JPS6027166A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS6027166A JPS6027166A JP58134195A JP13419583A JPS6027166A JP S6027166 A JPS6027166 A JP S6027166A JP 58134195 A JP58134195 A JP 58134195A JP 13419583 A JP13419583 A JP 13419583A JP S6027166 A JPS6027166 A JP S6027166A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- insulating film
- semiconductor device
- metal film
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D62/00—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
- H10D62/80—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers characterised by the materials
- H10D62/83—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers characterised by the materials being Group IV materials, e.g. B-doped Si or undoped Ge
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D64/00—Electrodes of devices having potential barriers
- H10D64/60—Electrodes characterised by their materials
- H10D64/62—Electrodes ohmically coupled to a semiconductor
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置の配線構造に関〜する。
従来、平導体装置の配線構造は、第1図に断面構造とし
て示す如き構造が用いられているのが通例であった。す
なわち、Si基板1の表面に形成された拡散層2と絶縁
膜3を介して形成されたSi配線4とは絶縁膜乙に開け
られたコンタクト穴を通して接続され、且つ、RZ配線
層4上の層間絶F+嘩5を介して形成されたAt配紗6
とVi層間絶縁膜5に開けられたコンタクト穴を通して
接続して成るの、が通例であった。
て示す如き構造が用いられているのが通例であった。す
なわち、Si基板1の表面に形成された拡散層2と絶縁
膜3を介して形成されたSi配線4とは絶縁膜乙に開け
られたコンタクト穴を通して接続され、且つ、RZ配線
層4上の層間絶F+嘩5を介して形成されたAt配紗6
とVi層間絶縁膜5に開けられたコンタクト穴を通して
接続して成るの、が通例であった。
しかし、上記従来技術によると、Si配線の抵抗値が高
く、且つsi配線上部のa配線との接、粋抵抗が高いと
いう欠点があっに0 本発明けかかる従来技術の欠点をなくし、配、線抵抗の
小さく、目つコンタクト抵抗も小さな配線構造を提供す
ることを目的とする。
く、且つsi配線上部のa配線との接、粋抵抗が高いと
いう欠点があっに0 本発明けかかる従来技術の欠点をなくし、配、線抵抗の
小さく、目つコンタクト抵抗も小さな配線構造を提供す
ることを目的とする。
上記目的を達成するための本発明の基本的な構成は、半
導体装置において、Si上にけ絶縁膜が形成され、該絶
縁膜に開けられたコンタクト穴を通して前記絶縁膜を介
してSi配線が形成され。該Si配線の少なくとも下部
及び上部とのコンタクト部表面を含む表面に金属膜が形
成されて成ること、及びSi配線上の金属膜をTiとな
すこと、及びSi配線上の金属膜をCuとなすこと、汲
びSi配線上の金属膜をTi −At、alt−At等
の多層金属膜となすこと、及びSi配線上には金属膜が
形成され、その上の絶縁膜を介して形成されたAt配線
と該絶縁膜に開けられたフンタクト穴を通して接続され
て成る事を特徴とする。
導体装置において、Si上にけ絶縁膜が形成され、該絶
縁膜に開けられたコンタクト穴を通して前記絶縁膜を介
してSi配線が形成され。該Si配線の少なくとも下部
及び上部とのコンタクト部表面を含む表面に金属膜が形
成されて成ること、及びSi配線上の金属膜をTiとな
すこと、及びSi配線上の金属膜をCuとなすこと、汲
びSi配線上の金属膜をTi −At、alt−At等
の多層金属膜となすこと、及びSi配線上には金属膜が
形成され、その上の絶縁膜を介して形成されたAt配線
と該絶縁膜に開けられたフンタクト穴を通して接続され
て成る事を特徴とする。
以下、実施例により本発明を詳述する。
第2図は本発明による一実施例を示す。すなわち、sj
基板110表面に形成された拡散層12VCは、Si基
板11の表面に形成された絶縁膜13を介して形成され
