JPS61292960A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPS61292960A JPS61292960A JP60135315A JP13531585A JPS61292960A JP S61292960 A JPS61292960 A JP S61292960A JP 60135315 A JP60135315 A JP 60135315A JP 13531585 A JP13531585 A JP 13531585A JP S61292960 A JPS61292960 A JP S61292960A
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- JP
- Japan
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- film
- metal electrode
- layer
- solid
- bonding pad
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/159—Charge-coupled device [CCD] image sensors comprising a photoconductive layer deposited on the CCD structure
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/151—Geometry or disposition of pixel elements, address lines or gate electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
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- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/151—Geometry or disposition of pixel elements, address lines or gate electrodes
- H10F39/1515—Optical shielding
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、二階建て構造の固体撮像素子を用いたカラー
用の固体m像装置に関する。
用の固体m像装置に関する。
シリコン単結晶基板に信号電荷蓄積部と信号電荷読み出
し部を形成したCCDIa像素子チップ基板に、光電変
換部として光導電膜を積層した二階建て構造の固体搬像
素子が知られている。この園像素子は、光入射に対する
開口率が大きくできることによる感度の向上、低ブルー
ミングなど数多くの長所を有する。この固体撮像素子に
更に色フィルタ層を形成すると、カラー用撮像素子が得
られる。
し部を形成したCCDIa像素子チップ基板に、光電変
換部として光導電膜を積層した二階建て構造の固体搬像
素子が知られている。この園像素子は、光入射に対する
開口率が大きくできることによる感度の向上、低ブルー
ミングなど数多くの長所を有する。この固体撮像素子に
更に色フィルタ層を形成すると、カラー用撮像素子が得
られる。
第3図及び第4図はこのよう二階線て固体ms素子の構
造例を示している。これらの図において、21は例えば
p型Si基板であり、その表面には信号電荷読み出しの
チャネルである第1のn+型層221と信号電荷蓄積部
の第2のn+型層222、この蓄積部と例えばアルミニ
ウム(Alで形成された金属電極27aとをオーミック
接続させるためのn4¥ゝ型124及びチャネルストッ
パとなるp”型層23がある。そしてCC[)チャネル
上にはゲート酸化膜を介して例えば2層多結晶シリコン
膜により形成されたCCD転送電極25a、250があ
る。この2層転送電$i25 a。
造例を示している。これらの図において、21は例えば
p型Si基板であり、その表面には信号電荷読み出しの
チャネルである第1のn+型層221と信号電荷蓄積部
の第2のn+型層222、この蓄積部と例えばアルミニ
ウム(Alで形成された金属電極27aとをオーミック
接続させるためのn4¥ゝ型124及びチャネルストッ
パとなるp”型層23がある。そしてCC[)チャネル
上にはゲート酸化膜を介して例えば2層多結晶シリコン
膜により形成されたCCD転送電極25a、250があ
る。この2層転送電$i25 a。
25b上には第1の絶縁膜26aが堆積され、これに開
けられたコンタクトホールを介して前記n+ +型層2
4に接続される金属電極27t)が各画素領域に設けら
れる。この上に例えばアモルファスS1による光導電1
I28とITOなどの透明導電膜上29が形成されてい
る。光導1!1128と透明導電膜29は第3図に示す
ようにチップ基板上の感光lli域のみを覆うように形
成され、チップ周辺に配置されるボンディングパッド3
