JPS61240647A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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Publication number
JPS61240647A
JPS61240647A JP60083331A JP8333185A JPS61240647A JP S61240647 A JPS61240647 A JP S61240647A JP 60083331 A JP60083331 A JP 60083331A JP 8333185 A JP8333185 A JP 8333185A JP S61240647 A JPS61240647 A JP S61240647A
Authority
JP
Japan
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vacuum chamber
carrier
substrate
coil
conveyor
Prior art date
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Pending
Application number
JP60083331A
Other languages
English (en)
Inventor
Toku Tokumasu
徳 徳増
Fumiya Matsui
松井 文哉
Toshihiko Fukuyama
福山 敏彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Applied Materials Japan Inc
Original Assignee
Applied Materials Japan Inc
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Publication date
Application filed by Applied Materials Japan Inc filed Critical Applied Materials Japan Inc
Priority to JP60083331A priority Critical patent/JPS61240647A/ja
Publication of JPS61240647A publication Critical patent/JPS61240647A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/32—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H10P72/3204—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations between different workstations using magnetic elements

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  • Non-Mechanical Conveyors (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体製造装置に関するものである。
(背景技術およびその問題点) 半導体装置の一種であるCVn (化学的気相成長)装
置は、一般に真空チャンバー内に必要な反応ガスを導入
して、所要の薄膜を乱板上に形成するものである。この
場合、CVD装置が大型になると、真空チャンバー内へ
の基板の自動的な搬出入機構および真空チャンバー内で
の基板の移動機構が必要となる。
このようなIli出人出槽機構動機構は、従来において
は、コンヘヤ方式、ローラ方式、ロボット装置等の機械
的な装置が採用されていた。これらにおいてはいずれも
駆動装置としてのモータが必要であり、また回転ローラ
とその軸との関係のように機械的な摺動部が必然的に介
在してくる。
そして上記のモータが真空チャンバー内に配置されると
きは、モータからの発熱が真空ヂャンハ−外に放熱され
ず、真空チャンバー内温度が常に上昇することとなり、
真空チャンバー内の温度制御が困難となる問題がある。
また、RIE(ReactiveJon Etch)装
置においては真空チャンバー内に腐蝕性ガスが流れるの
で耐蝕性上問題となることがある。真空装置専用のモー
タが開発されてはいるが、モータが真空チャンバー内に
配置される限り、上述の問題は多少とも富に発生ずる。
」二記のモータは、真空チャンバーの構造によっては真
空チャンバー外に配置することもできる。
しかしながら真空チャンバー内におけるXY方向への伝
達機構たる歯車機構は真空チャンバー内に配置される必
要があり、また直接の1ull送体であるコンベヤ、ロ
ーラ、ロポント装置のアーム等も必然的に真空チャンバ
ー内に配置される。これらには前述のように多くの摺動
部があり、真空中での摩擦係数が大気中のそれと比して
極めて大きい(50倍程度)ことから、発生する摩擦熱
も大であり、やはり真空チャンバーの温度制御が困難と
なる。
周知のようにCVD装置は気相中あるいは基板表面での
化学反応により薄膜を形成するものであるから、化学反
応速度との関係で温度制御は均一な厚さの薄膜を得る」
−で極めて重要なファクターであるのであるか、上述の
ように従来の装置は温度制御に問題点があり、均一な厚
さの薄膜を高精度で得ることが困難であった。
また上記のように、大きな摩1察抵抗により摩1察熱が
発生ずる摺動部には、摩擦抵抗を極力減するべく、各種
