JPS62129189A - 電子部品の収納方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は、特性測定の終了した電子部品を、その測定結
果に基づいて収納部に分類収納する電子部品の収納方法
に関する。

［発明の技術的背景］ ＤＩＰ型ＩＣ等の電子部品が製造される工程において、
ＩＣの特性を測定し、その測定結果に基づき収納部に分
類収納とするという一連の検査工程がある。そしてこの
検査工程では一般にハンドラーと呼ばれる特性測定装置
が用いられてる。この特性測定装置に関する技術はさま
ざまなものが開発されており、例えば特開昭５９−１５
５９４２号公報、特開昭５８−１２４２４０号公報にも
開示されている。

ところで測定部にて特性測定が行なわれたＩＣは、搬送
ラインに沿うシュートに案内されながら落下し収納部に
達する。シュートと収納部の間には振り分は装置が設け
られる。この撮り分は装置は、シュートに沿って落下し
てくるＩＣの保持部並びに収納部側端に適宜開閉駆動さ
れるシャッタを備えており、シュートに対向する位置、
すなわち搬送ライン上の位置と、保持したＩＣの測定結
果に基づき収納部に設けられる複数の収納装置の１つと
の対向位置との間を往復動するものである。

従ってシャッタの閉じた状態でシュートから落下してく
る測定部のＩＣを保持部で保持し、１つの収納装置の対
向位置まで移動し、そしてシャツタを開き今まで保持し
ていたＩＣをその収納装置に収納することになる。

［背景技術の問題点］ ところで従来の特性測定装置の収納部においては、測定
部から収納部へのＩＣの搬送ラインの延長上及びその近
くに測定結果が良とされるＩＣを収納するための収納装
置（以下良品用収納装置という。）が配置され、また測
定結果が不良とされるＩＣを収納するための収納装置（
以下不良品用収納装置という。）は、搬送ラインから遠
くずれた位置に配置されていた。これは、不良とされる
ＩＣに比べ良品とされるＩＣの方が相対的に多いため、
良品用収納装置を搬送ラインの延長上或いはその近くに
配置した方が、振り分は装置の移動量が少なくて済むた
めである。しかしながら、特に搬送ラインの延長上に良
品用収納装置が配置されていると次のような欠点を有し
ていた。すなわち、今撮り分は装置がシュートに対向す
る位置に停止していて、この振り分は装置にシュートに
沿って落下してくるＩＣが乗り移った時、制御系の誤動
作によりシャッタが聞いていたり、或いはシャッタの破
損等の場合、該ＩＣは搬送ライン上に配置される良品用
収納装置に収納されることとなる。従ってこのＩＣの測
定結果が不良とされるものでめった場合には、結果的に
良品用収納装置に測定結果が不良とされるＩＣが混入さ
れることとなってしまい、分類収納する上で最も好まし
くない事態でおる。またこの混入された中から良品と不
良品とを外観から見分けることは不可能でおる。

［発明の目的］ 本発明は、上記した欠点を除去するために成されたもの
で、良品用収納装置には、測定結果が良とされた電子部
品だけを確実に収納することのできる電子部詰叉納方法
を提供することを目的とする。

［発明の概要］ 上記目的を達成するため本発明においては、測定部から
収納部へ至る電子部品の搬送ラインの延長上に、測定結
果が不良とされる電子部品の収納装置を配置するように
したことを特徴とする。

［発明の実施例］ 以下本発明の一実施例につき図面を参照しながら説明す
る。第１図は本発明の用いられてなる電子部品の特性測
定装置の概略正面図、第２図はマガジンの斜視図、第３
図は第１図における■矢視図、第４図は第３図における
ＩＶ　−ＩＶ断面図を各々示す。

