
め本発明市、極の応答速度も、PPO肘・/白金−〕、
(、板11)、イ似(t(<らべて速くなる。3(2)
応答安定件も2.0 mVへ−9.2 mV以内で安定
である。ネルンスト式もKCt濃度名々10−’(M/
/′t ) DI、内(:4.発明布、極と5SCEの
組合せ)、1、 Oo−5(/7.)以内(不発明市、
極とS 10711tA/ pp。
膜/銀基体の組8刊−)であれu、 59 mV/’p
H(23≦rJ+ < 10 ’)、56mVΔJi 
C2,0<1111<’ 6,815 )であり、水素
イオン濃度側、定か可能・である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこ□の発明の軍、極−子の断面図、第2図はこ
の発明の電極素子を製造する際に用いるス・やツタリン
グ装置の概略図、第31ゾ1ないし第5図U、jこの発
明の電極素子の特性1示すグラフを参考例を含めて示す
図。 11A・・・基体、IIB・・・白金膜または銀系膜、
13・・・重合体膜、14・・・ガラス膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)溶液中の水素イオン濃度を霜、極電位応答で(a
    出するために用いられる’N、 fj素子であって、導
    111体で形成された電極基体、ヒドロキシ芳香族化合
    物1もしくは窒素含有芳香族化合物から誘導さI’L 
    ftr重合体の膜であって該電極基体の表面に直接被着
    さね一/ヒもの、および該溶液中の妨害1=lンの透過
    を防止する膜と(〜で該重合体膜の表向に真空蓄積によ
    って被着されたケイ酸系ガラス膜からなることを特徴と
    する電極孝子。 (2) ケイ酸系ガラスが8102ガラス、Na7O−
    AI−20s −5102ガラス、Li 2O−At2
    03−8to2ガラス、Nn2O−B205−8i02
    ガラス、Na7O−T102−8i02ガラス、Na2
    0−Δ、11:、203−P205−8402ガラス斗
    /jr、JSi02−L i 70−L、11205−
     B a O−T i O2ガラスである’N!’ i
    ′1’ nl’J求の範囲第1項記載のl(1極素ニー
    。 (3)  カラ、2.膜がl nmス4いly 1 t
    tmのI’?さを有する特許請求の範囲第1項または第
    2項記載の電極素子。 (4)重合体膜が電解酸化重合膜である特許請求の範囲
    第1項ないし第3項のいずれかに記載の電極素子。 (5)  ヒドロキシ芳香族化合物が式%式%) () (ここで、Arは芳香核、各Rは置換基、nけ1以上の
    整数、mはO47’vid、IJJ上の整数であってn
    +mはArの有効原子価数越えない)で示される特許請
    求の範囲第1項ないし第4項の電極素子。 (6)  ヒドロキシ芳香族化合物がファノール、2.
    6−および;3,5−キシ1ノノール、o−、m−およ
    びp−ヒドロキシベンゾフェノン、〇−およびm−ヒド
    ロキシベンゾルアルコール、2.2’。 4.4′−テトラヒドロキシベンゾフェノン、0−1n
    1−およびp−ヒドロ上シフ0ロピオフエノン、0−j ヒト、’O−、jn−およびp−ベンゾフェノールしo
     −、、m〜およびp−ヒドロキシアセト/:ンヱ()
     □ン、4−(p−ヒドロフェニル)−2−fり/ン、
    並びにビスフェノールA′よりなる群の中から選ばれた
    ものである特許請求の範囲第5項記載の電極素子。  
      □ (7)  窒素含有芳香族化合物が式 (ここで、Arc芳香核、Rは置換基、pは0または1
    以上の整数およびqは1以上の整数であってp+qはA
    rの箸効蕨子価数を越えない。 ただし、Arが含窒素複素環の場合qはOであってもよ
    ℃)で示される特許請求の範囲第7項ないし第4項のい
    ずれかに記載の電極素子。 (8ン  窒素含有芳香族化合物dfl、2−−、’ア
    ミンベンゼン、アニリン、2−アミノペンゾトリフルオ
    リド、2−アミノピリジン、2.3−ジアミノピリジン
    、4.4’−ジアミノゾフェニルエーテ−(0−ヒドロ
    キシベンジル)アニリンおよび男ルバゾールよりなる群
    の中から選ばll!また少な、 くとも1種である竺許
    請求の範囲第7項記載の電極素子。 (9)  水素イオン濃度に感応するP11電極である
    特許請求の範囲第1項ないし第8項のいずれかに記載の
    電極素子。 00  電極基体の少なくとも表面が白釜で構成されて
    いる特M’+請求の範囲第9項記載の電極素子。 (1])  基準電極である特許請求の範囲第1項ない
    し第8項のいずれかに記載の電極素子。 0オ 電極誓体の少なくとも表面が銀捷たは銀に担持さ
    髄た塙化銀で構成されている特許請求の範囲第11項H
    i−:載の電極素子。
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