JPS6017362A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JPS6017362A
JPS6017362A JP12572183A JP12572183A JPS6017362A JP S6017362 A JPS6017362 A JP S6017362A JP 12572183 A JP12572183 A JP 12572183A JP 12572183 A JP12572183 A JP 12572183A JP S6017362 A JPS6017362 A JP S6017362A
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JP
Japan
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reagent
sample
liquid
reaction
data
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Application number
JP12572183A
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English (en)
Inventor
Koichi Wakatake
孝一 若竹
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Japan Tectron Instruments Corp
Original Assignee
Japan Tectron Instruments Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes

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  • Pathology (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は自動分析装置に係シ特に液体試料に試薬を添
加して化学反応を生せしめ、試料の呈色状態を測定して
試料中の成分を分析するような自動分析装置に関し、そ
の目的とするところは試薬の残量を検知し、かつ試薬容
器内に収容された試薬液の種別等を検知して人為的ミス
を防止することができる自動分析装置全提供しようとす
るにある。
以下、添付図面に示す実施例にもとづき、この発明の詳
細な説明する。
第1図において、す/プラー10は試料テーブル11と
、イオン分析槽15と、これら全回転させる駆動部を備
えている。試料テーブル11には、外周側の複数の孔に
分析すべき試料を装填した普通試料容器列12と、内周
側の複数の孔に緊急検査用試料や標準試料を装填配列し
た特殊試料容器列13が形成されておシ、これらの試料
容器は必要に応じて試料吸入位置44および44′に回
転移送される。試料テーブル11の内側には回転可能な
イオン分析槽15があシ、西部にナトリウムイオン用、
カリウムイオン用、塩素イオン用等の複数のイオン選択
電極16と、比較電極17とが延在されている。これら
の電極は図示しないサンプリング機構によって、試料容
器列からサンプリングされた試料が分析槽15内に導入
され、希釈液によって希釈されたときに、その液に浸漬
される状態になるよう調節される。
反応部20は、ドーナツ状の恒温通路23とその上に装
設された反応テーブル21を備えており、反応テーブル
21の高さ位置は、試料テーブル11とほぼ同じである
。恒温通路23は恒温浴槽からなり、恒温水供給部29
から恒温液を循環される。
反応テーブル21には多数の孔があり、それらの孔に角
形透明セルからなる反応容器22が装填され、反応容器
列を形成する。反応容器の下部は恒温液に浸される。
図示しない駆動機構によって連続的および間欠的に回転
される反応テーブル21の内側には光源5があシ、光源
25からの光束妬は恒温通路n内の反応容器22を通過
して光度計27に導かれ、光度計27内で回折格子によ
って光分散された後、特定の波長光が光検知器を介して
取シ出される。
反応容器22内の内容物は攪拌機あによって攪拌される
反応容器列上には純水吐出管および液体吸出管をそれぞ
れ複数備えた洗浄機24がおり、反応テーブル21の停
止時にこれらの管が反応容器内に挿入されて洗浄操作が
行なわれる。
サンプリング機構40は、試料吸排管41を保持した回