0の領域は露出された状態となる。ボンディングパッド
30は例えば画素を定義する金属電極27bと同じ金属
層により形成されたものである。
けられたコンタクトホールを介して前記n+ +型層2
4に接続される金属電極27t)が各画素領域に設けら
れる。この上に例えばアモルファスS1による光導電1
I28とITOなどの透明導電膜上29が形成されてい
る。光導1!1128と透明導電膜29は第3図に示す
ようにチップ基板上の感光lli域のみを覆うように形
成され、チップ周辺に配置されるボンディングパッド3
0の領域は露出された状態となる。ボンディングパッド
30は例えば画素を定義する金属電極27bと同じ金属
層により形成されたものである。
ここで信号電荷蓄積部のn+型層222、(1+ +型
層24、金属電極27aおよび27bは、各画素毎に独
立に二次元的に配列形成される。即ち、金属電極27b
が撮像画素領域を定義するものとなり、光導1!812
8によるmtaの結果金属電極27bに得られる電位変
化が金属電極27aを介して信号電荷蓄積部のn+型層
222に伝達され、ここに信号電荷として蓄積される。
層24、金属電極27aおよび27bは、各画素毎に独
立に二次元的に配列形成される。即ち、金属電極27b
が撮像画素領域を定義するものとなり、光導1!812
8によるmtaの結果金属電極27bに得られる電位変
化が金属電極27aを介して信号電荷蓄積部のn+型層
222に伝達され、ここに信号電荷として蓄積される。
図ではチャネルストッパであるp4″4層型3が見える
断面を示しているが、各画素毎にn+型層222の信号
電荷をCODチャネルであるn+型層22sに転送する
転送部を有し、インクライン転送型CCD1lf11素
子を構成している。
断面を示しているが、各画素毎にn+型層222の信号
電荷をCODチャネルであるn+型層22sに転送する
転送部を有し、インクライン転送型CCD1lf11素
子を構成している。
この様な二階線て固体I#l像素子でカラー用戯像素子
を構成するには、前述のようにこの上に更に色フィルタ
層が積層される。色フィルタ層は例えば、ゼラチンや牛
乳カゼインなどの有機物に染料を拡散させたもので、通
常スピナーにより回転塗布される。
を構成するには、前述のようにこの上に更に色フィルタ
層が積層される。色フィルタ層は例えば、ゼラチンや牛
乳カゼインなどの有機物に染料を拡散させたもので、通
常スピナーにより回転塗布される。
ところがこの様な色フィルタ層を形成した場合、第3図
に示すように素子の感光領域とボンディングパッド領域
との間に段差があるために、色フイルタ層表面に塗布ス
ジが現われる。この様子を第5図に示す。第5図は各撮
像素子チップを切り出す前のウェーハ状態を示し、31
.32は、このウェーハから各1111像素子チツプを
切り出すためのスクライブラインを示している。各チッ
プ領域内で感光領域33は前述のように凸型に形成され
ている。従ってこの様なウェーハに色フィルタ層を回転
塗布すると、各感光領[33の端部段差部から図示のよ
うな塗布スジ34が入ってしまうのである。これらの塗
布スジ34はカラー再生画像上にも色スジとして現われ
、再生画質を大幅に劣化させる原因となる。
に示すように素子の感光領域とボンディングパッド領域
との間に段差があるために、色フイルタ層表面に塗布ス
ジが現われる。この様子を第5図に示す。第5図は各撮
像素子チップを切り出す前のウェーハ状態を示し、31
.32は、このウェーハから各1111像素子チツプを
切り出すためのスクライブラインを示している。各チッ
プ領域内で感光領域33は前述のように凸型に形成され
ている。従ってこの様なウェーハに色フィルタ層を回転
塗布すると、各感光領[33の端部段差部から図示のよ
うな塗布スジ34が入ってしまうのである。これらの塗
布スジ34はカラー再生画像上にも色スジとして現われ
、再生画質を大幅に劣化させる原因となる。
本発明は上記した点に鑑みなされたもので、色スジの発
生を防止して優れた再生画像を得ることのできる、二階
線て撮像凧子を用いたカラー用固体tam装置を提供す
ることを目的とする。
生を防止して優れた再生画像を得ることのできる、二階
線て撮像凧子を用いたカラー用固体tam装置を提供す
ることを目的とする。
(発明の概要〕
本発明は、二階線て固体llll素像において、光導電
膜とこの上に形成される色フィルタ層を覆う保護層とが
感光領域だけでなくボンディングパッド領域を含むチッ
プ基板全面を覆うよう形成され、ボンディングパッド上
には前記保護層及び光導電膜を貫通するように開口が設
けられた構造とする。
膜とこの上に形成される色フィルタ層を覆う保護層とが
感光領域だけでなくボンディングパッド領域を含むチッ
プ基板全面を覆うよう形成され、ボンディングパッド上
には前記保護層及び光導電膜を貫通するように開口が設
けられた構造とする。
更に好ましくは、光導ltl!とこの上に形成される透
明導電膜との間に信号電荷と同じ極性の電荷が外部回路
から光導電膜に注入されるのを防止するバリア層が設け
られ、透明導電膜上には、画素を定義する第1の金属電
