JPS6021618A - オンチツプクロツク発生器を有するマクロセルアレイ - Google Patents
オンチツプクロツク発生器を有するマクロセルアレイInfo
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- JPS6021618A JPS6021618A JP59129898A JP12989884A JPS6021618A JP S6021618 A JPS6021618 A JP S6021618A JP 59129898 A JP59129898 A JP 59129898A JP 12989884 A JP12989884 A JP 12989884A JP S6021618 A JPS6021618 A JP S6021618A
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- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/153—Arrangements in which a pulse is delivered at the instant when a predetermined characteristic of an input signal is present or at a fixed time interval after this instant
- H03K5/1534—Transition or edge detectors
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S257/00—Active solid-state devices, e.g. transistors, solid-state diodes
- Y10S257/923—Active solid-state devices, e.g. transistors, solid-state diodes with means to optimize electrical conductor current carrying capacity, e.g. particular conductor aspect ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
発明の分野
本発明は、一般的にはマクロセルアレイに関するもので
あシ、更に詳しく云うと、オンチップクロック発生器を
有する多重ゲート・バイポーラマクロセルアレイに関す
る。
あシ、更に詳しく云うと、オンチップクロック発生器を
有する多重ゲート・バイポーラマクロセルアレイに関す
る。
背景技術
大規模デジタル集積回路に対する需要を満たすために、
半導体業界は3つの基本的アプローチ全開発した。これ
らの3つのアプローチは標準的なオフザシエルフ(of
f the 5helf)回路、カスタム回路およびゲ
ートアレイを含む。標準的なオフザシエルフ回路は大量
生産によって最低価格で買えるか、所望する回路に対す
る柔軟性は限られている。カスタム回路は所望する回路
の数が多くないと価格の点で制約がある。ゲートアレイ
はチップ内に拡散した多数のゲート回路の標準的アレイ
でおる。これらのゲート回路を機能的カスタム回路に変
換する金属化(metallization)パターン
は顧客の要求に応じて処理される。
半導体業界は3つの基本的アプローチ全開発した。これ
らの3つのアプローチは標準的なオフザシエルフ(of
f the 5helf)回路、カスタム回路およびゲ
ートアレイを含む。標準的なオフザシエルフ回路は大量
生産によって最低価格で買えるか、所望する回路に対す
る柔軟性は限られている。カスタム回路は所望する回路
の数が多くないと価格の点で制約がある。ゲートアレイ
はチップ内に拡散した多数のゲート回路の標準的アレイ
でおる。これらのゲート回路を機能的カスタム回路に変
換する金属化(metallization)パターン
は顧客の要求に応じて処理される。
マクロセルアレイは、ゲートアレイ概念を拡大したもの
である。マクロセルは基本ゲートよシも高レベルの論理
機能を行うアレイサブセクションである。マクロセルア
レイは、論理シミュレーションを定義するのに用いられ
るマクロ機能が論理ゲートを相互接続して形成するので
はなく基本セル構造内で直接に実施されるアレイ回路で
ある。
である。マクロセルは基本ゲートよシも高レベルの論理
機能を行うアレイサブセクションである。マクロセルア
レイは、論理シミュレーションを定義するのに用いられ
るマクロ機能が論理ゲートを相互接続して形成するので
