JPS61224121A - 磁気記録媒体 - Google Patents

磁気記録媒体

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Publication number
JPS61224121A
JPS61224121A JP6553185A JP6553185A JPS61224121A JP S61224121 A JPS61224121 A JP S61224121A JP 6553185 A JP6553185 A JP 6553185A JP 6553185 A JP6553185 A JP 6553185A JP S61224121 A JPS61224121 A JP S61224121A
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JP
Japan
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alloy
thin film
magnetic
recording medium
magnetic recording
Prior art date
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Pending
Application number
JP6553185A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Fujii
重男 藤井
Koji Ichikawa
耕司 市川
Shiro Murakami
志郎 村上
Shigeo Endo
遠藤 重郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Metals Ltd filed Critical Hitachi Metals Ltd
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Publication of JPS61224121A publication Critical patent/JPS61224121A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は合金磁性1111を有する磁気記録媒体に係る
ものであり、特に、この合金磁性薄膜がジルコニウム(
Zr )を含有するコバルト基合金からなる磁気記録媒
体に関する。
[従来の技術] 記録密度の高い合金磁性薄膜を有する磁気記録媒体の研
究開発が近年大いに推進されているが、その一つとして
無電解メッキ法によるコバルト(CO)−ニッケル(N
i )−リン(P)合金磁性薄膜を用いたものがある。
しかしながらC0−N1−P合金は耐食性に問題があり
、該合金磁性1WIIlを用いた゛記録媒体は、永年使
用した際の記録エラー等信頼性の点で劣っていた。例え
ば、該合金磁性薄膜を温度57℃、湿度85%の条件下
にて2週間放置した場合には飽和磁化の劣化が30%で
あり、また、純水中に1週間放置した場合のそれは40
%にも達する。このような特性の劣化は実機使用した際
の出力低下を招き、また腐蝕部の存在はエラーの増大を
引き起こすという問題がある。
[発明が解決しようとする問題点1 このように、無電解メッキ法による(:、O−Ni−P
合金磁性III!は、出力低下やエラーの増大などとい
った信頼性の低下に帰結する耐食性・耐候性の問題があ
った。
[問題点を解決するための手段] 本発明者らは上記不具合を解決するために様々な観点か
ら検討を加え、Zrを添加したCo基合金磁性薄膜が極
めて優れた耐食性・耐候性を有することを見い出した。
即ち、本発明は、基板上に形成された合金磁性1111
を有する磁気記録媒体において、上記合金磁性薄膜をZ
r  2〜17原子%と、0.2〜5原子%の窒素とを
含有するCo基合金で構成したことを特徴とするもので
ある。
以下本発明の構成について更に詳細に説明する。
本発明において用いられる磁性薄膜は、Zrを2〜11
原子%と、Nを0.5〜5原子%含むCo基合金からな
るものである。
Zrの含有量を2〜17原子%とした理由は、その含有
量が2原子%未満では耐食性が低下するようになるから
である。一方、その含有量が17原子%を越えるときは
飽和磁化が低くなりすぎ、薄層化という高密度記録に適
った合金磁性薄膜の特長が活かし得ないためである。
また、Nを0.2〜5原子%とした理由は、主として製
造上の関係によるものであり、例えば、後述する本発明
に係る製造法では0.2原子%以上のNが残存してしま
うためである。一方、5原子%を越えるようになると磁
気特性のうち角型比Sと称されているものが低下するよ
うになるからである。通常、磁気記録媒体の角型比Sは
0.7以上であることが要求されているが、本発明にお
いて、特に好ましいNの含有量は0.2〜3原子%であ
る。
また、本発明において、zr及びN以外の組成としては
、 (イ)Goのみ (ロ)Goの一部をNi及び/又はFeで置換したもの であってもよい。(ロ)の組成の場合、COの一部をN
1及び/又はFeで置換するときの置換比率はCOの2
5原子%以下とするのが好ましい。置換比率が25原子
%を越えるとhcp母結晶中にfac相が出現し、膜面
内の磁気特性の低下をもたらす。
また、Fe置換の場合には、その置換比率が25原子%
を越えると薄膜の耐食性、耐候性も低下させるようにな
る。
本発明の磁気記録媒体は、例えば次゛のようにして製造
することができる。即ち、N2を含むArガス雰囲気中
でスパッタリング等の真空蒸着法によってZrと、CO
及びN(及び所望により、更にNi及び/又はFe)を
含む合金薄膜を基板上に形成し、然る後熱処理し、Nを
放出させてN含有率を0.2〜5原子%とするものであ
る。
この製造方法において、基板上にまず形成される薄膜は
アモルファス状又は粒径50〜tooA程度の微結晶体
より成り、後工程の熱処理で結品化又は粒径100〜4
00人程度の結晶粒に成長し、適度なHcを有しかつ高
角形比の磁気記録媒体を形成するようになる。
この熱処理の温度としては280℃以上が好ましく、熱
処理の温度が280℃を下回る場合は脱Nの活性点にな
っておらず脱Nが進行しない。また、熱処理温度があま
り高温の場合には結晶粒が異常成長し保磁力HCの低下
を招く。従って好ましい熱処理温度は280〜500℃
である。
また、本発明において用いられる基板としては、非磁性
基板であるならば従来から用いられている各種のものが
採用でき、合金系基板(例えばA1に数%以下程度のマ
グネシウムを添加した合金やチタン合金の基板)、各種
のセラミックス、又はガラス基板などが用いられる。ま
た、基板と磁性薄膜との間にクロムやチタンあるいはア
