JPS6189651A - 半導体装置 - Google Patents
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- JPS6189651A JPS6189651A JP59210974A JP21097484A JPS6189651A JP S6189651 A JPS6189651 A JP S6189651A JP 59210974 A JP59210974 A JP 59210974A JP 21097484 A JP21097484 A JP 21097484A JP S6189651 A JPS6189651 A JP S6189651A
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- strip line
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- Led Device Packages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超高周波回路あるいは高速ディジタル回路に
用いられる半導体装置に係り、特に半導体装iに設けら
れた外部との接続用のストリップト ラインを他の同−型の牛得体装置のスイリップ・ライン
に突き合わせて相互接ム1が9餌なパッケージ構造の改
良に関し、同−型のパッケージとの接続等において、電
気的接続が位置ずれすることなく良好になされ、優れた
特性の得られるパッケージ構造を得ようとするものであ
る。
用いられる半導体装置に係り、特に半導体装iに設けら
れた外部との接続用のストリップト ラインを他の同−型の牛得体装置のスイリップ・ライン
に突き合わせて相互接ム1が9餌なパッケージ構造の改
良に関し、同−型のパッケージとの接続等において、電
気的接続が位置ずれすることなく良好になされ、優れた
特性の得られるパッケージ構造を得ようとするものであ
る。
本出願人は、既に2乃至30GHzのような超高周波で
使用することができるパッケージとして第5図の斜視図
のパッケージを提案している(q!j願昭 #57−73080号)。
使用することができるパッケージとして第5図の斜視図
のパッケージを提案している(q!j願昭 #57−73080号)。
第5図で、1は電気端子部、2は例えば銅からなる金属
ベース、3は金属ベース2の金属匡体部2A9111壁
に設けられた貫通口、4はリード片である0 電気端子部1は第6図の斜視図に示すように、例えばア
ルミナ等のセラミックからなる絶縁物基体5上に、例え
ばタングステンからなるストリップ・ライン6が印刷配
碧され、七のス) IJツブ・ 。
ベース、3は金属ベース2の金属匡体部2A9111壁
に設けられた貫通口、4はリード片である0 電気端子部1は第6図の斜視図に示すように、例えばア
ルミナ等のセラミックからなる絶縁物基体5上に、例え
ばタングステンからなるストリップ・ライン6が印刷配
碧され、七のス) IJツブ・ 。
ライン6の中程を〜うように例えばアルミナ等のセラミ
ックからなる絶縁物駒体7が焼結されているO また、ストリップ・ライン6は金(Au )でメッキさ
れ、電気端子部1の側面、賎面、駒よ7の丘面にはメタ
ライズ膜が形成されている。この4気端子部1が第5図
及び同図のy−y’根における断面図である@7図の如
く貫通口3に嵌挿され、ろう付けされていて、必要に応
じて外部回路との接続用のリード片4が電気端子部1の
ストl)ツブ・ライン上に融着されている。このような
構造は次の如き利点を有する。
ックからなる絶縁物駒体7が焼結されているO また、ストリップ・ライン6は金(Au )でメッキさ
れ、電気端子部1の側面、賎面、駒よ7の丘面にはメタ
ライズ膜が形成されている。この4気端子部1が第5図
及び同図のy−y’根における断面図である@7図の如
く貫通口3に嵌挿され、ろう付けされていて、必要に応
じて外部回路との接続用のリード片4が電気端子部1の
ストl)ツブ・ライン上に融着されている。このような
構造は次の如き利点を有する。
第5図のように国体部2Aが金属の場合でなくセラミッ
ク等の絶縁物からなる場合には、蓋体全接着するために
国体部上面にメタライズ膜を形成するが、形成された枠
状のメタライズ膜は高周波帯域において共振する。従っ
て、第5図のノ・ツケージのように金属からなる国体部
2Aの場合には、その上面2Bに直接ちるいはメタライ
ズ膜を介して蓋体を固着しても、共振が発生することが
なく良好な周波数特性が得られる。
ク等の絶縁物からなる場合には、蓋体全接着するために
国体部上面にメタライズ膜を形成するが、形成された枠
状のメタライズ膜は高周波帯域において共振する。従っ
て、第5図のノ・ツケージのように金属からなる国体部
2Aの場合には、その上面2Bに直接ちるいはメタライ
ズ膜を介して蓋体を固着しても、共振が発生することが
なく良好な周波数特性が得られる。