はなく基本セル構造内で直接に実施されるアレイ回路で
ある。
マクロセルアレイ中の各セルは多数の接続されていない
トランジスタおよび抵抗を含む。金属化相互接続パター
ンは各セル円の相互接続されたトランジスタおよび抵抗
をマクロと呼ばれる小規模集積(SSI)論理機能に変
える。 これらのマクロはデュアル形”D”フリップフ
ロップ、デュアル全加算器、カッド(quad)ラッチ
、および多数のIらかしめ定義した機能のような標準的
論理素子の形をとる。マクロはまた金属化によって相互
接続され所望の大規模集積(LSI)設計を形成する。
トランジスタおよび抵抗を含む。金属化相互接続パター
ンは各セル円の相互接続されたトランジスタおよび抵抗
をマクロと呼ばれる小規模集積(SSI)論理機能に変
える。 これらのマクロはデュアル形”D”フリップフ
ロップ、デュアル全加算器、カッド(quad)ラッチ
、および多数のIらかしめ定義した機能のような標準的
論理素子の形をとる。マクロはまた金属化によって相互
接続され所望の大規模集積(LSI)設計を形成する。
マクロセルアレイチップの高密度バッキングはシステム
コンポーネント数を最高%。にまで減少させ、電力損失
を届までにも改善する。
コンポーネント数を最高%。にまで減少させ、電力損失
を届までにも改善する。
典型的なマクロセルは入力を受けと多論理機能を行うた
めの入力セル1w力を与え論理機能を行うための出力セ
ル、入力を受けとシ論理機能を行うための主要セル、バ
イアス電圧を与えるバイアス発生器セル、およびクロッ
クパルス金与えるためのクロック発生器セルを有する。
めの入力セル1w力を与え論理機能を行うための出力セ
ル、入力を受けとシ論理機能を行うための主要セル、バ
イアス電圧を与えるバイアス発生器セル、およびクロッ
クパルス金与えるためのクロック発生器セルを有する。
バイアス発生器セルだけが人力/出力パッドに接続され
ていない0 しかし、以前から知られているマクロセルアレイは、設
計者とエンドユーザの両方に問題を提起するという欠点
を有する。マクロセルアレイのゲート全クロックするの
に用いられるクロック発生器は代表的な場合には幅の狭
いパルスを有する。
ていない0 しかし、以前から知られているマクロセルアレイは、設
計者とエンドユーザの両方に問題を提起するという欠点
を有する。マクロセルアレイのゲート全クロックするの
に用いられるクロック発生器は代表的な場合には幅の狭
いパルスを有する。
クロックパルスは代表的な場合には大きなファンアウト
を有する。即ち、それは多数のゲートを駆動させなけれ
ばならない。この大きなファンアウトは幅の狭いパルス
全縮小させる。パルスの縮小の程度が大きすぎると、パ
ルスは余シにも狭くなシすぎて回路動作を不適当にする
。一部のチップは他のチップよ多動作が遅く、チップの
動作が遅(なればなる程幅の広いパルスを必要とするの
で更にパルス幅の問題が起きる。
を有する。即ち、それは多数のゲートを駆動させなけれ
ばならない。この大きなファンアウトは幅の狭いパルス
全縮小させる。パルスの縮小の程度が大きすぎると、パ
ルスは余シにも狭くなシすぎて回路動作を不適当にする
。一部のチップは他のチップよ多動作が遅く、チップの
動作が遅(なればなる程幅の広いパルスを必要とするの
で更にパルス幅の問題が起きる。
従って必要なのは、大きなファンアウトに対する感度の
低下した幅の狭いパルスを有するオンチップクロック発
生0金もったマクロセルである。
低下した幅の狭いパルスを有するオンチップクロック発
生0金もったマクロセルである。
発明の要約
従って、本発明の目的は、改良されたマクロセルアレイ
を提供することである。
を提供することである。
本発明のもう1つの目的は、オンチップクロック発生器
を有するマクロセルアレイを提供することである。
を有するマクロセルアレイを提供することである。
本発明の更にも51つの目的は、幅の狭いパルスを有す
るオンチップクロック発生器を含むマクロセルアレイを
提供することである。
るオンチップクロック発生器を含むマクロセルアレイを
提供することである。
本発明の上記の、およびその他の目的を成る1つの形で
達成するために、その各々が複数の半導体デバイスを有
する複数のセル含有するマクロセルアレイが提供されて
いる。これらの半導体デノくイスは各セル内で相互接続
していて論理機能を与える。1つ又は複数の金属化層内
の複数の水平経路指定(rouHng)チャネルは各セ
ル内で、および各セル間で論理機能の入力/出力点に接
続されている。金属化層内の複数の垂直経路指定チャネ
ルは水平経路指定チャネルと入力/出カッ(ラドの間に
結合されている。