ルマイ1〜、N1−P等から成る硬質な下地層の他、磁
性薄膜の付着強度を増大させる各種の非磁性中間層など
を設けてもよい。また、磁性薄膜上に非磁性金属中間層
及び/又は炭素、ポリ珪酸等の保護膜を設けてもよい。
さらに、この保護膜上に潤滑剤を塗布しても良い。
[作用] Zrを2〜17原子%含有し、N含有量が0.2〜5原
子%であるCO基合金磁性薄膜は適当な磁気特性を有し
、後述の実施例などに示す如く耐食性・耐候性に優れる
[実施例] 以下、本発明を具体的実施例によって詳細に説明する。
なお、以下に述べる実施例は、r、r、マグネトロンス
パッタ装置によったが、イオン工学的に同様のことが言
えるイオンビームスパッタリング等によっても本発明の
効果を得ることが可能であることは勿論である。
実施例1 r、f、プレーナーマグネトロンスパッタ装置を用い、
下記条件にて、ガラス基板上に様々な組成のCO基合金
磁性薄膜を形成した。
初期排気   1〜2x10−’ Torr全雰囲気圧
(Ar+N2)  10〜201Torr(全圧に対す
るN2分圧の%)50〜80%投入電力      1
  kW ターゲット組成   CO (目標とする薄膜の組成に一致させる場合は、各添加物
のチップを適当にターゲット上に配置させることにより
行なう。) 極間隔         1081Il膜厚(スパッタ
時)700人 Il!形成速度    250〜500人7mtn基板
温度         200℃ スパッタ膜形成後、1G ” Torr以下の真空中に
て300〜b 膜を結晶化させるとともに、膜中に含有された窒素を放
出させた。その後耐食性及び耐候性の検討を行なった。
ここに、耐蝕性の評価は3MΩ・cn+の純水中に1遍
間浸すことにより、また耐候性の評価は温度57℃、湿
度80%の条件下に2週間放置することにより行なった
この結果を、第1表に示す。
比較例1 下記条件により、適宜に表面処理されたガラス基板上に
Co −Ni−P合金磁性膜を作成し、その後耐食性、
耐候性の評価を行なった。その結果を第1表に示す。
メッキ浴 硫酸コバルト    0.06 a+ol 
/ 1硫酸ニツケル    0.04 次亜リン@0.2 硫酸アンモニウム  0.1 マロン酸ナトリウム 0.3 リンゴ酸ナトリウム 0.4 コハク酸ナトリウム 0.5 1))(=8.9〜9.3  温度75〜85℃ m厚
70OA比較例2 スパッタリング時の雰囲気をAr  100%としたこ
と以外は実施例1と同様にして、N含有率0%の薄膜を
作成した。また、残存N11度が5原子%を越える場合
、Ni濃度が25原子%を越える場合、及び規定量を越
える量の添加物を含む場合の合金薄膜も同様に実施例1
の条件下で作成した。
その磁気特性を第1表に示す。
第1表より、本発明によるzrを含むCo基合金磁性i
W膜は、従来のCo −Ni −P無電解メッキ磁性薄
膜に比較し、遥かに優れた耐食性・耐候性を示すことが
認められる。また、磁気記録媒体としての特性を満足す
るためには、アルゴンと窒素の混合雰囲気下で膜が形成
されなければならないことも認められる。
実施例2 表面研磨されたアルミ合金上にアルマイト処理を施して
成る基板上に、第2表に示すような所望の組成となるよ
うに、実施例1に記したと同様の条件下にて51/4″
φデイスクを作成し、真空中350℃x 3hr熱処理
を施した後、r、f、プレーナーマグネトロン装置にて
400Aのアモルファス状カーボン膜を形成した。
次に、これらのディスクを用い耐食性、耐候性の評価を
行なった。その結果を第2表に示す。なお、磁気記録媒
体の電磁変換特性の評価は、下記の如き条件で行なった
使用ヘッド Mn−Znフエライトヘッド(トラック幅
16μm1ギヤツプ長1.1μm1ギャップ深さ20μ
m1巻数19TX 2)浮上量 0.34μm 書き込み周波数 1 F :  1.25 MHz2F
:  2.5  MHz ディスク回転数 3600rpm 測定箇所 ディスク中心よりの距離R−30nun比較
例3 表面研磨されたアルミニウム合金上にNi −Pメッキ
下地層が施された51/4″φデイスク基板上に、比較
例1と同様の条件下でco −Nt −P合金磁性膜を
形成し、その後実施例2と同様に4ooAのアモルファ
ス状カーボン膜を形成した。
次に、これらを耐食性及び耐候性の評価に用いた。
その結果を第2表に示す。電磁変換緒特性の評価は実施
例2と全く同様の条件下で行なった。
□ [発明の効果] 以上のことから、本発明における磁気記録媒体よ耐食性
・耐候性に優れた媒体であることが証明きれた。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に形成された合金磁性薄膜を有する磁気記
    録体において、該合金磁性薄膜がジルコニウムを2〜1
    7原子%含むコバルト基合金からなることを特徴とする
    磁気記録媒体。
  2. (2)上記合金磁性薄膜は、基板上にスパッタリングさ
    れ、かつ熱処理されて形成されたものであることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の磁気記録媒体。
  3. (3)上記合金磁性薄膜が、ジルコニウムを2〜17原
    子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部コバルトか
    らなることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2
    項に記載の磁気記録媒体。
  4. (4)上記合金磁性薄膜が、ジルコニウムを2〜17原
    子%と、窒素を0.2〜5原子%含み、残部がコバルト
    とニッケル及び/又は鉄とから成り、ニッケル及び/又
    は鉄の含有量は、コバルトの25原子%以下を置換した
    量であることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第
    2項に記載の磁気記録媒体。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6313118A (ja) * 1986-03-28 1988-01-20 Hitachi Ltd 磁気記録媒体

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS567231A (en) * 1979-06-27 1981-01-24 Ulvac Corp Vapor deposition film type magnetic recording material and its production

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