JPS61224121A - 磁気記録媒体 - Google Patents
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- JPS61224121A JPS61224121A JP6553185A JP6553185A JPS61224121A JP S61224121 A JPS61224121 A JP S61224121A JP 6553185 A JP6553185 A JP 6553185A JP 6553185 A JP6553185 A JP 6553185A JP S61224121 A JPS61224121 A JP S61224121A
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は合金磁性1111を有する磁気記録媒体に係る
ものであり、特に、この合金磁性薄膜がジルコニウム(
Zr )を含有するコバルト基合金からなる磁気記録媒
体に関する。
ものであり、特に、この合金磁性薄膜がジルコニウム(
Zr )を含有するコバルト基合金からなる磁気記録媒
体に関する。
[従来の技術]
記録密度の高い合金磁性薄膜を有する磁気記録媒体の研
究開発が近年大いに推進されているが、その一つとして
無電解メッキ法によるコバルト(CO)−ニッケル(N
i )−リン(P)合金磁性薄膜を用いたものがある。
究開発が近年大いに推進されているが、その一つとして
無電解メッキ法によるコバルト(CO)−ニッケル(N
i )−リン(P)合金磁性薄膜を用いたものがある。
しかしながらC0−N1−P合金は耐食性に問題があり
、該合金磁性1WIIlを用いた゛記録媒体は、永年使
用した際の記録エラー等信頼性の点で劣っていた。例え
ば、該合金磁性薄膜を温度57℃、湿度85%の条件下
にて2週間放置した場合には飽和磁化の劣化が30%で
あり、また、純水中に1週間放置した場合のそれは40
%にも達する。このような特性の劣化は実機使用した際
の出力低下を招き、また腐蝕部の存在はエラーの増大を
引き起こすという問題がある。
、該合金磁性1WIIlを用いた゛記録媒体は、永年使
用した際の記録エラー等信頼性の点で劣っていた。例え
ば、該合金磁性薄膜を温度57℃、湿度85%の条件下
にて2週間放置した場合には飽和磁化の劣化が30%で
あり、また、純水中に1週間放置した場合のそれは40
%にも達する。このような特性の劣化は実機使用した際
の出力低下を招き、また腐蝕部の存在はエラーの増大を
引き起こすという問題がある。
[発明が解決しようとする問題点1
このように、無電解メッキ法による(:、O−Ni−P
合金磁性III!は、出力低下やエラーの増大などとい
った信頼性の低下に帰結する耐食性・耐候性の問題があ
った。
合金磁性III!は、出力低下やエラーの増大などとい
った信頼性の低下に帰結する耐食性・耐候性の問題があ
った。
[問題点を解決するための手段]
本発明者らは上記不具合を解決するために様々な観点か
ら検討を加え、Zrを添加したCo基合金磁性薄膜が極
めて優れた耐食性・耐候性を有することを見い出した。
ら検討を加え、Zrを添加したCo基合金磁性薄膜が極
めて優れた耐食性・耐候性を有することを見い出した。
即ち、本発明は、基板上に形成された合金磁性1111
を有する磁気記録媒体において、上記合金磁性薄膜をZ
r 2〜17原子%と、0.2〜5原子%の窒素とを
含有するCo基合金で構成したことを特徴とするもので
ある。
を有する磁気記録媒体において、上記合金磁性薄膜をZ
r 2〜17原子%と、0.2〜5原子%の窒素とを
含有するCo基合金で構成したことを特徴とするもので
ある。
以下本発明の構成について更に詳細に説明する。
本発明において用いられる磁性薄膜は、Zrを2〜11
原子%と、Nを0.5〜5原子%含むCo基合金からな
るものである。
原子%と、Nを0.5〜5原子%含むCo基合金からな
るものである。
Zrの含有量を2〜17原子%とした理由は、その含有
量が2原子%未満では耐食性が低下するようになるから
である。一方、その含有量が17原子%を越えるときは
飽和磁化が低くなりすぎ、薄層化という高密度記録に適
った合金磁性薄膜の特長が活かし得ないためである。
量が2原子%未満では耐食性が低下するようになるから
である。一方、その含有量が17原子%を越えるときは
飽和磁化が低くなりすぎ、薄層化という高密度記録に適
った合金磁性薄膜の特長が活かし得ないためである。
また、Nを0.2〜5原子%とした理由は、主として製
造上の関係によるものであり、例えば、後述する本発明
に係る製造法では0.2原子%以上のNが残存してしま
うためである。一方、5原子%を越えるようになると磁
気特性のうち角型比Sと称されているものが低下するよ
うになるからである。通常、磁気記録媒体の角型比Sは
0.7以上であることが要求されているが、本発明にお
いて、特に好ましいNの含有量は0.2〜3原子%であ
る。
造上の関係によるものであり、例えば、後述する本発明
に係る製造法では0.2原子%以上のNが残存してしま
うためである。一方、5原子%を越えるようになると磁
気特性のうち角型比Sと称されているものが低下するよ