転腕と、この回転腕の上下機構と、サンプル用ピペッタ
42を備えており、試料吸排管41を試料吸入位置44
および44/と、試料吐出位置45の間に移動し得、各
位置において試料吸排管を上下動し得る。
試薬液貯留部30は、反応部20と近接して配置され、
試薬液容器31 、31 ’の高さ位置は反応テーブル
21とほぼ同じにされる。貯留部3oは冷蔵庫から成り
、内部に直方体形状の試薬液容器31 。
31’が直列に2列並べられている。各試薬液容器31
は分析項目に応じて準備される。各容器31゜31′に
は開口32 、32 ’があるが、これらの開口は、反
応容器220列との関係で、特定位置に向かって直列に
並べられているとともに、同容器31゜31′の光面に
は、内容試薬液の種別、製造年月日等のデータを、例え
ばバーコードや2進コード等で光学的符号化し、又は電
気信号符号化することで表示してなるデータ体31a、
31’aが装着されている。試薬用ピペッタ35は、図
示しないレール上を移送される試薬ピペッティング部3
6゜37ヲ備えておシ、これらのピペッティング部36
゜37には試薬吸排管38 、39が取シ付けられてい
る。
これらの試薬吸排管38と39は、それぞれ独立に往復
移動される。試薬吸排管あは開口32の列に沿って移動
され、試薬吐出位置46まで移動される。試薬吸排管3
9は開口32′の列に沿って移動され、試薬吐出位置4
7まで移動される。試薬液容器310列と31′の列は
平行に配列され、開口32と32’の列も平行に配列さ
れている。試薬液槽31 、31 ’は直方体であるの
で、極めて密に隣接して多数並べることができる。試薬
吸排管38゜39は分析項目に応じて適切な試薬液槽3
1 、31 ’の開口上に停止され、下降して試薬液を
吸入保持し、上昇後、保持した試薬液を反応管22内に
吐出し得る。この際、上記試薬吸排管38 、39の昇
降作動と同期してデータ読取装置6oが昇降作動し、該
装置60は、その下降停止位置で試薬容器31 、31
 ’のデータ体31a、31’aと近接して該データ体
31a、31’aのデータを公知の光学的又は電気的手
段で読み取り、該読取データはマイクロコンピュータ5
1に入力される。このデータ読取装置60と前記試薬吸
排管38 、39の動作制御はマイクロコンピュータ5
1により行なう。ピペッタ35は周知のシリンダ機構を
備えている。
分析すべき試料を装置した試料テーブル11ヲサンプラ
ー10に設置して、操作パネル52のスタートボタンを
押すと、分析装置の動作が開始される。サンプリング機
構40の試料吸排管41が、試料吸入位置44または4
4′から試料全吸入保持し、試料吐出位置45に保持試
料を吐出すると、反応容器220列は光束26ヲ横切る
ように移送され、反応テーブル21が1回転と1ステツ
プして試料を受入れた反応容器の次の反応容器が試料吐
出位置45に位置づけられる。このサンプリング動作は
連続的にくシ返される。反応テーブル21が停止してい
る間に、攪拌機あの撹拌棒や洗浄機24の各管等が、そ
れぞれ所定位置の反応容器内に挿入され、必要な動作が
なされる。
反応テーブル21が停止している間に、試薬吐出位置4
6および47の位置で反応容器に試薬が添加され、呈色
反応が開始される。反応のための試薬が1種類で済む分
析項目に対しては、試薬ピペッティング部37だけによ
って吐出位置47の反応容器に試薬を添加する。反応テ
ーブル21上には種々の分析項目用の試料を並べること
ができる。1つのやシ方は、1つの試料を分析項目の数
だけ反応容器に分配したあと、次の試料も同様にして複
数の反応容器例えば20個の反応容器に分配し、・各分
析項目に対応した試薬を試薬ピペッティング部36 、
37によって必要な反応容器に添加するものである。
試薬ピペッティング部36 、37及びデータ読取部6
0はそれぞれレールに垂下されており、レールに沿って
移動するが、これらは、レールとともに上下動すること
ができる。試薬吸排管38゜39は各試薬液槽の開口3
2.32’の位置に必要に応じて停止し得る。また、デ
ータ読取装置60はデータ体31a、31’aに可及的
に近接する位置まで下降し停止し得る。ビベンテイング
部36 、37及びデータ読取部60の駆動部の動作は
マイクロコンピュータ51によって制御される。吐出位
置46゜47に来た試料の分析項目に対応する試薬が試
薬ピペッティング部36 、37によって選択され、反
応する試薬液槽31 、31 ’の上で吸排管38 、
39及びデータ読取装置60が一旦停止する。