た8i配線14と絶縁膜13に開けられたコンタクト穴
を通して接続されると共に、Si配線14上にはTi、
Cu等からなる金属膜15が形成され、その上に形成さ
れた層間絶縁膜16を介して形成されたα配線と、層間
絶縁膜16に開けられたコンタクト穴を通して接続され
て成る。
基板110表面に形成された拡散層12VCは、Si基
板11の表面に形成された絶縁膜13を介して形成され
た8i配線14と絶縁膜13に開けられたコンタクト穴
を通して接続されると共に、Si配線14上にはTi、
Cu等からなる金属膜15が形成され、その上に形成さ
れた層間絶縁膜16を介して形成されたα配線と、層間
絶縁膜16に開けられたコンタクト穴を通して接続され
て成る。
本発明によると、Si配線と下地SZとは接触抵抗が小
なると共に、Si配線の抵抗は金属膜により低下される
と共に、上部α配線と金属膜との接触抵抗も小となる効
果がある。
なると共に、Si配線の抵抗は金属膜により低下される
と共に、上部α配線と金属膜との接触抵抗も小となる効
果がある。
第1図は従来技術による半導体装置の配線構造を示す断
面図。 第2図は、本発明による半導体装置の配線構造の一実施
例を示す断面図である。 、、1.11・・・・・・si基板 2.12・・・・・・拡散層 3.13・・・・・・絶縁膜 4.14・・・・・・S<配線層 5.16・・・・・・層間絶縁膜 6.17・・・・・・kl配線層 15・・・・・・金属膜 以 上 手続補正書輸発) 1.事件の表示 昭和58年特許願第1!14195号 2、発明の名称 半導体装置 3、補正をする者 代表取締役 中 村 恒 也 4、代理人 〒104 東京都中央区京橋2丁目6番21号1、図面
(第1図、第2図)を別紙の如く補正し添付する。 第1図 2 1!2図
面図。 第2図は、本発明による半導体装置の配線構造の一実施
例を示す断面図である。 、、1.11・・・・・・si基板 2.12・・・・・・拡散層 3.13・・・・・・絶縁膜 4.14・・・・・・S<配線層 5.16・・・・・・層間絶縁膜 6.17・・・・・・kl配線層 15・・・・・・金属膜 以 上 手続補正書輸発) 1.事件の表示 昭和58年特許願第1!14195号 2、発明の名称 半導体装置 3、補正をする者 代表取締役 中 村 恒 也 4、代理人 〒104 東京都中央区京橋2丁目6番21号1、図面
(第1図、第2図)を別紙の如く補正し添付する。 第1図 2 1!2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) Siには絶縁膜が形成され、該絶縁膜に開はら
れたコンタクト穴を通して前記絶縁膜を介してSi配線
が形成され、該Sj配線の少なくとも下部及び上部のコ
ンタクト部表面を含む表面に金属膜が形成されて成るこ
とを特徴とする半導体装置。 (2) ’Ei配線上の金属膜をTiとなすことを特徴
とする特許請求範囲第1項記載の半導体装置。 (、!l) Bi配線上の金属膜を鴎となすことを特徴
とする特許請求範囲第1項記載の半導体装置。 (4) si配線上の金属膜をTi −At、cu −
At等の多層金属膜となすことを特徴とする特許請求範
囲第1項記載の半導体装置。 (5) Bi配線上[H金属膜が形成され、その上の絶
縁膜を介して形成されたa配線と、該絶縁膜に開けられ
たコンタクト穴を通して接続されて成る事を特徴とする
半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58134195A JPS6027166A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58134195A JPS6027166A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6027166A true JPS6027166A (ja) | 1985-02-12 |
Family
ID=15122651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58134195A Pending JPS6027166A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6027166A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62203693A (ja) * | 1986-03-04 | 1987-09-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザトリミング方法 |
-
1983
- 1983-07-22 JP JP58134195A patent/JPS6027166A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62203693A (ja) * | 1986-03-04 | 1987-09-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レ−ザトリミング方法 |
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