JPS60186945A - サイクリツクパタン発生方式 - Google Patents

サイクリツクパタン発生方式

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Publication number
JPS60186945A
JPS60186945A JP59040307A JP4030784A JPS60186945A JP S60186945 A JPS60186945 A JP S60186945A JP 59040307 A JP59040307 A JP 59040307A JP 4030784 A JP4030784 A JP 4030784A JP S60186945 A JPS60186945 A JP S60186945A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
register
counter
memory
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP59040307A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Shimizu
孝一 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP59040307A priority Critical patent/JPS60186945A/ja
Publication of JPS60186945A publication Critical patent/JPS60186945A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はデータパタンをくり返し送出するパタン発生方
式に関するものである。
r発明の背景〕 受信したデータの値と順序によって、内部状態が遷移す
るような装置な試練するために、ある状態に)41移さ
せるデータ・パタンを発生し、引続きこの状態を保持さ
せるデータパタンのブロックをくり返し発生する機能を
、従来技術で実現する方法として、ソフトウェアによる
方法とダイレクト・メモリ・アクセスを用いる方法があ
る。しかし、前者は転送速度が高(なると追従しきれた
(なる問題があり、また後者ではくり返しのデータ・ブ
ロックを送出するために1回のブロックの転送終了を中
央処理装置で割込みやハンドシェークによって知り、再
びブロックの先頭から転送を開始する処理か必要であり
、手順や回路構成が複雑になるという問題があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくし、装
置内の状態遷移を試験するためのバタンを発生するパタ
ン発生方式を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、発生すべきバタンを1回のみ送出する矛1の
バタンとそれに引き続き(り返して発生する矛2のバタ
ンに分けて、矛1のバタンと矛2のバタンをメモリに記
憶させるとともに矛1のバタンの先唄アドレス、矛2の
バタンの先頭アドレス、最終アドレスをそれぞれ示すレ
ジスタ群を設け、矛1のバタンを送出した後に2/2の
バタンをくり返し発生するよう制御するものである。
〔発明の実施例〕
以下、不発明を一笑施例により詳細に説明する。
第1図は、本発明を実施したパタン発生回路である。同
一で、4はデータ・バタンを記憶するバタン・メモリ、
3はバタンeメモリ4の読み出しアドレスを指定するア
ドレス壷カウンタ、8はデータ・バタンの先頭アドレス
を記憶するスタート・アドレス−レジスタ、2はデータ
・バタンの最終アドレスを記憶するエンド嗜アドレス・
レジスタ、1はくり返し発生するデータ1パタンの先頭
アドレスを記憶するサイクルアドレス・レジスタ、5は
アドレス・カウンタ3の値とエンド−アドレス・レジス
タ2の値を比較するコンパレータ、6および7は各々バ
タン送出時とバタン送出停止時の′アドレス・カウンタ
3への初期設定値、ロード信号LDを切り替えるセレク
タである。
第2図は、第1図のパターン発生回路に係るタイミング
チャート、第5図は、パタン拳メモリ4のアドレス壁間
を示す図である。第2図および第3図を用いて本実施例
の動作を説明する。
バタン・メモリ4は、ランダム−アクセス・メそりでも
読み出し専用メモリでも良いが、ここでは耽出し専用メ
モリであるとして、発生すべきデーターパタンは既に記
憶されているものとする。パタン送出停止時はスタート
信号MSはIO”であり、ロードeアドレス・セレクタ
6、ロード信号セレクタ7は各々データ・バスDBの内
容、スタート・アドレスロード信号SLを出力する。こ
の時、データバスDB上に上記データーバタンの先頭ア
ドレスを示すスタート−アドレス、データーバタンの最
終アドレスを示すサイクルアドレス、上記データ・バタ
ン内で(り返し発生すべきデータ・バタンの先頭アドレ
スを示すサイクル・アドレスを順に送出すると同時に、
スタート・アドレスセット・パルスSS1エンド[相]
アドレス・セット・パルスBS、サイクル・アドレス・
セット・パルスC8を上記アドレスに対して送出すると
、上記アドレスはそれぞれ、スタート・アドレスeレジ
スタ8.エンド・アドレス・レジスタ2.サイクル・ア
ドレス・レジスタ1に設定される。ここでは、スタート
・アドレス、エンド・アドレス、サイクル・アドレスの
順にアドレスを設定したが、この順序を規定するもので
はない。アドレス管カウンタ3には常時カウンタークロ
ックCCが入力されているが、スタート信号MSがζ″
であるためアドレス・カウンタ3の歩進は行われない。
しかし、初期設定は可能であり、スタート・アドレスロ