うになるからである。通常、磁気記録媒体の角型比Sは
0.7以上であることが要求されているが、本発明にお
いて、特に好ましいNの含有量は0.2〜3原子%であ
る。
また、本発明において、zr及びN以外の組成としては
、 (イ)Goのみ (ロ)Goの一部をNi及び/又はFeで置換したもの であってもよい。(ロ)の組成の場合、COの一部をN
1及び/又はFeで置換するときの置換比率はCOの2
5原子%以下とするのが好ましい。置換比率が25原子
%を越えるとhcp母結晶中にfac相が出現し、膜面
内の磁気特性の低下をもたらす。
、 (イ)Goのみ (ロ)Goの一部をNi及び/又はFeで置換したもの であってもよい。(ロ)の組成の場合、COの一部をN
1及び/又はFeで置換するときの置換比率はCOの2
5原子%以下とするのが好ましい。置換比率が25原子
%を越えるとhcp母結晶中にfac相が出現し、膜面
内の磁気特性の低下をもたらす。
また、Fe置換の場合には、その置換比率が25原子%
を越えると薄膜の耐食性、耐候性も低下させるようにな
る。
を越えると薄膜の耐食性、耐候性も低下させるようにな
る。
本発明の磁気記録媒体は、例えば次゛のようにして製造
することができる。即ち、N2を含むArガス雰囲気中
でスパッタリング等の真空蒸着法によってZrと、CO
及びN(及び所望により、更にNi及び/又はFe)を
含む合金薄膜を基板上に形成し、然る後熱処理し、Nを
放出させてN含有率を0.2〜5原子%とするものであ
る。
することができる。即ち、N2を含むArガス雰囲気中
でスパッタリング等の真空蒸着法によってZrと、CO
及びN(及び所望により、更にNi及び/又はFe)を
含む合金薄膜を基板上に形成し、然る後熱処理し、Nを
放出させてN含有率を0.2〜5原子%とするものであ
る。
この製造方法において、基板上にまず形成される薄膜は
アモルファス状又は粒径50〜tooA程度の微結晶体
より成り、後工程の熱処理で結品化又は粒径100〜4
00人程度の結晶粒に成長し、適度なHcを有しかつ高
角形比の磁気記録媒体を形成するようになる。
アモルファス状又は粒径50〜tooA程度の微結晶体
より成り、後工程の熱処理で結品化又は粒径100〜4
00人程度の結晶粒に成長し、適度なHcを有しかつ高
角形比の磁気記録媒体を形成するようになる。
この熱処理の温度としては280℃以上が好ましく、熱
処理の温度が280℃を下回る場合は脱Nの活性点にな
っておらず脱Nが進行しない。また、熱処理温度があま
り高温の場合には結晶粒が異常成長し保磁力HCの低下
を招く。従って好ましい熱処理温度は280〜500℃
である。
処理の温度が280℃を下回る場合は脱Nの活性点にな
っておらず脱Nが進行しない。また、熱処理温度があま
り高温の場合には結晶粒が異常成長し保磁力HCの低下
を招く。従って好ましい熱処理温度は280〜500℃
である。
また、本発明において用いられる基板としては、非磁性
基板であるならば従来から用いられている各種のものが
採用でき、合金系基板(例えばA1に数%以下程度のマ
グネシウムを添加した合金やチタン合金の基板)、各種
のセラミックス、又はガラス基板などが用いられる。ま
た、基板と磁性薄膜との間にクロムやチタンあるいはア
ルマイ1〜、N1−P等から成る硬質な下地層の他、磁
性薄膜の付着強度を増大させる各種の非磁性中間層など
を設けてもよい。また、磁性薄膜上に非磁性金属中間層
及び/又は炭素、ポリ珪酸等の保護膜を設けてもよい。
基板であるならば従来から用いられている各種のものが
採用でき、合金系基板(例えばA1に数%以下程度のマ
グネシウムを添加した合金やチタン合金の基板)、各種
のセラミックス、又はガラス基板などが用いられる。ま
た、基板と磁性薄膜との間にクロムやチタンあるいはア
ルマイ1〜、N1−P等から成る硬質な下地層の他、磁
性薄膜の付着強度を増大させる各種の非磁性中間層など
を設けてもよい。また、磁性薄膜上に非磁性金属中間層
及び/又は炭素、ポリ珪酸等の保護膜を設けてもよい。
さらに、この保護膜上に潤滑剤を塗布しても良い。
[作用]
Zrを2〜17原子%含有し、N含有量が0.2〜5原
子%であるCO基合金磁性薄膜は適当な磁気特性を有し
、後述の実施例などに示す如く耐食性・耐候性に優れる
。
子%であるCO基合金磁性薄膜は適当な磁気特性を有し
、後述の実施例などに示す如く耐食性・耐候性に優れる
。
[実施例]
以下、本発明を具体的実施例によって詳細に説明する。
なお、以下に述べる実施例は、r、r、マグネトロンス
パッタ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言
えるイオンビームスパッタリング等によっても本発明の
効果を得ることが可能であることは勿論である。
パッタ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言
えるイオンビームスパッタリング等によっても本発明の
効果を得ることが可能であることは勿論である。
実施例1
r、f、プレーナーマグネトロンスパッタ装置を用い、
下記条件にて、ガラス基板上に様々な組成のCO基合金
磁性薄膜を形成した。
下記条件にて、ガラス基板上に様々な組成のCO基合金
磁性薄膜を形成した。
