JPS6050934A - テスト容易化回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はＴ、　Ｓ　Ｈに内蔵されたテスト容易化回路に
関する。

〔発明の技術的背景〕

最近、半導体技術の進歩に伴って各種数多くのＬＳＩが
開発されるようになってきたが、大規模なＬＳＩでは検
査が非常に大変であるため、本来の機能に加えて検査の
容易性を向上させるためテスト機能を持つものが多い。

［背景技術の問題点〕 高度なテスト機能を実現するためには通常、多数のテス
ト制御信号が必要であるからＬＳＩにはシステム本来の
入力用ビンとは別に、数多くのテスト制御専用の入力ピ
ンを設ける必要があった。

しかし多くの場合Ｌ　Ｓ　Ｉのパッケージ上の制限から
そうたくさんのテスト制御用ビンを持てないという問題
があった。

〔発明の目的〕

本発明は以上に鑑み、少ないテストピンで数多くのテス
ト制御信号を取扱うことが出来るような手段を提供する
ことを目的とする。

〔発明の概要〕

本発明ではＬＳＩにテストモード入力ピンとモード切換
回路とを設はモード切換えにより信号入力ビンをテスト
制御信号の入力にも利用できるようにしてテスト制御用
ピンの減少をはかったものである。

〔発明の実施例〕

第１図は本発明の一実施例の主要部を示した回路図であ
る。同図に於て、（１）はＬＳＩの内外を区別する線で
その左側が外部、右側が内部を示している。（２）はテ
ストモードであるか否かを示す信号が伝播するテストモ
ード信号入力ピン、（３）はインバータ、（４ａ）はテ
ストモード信号、（４ｂ）は反転テストモード信号、（
５ａ）〜（５ｂ）はシステム信号入力ピン、（６ａ）〜
（６ｂ）はシステム入力信号、（７Ａ）はシステム入力
信号（６ａ）とテストモード信号（４ａ）とを入力して
テスト制御信号（８ａ）を出力するアントゲ−）　Ａ、
　（７Ｂ）はシステム入力信号（６ｂ）とテストモード
信号（４ａ）とを入力してテスト制御信号（８ｂ）を出
力するアントゲ−）Ｂ、（７Ｃ）はシステム入力信号（
６ｂ）と反転テストモード信号（４ｂ）とを入力してシ
ステム入力信号（８ｃ）を出力するアンドゲートＣであ
る。

次に第１図の機能動作を説明する。通常の場合はテスト
モード信号（４ａ）を偽にしておく。するとシステム信
号入カビ／（５Ｒ）　（５ｂ）を介して得られる信号は
そのままシステム入力信号（６ａ）　（８ｃ）として使
われる。このときゲート（７Ａ）（７Ｂ）によりテスト
制御信号（８ａ）　（８ｂ）への影響はなく、Ｌ　ＳＩ
は本来の動作をする。次にテストモードではテストモー
ド信号を真にする。するとシステム信号入力ピン（ｓａ
）　（５ｂ’）からの信号を直接テスト制御信号（８ａ
）　（８ｂ）にすることが出来る。このテスト制御中、
入力がシステム入力に伝わってもよい場合とよくない場
合とがあるが後者の場合はシステム入力信号（８ｃ）の
ようにアンドゲートＣ（７Ｃ）でゲートしておくように
する。

〔発明の効果〕

本発明は以上のようになるものであって、テストモード
入力用のピンを１本追加することにより外部から直接に
多数のテスト制御信号を入力出来るようになる効果の得
られるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の主要部を示す回路図である
。 ２：テストモード信号入力ピン、 ４ａ：テストモード信号、 ５ａ、５ｂ　ニジステム信号入力ピン、６ａ、６ｂシス
テム入力信号、 ７Ａ、７Ｂ、７Ｃ：アンドゲート、 ８ａ、８ｂ　：テスト制御信号。 代理人　弁理士　井　上　−男 ＠１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 入力信号が伝播する入力ビンの他に、テストモードであ
   ることを示す信号が伝播する唯１本のテストビンと、該
   テストピン及び上記入力ピンを介して伝播する信号を入
   力とするゲート回路を備え、該ゲート回路により上記テ
   ストピンを介して伝播する信号がノーマルモードを示し
   ていたとき上記入力ピンを本来のシステム入力用として
   、テストモードを示していたとき、テスト制御信号伝播
   用として使用することな特徴とするＬＳＩ内蔵のテスト
   容易化回路。