達成するために、その各々が複数の半導体デバイスを有
する複数のセル含有するマクロセルアレイが提供されて
いる。これらの半導体デノくイスは各セル内で相互接続
していて論理機能を与える。1つ又は複数の金属化層内
の複数の水平経路指定(rouHng)チャネルは各セ
ル内で、および各セル間で論理機能の入力/出力点に接
続されている。金属化層内の複数の垂直経路指定チャネ
ルは水平経路指定チャネルと入力/出カッ(ラドの間に
結合されている。
前記複数のセルのうちの1つのセル内にオンチップクロ
ック発生器が備えられている。このクロック発生器は前
記複数の入力/出力)くラドのうちの1つに結合され、
入力信号に応答して出力として遅延信号を与える。出力
手段は前記ゲート手段に結合され、入力信号および遅延
信号に応答してクロックパルス全発生させる。外部オー
ツ(ライド信号は入力信号に関係なくクロックツ(ルス
の制御を詔づ。
ック発生器が備えられている。このクロック発生器は前
記複数の入力/出力)くラドのうちの1つに結合され、
入力信号に応答して出力として遅延信号を与える。出力
手段は前記ゲート手段に結合され、入力信号および遅延
信号に応答してクロックパルス全発生させる。外部オー
ツ(ライド信号は入力信号に関係なくクロックツ(ルス
の制御を詔づ。
本発明の上記の、およびその他の目的、特徴および長所
は、添付の図面とともに下記の詳細な説明から一層よく
理解されるであろう。
は、添付の図面とともに下記の詳細な説明から一層よく
理解されるであろう。
発明の詳細説明
第1図は、入力/出力バツド2.出力セル3・クロセル
アレイを示す。金属化層(図示されていない)円の経路
指定チャネルは所望する論理によって決定される方法に
よって任意のセルを互に、また人力/出力バッド2に接
続している。セル3゜4+5+6は水平に近接している
が、金属化が行われるまではセル間に実際の電気的接触
は行われない。各セルは一定の機能を与えるような方法
で金属化層によって接続される複数の半導体デノくイス
を含む。各セルは2つ又はそれ以上の論理七ルアに更に
分割してもよい。
アレイを示す。金属化層(図示されていない)円の経路
指定チャネルは所望する論理によって決定される方法に
よって任意のセルを互に、また人力/出力バッド2に接
続している。セル3゜4+5+6は水平に近接している
が、金属化が行われるまではセル間に実際の電気的接触
は行われない。各セルは一定の機能を与えるような方法
で金属化層によって接続される複数の半導体デノくイス
を含む。各セルは2つ又はそれ以上の論理七ルアに更に
分割してもよい。
3つの金属化層(図示されていない)が用いられ、そこ
では最初の2層は当業者に周知の方法でマクロを相互接
続し、第3の層はパワーパシング(power bus
sing)を相互接続している。金属化層内の水平経路
指定チャネル8は所望する論理によって決定される方法
によシもし必要ならば任意のセルを相互に、また人力/
出力バッド2に接続している。1つだけの水平経路指定
チャネル8が示されているが、30ものチャネルがセル
の各水平行(row)を横切ってもよい。
では最初の2層は当業者に周知の方法でマクロを相互接
続し、第3の層はパワーパシング(power bus
sing)を相互接続している。金属化層内の水平経路
指定チャネル8は所望する論理によって決定される方法
によシもし必要ならば任意のセルを相互に、また人力/
出力バッド2に接続している。1つだけの水平経路指定
チャネル8が示されているが、30ものチャネルがセル
の各水平行(row)を横切ってもよい。
金属化層内の垂直経路指定チャネル9は水平経路指定チ
ャネル80間を横切って織るように配置され、それで接
続して所望の論理を与える。垂直経路指定チャネル9は
セルの上を通らずに、セルの各垂直桁の間に位置してい
る。1つだけの垂直経路指定チャネル9が示されている
が、実際の数はそれよシも多く、各チップの要求によっ
て変わる。
ャネル80間を横切って織るように配置され、それで接
続して所望の論理を与える。垂直経路指定チャネル9は
セルの上を通らずに、セルの各垂直桁の間に位置してい
る。1つだけの垂直経路指定チャネル9が示されている
が、実際の数はそれよシも多く、各チップの要求によっ
て変わる。
第2図全参照すると、クロック発生器5(第1図)は端
子12における入力信号に応答するゲート回路11ヲ含
む。端子12は入力/出力バッド2のうちの任意の1つ
でよい。クロック発生器5′t−オンチップにすること
によって、一方のチップに対する他方のチップの相対的
遅さは補償(compensate )される。即ち、
遅いチップによシ発生されたパルスは速いチップによシ
