JPS607491Y2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS607491Y2
JPS607491Y2 JP1979080455U JP8045579U JPS607491Y2 JP S607491 Y2 JPS607491 Y2 JP S607491Y2 JP 1979080455 U JP1979080455 U JP 1979080455U JP 8045579 U JP8045579 U JP 8045579U JP S607491 Y2 JPS607491 Y2 JP S607491Y2
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JP
Japan
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chip
header
pin
semiconductor device
pounding
Prior art date
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Expired
Application number
JP1979080455U
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English (en)
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JPS55181343U (ja
Inventor
信機 山路
達也 足立
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPS55181343U publication Critical patent/JPS55181343U/ja
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Publication of JPS607491Y2 publication Critical patent/JPS607491Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/753—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between laterally-adjacent chips
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は半導体装置の改良に関する。
従来、半導体装置は第1図a、 bに示すように構成さ
れ、ステムのヘッダー1には一面にチップ2が設けられ
ると共に2個のリードピン3,4が絶縁ガラス5,6を
介して貫通固着され、各り−ドピン3,4と前記チップ
2はポンディグ線7゜8により接続されている。
又、前記ヘッダー1の他面にはアースピン6が溶接によ
り固着され、このアースピン9に対向して前記チップ2
とヘッダー1はポンディグ線10により接尾されている
。
次に上記のような半導体装置の組立作業につき説明する
と、先ず、チップ2をステムのヘッダー1中央に固定す
る。
次いでポンディグと云う作業により、信号を出し入れす
るためのステムのり−ドピン3,4とチップ2を20p
mφ〜100μmφのNあるいはAuのポンディグ線7
,8で接続する。
更に同じようなポンディグ作業によりチップ2からステ
ムのヘッダー1上へアースのために20μmφ〜100
μmφの加あるいはAuのポンディグ線10を接続する
。
基本的には以上の作業により、半導体素子として利用で
きるものであるが、ゴミや各種雰気からの保護や取扱い
易いように蓋をしてチップ2側を覆い仕上げる。
ところで上記組立て作業において、ポンディグ作業の占
る割合が大きく、組立てコストに及ぼす影響が大きい。
そこでポンディグ作業の自由化のさめに、図示のように
チップ2の高さとリードピン3,4の高さを同じくして
作業性を高めている。
しかしながら、同じポンディグ作業でありながら、チッ
プ2からヘッダー1へのアース用ポンディグ線10の接
続は、図示のように同一高さでないために作業性を著し
く困難にしている。
そこで、このアース用ポンディグ線10のポンディグ作
業をやり易くするために、第2図に示すようにヘッダー
1に突出部1aを設けた半導体装置が既に提案されてい
るが、ステム製作上、寸法精度が得難<、部品としての
ステムのコストアップになっている。
この考案は上記従来の欠点を除去した半導体装置を提供
することを目的とする。
以下、図面を参照してこの考案の一実施例を詳細に説明
する。
半導体装置の組立作業の合理化は、ポンディグ工程を簡
素化すればよく、そのためにアースピンをチップと同じ
高さに設定すればよい。
そこで、この考案の半導体装置は第3図a、 bに示す
ように構成され、従来例と同一箇所は同一符号を付すと
、ステムのヘッダー1には一面にチップ2が設けられと
共にリードピン3,4が絶縁ガラス5,6を介して貫通
固着している。
この場合、勿論、各リードピン3,4の一端は前記チッ
プ2と略同−高さに位置し、各リードピン3,4と前記
