JPS60198038A - 撮像管 - Google Patents

撮像管

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Publication number
JPS60198038A
JPS60198038A JP5214784A JP5214784A JPS60198038A JP S60198038 A JPS60198038 A JP S60198038A JP 5214784 A JP5214784 A JP 5214784A JP 5214784 A JP5214784 A JP 5214784A JP S60198038 A JPS60198038 A JP S60198038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
photoconductive film
tube
film target
electron beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5214784A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigehiko Takayama
高山 成彦
Masanori Maruyama
丸山 優徳
Toshiharu Funamoto
船本 利春
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Japan Display Inc
Original Assignee
Hitachi Device Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Device Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Device Engineering Co Ltd
Priority to JP5214784A priority Critical patent/JPS60198038A/ja
Publication of JPS60198038A publication Critical patent/JPS60198038A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/84Arrangements for removing or diverting unwanted particles, e.g. for negative ions or fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/46Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
    • H01J29/58Arrangements for focusing or reflecting ray or beam
    • H01J29/60Mirrors

Landscapes

  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の利用分野〕 本発明は静電集束形撮像管に係り、特に戻りビームによ
る偽信号発生を抑えた撮像管に関する。
〔発明の背景〕
従来の静電集束形撮像管番;おいては、集束レンズによ
って細くしぼりこんだ電子ビームで光導電膜ターゲット
を走査することにより光信号を電気信号に変換して読み
出している。従来のこのよう ゛な撮像管の構造は、基
本的には2つに分けることができる。すなわち(1)電
子ビーム発生部と、(2)電子ビーム集束レンズ部(主
レンズ部りである。第1図は、特開昭58−10375
1に示された電子ビーム集束レンズを用いた撮像管の断
面図である。
lは真空容器、Kは陰極、G1は第1fl極、G、は第
2電極で、K、G、、G、で電子ビーム発生部である3
極部主を構成しており、G3.’G4は電子ビーム集束
レンズ(主レンズ)を形成するそれぞれ第3.第4電極
で、G6はメツシュ電極で。
電極G3 、Ga 、Gesで主レンズ部Jを構成して
いる。4は光導電膜ターゲットであり、5は撮像管外部
に配置された偏向コイルである。陰極により出た電子ビ
ームは3極部主で形成されるレンズで集束し、一度クロ
スオーバーをつくった後、第2電極G、に設けられたビ
ーム制限孔−6−を通過し。
Gz−Gaで形成される集束レンズ(主レンズ)で集束
され、同時に外部に設けた偏向コイルiの磁場により偏
向され光導電膜ターゲット土を走査する。f’l 極C
; 4とメソシュ電極G5とで形成される=1リメーシ
ョユ7レンズにより偏向した電子ビー・l、を光導電膜
ターゲット土へ垂直にランディングするようにしている
。通常このような撮像管では。
陰極ト;に対する各電極の電圧値は、電極G、が約−4
0V程+Il’C1m ti G Qが300v、電f
lA C; 3が約80V程度、’Ki 4!’4 G
4 カ600 V、メツシュ電極G !lが1400V
テある。
従来、」−健した枯造の撮像管では、戻りビームにより
出力信号中に偽信−号が入り、特番ユ低照度の撮影時に
カメラの感度を上げた場合顕著となり画質を低下させる
という欠点がある。
この原因は、メツシュfl!fiあるいは光導電膜ター
ゲット・でおし返された戻りビームが電極G2で反射し