の潤滑剤や、金ボール、銀ボール等を用いるヘアリング
が使用されたりするが、前者にあっては潤滑剤が真空チ
ャンバー内に揮散して薄膜中に不純物が混入する問題点
があり、後者にあっては装置が極めて高価となる問題点
がある。
以上のように、CVD装置およびRIE装置における真
空チャンバー内での基板のIB送機構には種々の問題点
がある。
(発明の概要) 本発明は上記様々の問題点を解消すべくなされたもので
あり、その目的とするところは、基板を載置搬送する搬
送体を、真空チャンバー外部から作用する磁気力によっ
て浮上させて搬送する機構を採用することによって、摺
動部のない無接触方式とすることができ、したがって摩
擦熱の発生がなく正確な温度制御が可能となり、かつ、
パーティクルの発生がなく所望の均一な厚さの良好な薄
膜を得ることができる半導体製造装置を提供するにあり
、その特徴は、真空チャンバーと、該真空チャンバー内
への基板のl股出入機構とを具備する半導体製造装置に
おいて、前記基板の搬出入機構は、前記真空チャンバー
の下方に配置されるとともに、正負の電流が交互に通じ
られて、電流の磁気作用を真空チャンバー内に及ぼすコ
イルと、前記コイルからの磁気作用によって真空チャン
バー内で浮上される、強磁性体から成る1B送体と、前
記真空チャンバーの両側方に、前記浮上する1M送体を
挟んで配置され、適宜機構によって真空チャンバーに沿
って移動されることによって前記浮上している搬送体を
吸引力によって真空ヂャンハー内を移動させる磁石とで
構成されているところにある。
(実施例) 以下本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に
説明する。
第1図は本発明装置の概要を示す正面図、第2図はその
平面図を示す。
全体符号10は反応筒、12はその真空チャンバーであ
り、その前後にはそれぞれ第1の予備真空室14、第2
の予備真空室16が接続されてい −る。
真空チャンバー12と第1、第2の予備真空室14.1
6とはそれぞれ隔壁18.20、端面壁22.24で気
密に仕切られている。各隔壁1B、20および各端面壁
22.24には、第3図に示すように、後記する搬送体
およびこれに載置する基板が通過しうる所定の大きさの
透孔26が開口され、この透孔26には透孔を開閉自在
に蝶弁28.30.32.34が嵌合されている。36
はその回動軸で、外部から正逆モータ38によって駆動
される。
40は真空形成用の吸引パイプであり、真空チャンハー
12、第1、第2予備真空室14.16にそれぞれ設け
られている。
42は浮上刃形成用のコイルであり、真空チャンバー1
2、第1、第2予備真空室14.16の下方に配置され
ている。44ばコイル42に通電する電源装置であり、
第5図(b)に示すような正負のパルス電源をコイル4
2に通ずる。
46は強磁性体から成る板状の1般送体であり、薄膜を
気相成長させる基板48を載置するサセプタの役目を兼
用する。
上記コイル42に通電されると、コイル42周辺に磁界
が生じ、この磁界によって強磁性体から成る搬送体46
が磁化される。これによって搬送体46にはコイル42
と逆の磁極が生じ、相互に吸引力が及ぼされることとな
る。次いでコイル42に逆向きの電流が通電されると、
コイルの磁極は上記と逆になる。そして搬送体46には
上記と逆向きの磁界が作用するが、1ull送体46の
磁極は残留磁気によって直ちに逆向きとはならず、磁化
の強さが零になるまでは、コイル42の磁極と同じ磁極
が対向して生じているから、この間は搬送体46がコイ
ル42から反発力を受けて浮」二する。
さらに継続して逆向きの磁界が作用すると今度は搬送体
46の磁極が切り換わり、急激に逆方向に磁化される。
この間は上述と同じように搬送体46はコイル42に対
して相互に吸引力を及ぼされるが、はとんど瞬間的に磁
極の強さが飽和近くに達し、実際上はほとんど吸引力が
作用されない。すなわち磁化の強さが飽和近くに達した
後直ちにコイル42への通電の方向を切り変えると、今
度は前述と同様に残留磁気の影響によって浮上刃が作用
する方向に切り換わるからである。このように浮」二カ
が支配的に作用するためには、強磁性体から成る搬送体
46として、第4図に示すように、磁化の速さに比して
消磁の速さが遅い強磁性材料を用いる必要がある。
第5図は、強磁性体から成る搬送体46の経時的な磁化
の強さの変化と、コイル42への通電パルスとを模式的
に示したものである。
再び第1図および第2図において、50は搬送体46を
吸引して移動させるための永久磁石である。該永久磁石
50は、反応筒10の両側方に反応筒10の器壁に沿う
ようにループ状に配した非磁性体から成るガイドレール
52上を移動自在に設けられ、前記のごとく反応筒10
内で浮上している搬送体46を移動する。すなわち、本
実施例においては、lid送体46が、各予備真空室1
4.16および真空チャンバー12内に5個ずつ並ぶよ
うに設定されているが、永久磁石50は、この各室12
.14.16のそれぞれの搬送体46の両側方に対応位
置するように設けられ、永久磁石50がガイドレール5
2上を動くことによって、各搬送体46はその両側に位
置する永久磁石50に吸引されつつ移動する。各室12
.14.16に対応する永久磁石(本実施例においては
5個連結1組)は、各群ごとに移動が可能となっている
。
この永久磁石群自体の移動は、例えばガイドレール52
に刻設したランクに歯合して自走する自走式小型モータ
等(図示せず)によって行うことができる。
54は第1の予備真空室14内に搬送体46を搬入する
搬入装置であり、2本の支持体56上に搬送体46を載
せて第1の予備真空室14内に搬入する。