続いてビペンテイング部36 、37及びデータ読取部
60が下降して試薬用ピペッタ35の動作によシ、吸排
管あ・、39内に所定量の試薬液全吸入し保持すると共
に、データ体31 a 、 31’aのデータが読取装
置60で判読された後、ビベンテイング部36 、37
を上昇し、この後吸排管38 、39は試薬吐出位置4
6 、47″!、で水平移動して対応する反応容器内へ
吸排管内に保持していた試薬液を吐出する。
反応容器内の試料は、反応テーブル21がサンプリング
動作の都度回転されるから、サンプリング動作にともな
って光束26を横切υ、呈色状態全観測できる。つまシ
、反応容器が洗浄機24の位置に達するまでの間板a回
にわたって同じ試料について光学的特性が観測される。
光度計27の光電検出器によって受光された光は、゛図
示しない波長選択回路により分析項目に応じた必要な波
長が選択され、透過光強度に応じた大きさの信号が対数
変換器53に導かれる。
アナログ信号はその後A/D変換器54によってディジ
タル信号VC変換され、インターフェース50を介して
マイクロコンピュータ51に導カれ、必要な演算が行な
われ1.結果、がメ%’ IJに、記憶される。特定分
析項目についての複数回にわたる測光動作のすべてが終
了したとき、複数回の測光データが比較され、必要な演
算がなされて、当該分析項目の濃度値がプリンタ55に
印字される。CRT56は、分析結果や統計データを表
示できる。
本実施例では、比色法による分析および反応速度法によ
る分析を行なえる。図示していないが、試料テーブル1
1および試薬液貯留部30の付近には吸排管洗浄部が配
置されている。反応容器の移送路となる恒温4! 23
は、25〜37rの一定温度に維持される。この実施例
では装置の分析動作条件がカセットテープに記憶され、
このカセットテープ全貌ませて試薬液全吸入すれば分析
項目を変更できる。試薬交換時に流路系の洗浄をする必
要がなくなる。CRTと項目キー、プロファイルキーお
よびテンキーにより、分析項目および項目別分析条件の
入力を行なうことができる。
次に試薬の残量表示について説明する。第2図は吸排管
38 、39の先端の構造を示す。プローブ60は試薬
の吸排口であり、耐薬品性のある金属細管からできてい
る。電極61は試薬の液面を検知するためのものであシ
、耐薬品性のある金屑線で、電気的絶縁性のある外皮6
2につつまれている。電極61の先端はプローグ60よ
シ少しく2閣)短くしである。プローグ60と、電極6
1は、さらに外筒63につつまれ固定されている。
吸排管38 、39の先端が上記のような構造になって
いるのは、試薬ピペッティング部36 、37が、下降
して吸排管38 、39が試薬液槽31,31’内に挿
入されたとき、電圧のかかった電極61とグローブ60
が試薬液面入って、両者間に電気的導通があったことを
マイクロコンピュータ51に知らせテ、マイクロコンピ
ュータ51が試薬ピペッティング部36’、37の下降
を停止させ、グローブ60が試薬液面に少し入った状態
で試薬分取を行なうためである。試薬ピペッティング部
36 、37の上下動作はそれぞれ独立にパルスモータ
によって駆動される。第3図に試薬ピペッティング部3
6゜37の上下動作、および試薬分取の部分のプログラ
ム・フローチャートラ示す。第4図は液面検知信号が入
ったときのプログラム・フローチャートである。メイン
プログラムのプログラム制御により、試薬ピペッティン
グの制御プログラムは0.1秒毎に動作する。第3図、
第4図により、試薬ピペッティング部36 、37の上
下動作の制御方法を説明する。最初のタイミングチェッ
クのプログラムは、現在の時刻が上下動作制御の必要な
タイミングかどうか全調べ、不要ならばメインプログラ
ムにリターンし、必要すらば、そのタイミングの制御プ
ログラムにジャンプする。Tl、 T2. Ta、 T
4はそれぞれ制御タイミングを示す。時刻T1の下降制
御プログラムは、パルスモータ制御回路(公知技術で図
示せず)g)ダウンカウンタに最大下降ストロークに必
要なパルス数をプリセットして、試薬ピペッティング部
36 、37の下降を開始させる。下降が進み、吸排管
38 、39の先端からの液面検知信号がマイクロコン
ピュータに入ると、割込要因解析が行なわれ、第4図に
示すごとく、割込信号が液面検知信号であることがわか
ると、パルスモータ制御回路のダウンカウンタの残パル
ス数を読み取!I)記憶Lテから、パルスモータ止め、
上下動作全停止させる。もし、試薬が空になっている場