て再び光導電膜ターゲットへ向かう反射ビームとなり、
この反射ビームが光導電膜ターゲットに到達し、正規の
信号以外の偽信号を発生するためと考えられる。すなわ
ち、第1図においてビーム制限孔J−から出た電子ビー
ム(1次ビーム)工は光導電膜ターゲット4を走査する
が、その一部はメツシュ電極あるいは光導電膜ターゲッ
トでおし返される戻りビーム8となり陰極に側へ向かう
。この戻りビームは最終的に電極G、!上のビーム制限
孔6の周りに衝突し、光導電膜ターゲットへ到達するこ
とになる。この時、特定の走査期間に発生する反射ビー
ムは光導電膜ターゲットとの非走査領域B(走査領域A
の外の領域)に到達する。領域Bは1次ビーム7による
走査をうけず、その面電位は、ターゲット印加電圧にほ
ぼ等しく、数1.OVの高い電位となっており、反射ビ
ーlx 9の入射により偽信号を発生する。この偽信号
により、画面中央部に画面の約3分の1の大きさで画面
に相似な黒い偽像が発生する。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、このような戻りビームにより生ずる偽
信号像を取り除いた静電集束形撮像管を提供することに
ある。
〔発明の概要〕
本発明は、静電レンズを構成する円筒状電極内部に戻り
ビームを管軸に対して直角に反射させる曲面(回転双曲
線正接函数面)を有した電極を設け、ちょうど戻りビー
ム軌道を管軸1・:二対しており返した@道t: 3m
るように反射させ、反射した電子ビームがすべて光導電
膜ターゲット上の走査領域内に到達するようになし、反
射ビームが非走査領域に入射するため発り=する偽信号
の発生按阻止しようどするものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を実施例を′#照【・て詳細に説明する。
第2図は本発明の実施例を示す図で、第1図と同じ部分
4′−は同一記号を付している。第2図においてメツシ
ュ電極あるいは先導11暎ターゲツトでおし返された戻
りビーム8は、@極G41GBで形成されるコリメーシ
ョンレンズの作用で管軸IOを横切り、電極G :lに
設けた反射電極12の回転双曲線正接函数面に当たり管
軸10に対して直角に反射される。反射された電子ビー
ムは上記回転双曲線正接面数面に再び当ると、光導電膜
ターゲット方向に反射されるが、その軌道11は戻すビ
ーム8の軌道をちょうど管軸に対し、て折り返した形に
なる。従って、電子ビームは戻された位rとちょうど管
軸をはさんで反対側の位置に到達するから、走査領域の
外の領域Bへ飛び込むことはない。
上述のように本実施例では、光導電膜ターゲットに対向
し、た面を回転双曲線正接函数面にした電極を設けるこ
とにより、反射した電子ビームを全て走査領域A内へ向
かわせ、領域Bに反射ビームが入射することによる偽信
号の発生を抑えている。
〔発明の効果〕
以上説明したごとく本発明によれば、第3電極F3に回
転双曲線正接面数の戻りビーム反射面を設け、反射ビー
ムが走査域の外へ飛び込むことを防ぎ、反射ビームが走
査領域外へ当たることによる余計な偽信号をなくすこと
ができ、撮像管の画なお、本発明はここで示した2つの
電極で構成される集束レンズを用いた撮像管に限らず、
一般に良く知られた3つ以上の円筒電極で構成された集
束1ノンズを用いた扱#!管に適用できることは言うま
でもない。
【図面の簡単な説明】
第1rAは従来のe電集束型撮像管の断面図、第2図は
本発明によ−る撮像管の実施例を示す電極断面図である

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、陰極と第1電極とビーム電流を制限するビーム制限
    孔をその上に設けた第2電極とを有する電子ビーム発生
    部と、第3電極に続く複数個の電極により形成される電
    子ビーム集束レンズ部と、メツシュ電極と光導電膜ター
    ゲットを有し。 上記第3堪柩に光導電膜ターゲット側から陰極へ向かう
    戻りビームの反射面として回転双曲線正接面数で表わさ
    れる曲面を具備した電極を有してなることを特徴とする
    撮像管。
JP5214784A 1984-03-21 1984-03-21 撮像管 Pending JPS60198038A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5214784A JPS60198038A (ja) 1984-03-21 1984-03-21 撮像管

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5214784A JPS60198038A (ja) 1984-03-21 1984-03-21 撮像管

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60198038A true JPS60198038A (ja) 1985-10-07

Family

ID=12906759

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5214784A Pending JPS60198038A (ja) 1984-03-21 1984-03-21 撮像管

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