JPS6193646A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPS6193646A JPS6193646A JP21461984A JP21461984A JPS6193646A JP S6193646 A JPS6193646 A JP S6193646A JP 21461984 A JP21461984 A JP 21461984A JP 21461984 A JP21461984 A JP 21461984A JP S6193646 A JPS6193646 A JP S6193646A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- pattern
- tensile stress
- manufacturing
- semiconductor integrated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体集積回路に係り、特に、そのチップに
形成される配線のパターンに関す。
形成される配線のパターンに関す。
半導体集積回路の高集積化が進むに伴い、半導体チップ
に形成される配線のパターンが細幅化してきている。
に形成される配線のパターンが細幅化してきている。
この配線パターンの細幅化は、半導体集積回路(LC)
の製造過程における該配線の断線発生と言う製造トラブ
ルに繋がる場合があり、該トラブルに対する対応策が求
められる。
の製造過程における該配線の断線発生と言う製造トラブ
ルに繋がる場合があり、該トラブルに対する対応策が求
められる。
第2図は半導体チップに形成される配線の従来の一例を
示した平面図である。
示した平面図である。
同図において、la、lbはそれぞれ同一半導体チップ
に形成された例えばトランジスタ、2a、 2bはトラ
ンジスタlas lbのそれぞれから配線を導出するた
めのコンタクトホール、3は例えばアルミニウムなどの
導電体からなりコンタクトホール2a、2bを通してト
ランジスタ1aと1bとを接続する配線である。
に形成された例えばトランジスタ、2a、 2bはトラ
ンジスタlas lbのそれぞれから配線を導出するた
めのコンタクトホール、3は例えばアルミニウムなどの
導電体からなりコンタクトホール2a、2bを通してト
ランジスタ1aと1bとを接続する配線である。
配線3のパターンは、他のパターン多くは他の配線パタ
ーンに干渉されない限り直線状に形成されるのが一般で
ある。
ーンに干渉されない限り直線状に形成されるのが一般で
ある。
また、配線3のパターン幅は、ICの高集積化により例
えば2.0−1.5→1.0μmと細くなって来ている
。
えば2.0−1.5→1.0μmと細くなって来ている
。
一方、例えばアルミニウムの配線3をこのように直線状
で幅を細くした場合、後工程にある例えば熱処理工程な
どにおいて該配線3が断線する場合があることが見いだ
され、製造トラブルとじて問題になって来た。
で幅を細くした場合、後工程にある例えば熱処理工程な
どにおいて該配線3が断線する場合があることが見いだ
され、製造トラブルとじて問題になって来た。
上記問題点は、他のパターンに干渉されることなく直線
的な帯状に形成可能な配線パターンが、引張応力を緩和
する非直線的な帯状に形成されてなる配線を有する本発
明の半導体集積回路によって解決される。
的な帯状に形成可能な配線パターンが、引張応力を緩和
する非直線的な帯状に形成されてなる配線を有する本発
明の半導体集積回路によって解決される。
上記問題点である製造過程における配線の断線は、該配
線自体が内部応力を有し、該配線のパターンが直線的な
帯状であることから、後工程にある例えば熱処理工程な
どの際に増大する引張応力に抗しきれず粒界で破断する
ことに起因するものと考えられる。
線自体が内部応力を有し、該配線のパターンが直線的な
帯状であることから、後工程にある例えば熱処理工程な
どの際に増大する引張応力に抗しきれず粒界で破断する
ことに起因するものと考えられる。
従って、該パターンを引張応力を緩和する非直線的な帯
状例えばジグザグをなす帯状にすることにより、該後工
程の際に増大する引張応力を緩和することが出来て、該
配線の断線発生を防止することが可能になる。そしてこ
のようにするのは、問題となる配線のみを対象とすれば
よい。
状例えばジグザグをなす帯状にすることにより、該後工
程の際に増大する引張応力を緩和することが出来て、該
配線の断線発生を防止することが可能になる。そしてこ
のようにするのは、問題となる配線のみを対象とすれば
よい。
かくして、高集積化されても製造に際して配線の断線発
生を生じ難いICが提供出来て、該ICの製造トラブル
を低減させる。
生を生じ難いICが提供出来て、該ICの製造トラブル
を低減させる。
以下本発明の一実施例を図により説明する。企図を通じ
同一符号は同一対象物を示す。
同一符号は同一対象物を示す。
第1図は半導体チップに形成される配線の本発明による
一実施例を示した平6面図で、第2図に対応する図であ
る。
一実施例を示した平6面図で、第2図に対応する図であ
る。
第1図図示の配線3aは、第2図図示の配線3を置換し
たもの゛で、そのパターンはコの字を組み合わせたジグ
ザグをなす帯状になっている。
たもの゛で、そのパターンはコの字を組み合わせたジグ
ザグをなす帯状になっている。
具体的には、配線3aの材料がアルミニウムの場合、そ
の寸法a、bSc、dおよび厚さは、例えば、それぞれ
約1.5μm、約3.0μm1約1.5μm、約10c
rm、約1.0.czmである。