合はプローブ60が試薬液槽31 、31 ’の底面ま
で下って停止する。この動作は第3図における時刻Tl
とT2の間に行なわれる。また、試薬ピペッティング部
36 、37の上下動作はまったく独立に行なわれ、制
御も別々に行なわれる。時刻T2は試薬分取のタイミン
グである。マイクロコンピュータは電極61とグローブ
60の状態音調べ、両者間に電気的導通があるかどうか
を調べ、導通がなければ、試薬液槽31 、31 ’が
空になっていることを意味し、警報(例えばブザー音)
を発生させ、CRT56に試薬不足の旨を表示する。ま
た、この旨を記憶しておき、このタイミングで試薬を分
注すべきであった試料が測定されて結果がプリントアウ
トされる時試薬不足であったことをデータに添えて印字
できるようにする。
電極61とグローブ60間に電気的導通があった場合は
、既に記憶しであるパルスモータ制御回路の残パルス数
より、試薬液!31.31’の試薬残量を次式により算
出し、CRT56に表示する。
SXK (Pl−P2) ■ ただし、 N:試薬残量(残分取回数) S:試薬液槽の水平断面積(−) K:パルスモータ1ステップ当りのストローク(W)P
l:ダウンカウンタのプリセントノくルス数P2:ダウ
ンカウンタのg、面検知時の残量くルス数 V:1回当りの試薬分取量(mi) 、分析項目により
異なり、分析項目毎に記憶されている。
第5図にCRT56の試薬残量表示例を示す。図中、R
1,R2はそれぞれ第1反応液、第2反応液を意味し、
それぞれ、試薬ピペッティング部36 。
37で分注−れる試薬に相当する。本実施例では分析項
目が16種類であfi、ICH(チャンネル)から16
CHまでのR1およびR2の試薬残量を残り分取回数で
表示している。残量弄示単位としてはこの他に、残容量
、あるいは、試薬液面高さ等が考えられるが、残υ分取
回数が、オペレータにとって最も解りやすい。第3図に
おける時刻T3では、これから分注する試薬の必要量を
試薬用ピペッタ35により分取する。試薬ピペッタ35
も、試薬ピペッティング部36.37に対しそれぞれ独
立に行なわれ、パルスモータにより駆動され、マイクロ
コンピュータよシ制御される。時刻T4は時刻Tlとは
逆に試薬ピペッティング部36 、37 ’に上昇さゼ
る。ただし、このときのパルスモータ停止は液面検知信
号ではなく、試薬ピペッティング部36 、37の上死
点を検知する上死点検知信号による。従来技術による多
項目自動分析装置では、例えば試薬液槽が30個ある場
合、試薬不足を検知するのに30個の液面検知器とそれ
らに必要な電気回路を必要とし、極めて複雑な構成とな
った。それでいて、ただ単に試薬不足が検知できるだけ
であり、試薬残量を検知することはできなかった。どう
しても試薬残量を表示するには分析開始前にセットした
試薬量を入力しておき、使用した試薬量全差引きして表
示する方式があったが、この従来方式では、分析開始毎
に試薬量を入力してやらねばならず、途中でつぎ足した
場合でも再入力してやらねばならなかった。
本発明の実施例によれば試薬液槽がいくら増えても液面
検知器は第1反応液用と第2反応液用にそれぞれ1個ず
つ必要なだけであり、かつ、試薬不足の検知だけでなく
試薬残量゛まで検出し、表示することができる。
また、本発明の実施例によれば分析途中で試薬をつぎ足
しても、その都度、パルスモータ制御回路の残パルス数
よシ算出するため試薬量の入力操作なしで試薬残量が表
示できる。また、本発明の実施例によれば、プローブ6
0の先端が少ししか試薬液内に入らないため、試薬によ
るプローブ60の先端の汚染が少なく、簡単な蒸留水洗
浄により、i本のプローグ60で多種類の試薬分注が実
現できる。
一方、データ読取装置60で読み取られたデータ体31
a、31’aの内容種別等データは、第6図に示すよう
に、光量変換電圧として又はそのまま電気信号としてマ
イクロコンピュータ51に入力され必要な演算がなされ
た上でCRT56に表示されることで、ピペッタ35で
今分注された試薬液が、測定項目に対応する試薬量であ
るか否かを視認チェック又はプリンタ55でプリントア
ウトすることで事後的にチェックできるよう構成されて
いる。尚、当該データ読−取装置60の昇降動作は、図
示の実施例では試薬ピペッティング部36 、37と同
期して同一の機構で作動するよう構成されているが、全
く別の機構で昇降案内され又はデータ体31a、31’
aに近接するよう作動制御してもよいこと勿論である。
このようにして試薬容器内の内容種等を判別することで
