JPS62199664U - - Google Patents

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JPS62199664U
JPS62199664U JP8913786U JP8913786U JPS62199664U JP S62199664 U JPS62199664 U JP S62199664U JP 8913786 U JP8913786 U JP 8913786U JP 8913786 U JP8913786 U JP 8913786U JP S62199664 U JPS62199664 U JP S62199664U
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JP
Japan
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light
light beam
inspected
lens system
condensing lens
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JP8913786U
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例である表面欠陥検
査装置の概略の正面図、第2図はその装置の概略
の斜視図、第3図および第4図はアルミ圧延板の
光学的特性についての説明図、第5図は正反射光
受光方式による従来例の概略の斜視図、第6図お
よび第7図は第5図の従来例による受光の状態を
示す説明図、第8図は正反射光・散乱光の両方を
受光する方式による従来例の概略の斜視図である
。 17…球面集光レンズ、17a…スリツト、1
8…レーザー発振器、19…回転ミラー、20…
ミラー、21…光電子増倍管。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 被検査体表面に対して垂直に光線を照射する投
    光手段と、前記光線の通過を許容する隙間を一部
    に有し被検査体表面での上記光線の散乱光を所定
    位置に集光する集光レンズ系と、この集光レンズ
    系により集光した光を受光して表面欠陥の有無を
    検知する信号を出力する受光手段とを備えた表面
    欠陥検査装置。
JP8913786U 1986-06-10 1986-06-10 Pending JPS62199664U (ja)

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JP8913786U JPS62199664U (ja) 1986-06-10 1986-06-10

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JP8913786U JPS62199664U (ja) 1986-06-10 1986-06-10

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JPS62199664U true JPS62199664U (ja) 1987-12-19

Family

ID=30947848

Family Applications (1)

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JP8913786U Pending JPS62199664U (ja) 1986-06-10 1986-06-10

Country Status (1)

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JP (1) JPS62199664U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007292770A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Siemens Ag 平滑面における点状、線状又は面状の欠陥の検出のための光センサ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007292770A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Siemens Ag 平滑面における点状、線状又は面状の欠陥の検出のための光センサ

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