ード信号LSによってアドレス−カウンタ3にはスター
ト・アドレスレジスタ8の内容が設定される。
パタン送出時は、スタート信号MSは′1″となり、ロ
ード・アドレス・セレクタ6、ロード信号レジスタ7は
それぞれサイクル・アドレスレジスタ1の内容、コンパ
レータ出力COを出力する。アドレス・カウンタ3は、
スタート信号MSが1″になったことにより、スタート
−アドレスを初期値としてカウンタ・クロックCCで歩
進される。バタン・メモリ4は、アドレス管カウンタ3
で示されるアドレスの内容をカウンタ・クロックCCと
同一の速度で送出する。コンパレータ5では、アドレス
・カウンタ3の出力とエンド0アドレス・レジスタ2の
内容すなわちエンド・アドレスとを比較し、両者が一致
した時に、コンパレータ出力COを1″にする。アドレ
ス・カウンタ3のロード端子りにはロード信号セレクタ
7を通じてCO−@1”が加わるので初期設定が行われ
、アドレス・カウンタ3にはロードΦアトVス・セレク
タ6を通じてサイクル・アドレスが設定される。アドレ
ス拳カウンタ3は、サイクル・アドレスを初期値として
カウンタ・クロックCCで歩進され、再びエンド・アド
レスと一致すると再びサイクル・アドレスが設定される
。この動作は、スタート信号MSが0″になってバタン
送出停止になるまで続く。以上の結果、第3図に示すよ
うに、スタート・アドレスからエンドΦアドレスまでバ
タン会メモリ4に記憶されたバタンか送出され、続いて
サイクル・アドレスからエンド−アドレスまでのパター
ンが(り返し送出される。
ここでは、スタートやアドレスを記憶し、幾度でもスタ
ート・アドレスの再設定なしでバタン発生を行えるよう
にスタート・アドレス・レジスタ8を設けた。しかし、
バタン送出開始毎にスタート・アドレスを設定するので
あれば、第4図に示す別の実施例のようにアドレス・カ
ウンタ3に直接データ・バスI) B上のスタート・ア
ドレスを設定することにより、スタート・アドレス・レ
ジスタ8とアドレス・カウンタ6を共用することができ
る。
〔発明の効果] 本発明によれば、受信データの内容とその順序によって
内部状態が常に遷移するような装置に対して、スタート
・アドレスからサイクル・アドレスまでの内容をある状
態に引き込むようなデータ・バタンとし、サイクル・ア
ドレスからエンド・アドレスまでの内容を引き込んだ状
態を保持するようなデータ・バタンとすることにより、
上記装置の状態遷移の試験を効率的に行える効果がある
。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の1実施例を示す回路図、第2図は、
第1図の動作を示すタイミング・チャート、第6図は、
第1図中のパタン壷メモリ4のアドレス空間を示す図、
第4図は、第1図中のスタート・アドレス・レジスタを
省略した実施例を示す回路図である。 1・・・サイクル・アドレス・レジスタ、2・・・エン
ド・アドレス・レジスタ、6・・・アドレス・カウンタ
、4・・・バタン−メモリ、5・・・コン7くレータ、
6・・・ロード・アドレス・セレクタ、7・、・ロード
信号セレクタ、B・・・スタート働アドレスーレジスタ
。 第1図 茗2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 ディジタルデータパタンを発生するパタン発生器
    において、発生するパタンを記憶するメモリと、該メモ
    リ内のパタンの先頭アドレスを格納する矛1のレジスタ
    と、最終アドレスを格納する矛2のレジスタと、くり返
    し先頭アドレスを格納する矛3のレジスタと、前記メモ
    リの送出アドレスを示すカウンタと、該カウンタを矛1
    のレジスタの値に初期設定し、前記メモリ内の1アドレ
    ス分のデータを送出する毎に前記カウンタを歩進し、前
    記矛2のレジスタと前記カウンタの値が一致すると前記
    カウンタの値を矛3のレジスタの値に再設定する制御回
    路とを有することを特徴とするサイクリックバタン発生
    方式。 2、 前記矛1のレジスタと前記カウンタを共用したこ
    とを特徴とする特許請求の範囲矛1項記戦のサイクリッ
    クバタン発生方式。
JP59040307A 1984-03-05 1984-03-05 サイクリツクパタン発生方式 Pending JPS60186945A (ja)

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JP59040307A JPS60186945A (ja) 1984-03-05 1984-03-05 サイクリツクパタン発生方式

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JP59040307A JPS60186945A (ja) 1984-03-05 1984-03-05 サイクリツクパタン発生方式

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JPS60186945A true JPS60186945A (ja) 1985-09-24

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ID=12576955

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JP59040307A Pending JPS60186945A (ja) 1984-03-05 1984-03-05 サイクリツクパタン発生方式

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