初期排気 1〜2x10−’ Torr全雰囲気圧
(Ar+N2) 10〜201Torr(全圧に対す
るN2分圧の%)50〜80%投入電力 1
kW ターゲット組成 CO (目標とする薄膜の組成に一致させる場合は、各添加物
のチップを適当にターゲット上に配置させることにより
行なう。) 極間隔 1081Il膜厚(スパッタ
時)700人 Il!形成速度 250〜500人7mtn基板
温度 200℃ スパッタ膜形成後、1G ” Torr以下の真空中に
て300〜b 膜を結晶化させるとともに、膜中に含有された窒素を放
出させた。その後耐食性及び耐候性の検討を行なった。
(Ar+N2) 10〜201Torr(全圧に対す
るN2分圧の%)50〜80%投入電力 1
kW ターゲット組成 CO (目標とする薄膜の組成に一致させる場合は、各添加物
のチップを適当にターゲット上に配置させることにより
行なう。) 極間隔 1081Il膜厚(スパッタ
時)700人 Il!形成速度 250〜500人7mtn基板
温度 200℃ スパッタ膜形成後、1G ” Torr以下の真空中に
て300〜b 膜を結晶化させるとともに、膜中に含有された窒素を放
出させた。その後耐食性及び耐候性の検討を行なった。
ここに、耐蝕性の評価は3MΩ・cn+の純水中に1遍
間浸すことにより、また耐候性の評価は温度57℃、湿
度80%の条件下に2週間放置することにより行なった
。
間浸すことにより、また耐候性の評価は温度57℃、湿
度80%の条件下に2週間放置することにより行なった
。
この結果を、第1表に示す。
比較例1
下記条件により、適宜に表面処理されたガラス基板上に
Co −Ni−P合金磁性膜を作成し、その後耐食性、
耐候性の評価を行なった。その結果を第1表に示す。
Co −Ni−P合金磁性膜を作成し、その後耐食性、
耐候性の評価を行なった。その結果を第1表に示す。
メッキ浴 硫酸コバルト 0.06 a+ol
/ 1硫酸ニツケル 0.04 次亜リン@0.2 硫酸アンモニウム 0.1 マロン酸ナトリウム 0.3 リンゴ酸ナトリウム 0.4 コハク酸ナトリウム 0.5 1))(=8.9〜9.3 温度75〜85℃ m厚
70OA比較例2 スパッタリング時の雰囲気をAr 100%としたこ
と以外は実施例1と同様にして、N含有率0%の薄膜を
作成した。また、残存N11度が5原子%を越える場合
、Ni濃度が25原子%を越える場合、及び規定量を越
える量の添加物を含む場合の合金薄膜も同様に実施例1
の条件下で作成した。
/ 1硫酸ニツケル 0.04 次亜リン@0.2 硫酸アンモニウム 0.1 マロン酸ナトリウム 0.3 リンゴ酸ナトリウム 0.4 コハク酸ナトリウム 0.5 1))(=8.9〜9.3 温度75〜85℃ m厚
70OA比較例2 スパッタリング時の雰囲気をAr 100%としたこ
と以外は実施例1と同様にして、N含有率0%の薄膜を
作成した。また、残存N11度が5原子%を越える場合
、Ni濃度が25原子%を越える場合、及び規定量を越
える量の添加物を含む場合の合金薄膜も同様に実施例1
の条件下で作成した。
その磁気特性を第1表に示す。
第1表より、本発明によるzrを含むCo基合金磁性i
W膜は、従来のCo −Ni −P無電解メッキ磁性薄
膜に比較し、遥かに優れた耐食性・耐候性を示すことが
認められる。また、磁気記録媒体としての特性を満足す
るためには、アルゴンと窒素の混合雰囲気下で膜が形成
されなければならないことも認められる。
W膜は、従来のCo −Ni −P無電解メッキ磁性薄
膜に比較し、遥かに優れた耐食性・耐候性を示すことが
認められる。また、磁気記録媒体としての特性を満足す
るためには、アルゴンと窒素の混合雰囲気下で膜が形成
されなければならないことも認められる。
実施例2
表面研磨されたアルミ合金上にアルマイト処理を施して
成る基板上に、第2表に示すような所望の組成となるよ
うに、実施例1に記したと同様の条件下にて51/4″
φデイスクを作成し、真空中350℃x 3hr熱処理
を施した後、r、f、プレーナーマグネトロン装置にて
400Aのアモルファス状カーボン膜を形成した。
成る基板上に、第2表に示すような所望の組成となるよ
うに、実施例1に記したと同様の条件下にて51/4″
φデイスクを作成し、真空中350℃x 3hr熱処理
を施した後、r、f、プレーナーマグネトロン装置にて
400Aのアモルファス状カーボン膜を形成した。
次に、これらのディスクを用い耐食性、耐候性の評価を
行なった。その結果を第2表に示す。なお、磁気記録媒
体の電磁変換特性の評価は、下記の如き条件で行なった
。
行なった。その結果を第2表に示す。なお、磁気記録媒
体の電磁変換特性の評価は、下記の如き条件で行なった
。
使用ヘッド Mn−Znフエライトヘッド(トラック幅
16μm1ギヤツプ長1.1μm1ギャップ深さ20μ
m1巻数19TX 2)浮上量 0.34μm 書き込み周波数 1 F : 1.25 MHz2F
: 2.5 MHz ディスク回転数 3600rpm 測定箇所 ディスク中心よりの距離R−30nun比較
例3 表面研磨されたアルミニウム合金上にNi −Pメッキ
下地層が施された51/4″φデイスク基板上に、比較
例1と同様の条件下でco −Nt −P合金磁性膜を