発生されたパルスよυ幅が広く、それによってパルス幅
の必要条件を満たす。
子12における入力信号に応答するゲート回路11ヲ含
む。端子12は入力/出力バッド2のうちの任意の1つ
でよい。クロック発生器5′t−オンチップにすること
によって、一方のチップに対する他方のチップの相対的
遅さは補償(compensate )される。即ち、
遅いチップによシ発生されたパルスは速いチップによシ
発生されたパルスよυ幅が広く、それによってパルス幅
の必要条件を満たす。
トランジスタ13は、ベースを端子12に接続させ、エ
ミッタを差動的に接続されたトランジスタ14のエミッ
タに接続させ、かつ電流源トランジスタ15ノコレクタ
に接続させている。トランジスタ15id、ベースをバ
イアス電圧VcBを受けとるように適合させ、エミッタ
を抵抗17によって電圧供給線16に結合させている。
ミッタを差動的に接続されたトランジスタ14のエミッ
タに接続させ、かつ電流源トランジスタ15ノコレクタ
に接続させている。トランジスタ15id、ベースをバ
イアス電圧VcBを受けとるように適合させ、エミッタ
を抵抗17によって電圧供給線16に結合させている。
トランジスタ14ハ、ベース’6バイアス電圧Vnne
受けとるように適合させ、コレクタを抵抗19によシミ
圧供給線18に結合させ、かつ抵抗21によシトランジ
スタ13のコレクタに結合させている。トランジスタ1
3のコレクタは、更にエミッタ7オロアトランジスタ2
2のベースに接続されている。トランジスタ22は、コ
レクタラミ圧供給線18に結合させ、エミッタ全抵抗2
3によシ供給電圧i?li!16に結合させ、かつトラ
ンジスタ24のべ−スに結合させている。トランジスタ
24ハ、エミッタを差動的に接続したトランジスタ25
のエミッタに接続させ、かつ電流源トランジスタ26の
コレクタに接続させている。トランジスタ26ハ、ベー
スをバイアス電圧vC8を受けとるように適合させ、エ
ミッタを抵抗27によシ供給電圧線1Gに結合させてい
る。トランジスタ25は、ベースをバイアス電圧金堂け
とるように適合させ、コレクタを抵抗28によシ供給電
圧線18に結合させ、かつ抵抗29によりトランジスタ
24のコレクタに結合させている。
受けとるように適合させ、コレクタを抵抗19によシミ
圧供給線18に結合させ、かつ抵抗21によシトランジ
スタ13のコレクタに結合させている。トランジスタ1
3のコレクタは、更にエミッタ7オロアトランジスタ2
2のベースに接続されている。トランジスタ22は、コ
レクタラミ圧供給線18に結合させ、エミッタ全抵抗2
3によシ供給電圧i?li!16に結合させ、かつトラ
ンジスタ24のべ−スに結合させている。トランジスタ
24ハ、エミッタを差動的に接続したトランジスタ25
のエミッタに接続させ、かつ電流源トランジスタ26の
コレクタに接続させている。トランジスタ26ハ、ベー
スをバイアス電圧vC8を受けとるように適合させ、エ
ミッタを抵抗27によシ供給電圧線1Gに結合させてい
る。トランジスタ25は、ベースをバイアス電圧金堂け
とるように適合させ、コレクタを抵抗28によシ供給電
圧線18に結合させ、かつ抵抗29によりトランジスタ
24のコレクタに結合させている。
トランジスタ24のコレクタは、更にエミッタフォロア
トランジスタ31のベースに接続されている。
トランジスタ31のベースに接続されている。
トランジスタ31は、コレクタ供給電圧線18に接続さ
せ、エミッタを抵抗32によシ供給電圧線】6に結合さ
せ、かつトランジスタ33のベースに接続させている。
せ、エミッタを抵抗32によシ供給電圧線】6に結合さ
せ、かつトランジスタ33のベースに接続させている。
トランジスタ33は、エミッタを差動的に接続している
トランジスタ34のエミッタおよび電流源トランジスタ
35のコレクタに接続させている。
トランジスタ34のエミッタおよび電流源トランジスタ
35のコレクタに接続させている。
トランジスタ35は、ベースをバイアス電圧Vcsfi
”受けとるように適合させ、エミッタを抵抗36により
供給電圧線16に結合させている。トランジスタ34は
、ベースをバイアス電圧VnBk受けとるように適合さ
せ、コレクタを抵抗37によって供給電圧線18に結合
させ、かつ抵抗38によってトランジスタ33のコレク
タに結合させている。トランジスタ33ノコレクタは、
更にエミッタフォロアトランジスタ39のベースに接続
させている。トランジスタ39は、コレクタを供給電圧
線18に接続させ、エミッタを抵抗41によって供給電
圧端子16に結合させ、かつトランジスタ42のベース
に接続させている。
”受けとるように適合させ、エミッタを抵抗36により