また、第5図のパッケージは高周波信号の外部との入出
力はストIJツブ・ラインで行なわれ、伝播モードが予
測される外部の一?イクロ・ストリップ・ライン回路と
:d1−であるため伝達萩洛が不連続にならず、高周波
特性の劣化音声けることがでキ、同軸コネクタ金円いな
いので、小ハ1]化「ることができる。
力はストIJツブ・ラインで行なわれ、伝播モードが予
測される外部の一?イクロ・ストリップ・ライン回路と
:d1−であるため伝達萩洛が不連続にならず、高周波
特性の劣化音声けることがでキ、同軸コネクタ金円いな
いので、小ハ1]化「ることができる。
さらに、第5図のパッケージは′dL気ノオ子ザ、1の
周りの金属国体部分がアース1位となるので、絶縁物基
体5と絶縁物駒体7に挾1れたストリップ・ライン6の
中程部分は擬似同611線路と考えられ、夛り合うスト
リップ・ラインはアースμ位の金属国体部分で隔離され
ているのでストリップ・ライン間に高周波結合が生じな
い。
周りの金属国体部分がアース1位となるので、絶縁物基
体5と絶縁物駒体7に挾1れたストリップ・ライン6の
中程部分は擬似同611線路と考えられ、夛り合うスト
リップ・ラインはアースμ位の金属国体部分で隔離され
ているのでストリップ・ライン間に高周波結合が生じな
い。
前記第6図のような成気卒子部1の各部の寸法は、例え
ば基体5の底面から駒体7の上面までの高さが1.2■
、駒体7のストリップ・ラインと同一方向の是さが05
鱗、麟1体7を載Yトシである基体5に2けるストリッ
プ・ラインと同一方向り長さが1鴎、ストリップ・ライ
ン6の幅が03−2基体5の幅が1.2−である。
ば基体5の底面から駒体7の上面までの高さが1.2■
、駒体7のストリップ・ラインと同一方向の是さが05
鱗、麟1体7を載Yトシである基体5に2けるストリッ
プ・ラインと同一方向り長さが1鴎、ストリップ・ライ
ン6の幅が03−2基体5の幅が1.2−である。
第8図及び第9図は、第5図のパッケージをり;ズMf
光接続した場合の平面図及び第8図のz −z’線にお
ける断面図である。
光接続した場合の平面図及び第8図のz −z’線にお
ける断面図である。
図において、金属国体部2A上には蓋体9が固着されて
おり、@ジ合うパッケージの電気端子部1のストリップ
・ライン6.6′が互いに突き合せられ、金(Au)の
リボン10が相互にボンディングされて接続されている
。
おり、@ジ合うパッケージの電気端子部1のストリップ
・ライン6.6′が互いに突き合せられ、金(Au)の
リボン10が相互にボンディングされて接続されている
。
縦続接続された端のパッケージには、リード片4.4′
が融着されている。
が融着されている。
図において、金属国体2Aには、例えば半導体チップを
有する超小型のバランス型増幅器(νI示せず)が搭載
され、リード片4及びストリップ・ライ/6は高周波信
号用に、リード片4′及びストリップ・ライン6′は1
■流′α圧用であり、国体2の窩 対向する側壁には、対象に4気端子部1が設けられてお
り、一方が入力用、他方が出力用である。
有する超小型のバランス型増幅器(νI示せず)が搭載
され、リード片4及びストリップ・ライ/6は高周波信
号用に、リード片4′及びストリップ・ライン6′は1
■流′α圧用であり、国体2の窩 対向する側壁には、対象に4気端子部1が設けられてお
り、一方が入力用、他方が出力用である。
第7図のaf面図に示す如く、バランス型増幅器30は
その表面に形成された高周波信号用のストリップ・ライ
ン6′により金のリボン10′で電気仁:パ子部1のス
) l)ツブ・ラインにffl Iqされている。
その表面に形成された高周波信号用のストリップ・ライ
ン6′により金のリボン10′で電気仁:パ子部1のス
) l)ツブ・ラインにffl Iqされている。
第8図のようにパッケージの縦←接モパ一タニ?いては
、ス) IJツブ・ライン6の設けられた位5qの誤差
により、符号20で示す部分の妬くストリップ・ライン
6が正確に突き合わず、リボン10を斜めにしなければ
接続で@ない場合がある。
、ス) IJツブ・ライン6の設けられた位5qの誤差
により、符号20で示す部分の妬くストリップ・ライン
6が正確に突き合わず、リボン10を斜めにしなければ
接続で@ない場合がある。
第10図は第8図のイ゛1−→j20で示す部分を拡大
して、よF)祥細に表わした図である。
して、よF)祥細に表わした図である。
上記スト−)ツブ・ライン60設けられた位14の誤差
は、電気端子部1の絶縁物基体5上にストリップ・ライ
ン6を形りにすゐとき、及びストリップ・ライン6の形
成されたCt、気嬬子郁1?金属匡体R52Aに嵌挿し
、固着すると1の位置ずれによるもる のであli′す。
は、電気端子部1の絶縁物基体5上にストリップ・ライ
ン6を形りにすゐとき、及びストリップ・ライン6の形
成されたCt、気嬬子郁1?金属匡体R52Aに嵌挿し
、固着すると1の位置ずれによるもる のであli′す。
