JPS61116062U - - Google Patents

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JPS61116062U
JPS61116062U JP20210184U JP20210184U JPS61116062U JP S61116062 U JPS61116062 U JP S61116062U JP 20210184 U JP20210184 U JP 20210184U JP 20210184 U JP20210184 U JP 20210184U JP S61116062 U JPS61116062 U JP S61116062U
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JP
Japan
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specimen
sample
plate spring
electron microscope
tilting device
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JP20210184U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例を示す断面図、第２
図は試料台部分の分解斜視図、第３図は本考案の
他の実施例を示す断面図である。 １……鏡体、２……試料ホルダ、３ａ，３ｂ…
…対物レンズの上磁極、下磁極、５ａ，５ｂ……
縦溝、６……把持部、７……試料台、８ａ，８ｂ
……傾斜軸、９……試料、１０……リングバネ、
１１，１２……板バネ、１３……移動体、１４…
…テコ体、１６……斜面、１７……ネジ棒、１８
……摘子、１９……スプリング、２０……移動棒
、２３……雌ネジ体。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 鏡体を貫通して回転可能に保持され、且つ
    軸心が光軸と直交するように置かれた試料ホルダ
    と、該試料ホルダの軸心と直交する傾斜軸を介し
    て傾動可能にこの試料ホルダに支持され、且つ試
    料を保持した試料台と、該試料台の一端に取付け
    られた板バネと、該板バネの端部を折り曲げるこ
    とにより試料台を傾動させるための手段とからな
    る電子顕微鏡における試料傾斜装置。 (2) 前記試料台と板バネとを一体に形成したこ
    とを特徴とする実用新案登録請求の範囲第１項記
    載の電子顕微鏡における試料傾斜装置。 (3) 前記板バネの折り曲げ手段としては回転あ
    るいは往復動を利用することを特徴とする実用新
    案登録請求の範囲第１項乃至第２項に記載の電子
    顕微鏡における試料傾斜装置。
JP20210184U 1984-12-28 1984-12-28 Pending JPS61116062U (ja)

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JPS61116062U true JPS61116062U (ja) 1986-07-22

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005044700A (ja) * 2003-07-24 2005-02-17 Jeol Ltd 試料ホルダ
JP2011175908A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 National Institute For Materials Science 試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡
WO2023127083A1 (ja) * 2021-12-28 2023-07-06 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置

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