供給電圧線16に結合させている。トランジスタ34は
、ベースをバイアス電圧VnBk受けとるように適合さ
せ、コレクタを抵抗37によって供給電圧線18に結合
させ、かつ抵抗38によってトランジスタ33のコレク
タに結合させている。トランジスタ33ノコレクタは、
更にエミッタフォロアトランジスタ39のベースに接続
させている。トランジスタ39は、コレクタを供給電圧
線18に接続させ、エミッタを抵抗41によって供給電
圧端子16に結合させ、かつトランジスタ42のベース
に接続させている。
トランジスタ43のベースは入力端子12に接続され、
トランジスタ44のベースは、タ1部オーバーライド高
信号を受信するように適合している。トランジスタ42
、43 、44のコ1/クタは、抵抗45によって供
給電圧端子に結合している。トランジスタ42,43゜
44のエミッタは差動的に接続したトランジスタ46の
エミッタに接続され、トランジスタ47のコレクタに接
続されている。トランジスタ46は、ベースをバイアス
電圧VBllfil’受けとるように適合させ、コレク
タを抵抗48によってトランジスタ42 、43 。
トランジスタ44のベースは、タ1部オーバーライド高
信号を受信するように適合している。トランジスタ42
、43 、44のコ1/クタは、抵抗45によって供
給電圧端子に結合している。トランジスタ42,43゜
44のエミッタは差動的に接続したトランジスタ46の
エミッタに接続され、トランジスタ47のコレクタに接
続されている。トランジスタ46は、ベースをバイアス
電圧VBllfil’受けとるように適合させ、コレク
タを抵抗48によってトランジスタ42 、43 。
44のコレクタに結合させている。トランジスタ47は
、ベースをバイアス電圧VBB”fc受けとるように適
合させ、エミッタを差動的に接続させ、−電流源トラン
ジスタのコレクタに接続させている。トランジスタ51
のベースは、バイアス電圧VC8を受けとるように適合
しておシ、トランジスタ51は、エミッタ全抵抗51に
よシミ圧供給線16に結合させている。トランジスタ4
9のベースは、トランジスタ53のエミッタに接続され
、抵抗54によって電圧供給線16に結合されている。
、ベースをバイアス電圧VBB”fc受けとるように適
合させ、エミッタを差動的に接続させ、−電流源トラン
ジスタのコレクタに接続させている。トランジスタ51
のベースは、バイアス電圧VC8を受けとるように適合
しておシ、トランジスタ51は、エミッタ全抵抗51に
よシミ圧供給線16に結合させている。トランジスタ4
9のベースは、トランジスタ53のエミッタに接続され
、抵抗54によって電圧供給線16に結合されている。
トランジスタ53のベースは、外部オーバーライド低信
号を受信するように適合しておシ、トランジスタ53は
、コレクタを供給電圧線18に接続させている。トラン
ジスタ49のコレクタは、トランジスタ46のコレクタ
およびトランジスタ55のベースに接続されている。ト
ランジスタ55は、コレクタを供給電圧線18に接続さ
せ、エミッタを出力端子56に接続させ、かつ抵抗57
によって供給電圧516に結合させている。
号を受信するように適合しておシ、トランジスタ53は
、コレクタを供給電圧線18に接続させている。トラン
ジスタ49のコレクタは、トランジスタ46のコレクタ
およびトランジスタ55のベースに接続されている。ト
ランジスタ55は、コレクタを供給電圧線18に接続さ
せ、エミッタを出力端子56に接続させ、かつ抵抗57
によって供給電圧516に結合させている。
先づ第1にトランジスタ42 、44 、53のベース
はすべて低であり、端子12は高であると仮定しよう。
はすべて低であり、端子12は高であると仮定しよう。
そうすると端子56における出力は高になる。入力端子
12への印加が負に移行すると(negative g
o−1ng transition) トランジスタ1
3ヲターンオフし、トランジスタ22のベースを高にす
る。トランジスタ22が導通すると、トランジスタ24
0ベースは高になシ、従ってトランジスタ24ヲターン
オンし、そのコレクタを低にする。トランジスタ31の
ベースが低になると、トランジスタ33のベースは低に
なる。トランジスタ33がターンオフすると、トランジ
スタ39のベースは高になり、トランジスタ42のベー
スは高に々る。
12への印加が負に移行すると(negative g
o−1ng transition) トランジスタ1
3ヲターンオフし、トランジスタ22のベースを高にす
る。トランジスタ22が導通すると、トランジスタ24
0ベースは高になシ、従ってトランジスタ24ヲターン