第10図の品分イ面図に2いて、ストリップ・ライン6
の幅が例えば(1,3−mであり、相λ′4すめストリ
ップ・ライン6が1.5 f1以上もずれているとする
と、リボン10全かなり斜めにしてボンティングしなげ
nはならず、接続間の距離が艮くなると共に良好な接続
がなζhす、高周波特性全劣化させる原因となる。
の幅が例えば(1,3−mであり、相λ′4すめストリ
ップ・ライン6が1.5 f1以上もずれているとする
と、リボン10全かなり斜めにしてボンティングしなげ
nはならず、接続間の距離が艮くなると共に良好な接続
がなζhす、高周波特性全劣化させる原因となる。
−えた、第11図の、迅分平面[4のように、心気端子
部1を雀す国体部へ;秩J+!′+1.でろうけけする
ときの位置ずれにより、眠気端子部1が深<I]IE挿
されたり(下μll)、あるいは浅く嵌挿されたり(上
側)すると、ストリップ・ライン6.6′のリボン10
による接続間の距離が長くなり、やはり高周波特性を劣
化させる原因となる0 すなわち、上記の第5図の如きパッケージにおいては、
絶縁物基体5上へストリップ・ライン6iハとなってい
た。
部1を雀す国体部へ;秩J+!′+1.でろうけけする
ときの位置ずれにより、眠気端子部1が深<I]IE挿
されたり(下μll)、あるいは浅く嵌挿されたり(上
側)すると、ストリップ・ライン6.6′のリボン10
による接続間の距離が長くなり、やはり高周波特性を劣
化させる原因となる0 すなわち、上記の第5図の如きパッケージにおいては、
絶縁物基体5上へストリップ・ライン6iハとなってい
た。
本発明によれば、上記問題点は、半導体チップを収容す
る金属匡体部とそのう外を結ぶ貫通口を月する金4ベー
スと、前記貫通口に訣挿固着された′4気端子部とを備
え、前記′こ気躊子部が表面に7り数のストリップ・ラ
インが平行に形成された絶よ遺物基体と、該ストリップ
・ラインのそれぞれに対応し、該ストリップ・ライン中
程を覆うように設けられて該絶縁物基体と一体化された
複数の絶縁物駒体とを有してなること全特徴とする半導
体装置によって解決できる。
る金属匡体部とそのう外を結ぶ貫通口を月する金4ベー
スと、前記貫通口に訣挿固着された′4気端子部とを備
え、前記′こ気躊子部が表面に7り数のストリップ・ラ
インが平行に形成された絶よ遺物基体と、該ストリップ
・ラインのそれぞれに対応し、該ストリップ・ライン中
程を覆うように設けられて該絶縁物基体と一体化された
複数の絶縁物駒体とを有してなること全特徴とする半導
体装置によって解決できる。
本発明によれば、1つの絶縁物基体上にゲ数のストリッ
プ・ラインが平行に形成された電気端子部を備えてなる
ので、複数のス) IJツブ・ライン間の間隔が正確に
なるようにストリップ・ラインを形成すれば、複数のパ
ッケージの縦続接続のときのストリップ・ライ/の突き
合せにおいて、ずれが生じない。
プ・ラインが平行に形成された電気端子部を備えてなる
ので、複数のス) IJツブ・ライン間の間隔が正確に
なるようにストリップ・ラインを形成すれば、複数のパ
ッケージの縦続接続のときのストリップ・ライ/の突き
合せにおいて、ずれが生じない。
また、縦紐接級のときにストリップ・ライ/間の距離は
各接続箇所で同じになり、リボンによる接続間の距離が
異なることはない。
各接続箇所で同じになり、リボンによる接続間の距離が
異なることはない。
したがって、本発明によれば複数のパッケージの縦続接
続において、特性論比の原因となる位置ずれはなく、優
れた高周波特性が得られる。
続において、特性論比の原因となる位置ずれはなく、優
れた高周波特性が得られる。
第1図は本発明−実7/!i 1y11の半導体装良管
示す斜7只シ1である。図にb−いて、12は心気端子
部、13+i′・4気端子部】2に形成されたメタライ
ズ膜、20は金5ベース、20Aは金属ベースに一体形
成された金、軍国体部、21は金属匡体部20Aの側壁
に設けら縫た貫通口、22は蓋体、23はリード片であ
る。
示す斜7只シ1である。図にb−いて、12は心気端子
部、13+i′・4気端子部】2に形成されたメタライ
ズ膜、20は金5ベース、20Aは金属ベースに一体形
成された金、軍国体部、21は金属匡体部20Aの側壁
に設けら縫た貫通口、22は蓋体、23はリード片であ
る。
油気端子g312は、第2図に示すように絶縁物基イ。
!−14上に複数のストリップ・ライン6が形成され、
それぞれのス) +1ツブ・ラインの中程を覆って尼偵
物駒本15が需給されている0また、電気−4子部12
の底面、絶縁物駒体15の上11及び′311而Jでメ
タライズ膜°が形成され、さらに約縁物陶体15間の基
体14表面にリング状となるメタライズたが形成されて
いる。
それぞれのス) +1ツブ・ラインの中程を覆って尼偵
物駒本15が需給されている0また、電気−4子部12
の底面、絶縁物駒体15の上11及び′311而Jでメ
タライズ膜°が形成され、さらに約縁物陶体15間の基
