JPS60227175A - プリント板の試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ＋８）　発明の技術分野 本発明はプリント板の試験方法、特に導通試験方法の新
方式に関する。

ｆｂ）　従来技術と問題点 電子技術の驚異的な進歩に伴って、膨大な量のプリント
基板が使用されており、プリント板が多様化して品種が
豊富になると共に、高密度・多層化された高度なプリン
ト板が汎用されるようになってきた。

第１図はプリント＠１の部分平面図を例示しており、１
１は回路パターン、１２はスルーホールで、プリント板
１自体は有機樹脂板またはセラミック板からなる絶縁体
である。且つ、スルーホール１２の位置は一般に規格化
されており、格子（グリッド）状の点、即ち格子点１０
にスルーホ一ル１２が配置されて（オングリッド・プリ
ント板と云う）、格子点の間隔は２．５４ｍｍあるいは
１．２７ｔｍ等と定められている。

このようなプリント板は、製作時に種々の検査がなされ
るが、その中で回路パターンの導通試験（断線や短絡の
チェック）はスルーホールに接触ピンを接触させて行な
っており、その試験方法は凡そ、次のようなものである
。

即ち、第２図に示すように被試験用のプリン１−板１に
対し試験治具２を対向して配置し、スルーボール１２と
相対する位置（格子点１０の位置）に接触ピン２１を立
てて、スルーホール１２と接触させ、試験治具２の反対
面で接触ピン２１と試験機の端子（図示せず）と接続さ
せて導通試験を行なう方法である。

ところが、プリント板の高密度化によって、格子点にス
ルーホール１２を配置し難い品種のプリント板（オフグ
リッド・プリント板）も製作されるようになってきてお
り、その場合は格子点上に接触ピン２１を配置した試験
治具２を用いても、スルーホール１２と接触させること
ができない。従って、その時には、第３図に示すように
プリン１−板１と試験治具２との間にアダプタ３を介在
せしめ、接触ピン２１を斜めに修正して、格子点にない
スルーホール１２°に接触ピン２１が接鮪するように図
っている。

しかしながら、このようなアダプタ３を介在させる方法
は、プリン１−板の品種に合致したそれぞれの種類のア
ダプタを作成しなければならない。

（Ｃ）発明の目的 本発明は、このようなアダプタを必要とすることなく、
容易に接触できる導通試験方法を提案するものである。

（ｄｌ　発明の構成 その目的は、−主面より試験機に接続する試験治具の反
対面に、相対する被試験用プリント板の１格子点を含む
導体ランドを配列し、一方の被試験用プリント板のスル
ーホールには導体ボールを嵌め込んで、該導体ボールと
前記導体ランドとを接触させて導通試験を行なうように
したプリント板の試験方法によって達成される。

また、−主面より試験機に接続する試験治具の反対面に
おいて、相対する被試験用プリント板の格子点に相当す
る位置から導体ボールをワイヤで吊し、該導体ボールを
被試験用プリント板のスルーホールに嵌め込んで、導通
試験を行なうようにしたプリント板の試験方法によって
も達成される。

ｔｅ＋　発明の実施例 以下５図面を参照して実施例によって詳細に説明する。

第４図（ａｌは本発明にかかる一実施例の試験方法の概
要断面図を示しており、同図ｆｂ）は本発明にかかる試
験治具の部分平面図（被試験用プリント板と接触する面
から見た平面図）を示している。

図のように、被試験用のプリント板１のスルーホール１
２．１２′上に導体ボール１５を嵌め込んで、そのプリ
ント板ｌの上に本発明にかかる試験治具４を当接し、導
体ボール１５を試験治具４の導体ランド４１に接触させ
る。試験治具４の導体ラント”４１は、同図ｆｂｌの部
分平面図に示すように格子点１０を中心に方形の導体ラ
ンド４１をマトリックス状に配置している。このように
すれば、オフグリ・ノド・プリント板のように、スルー
ホール１２′が格子点にない場合でも導体ボール１５と
導体ランド４１とを接触させることができる。又、勿論
、オングリッド・プリント板にも利用できる。

この場合、例えばｌ　ｍｕψのスルーホール１２に対し
て、１．５＋ｎφ程度の導体ボール１５を用いる。且つ
、スルーホールに導体ボール１５を嵌め込むためには、
プリント板ｌを裏面より真空吸引した状態（次の第５図
参照のこと）にして、表面で導体ボール１５を転がせる
。そうすると、すべてのスルーボールが導体ボールで埋
められる。更に、導体ボールを真空吸引したまま試験す
ると、十分な接触かえられて、試験の信頼性を高めるこ
ともできる。

また、導体ランドにスプリング性を与えると、一層良い
接触が保てる。

次に、第５図は本発明にかかる他の実施例の概要断面図
を示しており、本例の試験治具５は格子点１０から導体
ボール１５をワイヤで吊したもので、その導体ボールを
被試験用プリント板のスルーホール１２に嵌め込んで、
導通試験を行なう。そうすると、スルーホール１２．１
２’が格子点１０にあると否とに関係なく、試験治具を
通して試験機に接続することができる。

スルーホールに導体ボール１５を嵌め込むには、図のよ
うにプリント板１を真空吸引用収容箱６に収め、プリン
ト板裏面より真空吸引した状態で、試験治具５をプリン
ト板１に当てる。また、裏面に磁石Ｎを設け、導体ボー
ルエ５を磁性体にして磁力を附加すれば、接触力は一層
゛強まる。更に、この例では試験治□具５とプリント板
１との間に、マトリックス状の枠７を挟んでおくと、導
体ボールかお互いに接触しないようになって、好都合で
ある。

（ｆ）　発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明によればアダプ
タを用いなくても、オングリッド・プリント板、オフグ
リッド・プリンｌ−板の両方の導通試験を行なうことが
でき、且つ、接触ズレの心配がなくなって試験が高信頼
化できる。

更に、第４図に説明した実施例では、プリント板の品種
（導電パターンの異なる種類）に関係なく、汎用性ある
試験治具にすることもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はプリント板の部分平面図、第２図および第３図
は従来の試験方法を示す概要断面図、第４図（ａｌは本
発明にかかる一実施例の試験方法を示す概要断面図、第
４図（ｂ）は同図ｆａｌの試験治具の部分平面図、第５
図は本発明にかかる他の実施例の試験方法を示す概要断
面図である。 図中、１はプリント板、２は従来の試験治具。 ３はアダプタ、４．５は本発明にかかる試験治具。 ６は真空吸引用収容箱、７はマトリックス状の枠。 １０は格子点、１１は導体パターン、１２はスルーホー
ル、１５は導体ボール、４１は導体ランド、Ｎは磁石を
示している。 第１図 １８２図 第３図 第４図 第５図 ノリト夏（

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）　−主面より試験機に接続する試験治具の反対面
   に、相対する被試験用プリント板の１格子点を含む導体
   ランドを配列し、一方の被試験用プリント板のスルーホ
   ールには導体ボールを嵌め込んで、該導体ポールと前記
   導体ランドとを接触させて導ｉｌＮ試験を律なうように
   したことを特徴とするプリント板の試験方法。
2. （２）　−主面より試験機に接続する試験治具の反対面
   において、相対する被試験用プリント板の格子点に相当
   する位置から導体ポールをワイヤで吊し、該導体ボール
   を被試験用プリント板のスルーホールに嵌め込んで、導
   通試験を行なうようにしたことを特徴とするプリント板
   の試験方法。