極の間隙部を覆う光シールド用の第2の金属電極及び、
感光領域の外側に配置されて光導電膜内の電荷がボンデ
ィングパッド領域に流れるのを防止するように第2の金
属電橋との間に電圧が印加される第3の金属電橋が設け
られる。
明導電膜との間に信号電荷と同じ極性の電荷が外部回路
から光導電膜に注入されるのを防止するバリア層が設け
られ、透明導電膜上には、画素を定義する第1の金属電
極の間隙部を覆う光シールド用の第2の金属電極及び、
感光領域の外側に配置されて光導電膜内の電荷がボンデ
ィングパッド領域に流れるのを防止するように第2の金
属電橋との間に電圧が印加される第3の金属電橋が設け
られる。
本発明によれば、二階建て固体llil素像を用いて、
段差がないように光導電膜が基板全面に形成された状態
で色フィルタ層が形成されるため、色フイルタ層表面に
塗布スジか発生せず、従って色スジのない良質のカラー
再生画像が得られる。
段差がないように光導電膜が基板全面に形成された状態
で色フィルタ層が形成されるため、色フイルタ層表面に
塗布スジか発生せず、従って色スジのない良質のカラー
再生画像が得られる。
以下本発明の詳細な説明する。
第1図は一実施例のカラー固体lfi像装置を示す図で
ある。図において、1は第3図及び第4図に示したイン
タライン転送型の二階建て固体lfi像素子チップ基板
である。図では拡散層や絶縁膜等の細部は省略しである
。チップ基板1表面には画素を定義する第1の金属電極
2(第3図及び第4図の金属電極27bに対応する)と
、これと同じ金属膜により形成されたボンディングパッ
ド3が設けられている。この様なチップ基板1上に光導
電膜や色フィルタ層が形成される工程を第2図(a)〜
(C)を参照しながら説明すると、まず基板全面にアモ
ルファスS1からなる光導電膜4が形成され、続いてそ
の上にアモルファスSiCからなるバリア層5が形成さ
れる。このバリア層5は外部から信号電荷(いまの場合
電子)と同じ極性の電荷が光導電114に注入されるの
を防ぐためのものである。このバリア層5に上にはIT
Oなどの透明導電116が形成される。更に透明導電i
IG上に、画素を定義する第1の金属電極2の間隙を覆
う光シールド用の第2の金属電極7、及び感光領域の周
辺のボンディングパッド領域との間を覆う電荷リーク防
止用の第3の金属電橋8が形成される。この後、透明導
電1116のうちボンディングパッド3上及びその周辺
部分が除去される(第2図(a))。続いて各画素領域
に対応して第1の色フィルタ層9、色フイルタ層間を分
離する層間絶縁膜10、第2の色フィルタ層11が順次
形成され、次いで基板表面全面に保護層12が形成され
る(第2図(b))。そしてこの後、保護層12から光
導電層4を貫通するように各ボンディングパッド3上に
開口13が形成される (第2図(C))。
ある。図において、1は第3図及び第4図に示したイン
タライン転送型の二階建て固体lfi像素子チップ基板
である。図では拡散層や絶縁膜等の細部は省略しである
。チップ基板1表面には画素を定義する第1の金属電極
2(第3図及び第4図の金属電極27bに対応する)と
、これと同じ金属膜により形成されたボンディングパッ
ド3が設けられている。この様なチップ基板1上に光導
電膜や色フィルタ層が形成される工程を第2図(a)〜
(C)を参照しながら説明すると、まず基板全面にアモ
ルファスS1からなる光導電膜4が形成され、続いてそ
の上にアモルファスSiCからなるバリア層5が形成さ
れる。このバリア層5は外部から信号電荷(いまの場合
電子)と同じ極性の電荷が光導電114に注入されるの
を防ぐためのものである。このバリア層5に上にはIT
Oなどの透明導電116が形成される。更に透明導電i
IG上に、画素を定義する第1の金属電極2の間隙を覆
う光シールド用の第2の金属電極7、及び感光領域の周
辺のボンディングパッド領域との間を覆う電荷リーク防
止用の第3の金属電橋8が形成される。この後、透明導
電1116のうちボンディングパッド3上及びその周辺
部分が除去される(第2図(a))。続いて各画素領域
に対応して第1の色フィルタ層9、色フイルタ層間を分
離する層間絶縁膜10、第2の色フィルタ層11が順次
形成され、次いで基板表面全面に保護層12が形成され
る(第2図(b))。そしてこの後、保護層12から光
導電層4を貫通するように各ボンディングパッド3上に
開口13が形成される (第2図(C))。
なお、第2の金属電極7と第3の金属電極8の間には、
信号電荷と同じ極性の電荷が感光領域からボンディング
パッド領域に流れるのを防止するような極性の電圧が印
加される。
信号電荷と同じ極性の電荷が感光領域からボンディング
パッド領域に流れるのを防止するような極性の電圧が印
加される。
このように構成された本実施例のカラー固体撮像装置で
は、色フィルタ層9,11に塗布スジは発生しない。何
故なら色フィルタ層9,11は、基板全面に段差のない
状態で形成された光導電膜の上に塗布されるからである
。従ってこのm像装置を用いれば、色スジのない良好な