体14表面にリング状となるメタライズたが形成されて
いる。
第3図及び第4図は電気端子部を製造する工程の−y1
」を示す斜視図である0 ′、マす、fS3図の如く、9すえばアルミナの扮宋に
合成(1(脂をバインダとし、岱剤を用いて混練したも
Oを形成してセラミ、りのグリーン成形体からなる。1
1巳j幻勿基体14を形成し、その上に〕′)、かりし
成法によりタングステン(W)あるいはモリブデン・マ
ンガン(MO−Mn)からなる3つのストリップ・ライ
ン6t−複数本形成する0 次に、第4図に示す如く絶縁物基体14と同様に形成し
たグリーン形成体からなる絶縁物駒体15を各ストリッ
プ・ライン6の中程を覆うように3つ基体14上に焼結
する0 次に、第2図の如くメタ2イズ膜13t−形成して、電
気端子部1241児収する0 この電気端子部12は第1図に示すように、金属匡体部
20Aの側壁に設けられた貫通口21に嵌挿される。
」を示す斜視図である0 ′、マす、fS3図の如く、9すえばアルミナの扮宋に
合成(1(脂をバインダとし、岱剤を用いて混練したも
Oを形成してセラミ、りのグリーン成形体からなる。1
1巳j幻勿基体14を形成し、その上に〕′)、かりし
成法によりタングステン(W)あるいはモリブデン・マ
ンガン(MO−Mn)からなる3つのストリップ・ライ
ン6t−複数本形成する0 次に、第4図に示す如く絶縁物基体14と同様に形成し
たグリーン形成体からなる絶縁物駒体15を各ストリッ
プ・ライン6の中程を覆うように3つ基体14上に焼結
する0 次に、第2図の如くメタ2イズ膜13t−形成して、電
気端子部1241児収する0 この電気端子部12は第1図に示すように、金属匡体部
20Aの側壁に設けられた貫通口21に嵌挿される。
本実施グ」によれば、電気端子部120貫通口21への
嵌挿において、a数のス) IJツブ・ライン間に2け
る位置ずれが生じることはなく、また、複数のストリッ
プ・ライ/を共通の絶縁物基体に同時に形成するので、
ストリップ・ライン間の間隔の 。
嵌挿において、a数のス) IJツブ・ライン間に2け
る位置ずれが生じることはなく、また、複数のストリッ
プ・ライ/を共通の絶縁物基体に同時に形成するので、
ストリップ・ライン間の間隔の 。
精度が良い〇
すなわち、複数のパッケージの縦続接続では良好に接続
がなされ、優れた高周波特性が得られる0−また、第1
図のパッケージには、1・l:えばバランス型増臨器(
・刻示せず)−斗が配設さ4’Lる。この精・’j;S
、シgには、・氏諒jIト、T;ボン・ゲイング・パッ
ド、しびにt周波信号用のストl)ツブ・ラインが設け
られて;’J” O、’464用のボンティノブ・バッ
ドは電気端子部12の直流厄圧用のストリップ・ライン
とポンディ7グ・ワイヤにとジ接続てれ、増”:j4器
のストリップ・ラインは&気−り子部】2の高周波信号
用のストリップ・ラインと突き合わされて金のリボンに
より接)洸さする。
がなされ、優れた高周波特性が得られる0−また、第1
図のパッケージには、1・l:えばバランス型増臨器(
・刻示せず)−斗が配設さ4’Lる。この精・’j;S
、シgには、・氏諒jIト、T;ボン・ゲイング・パッ
ド、しびにt周波信号用のストl)ツブ・ラインが設け
られて;’J” O、’464用のボンティノブ・バッ
ドは電気端子部12の直流厄圧用のストリップ・ライン
とポンディ7グ・ワイヤにとジ接続てれ、増”:j4器
のストリップ・ラインは&気−り子部】2の高周波信号
用のストリップ・ラインと突き合わされて金のリボンに
より接)洸さする。
したがって、本N +$ y:+によればパッケージ内
(配設する回路のストIJツブ・ラインと電気端子部の
ストリップ・ラインの接続にお・いて、電気端子部のス
トリップ・ラインの位陽樗・〈−51良く、良好な接続
がなでれ、優れたA)か波特性が(5られる。
(配設する回路のストIJツブ・ラインと電気端子部の
ストリップ・ラインの接続にお・いて、電気端子部のス
トリップ・ラインの位陽樗・〈−51良く、良好な接続
がなでれ、優れたA)か波特性が(5られる。
本実ハlしくjで、3つの絶縁物11体15の間には、
金属匡体部20Aが介在されるので、i!−1流IjL
圧用のス) l)ツブ・ラインと高周波信号用のストリ
ップ・ラインの闇に高周波結合を生じることはない。
金属匡体部20Aが介在されるので、i!−1流IjL
圧用のス) l)ツブ・ラインと高周波信号用のストリ
ップ・ラインの闇に高周波結合を生じることはない。
roi %本実施例で14、共lilの絶(埃物基体1
4上に複数のストリップ・ラインが形成された電2端子
部を有するパッケージ:4″ついて述べたが、回りに胚
1体に共辿にして、ストリップ・ラインのそれ一ゼ1す れに独立な基体を設〆る電気端子部を有するパッケージ
も考えられる。この場合((、ストリップ・ライン間の
間隔が精度よくなるように複数の基体を3コ体に接Uす
るのは部しいが、やi′j、り嵌挿における位iηすれ
