JPS6199043U - - Google Patents

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JPS6199043U
JPS6199043U JP1984183662U JP18366284U JPS6199043U JP S6199043 U JPS6199043 U JP S6199043U JP 1984183662 U JP1984183662 U JP 1984183662U JP 18366284 U JP18366284 U JP 18366284U JP S6199043 U JPS6199043 U JP S6199043U
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scattered light
reflector
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図aは本考案一実施例の要部斜視図、第1
図bは本考案に係る3部分よりなる反射鏡の説明
用側面図である。 1…マスク基板、2…ミラーa、3…ミラーb
、4…ミラーc、5…集光レンズ、6…受光器、
7…投射レーザビーム、8…走査点、9,9a…
透過光、10,10a…前方散乱光。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ガラス基板、及びガラス基板をクロム蒸着膜で
    被覆したマスクブランクスの、表面の傷、異物、
    ピンホールなどの欠陥を、レーザビームの垂直照
    射、走査により検査するマスク基板表面検査装置
    において、検査試料を通つて来た光を反射させて
    受光器に入射させる反射鏡を設け、この反射鏡を
    、中央部および両側部の3部分よりなり、反射鏡
    全体としての位置、姿勢はそのまま、中央部のみ
    取付け、取外し自在に構成し、中央部を取付けた
    状態で透過光に前方散乱光を加えたものを反射さ
    せ、中央部を取外した状態で前方散乱光だけを反
    射させるようにして、透過光と前方散乱光とに対
    する受光器を1個で済ませながら双方を分別計測
    し、欠陥の種類の判定に役立たせたことを特徴と
    するマスク基板表面検査装置。
JP1984183662U 1984-12-05 1984-12-05 Expired JPH0328363Y2 (ja)

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JP1984183662U JPH0328363Y2 (ja) 1984-12-05 1984-12-05

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Publication Number Publication Date
JPS6199043U true JPS6199043U (ja) 1986-06-25
JPH0328363Y2 JPH0328363Y2 (ja) 1991-06-18

Family

ID=30741160

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JP1984183662U Expired JPH0328363Y2 (ja) 1984-12-05 1984-12-05

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JPH0328363Y2 (ja) 1991-06-18

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