オンし、そのコレクタを低にする。トランジスタ31の
ベースが低になると、トランジスタ33のベースは低に
なる。トランジスタ33がターンオフすると、トランジ
スタ39のベースは高になり、トランジスタ42のベー
スは高に々る。
しかし、トランジスタ43のベースが低になった後3ゲ
ート遅延(three gate delays) ”
、ではトランジスタ42のベースは高にならない。ゲー
ト遅延数は、増減してパルス幅を変える。本発明は図示
されているように3ゲート遅延に限定すること全意味す
るものではない。この3ゲート遅延の間隔の間に、トラ
ンジスタ42 、43 、44および55のベースはす
べて低になシ、従って端子56における出力も低になる
。これは第3図の波形全参照することによって更によく
理解される。波形Aはトランジスタ13 、43のベー
スに印加された端子12における入力信号を表わす。波
形Bはトランジメタ42のベースに印加された信号を表
わす。波形Cは端子56における信号を表わす。波形A
が61において下方に移行すると、波形Cはトランジス
タ43 、46 、55に固有の伝播遅延による僅かな
遅延の後に62において下方に移行する。3ゲート遅延
後に波形Bは、63において上方に移行する。次に波形
Cはトランジスタ43 、46 、55に関連した僅か
な遅延後に64において上方に移行する。
ート遅延(three gate delays) ”
、ではトランジスタ42のベースは高にならない。ゲー
ト遅延数は、増減してパルス幅を変える。本発明は図示
されているように3ゲート遅延に限定すること全意味す
るものではない。この3ゲート遅延の間隔の間に、トラ
ンジスタ42 、43 、44および55のベースはす
べて低になシ、従って端子56における出力も低になる
。これは第3図の波形全参照することによって更によく
理解される。波形Aはトランジスタ13 、43のベー
スに印加された端子12における入力信号を表わす。波
形Bはトランジメタ42のベースに印加された信号を表
わす。波形Cは端子56における信号を表わす。波形A
が61において下方に移行すると、波形Cはトランジス
タ43 、46 、55に固有の伝播遅延による僅かな
遅延の後に62において下方に移行する。3ゲート遅延
後に波形Bは、63において上方に移行する。次に波形
Cはトランジスタ43 、46 、55に関連した僅か
な遅延後に64において上方に移行する。
トランジスタ42がターンオンするやいなや、電流はト
ランジスタ46かられきへ向けられ(divert)、
トランジスタ46のコレクタは高になシ、トランジスタ
55ヲプルアツプして出力端子56ヲ高にする。
ランジスタ46かられきへ向けられ(divert)、
トランジスタ46のコレクタは高になシ、トランジスタ
55ヲプルアツプして出力端子56ヲ高にする。
トランジスタ55は大型トランジスタであシ、抵抗57
は大量の電流を引いてクロックパルスが大量なファンア
ウトに対する低下した感度をもつことができるように設
計されている。
は大量の電流を引いてクロックパルスが大量なファンア
ウトに対する低下した感度をもつことができるように設
計されている。
トランジスタ44のベースに印加された外部オーバーラ
イド高信号は、端子12における入力信号に関係なく電
流全トランジスタ46かられきへそらし、出力端子56
ヲ高にする。トランジスタ53のベースに印加された外
部オーバーライド低信号はトランジスタ49のベースを
高にし、端子12における入力信号および外部オーバー
ライド高信号の状態には関係なくトランジスタ55のベ
ースから電流を引き込んで(sink)出力端子56ヲ
低にする。この配置はクロックパルスの手動制御を可能
にする。
イド高信号は、端子12における入力信号に関係なく電
流全トランジスタ46かられきへそらし、出力端子56
ヲ高にする。トランジスタ53のベースに印加された外
部オーバーライド低信号はトランジスタ49のベースを
高にし、端子12における入力信号および外部オーバー
ライド高信号の状態には関係なくトランジスタ55のベ
ースから電流を引き込んで(sink)出力端子56ヲ
低にする。この配置はクロックパルスの手動制御を可能
にする。
大きなファンアウトに対する感度の低下した幅の狭いパ
ルスを有するオンチップクロック発生器を含むマクロセ
ルアレイが提供されたことが上記の説明によシ認識され
るはずである。
ルスを有するオンチップクロック発生器を含むマクロセ
ルアレイが提供されたことが上記の説明によシ認識され
るはずである。
第1図は、マクロセルのレイアウト図である。
第2図は、本発明の好ましい実施例を示す。