再生画像を1qることができる。また本実施例では第2
の金属電極7と第3の金属電極8を設けてこれらの間に
所定の電圧を印加することにより、感光領域とボンディ
ングパッド(a域との間の電気的絶縁を確実にすること
ができ、かつ感光領域の外側の光導電膜4で発生した電
荷の感光領域へのリークを防止することができる。また
ボンディングパッド3よ及びその周辺の透明導電膜を除
去しているため、第3の金属電橋8とボンディングパッ
ド3との間の電気的分離が確実に行われる。
は、色フィルタ層9,11に塗布スジは発生しない。何
故なら色フィルタ層9,11は、基板全面に段差のない
状態で形成された光導電膜の上に塗布されるからである
。従ってこのm像装置を用いれば、色スジのない良好な
再生画像を1qることができる。また本実施例では第2
の金属電極7と第3の金属電極8を設けてこれらの間に
所定の電圧を印加することにより、感光領域とボンディ
ングパッド(a域との間の電気的絶縁を確実にすること
ができ、かつ感光領域の外側の光導電膜4で発生した電
荷の感光領域へのリークを防止することができる。また
ボンディングパッド3よ及びその周辺の透明導電膜を除
去しているため、第3の金属電橋8とボンディングパッ
ド3との間の電気的分離が確実に行われる。
本発明は上記した実施例に限られるものではない。例え
ば光導電膜やバリア層として他の高抵抗半導体材料を用
いる等、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施
することができる。
ば光導電膜やバリア層として他の高抵抗半導体材料を用
いる等、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施
することができる。
第1図は本発明の一実施例の固体撮像装置の断面構造を
示す図、第2図(a)〜(C)はその製造工程を示す断
面図、第3図は従来の二階建て固体mts素子の構造を
示す斜視図、第4図はその要部断面図、第5図は従来の
カラー固体撮像装置で色フィルタ層に塗布スジが現われ
る様子を示す図である。 1・・・ccom像素子チップ基板、2・・・第1の金
属電極、3・・・ボンディングパッド、4・・・光導電
膜、5、・・バリア層、6・・・透明導電膜、7・・・
第2の金属電極、8・・・第3の金属電極、9・・・第
1の色フィルタ層、10・・・層間絶縁膜、11・・・
第2の色フィルタ層、12・・・保護層、13・・・開
口。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦&上 (a) (b) 第2図 第3図 第4図
示す図、第2図(a)〜(C)はその製造工程を示す断
面図、第3図は従来の二階建て固体mts素子の構造を
示す斜視図、第4図はその要部断面図、第5図は従来の
カラー固体撮像装置で色フィルタ層に塗布スジが現われ
る様子を示す図である。 1・・・ccom像素子チップ基板、2・・・第1の金
属電極、3・・・ボンディングパッド、4・・・光導電
膜、5、・・バリア層、6・・・透明導電膜、7・・・
第2の金属電極、8・・・第3の金属電極、9・・・第
1の色フィルタ層、10・・・層間絶縁膜、11・・・
第2の色フィルタ層、12・・・保護層、13・・・開
口。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦&上 (a) (b) 第2図 第3図 第4図
Claims (3)
- (1)二次元的な画素配列を構成する信号電荷蓄積部、
この信号電荷蓄積部の信号電荷を読み出す信号電荷読み
出し部、及び前記信号電荷蓄積部と電気的に接続された
画素を定義する第1の金属電極が形成された固体撮像素
子チップ基板と、この基板上に積層された光電変換部と
しての光導電膜と、この光導電膜上に形成された透明導
電膜と、この透明導電膜上に感光領域の各画素位置に対
応して形成された色フィルタ層と、この色フィルタ層を
覆う保護層とを有する固体撮像装置において、前記光導
電膜及び保護層はチップ基板の感光領域及びボンディン
グパッド領域を含む全面に形成され、前記保護層から前
記光導電膜を貫通して前記ボンディングパッド上に開口
が設けられていることを特徴とする固体撮像装置。 - (2)前記光導電膜と透明導電膜の間に、信号電荷と同
じ極性の電荷が外部回路から前記光導電膜に注入される
のを防止するバリア層を有し、かつ前記透明導電膜上に
、画素を定義する前記第1の金属電極の間隙部を覆う光
シールド用の第2の金属電極及び、感光領域の外側に配
置されて前記光導電膜内の電荷がボンディングパッド領
域に流れるのを防止するように第2の金属電極との間に
電圧が印加される第3の金属電極を有する特許請求の範
囲第1項記載の固体撮像装置。 - (3)前記透明導電膜は感光領域とボンディングパッド
領域の間で一部除去されている特許請求の範囲第1項記
載の固体撮像装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60135315A JPS61292960A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 固体撮像装置 |