の寸法a、bSc、dおよび厚さは、例えば、それぞれ
約1.5μm、約3.0μm1約1.5μm、約10c
rm、約1.0.czmである。
この配線3aは、帯状の中心線において、配線3aの長
手方向に対して略直角な方向の部分を有するため該長手
方向に伸縮可能である。このことから、製造過程におい
て引張応力が掛かっても従来のように破断することが無
く、製造トラブル発注を抑制出来る。
手方向に対して略直角な方向の部分を有するため該長手
方向に伸縮可能である。このことから、製造過程におい
て引張応力が掛かっても従来のように破断することが無
く、製造トラブル発注を抑制出来る。
なお、上記実施例における配線3aのパターンは、コの
字を組み合わせたジグザグをなす帯状であるが、本発明
は、その原理からして、この形状に限定されるものでは
無く、例えば、■の字を組み合わせたジグザグをなす帯
状であってもよく、また、これらのジグザグは部分的に
設けられていてもよい。
字を組み合わせたジグザグをなす帯状であるが、本発明
は、その原理からして、この形状に限定されるものでは
無く、例えば、■の字を組み合わせたジグザグをなす帯
状であってもよく、また、これらのジグザグは部分的に
設けられていてもよい。
〔1発明の効果〕
以上説明したように、本発明の構成によれば、高集積化
されても製造に際して配線の断線発生を生じ難いICが
提供出来て、該rcの製造トラブル低減を可能にさせる
効果がある。
されても製造に際して配線の断線発生を生じ難いICが
提供出来て、該rcの製造トラブル低減を可能にさせる
効果がある。
図面において、
第1図は半導体チップに形成される配線の本発明による
一実施例を示した平面図、 第2図は半導体チップに形成される配線の従来の一例を
示した平面図である。 また、図中において、 1aSlbはトランジスタ、 2a、2bはコンタクトホール・ 3.3aは配線、 a、bScSdは寸法、 をそれぞれ示す。
一実施例を示した平面図、 第2図は半導体チップに形成される配線の従来の一例を
示した平面図である。 また、図中において、 1aSlbはトランジスタ、 2a、2bはコンタクトホール・ 3.3aは配線、 a、bScSdは寸法、 をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 他のパターンに干渉されることなく直線的な帯状に形
成可能な配線パターンが、引張応力を緩和する非直線的
な帯状に形成されてなる配線を有することを特徴とする
半導体集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21461984A JPS6193646A (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21461984A JPS6193646A (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6193646A true JPS6193646A (ja) | 1986-05-12 |
Family
ID=16658723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21461984A Pending JPS6193646A (ja) | 1984-10-13 | 1984-10-13 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6193646A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62185072U (ja) * | 1986-05-15 | 1987-11-25 | ||
| WO1997040528A1 (fr) * | 1996-04-19 | 1997-10-30 | Matsushita Electronics Corporation | Dispositif pour semi-conducteur |
-
1984
- 1984-10-13 JP JP21461984A patent/JPS6193646A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62185072U (ja) * | 1986-05-15 | 1987-11-25 | ||
| WO1997040528A1 (fr) * | 1996-04-19 | 1997-10-30 | Matsushita Electronics Corporation | Dispositif pour semi-conducteur |
| US6081036A (en) * | 1996-04-19 | 2000-06-27 | Matsushita Electronics Corp. | Semiconductor device |
| EP0834913A4 (en) * | 1996-04-19 | 2001-09-05 | Matsushita Electronics Corp | SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT |
| KR100299338B1 (ko) * | 1996-04-19 | 2001-10-19 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 반도체장치 |
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