第3図は、本発明の好ましい実施例において選択された
点における波形を示す。 特許出願人 モトローラ・インコーボレーテツド代理人
弁理士 玉 蟲 久 五 部
点における波形を示す。 特許出願人 モトローラ・インコーボレーテツド代理人
弁理士 玉 蟲 久 五 部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、その各々が複数の半導体デバイスを有し、前記半導
体デバイスが各セル内で相互に接続され論理機能を与え
る複数のセルと、 その各々が入力信号を受信するように適合された複数の
入力/出力パッドと、 前記論理機能の選択された入力/出力点において前記複
数の半導体デバイスに結合された、前記セルの上にある
1つ又は複数の金属化層内の複数の水平経路指定チャネ
ルと、 前記水平経路指定チャネルと前記入力/出力パッドに結
合された前記セルの上にある1つ又は複数の金属化層内
の複数の垂直経路指定チャネルと、を具備し、前記複数
のセルのうちの1つのセル内に含まれるクロック発生器
は、 前記複数の入力/出力パッドのうちの1つに結合して入
力信号に応饗シ、出力として遅延信号を有するゲート手
段と、 前記複数の入力/出力パッドのうちの1つと前記ゲート
手段に結合さ・れ、前記入力信号と前記遅延信号に応答
してクロックパルスを発生させる出力手段と、 を具えることな特徴とするマクロセルアレイ。 2 前記ゲート手段は、直列接続した2セツト又はそれ
以上のセットの差動接続トランジスタを含み、入力信号
と遅延信号との間の時間が前記直列接続した2セツト又
はそれ以上の差動接続トランジスタの伝播遅延の合計で
ある特許請求の範囲第1項によるマクロセルアレイ。 3、 出力手段は、 基準電圧に結合したベースを有する第1トランジスタと
、 複数の入力/出力パッドのうちの1つに結合したベース
を有し、前記第1トランジスタに差動的に接続した第2
トランジスタと、 前記ゲート手段に結合したベースを有し、遅延信号に応
答し、前記第1トランジスタに差動的に接続した第3ト
ランジスタと、 前記第1トランジスタと出力端子との間にエミッタフォ
ロアとして結合して出力信号を与える第
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/510,042 US4593205A (en) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | Macrocell array having an on-chip clock generator |
| US510042 | 1983-07-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6021618A true JPS6021618A (ja) | 1985-02-04 |
| JPH0349214B2 JPH0349214B2 (ja) | 1991-07-26 |
Family
ID=24029126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59129898A Granted JPS6021618A (ja) | 1983-07-01 | 1984-06-23 | オンチツプクロツク発生器を有するマクロセルアレイ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4593205A (ja) |
| JP (1) | JPS6021618A (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1003549B (zh) * | 1985-01-25 | 1989-03-08 | 株式会社日立制作所 | 半导体集成电路器件 |
| EP0220454B1 (de) * | 1985-09-27 | 1990-09-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltungsanordnung zur Kompensation des Temperaturganges von Gatterlaufzeiten |
| US4808861A (en) * | 1986-08-29 | 1989-02-28 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit to reduce switching noise |