がなく、高)I・1波特性の劣化、つ;ない。
4上に複数のストリップ・ラインが形成された電2端子
部を有するパッケージ:4″ついて述べたが、回りに胚
1体に共辿にして、ストリップ・ラインのそれ一ゼ1す れに独立な基体を設〆る電気端子部を有するパッケージ
も考えられる。この場合((、ストリップ・ライン間の
間隔が精度よくなるように複数の基体を3コ体に接Uす
るのは部しいが、やi′j、り嵌挿における位iηすれ
がなく、高)I・1波特性の劣化、つ;ない。
本発明によれば、金柘国体邪1’:il+ 壁に設けら
れたXJ迫ロヘ散気端子部金浪挿するときの佇数のスト
リップ・ライン間における位置すれかなく、ストリップ
・ライン間の間隔を精度良く形成できる、したがって、
電気婚子部の複数のストリップ・ラインが、それぞれ別
のパッケージまたはパッケージ内に配設の回路と良好に
接続−′−机、優れた11F〜波特性が得られる。
れたXJ迫ロヘ散気端子部金浪挿するときの佇数のスト
リップ・ライン間における位置すれかなく、ストリップ
・ライン間の間隔を精度良く形成できる、したがって、
電気婚子部の複数のストリップ・ラインが、それぞれ別
のパッケージまたはパッケージ内に配設の回路と良好に
接続−′−机、優れた11F〜波特性が得られる。
第1図は本発明−実施ビ1」の半導体装色を示す斜視図
である。 282パ、!、+乃至第41・小工本光明に係る一1i
L S(33子及゛トその環造工桿を示す斜視1文(で
ある。 45図及び第6図は従〕(ソの牛z1体装虞及びぞの′
砥・;t4αム1子?そン1、ゼれ示す斜視図である0
5,57図は第5図の:l来のヰ゛ンぢ不装置のfji
il至図であう。 第:<:’;、1及J公第9区は9Yズの半・4本体装
置、・をj・tイ・、ヒぞケーパコしたー1時舎の平面
、・71及び11白1図である。つ、010図及びζ1
1 :’J−,Eぞれぞれ従来の手・k、・(辺装危衾
縦(1賢+iQ した揚台のに、?、「・3分の乎尭淳
[でちる。 1」ぐこ 1?し)で、 1.12はtel、気端子部、 :L 20 i L
Q ijAベース、2A、 20Ai:m寸+ISは体
部、 3,21は頁浦口、4、4’、 23はリード
片、 5,14は杷;呟物基淳、6、 6’+”、
+−ストリップ・ライン、 7.15tすい、橡物
駒体、8.13はメタライズ膜、 りに?X俸−C
,ち/)。 ξ絶(・) 代伸人 斤JjBi −:: 伝 「t′] 云l
−七′□二i汚貫不1閑 寥2月 率ε頃 率q@ / i/ )L−1”7 、p、 2 /乙 l 塵Il呵
である。 282パ、!、+乃至第41・小工本光明に係る一1i
L S(33子及゛トその環造工桿を示す斜視1文(で
ある。 45図及び第6図は従〕(ソの牛z1体装虞及びぞの′
砥・;t4αム1子?そン1、ゼれ示す斜視図である0
5,57図は第5図の:l来のヰ゛ンぢ不装置のfji
il至図であう。 第:<:’;、1及J公第9区は9Yズの半・4本体装
置、・をj・tイ・、ヒぞケーパコしたー1時舎の平面
、・71及び11白1図である。つ、010図及びζ1
1 :’J−,Eぞれぞれ従来の手・k、・(辺装危衾
縦(1賢+iQ した揚台のに、?、「・3分の乎尭淳
[でちる。 1」ぐこ 1?し)で、 1.12はtel、気端子部、 :L 20 i L
Q ijAベース、2A、 20Ai:m寸+ISは体
部、 3,21は頁浦口、4、4’、 23はリード
片、 5,14は杷;呟物基淳、6、 6’+”、
+−ストリップ・ライン、 7.15tすい、橡物
駒体、8.13はメタライズ膜、 りに?X俸−C
,ち/)。 ξ絶(・) 代伸人 斤JjBi −:: 伝 「t′] 云l
−七′□二i汚貫不1閑 寥2月 率ε頃 率q@ / i/ )L−1”7 、p、 2 /乙 l 塵Il呵
Claims (1)
- 半導体チップを収容する金属匡体部とその内外を結ぶ
貫通口を有する金属ベースと、前記貫通口に嵌挿固着さ
れた電気端子部とを備え、前記電気端子部が表面に複数
のストリップ・ラインが平行に形成された絶縁物基体と
、該ストリップ・ラインのそれぞれに対応し、該ストリ
ップ・ライン中程を覆うように設けられて該絶縁物基体
と一体化された複数の絶縁物駒体とを有してなることを
特徴とする半導体装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59210974A JPS6189651A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 半導体装置 |
| US06/781,788 US4672151A (en) | 1984-10-08 | 1985-09-30 | Package for a microwave semiconductor device |
| DE8585112768T DE3571724D1 (en) | 1984-10-08 | 1985-10-08 | Semiconductor device package for high frequencies |