58は、搬出コンヘアであり、第2の予備真空室16か
ら搬送体46を搬出するものである。
ナオ、図示シないが真空チャンバー12には反応ガス導
入パイプ、排気パイプが接続され、またランプ加熱等の
必要な加熱源が設けられている。
本発明は以上のように構成されている。
続いてその動作について説明する。
まず処理すべき基板48をのせた1般送体46を、搬入
装置54の支持体56上に所定数列置する。
次いで1般入装置54を駆動して支持体56」二に列置
した(搬送体46が第1の予備真空室14内に位置する
ようにする。このとき、前述の永久磁石5゜の影響を受
けないように、永久磁石5oも搬送体46の動きに追随
して移動されるものである。なおこの第1の予備真空室
14内に1ull送体46がllli人されている間に
真空チャンバー12内では先行する基板4日上への気相
成長工程が行われ、また第2の予備真空室16内のすで
に気相成長が完了したものは搬出コンヘア58」二に移
送される。この点についてはさらに後述する。
上記のように第1の予備真空室14内に搬入された搬送
体46は、前記したようにコイル42の作用によって支
持体56」二から浮上するようになる。この状態で搬入
装置54が後退し、支持体56が第1の予備真空室14
外に出、次いで蝶弁28が閉しられ、真空装置によって
第1の予備真空室14内が減圧され待機状態となる。真
空チャンバー12内での先行するものの気相反応工程が
終了したならば、蝶弁30、蝶弁32が開放されて、対
応する永久磁石50が移動されることによって、第1の
予備真空室I4内の搬送体46がチャンバー12内に、
真空チャンバー12内の搬送体46が第2の予備真空室
16内に基板48をのせたまま移送される。次いで蝶弁
30、蝶弁32が閉じられ、真空チャンバー12内で新
たな気相成長工程が行われる。第1の予備真空室14に
は、蝶弁28が開放されて、前述のごとく次のサイクル
の搬送体46が搬入される。第2の予備真空室16内に
搬入された搬送体46は、蝶弁34が開放され、対応す
る永久磁石50が移動されることによって、搬出コンベ
ヤ58上に移入される。ここで搬送体46を両側方から
吸引支持する一対の永久磁石50が、第2図のごとくル
ープ状のガイドレール52に沿って各々移動して両側方
に離反するとともに、コイル42からの浮上刃が作用す
る範囲外となることによって、搬送体46が1111出
コンベヤ58上に移載され、搬送コンベヤ58によって
次々に移送される。次いで蝶弁34が閉じられ真空装置
によって第2の予備真空室16内が減圧されて待機状態
となるのである。
(発明の効果) 以上のように本発明によれば、基板を載置Ill送する
1ull送体を、真空チャンバー外部から作用する磁気
力によって浮上させて搬送する機構を採用したから、摺
動部のない無接触方式とすることができ、したがって摩
擦熱の発生がなく正確な温度制御が可能となり、所望の
均一な厚さの薄膜の気相成長が行える。また摺動部がな
いから、部材の摺動による異物の発生がなく、緒特性に
優れる薄膜の気相成長が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の一例を示す正面図、第2図はその
平面図である。第3図は蝶弁の構造を示す説明図、第4
図は搬送体として用いる強磁性体のヒステリシス曲線を
示す。 また、第5図はillll送磁化の経時変化とコイルに
印加するパルス電流との関係を示すグラフである。 10・・・反応筒、  12・・・真空チャンバー、 
14.16・・・予備真空室、 18.20・・・隔壁、 22.24・・・端面壁、 
26・・・透孔、 2B、30.32.34・・・蝶弁
、 36・・・回動軸、 38・・・正逆モータ、 4
0・・・吸引パイプ、42・・・コイル、 44・・・
電源装置、46・・・搬送体、 48・・・基板、50
・・・永久磁石、 52・・・ガイドレール、54・・
・搬入装置、 56・・・支持体、58・・・搬出コン
ベヤ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、真空チャンバーと、該真空チャンバー内への基板の
    搬出入機構とを具備する半導体製造装置において、 前記基板の搬出入機構は、 前記真空チャンバーの下方に配置されると ともに、正負の電流が交互に通じられて、電流の磁気作
    用を真空チャンバー内に及ぼすコイルと、 前記コイルからの磁気作用によって真空チ ャンバー内で浮上される、強磁性体から成る搬送体と、 前記真空チャンバーの両側方に、前記浮上 する搬送体を挟んで配置され、適宜機構によって真空チ
    ャンバーに沿って移動されることによって前記浮上して
    いる搬送体を吸引力によって真空チャンバー内を移動さ
    せる磁石とで構成されていることを特徴とする半導体製
    造装置。
JP60083331A 1985-04-17 1985-04-17 半導体製造装置 Pending JPS61240647A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5309049A (en) * 1991-08-05 1994-05-03 Mitsubishi Jukogyo Kabushiki Kaisha Alternating current magnetic levitation transport system
KR100541887B1 (ko) * 2003-07-22 2006-01-11 엔티엠 주식회사 분진 제거 기능을 가지는 반도체 및 디스플레이의 제조장치

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