チップ2はポンディグ線7,8により接続されている。
更に前記ヘッダー1には、アースピン11が例えばFe
或いはNi粉末を含有した金属粉末添加ガラス12を介
して貫通固着されており、このアースピン11はその一
端が前記チップ2と略同−高さに設定されている。
そしてこのアースピン11とチップ2はアー用ボンディ
ング線10により接続されている。
又、同図すからも明らかなように、前記絶縁ガラス5,
6ろ部分を除いてヘッダー1の表面、リードピン3,4
、アースピン11の各表面、金属粉末添加ガラス12の
表面には、電気メッキ例えばNiメッキが施されメッキ
層13が形成されている(但し、第3図aでは便宜上メ
ッキ層13を省略して図示していない)。
このメッキ層13によりヘッダー1とアースピン11と
が導通することになる。
尚、チップ2の位置する側のヘッダー1は蓋(図示せず
)により覆われるが、蓋を含む半導体装置全体はSnメ
ッキによりメッキされる。
さて、次に上記半導体装置の組立につき説明すると、ヘ
ッダー1の材料である1、61rrIIttの鉄板から
、157rr!rLφの外形と、リードピン埋込みのた
めの2.4mmφの貫通孔2個と、アースピン埋込みの
ため2.4rIr!nφの孔をプレス作業により一度に
付ち抜く。
そしてリードピン3,4である0、75閑φのFe −
Ni合金棒に軟質ガラス5,6を融着させ、アースピン
11である0、75rrIInφのFe −Ni合金棒
に20〜6Qwt%のFe粉を含有させた軟質ガラス1
2を融着させる。
これらのリードピン3,4とアースピン11を前記ヘッ
ダー1の貫通孔に固定し、加熱して封着せしめる。
引続きCuの下地メッキを行った後、Njの亜電解メッ
キで仕上げる。
この考案の半導体装置は上記説明及び図示のように構成
され、リードピン3,4とアースピン12が同じ高さに
あるためポンディグ条件の制御がし易くなる。
つまりチップ2からリードピン3゜4のポンディグとア
ースピン11へのポンディグが同一条件で行なうことが
可能となる。
又、リードピン3,4とアースピン11が同じ材質、同
じ形状のため、メッキ仕上りも均一になり、ポンディグ
条件の制御がし易くなる。
このような利点により、ポンディグ作業の自動化と信頼
性向上を図ることがどきる。
更にこの考案では、各ガラス5.6.12による各リー
ドピン3,4とアースピン11の固定は3本−緒にやっ
てしまうので、組立に当り作業性が極めて優れている。
又、この考案では電解メッキを施すが、ガラス5,6表
面以外の全面にメッキ層13がよく付着する。
以上説明したようにこの考案によれば、実用的価値大な
る半導体装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図a、 bは従来の半導体装置の1例を示す平面図
と断面図、第2図は同じく他の例を示す要部拡大断面図
、第3図a、 bはこの考案の一実施例に係る半導体装
置を示す平面図と断面図である。 1・・・・・・ヘッダー、2・・・・・・チップ、3,
4・・・・・・リードピン、5,6・・・・・・絶縁ガ
ラス、?、8.10・・・・・・ポンディグ線、11・
・・・・・アースピン、12・・・・・・金属粉末添加
ガラス、13・・・メッキ層。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 一面にチップを設けたステムのヘッダーに絶縁ガラスを
    介してリードピンを貫通固着し、該リードピンと前記チ
    ップをポンディグ線により接続してなる半導体装置にお
    いて、前記へツタ−に金属粉末添加ガラスを介してアー
    スピンを貫通固着し、更に前記絶縁ガラス及びチップを
    除いてヘッダー、リードピン、アースピン、金属粉末添
    加ガラスの各表面にメッキ層を形威し、且つアースピン
    と前記チップをボンディング線により接続したことを特
    徴とする半導体装置。
JP1979080455U 1979-06-13 1979-06-13 半導体装置 Expired JPS607491Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1979080455U JPS607491Y2 (ja) 1979-06-13 1979-06-13 半導体装置

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JP1979080455U JPS607491Y2 (ja) 1979-06-13 1979-06-13 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS55181343U JPS55181343U (ja) 1980-12-26
JPS607491Y2 true JPS607491Y2 (ja) 1985-03-13

Family

ID=29313799

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JPS55181343U (ja) 1980-12-26

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