| EP85112768A EP0177943B1 (en) | 1984-10-08 | 1985-10-08 | Semiconductor device package for high frequencies |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59210974A JPS6189651A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6189651A true JPS6189651A (ja) | 1986-05-07 |
Family
ID=16598209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59210974A Pending JPS6189651A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 半導体装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4672151A (ja) |
| EP (1) | EP0177943B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6189651A (ja) |
| DE (1) | DE3571724D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62206860A (ja) * | 1986-03-06 | 1987-09-11 | Nec Corp | 超高周波素子用パツケ−ジ |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8615144D0 (en) * | 1986-06-20 | 1986-07-23 | M O Valve Co Ltd | Feed-through strips |
| FR2629271B1 (fr) * | 1988-03-25 | 1991-03-29 | Thomson Hybrides Microondes | Dispositif d'interconnexion et de protection d'une pastille nue de composant hyperfrequence |
| US5107074A (en) * | 1989-01-30 | 1992-04-21 | Ixys Corporation | Multi-lead hermetic power package with high packing density |
| US5223741A (en) * | 1989-09-01 | 1993-06-29 | Tactical Fabs, Inc. | Package for an integrated circuit structure |
| JPH03212006A (ja) * | 1990-01-17 | 1991-09-17 | Sony Corp | 高周波回路用パッケージ |
| GB9018764D0 (en) * | 1990-08-28 | 1990-10-10 | Lsi Logic Europ | Packaging of electronic devices |
| US5109594A (en) * | 1990-11-01 | 1992-05-05 | Explosive Fabricators, Inc. | Method of making a sealed transition joint |
| US5221860A (en) * | 1991-02-19 | 1993-06-22 | At&T Bell Laboratories | High speed laser package |
| JPH04335567A (ja) * | 1991-05-10 | 1992-11-24 | Sony Corp | Dramセルキャパシタ |
| US5280413A (en) * | 1992-09-17 | 1994-01-18 | Ceridian Corporation | Hermetically sealed circuit modules having conductive cap anchors |
| US5434358A (en) * | 1993-12-13 | 1995-07-18 | E-Systems, Inc. | High density hermetic electrical feedthroughs |
| US5650760A (en) * | 1995-11-13 | 1997-07-22 | Hughes Aircraft Company | Microwave enclosure |