| US06/864,156 US4783691A (en) | 1985-06-21 | 1986-05-16 | Color solid-state image sensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60135315A JPS61292960A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61292960A true JPS61292960A (ja) | 1986-12-23 |
Family
ID=15148865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60135315A Pending JPS61292960A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 固体撮像装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4783691A (ja) |
| JP (1) | JPS61292960A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5396090A (en) * | 1993-02-17 | 1995-03-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Solid state imaging device having partition wall for partitioning bottom portions of micro lenses |
| JP2006191007A (ja) * | 2004-12-30 | 2006-07-20 | Dongbuanam Semiconductor Inc | Cmosイメージセンサおよびその製造方法 |
| KR100853096B1 (ko) | 2006-12-20 | 2008-08-19 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 이미지 센서 및 그의 제조방법 |
| JP2010177632A (ja) * | 2009-02-02 | 2010-08-12 | Fujifilm Corp | 光電変換装置及び固体撮像装置 |
| JP2020010062A (ja) * | 2019-10-02 | 2020-01-16 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、及び撮像システム |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07120770B2 (ja) * | 1987-07-03 | 1995-12-20 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
| KR920005444B1 (ko) * | 1989-12-02 | 1992-07-04 | 삼성전자 주식회사 | 칼라필터 및 그 제조방법 |
| JP3077034B2 (ja) * | 1990-07-25 | 2000-08-14 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 半導体イメージセンサ装置 |
| US5143855A (en) * | 1991-06-17 | 1992-09-01 | Eastman Kodak Company | Method for making contact openings in color image sensor passivation layer |
| JPH0521780A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-01-29 | Sharp Corp | 固体撮像素子 |
| JPH05335549A (ja) * | 1992-06-01 | 1993-12-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
| KR19980056449A (ko) * | 1996-12-28 | 1998-09-25 | 문정환 | 칼라 고체 촬상 소자 및 그 제조방법 |
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Citations (2)
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|---|---|
| US4783691A (en) | 1988-11-08 |
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