形成し、その後実施例2と同様に4ooAのアモルファ
ス状カーボン膜を形成した。
16μm1ギヤツプ長1.1μm1ギャップ深さ20μ
m1巻数19TX 2)浮上量 0.34μm 書き込み周波数 1 F : 1.25 MHz2F
: 2.5 MHz ディスク回転数 3600rpm 測定箇所 ディスク中心よりの距離R−30nun比較
例3 表面研磨されたアルミニウム合金上にNi −Pメッキ
下地層が施された51/4″φデイスク基板上に、比較
例1と同様の条件下でco −Nt −P合金磁性膜を
形成し、その後実施例2と同様に4ooAのアモルファ
ス状カーボン膜を形成した。
次に、これらを耐食性及び耐候性の評価に用いた。
その結果を第2表に示す。電磁変換緒特性の評価は実施
例2と全く同様の条件下で行なった。
例2と全く同様の条件下で行なった。
□
[発明の効果]
以上のことから、本発明における磁気記録媒体よ耐食性
・耐候性に優れた媒体であることが証明きれた。
・耐候性に優れた媒体であることが証明きれた。
Claims (4)
- (1)基板上に形成された合金磁性薄膜を有する磁気記
録体において、該合金磁性薄膜がジルコニウムを2〜1
7原子%含むコバルト基合金からなることを特徴とする
磁気記録媒体。 - (2)上記合金磁性薄膜は、基板上にスパッタリングさ
れ、かつ熱処理されて形成されたものであることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。 - (3)上記合金磁性薄膜が、ジルコニウムを2〜17原
子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部コバルトか
らなることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2
項に記載の磁気記録媒体。 - (4)上記合金磁性薄膜が、ジルコニウムを2〜17原
子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部がコバルト
とニッケル及び/又は鉄とから成り、ニッケル及び/又
は鉄の含有量は、コバルトの25原子%以下を置換した
量であることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第
2項に記載の磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6553185A JPS61224121A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6553185A JPS61224121A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9036187A Division JPS6379231A (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61224121A true JPS61224121A (ja) | 1986-10-04 |
Family
ID=13289685
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6553185A Pending JPS61224121A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61224121A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6313118A (ja) * | 1986-03-28 | 1988-01-20 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS567231A (en) * | 1979-06-27 | 1981-01-24 | Ulvac Corp | Vapor deposition film type magnetic recording material and its production |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6553185A patent/JPS61224121A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS567231A (en) * | 1979-06-27 | 1981-01-24 | Ulvac Corp | Vapor deposition film type magnetic recording material and its production |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6313118A (ja) * | 1986-03-28 | 1988-01-20 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体 |
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