、試薬液容器の差し換えミスを防止することができ、ま
た分注された試薬液が分析項目に対応する試薬液であっ
たか否かをチェックできるので、測定精度に対する信頼
性を大幅に向上することができる。
以上説明したように、この発明によれば、極めて簡単な
構成で、試薬不足の検知および試薬残量の表示が可能で
あり、オペレータの試薬管理が容易となり、しかも試薬
液の種別が判別できるので、試薬液容器の差し換えにと
もなう人為的ミスが防止できるとともに分析精度に対す
る信頼性も向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の概略構成を示す図、第2
図は吸排管の先端を示す図、第3図および第4図は試薬
ピペッティング部の動作フローチャート、第5図は試薬
の残量表示の一例を示す図、第6図はデータ読取装置の
動作フローチャートである。 10・・・サンプラー 11・・・試料テーブル20・
・・反応部 21・・−反応テーブル22・・・反応容
器 27・・・光度計30・・−試薬液貯留部 31 
、31 ’・・・試薬液槽31a、31’a・・・デー
タ体 36 、37・−・試薬ピペッティング部40・−・サ
ンプリング機構 55・・・プリンタ60・・・データ
読取装置 特許出願人 日本テクトロン株式会社 Mうl 第5諷 扁6帛

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 分析すべき試料を収容すべき反応容器と、分析項目に対
    応する試薬を収容してなる試薬貯留部と、この試薬貯留
    部から試薬液を吸入して前記反応容器に供給する試薬分
    配装置と、前記試薬貯留部の試薬液の液面全検知する液
    面検知器と、この液面検知器からの出力によって試薬液
    の残量を表示する試薬残量表示装置とを備え、上記試薬
    貯留部の各試薬容器は直列状に配設されてなる自動分析
    装置において、上記試薬容器の光面には、当該試薬容器
    内に収容された試薬液の種別等データが配設されておシ
    、該データは試薬容器の外側に配設された読取装置を介
    して判読されるように構成されていることを特徴とする
    自動分析装置。
JP12572183A 1983-07-11 1983-07-11 自動分析装置 Pending JPS6017362A (ja)

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JP12572183A JPS6017362A (ja) 1983-07-11 1983-07-11 自動分析装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04326063A (ja) * 1991-04-26 1992-11-16 Hitachi Ltd 自動分析装置およびそれに用いる試薬取扱方法
US5719059A (en) * 1995-07-11 1998-02-17 Hitachi, Ltd. Reagent management method and apparatus therefor
WO2020179317A1 (ja) * 2019-03-05 2020-09-10 株式会社日立ハイテク 自動分析装置および自動分析方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04326063A (ja) * 1991-04-26 1992-11-16 Hitachi Ltd 自動分析装置およびそれに用いる試薬取扱方法
US5719059A (en) * 1995-07-11 1998-02-17 Hitachi, Ltd. Reagent management method and apparatus therefor
EP0753745A3 (en) * 1995-07-11 1998-08-19 Hitachi, Ltd. Reagent management method and apparatus therefor
WO2020179317A1 (ja) * 2019-03-05 2020-09-10 株式会社日立ハイテク 自動分析装置および自動分析方法
JPWO2020179317A1 (ja) * 2019-03-05 2021-12-09 株式会社日立ハイテク 自動分析装置および自動分析方法

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