| US4933576A (en) * | 1988-05-13 | 1990-06-12 | Fujitsu Limited | Gate array device having macro cells for forming master and slave cells of master-slave flip-flop circuit |
| JPH03162130A (ja) * | 1989-11-21 | 1991-07-12 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
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Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| NL145374B (nl) * | 1969-07-11 | 1975-03-17 | Siemens Ag | Schakeling voor het vormen van het uitgangsoverdrachtcijfer bij een volledige binaire opteller. |
| US3906212A (en) * | 1971-08-18 | 1975-09-16 | Siemens Ag | Series-coupled emitter coupled logic (ECL) circuit having a plurality of independently controllable current paths in a lower plane |
| US3808475A (en) * | 1972-07-10 | 1974-04-30 | Amdahl Corp | Lsi chip construction and method |
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| US4140927A (en) * | 1977-04-04 | 1979-02-20 | Teletype Corporation | Non-overlapping clock generator |
| US4278897A (en) * | 1978-12-28 | 1981-07-14 | Fujitsu Limited | Large scale semiconductor integrated circuit device |
| JPS5720448A (en) * | 1980-07-11 | 1982-02-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Semiconductor integrated circuit device |
| JPS57133662A (en) * | 1981-02-13 | 1982-08-18 | Nec Corp | Master sliced large scale integration substrate |
| JPS5835963A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Fujitsu Ltd | 集積回路装置 |
| DE3215518C1 (de) * | 1982-04-26 | 1983-08-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verknuepfungsglied mit einem Emitterfolger als Eingangsschaltung |
-
1983
- 1983-07-01 US US06/510,042 patent/US4593205A/en not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-06-23 JP JP59129898A patent/JPS6021618A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5650630A (en) * | 1979-10-01 | 1981-05-07 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor integrated circuit |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0349214B2 (ja) | 1991-07-26 |
| US4593205A (en) | 1986-06-03 |
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