JPS5969937A - 半導体素子の接続方法 - Google Patents

半導体素子の接続方法

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JPS5969937A
JPS5969937A JP57180713A JP18071382A JPS5969937A JP S5969937 A JPS5969937 A JP S5969937A JP 57180713 A JP57180713 A JP 57180713A JP 18071382 A JP18071382 A JP 18071382A JP S5969937 A JPS5969937 A JP S5969937A
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JP
Japan
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semiconductor element
external circuit
electrode
connection
photo
Prior art date
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Pending
Application number
JP57180713A
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English (en)
Inventor
Ryuichi Toyoda
隆一 豊田
Takeshi Mizutani
武 水谷
Koichi Kawada
耕一 河田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Pending legal-status Critical Current

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    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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    • H10W72/541Dispositions of bond wires
    • H10W72/5449Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements

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  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体素子の接続方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 従来の接続方法として、第1図に示すように、ベース1
の上に半導体素子2と外部回路基板3を固定し、半導体
素子2の電極4と外部回路基板3の電極導体5を、金線
又はアルミ線等の金属線6によシ、1本1本熱圧着又は
超音波接合して行く方法や、第2図に示すように、金属
箔より形成された電極導体7を一度で熱圧着する方法や
、第3図に示すように、耐熱性フィルム8により支持さ
れた微細な金属箔電極導体9を一度の熱圧着により複数
個同時に接続する方法がある。
上記した3つの従来の接続方法は、いずれも高密度な接
続が可能であるが、半導体素子の電極4と外部回路基板
3の電極導体5との間に、金属線又は金属箔からなるブ
リッジ状リード6.7.9を持ち、このブリッジ状リー
ド6.7.9の機械的強度不足により、第4図に示すよ
うにブリッジ状リード10が破断し、それにより導通不
良が発生したり、またg5図に示すようにブリッジ状リ
ード1oの曲りによシ短絡が発生し、接続後の信頼性に
欠け、取扱いに非常に注意をはられねばならなかった。
また、生産性については、1つの接続又は半導体素子1
個に費す接続時間が決るので、半導体素子が複数個にな
ればその個数分だけ長く接続時間がかかり、量産による
メリットが出にくかった。さらに、接続時に熱圧着する
だめ、局部的ではあるが200″C以上の高温を半導体
素子が受けるため、熱に敏感な素子では特性に影響を及
ぼす事があった。またさらに、熱圧着する治具の大きさ
や、金属箔の微細電極導体を形成する都合上、高密度(
6〜20本/朋)な電極接続を行う事は、困難であった
発明の目的 本発明は、以上の問題点を解決するためになされたもの
で、従来のような中間のブリッジ状リードを廃し、信頼
性のある高密度の半導体素子の接続が容易に得られる半
導体素子の接続方法を提供する事を目的とする。
発明の構成 本発明は上記の目的を達成するため、半導体素子と外部
回路基板の電極接続部上に、導電性物質を含有するフォ
トレジスト膜を形成するものであ実施例の説明 第6図a −Cけ、本発明の一実施例を示す工程図であ
る。寸ず、第6図aに示すように、中央に発光部11を
持つLEDアレイ素子である半導体素子2の端面12と
多層セラミック基板である外部回路基板3の端面13を
密着させ、半導体電極4と外部回路基板3の電極導体5
の位置を合せてベース1に接着剤14により固定する。
次に第6図すに示すように、銀粉末とアクリル系フォト
レジストを重量比5:2で混合した導電性を有するフォ
トレジスト15を、半導体素子2上から外部回路基板3
上にわたって全面に形成し、その後、第6図Cに示すよ
うに、半導体素子2のti、 極4と、外部回路基板3
の電極導体5との接続部上を露光し、現像する事により
、導電性を有するフォトレジスト15で、半導体素子2
の電極4と外部回路基板3の電極導体5を接続する。
なお、本発明における導電性を有するフォトレジストは
、本実施例のような銀粉末の他の金属粉末、あるい幻:
粉末以外の導電性物質を、一般の7オトレジストに混入
きせることで実現できる。
発明の詳細 な説明した様に、本発明は半導体素子と外部回路基板の
電極の接続部上に、導電性を有するンオトレジスト膜を
形成する事により、従来のような、中間のブリッジ状リ
ードを廃した接続方法であるため、従来の接続方法でみ
られたブリッジ状リードの機械的強度不足から生ずる破
断や短絡などの接続不良かなくな9、信頼性の高い接続
が得られる。生産性については、個数に関係なく一度の
処理で接続できるので、1素子の場合と複数個の場合と
で接続に費やす時間に大きな差はなく、量産によるメリ
ットが出やすい。又、熱圧着接続に比へ、フォトレジス
ト膜の硬化温度は100°C〜180°C程度であり、
熱による素子への影響が少なくなる。さらに、従来の接
続方法では限界とみられていた10本/mm8度の微細
電極接続も、本発明によれば、導電性を有するフォトレ
ジスト膜を形成しての接続であるので比較的容易であり
、より高密度な電極の接続も実施する事が出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は従来の半導体素子の接続方法を示す斜
視図、第4図および第5図は従来の半導体素子の接続方
法の欠点を説明するだめの図、第6図a −Cは本発明
の半導体素子の接続方法の一実施例を示す工程図である
。 1・・−ベース、2・−半導体素子、3・・・外部回路
基板、4  電極、5−−・電極導体、6,7゜9.1
0.11・・ 中間ブリッジ状リード部、8耐熱性フイ
ルム、11−・発光部、12.13−・・・端面、14
−・・接着剤、15− フォトレジスト。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第4図 第5図 第6図 (α) (b) 第6図 (C)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 表面に複数の電極を有する半導体素子の端面と、表面に
    複数の電極導体を有する外部回路基板の端面とを、対応
    する前記電極および前記電極導体の位置を合わせて密着
    し、その後、前記半導体素子表面および前記外部回路基
    板表面に、導電性物質を含有するフォトレジスト騰を形
    成し、その後、前記電極および前記電極導体の接続部上
    の前記フォトレジスト膜を露光、現像し、前記接続部上
    に前記フォトレジスト膜を残存させることを特徴とする
    半導体素子の接続方法。
JP57180713A 1982-10-14 1982-10-14 半導体素子の接続方法 Pending JPS5969937A (ja)

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JPS5969937A true JPS5969937A (ja) 1984-04-20

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