| US6049126A (en) * | 1995-12-14 | 2000-04-11 | Nec Corporation | Semiconductor package and amplifier employing the same |
| KR100232221B1 (ko) * | 1996-12-31 | 1999-12-01 | 김영환 | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
| KR100215547B1 (ko) * | 1997-06-14 | 1999-08-16 | 박원훈 | 마이크로파 소자용 텅스텐-구리 밀폐 패키지용 용기 및 그의 제조 방법 |
| US6703559B2 (en) * | 2001-07-19 | 2004-03-09 | Kyocera America, Inc. | Feedthrough assembly having cut-out areas in metal housing adjacent ceramic feedthrough |
| JP2010135722A (ja) * | 2008-11-05 | 2010-06-17 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
| KR101686745B1 (ko) * | 2015-08-07 | 2016-12-15 | 재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단 | 파워 앰프 모듈 패키지 및 그 패키징 방법 |
| CN105355339A (zh) * | 2015-10-23 | 2016-02-24 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | 一种陶瓷绝缘子 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58190046A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-05 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3984620A (en) * | 1975-06-04 | 1976-10-05 | Raytheon Company | Integrated circuit chip test and assembly package |
| JPS596513B2 (ja) * | 1978-12-28 | 1984-02-13 | 富士通株式会社 | マイクロ波装置モジユ−ル |
| US4412093A (en) * | 1981-09-16 | 1983-10-25 | Isotronics, Inc. | Microcircuit flat pack with integral shell |
| JPS594145A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
-
1984
- 1984-10-08 JP JP59210974A patent/JPS6189651A/ja active Pending
-
1985
- 1985-09-30 US US06/781,788 patent/US4672151A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-10-08 EP EP85112768A patent/EP0177943B1/en not_active Expired
- 1985-10-08 DE DE8585112768T patent/DE3571724D1/de not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58190046A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-05 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62206860A (ja) * | 1986-03-06 | 1987-09-11 | Nec Corp | 超高周波素子用パツケ−ジ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4672151A (en) | 1987-06-09 |
| DE3571724D1 (en) | 1989-08-24 |
| EP0177943A2 (en) | 1986-04-16 |
| EP0177943B1 (en) | 1989-07-19 |
| EP0177943A3 (en) | 1986-09-17 |
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