まず第１図に示される特性測定装置１は、大きく分けて
ＩＣ２の供給部３、特性測定済４、収納部５とから構成
される。供給部３にはマガジン６が積層状態で配置され
る。マガジン６は第２図に示されるように出入ロアを有
し、ＩＣ２はこの出入ロアを通ってマガジン６内から排
出或いはマガジン６内に収納される。供給部３より供給
されるＩＣ２は、シュート８ａを搬送ライン９に沿って
自重落下し、図示省略の公知の個別送り機構を介して１
個ずつシュート８ｂに供給される。そしてシュート８ｂ
に供給されたＩＣ２は特性測定済４においてそのＩＣ２
のＡＣ特性やＤＣ特性等の特性か測定され、測定部のＩ
Ｃ２はさらにシュート８Ｃを搬送ライン９に沿って落下
し収納部５へと収納される。

第３図に示されるように収納部５は、複数の収納装置１
０と振り分は装置１１を有する。収納装置１０は第２図
に示した空のマガジン６により構成され、搬送ライン９
の延長上に配置されかつ測定結果が不良とされるＩＣ２
を収納するための不良品用マガジン×１このマガジンＸ
の図では上方向にそれぞれ測定結果が良とされかつラン
クＡとぎれるＡマガジンａ、測定結果が良でかつランク
ＢとぎれるＢマガジンｂ、測定結果が良でかつランクＣ
とされるＣマガジンＣの４本が配置された例が示されて
いる。

一方撮り分は装置１１は、第４図に示されるように搬送
ライン９に沿って中空とされ、ＩＣ２の受入用の入口１
２並びに排出用の出口１３を有し、ＩＣ２はその中間に
位置する保持部１４にて保持される。また図中１５は、
振り分は装置１１の上部に支軸１６を介して揺動可能に
配置されたシャッタで、スプリング１７により、シャッ
タ１５のシャツタ片１８が常時出口１３を塞ぐように作
用する。

またこの振り分は装置１１は、その人口１２が搬送ライ
ン９上のシュート８Ｃと対向する位置と、出口１３が４
本のマガジンＸ、ａ−Ｃの１つと対向する位置との間で
矢示り方腎主復動させられる。

この往復動は、例えば第３図に示されるように、駆動車
１９、従動車２０、それに両車間に巻回されたベルト２
１よりなる移動機構２２により行なわれる。また第３図
、第４図に示されるように振り分は装置１１の移動経路
上で、振り分は装置１１の停止位置（図ではマガジンと
それぞれ対応する４ケ所）には、それぞれ１個ずつシリ
ンダ２３が配置される。このシリンダ２３は、シャッタ
１５のシャツタ片１８の開閉用に設けられ、シリンダ２
３のピストンロッド２４が伸張されると、スプリング１
７に抗してシャッタ１５を支軸１６を中心に矢示Ｅ方向
に回動させて出口１３を開放し、振り分は装置１１が保
持しているＩＣ２を、この振り分は装置１１の出口１３
が対向しているマガジン内にＩＣ２を排出することを可
能とする。

なお第４図において、２５で示されるのはエアー吹出口
で、シュート８ｃの出口端方向に傾斜して形成され、図
示省略のエアー供給源から配管２６を介してエアーが供
給される。

次に上記構成による作動について説明する。前記したよ
うに供給部３より供給されるＩＣ２は、搬送ライン９に
沿うシュート８８〜８Ｃを通って自重落下し、その途中
における特性測定済４にてその特性が測定される。シュ
ート８ｃを移動してきた測定部のＩＣ２は、シュート８
ｃの出口端に既に待期している撮り分は装置１１の人品
より進入し、保持部１４にて保持される。なおこの時シ
ャッタ１５のシャツタ片１８はスプリング１７により出
口１３を塞ぐ状態とされる。またシュート８Ｃから振り
分は装置１１へＩＣ２が乗り移る時エアー吹出口２５か
らはエアーが供給される。

次に振り分は装置１１は、保持したＩＣ２の測定結果に
基づぎ、そのＩＣ２が収納されるべきマガジン（Ｘ、ａ
−Ｃの内１つ）にその出口１３が対応する位置まで往動
させられる。この往動は、移動機構２２の駆動車１９が
、特性測定済４と電気的に接続された図示省略の制ＷＪ
装置により所定量回転させられることにより行なわれる
。このようにして振り分は装置１１が１つのマガジンと
対向させられると、このマガジンに対応して配置された
シリンダ２３をそのピストンロッド２４が伸張する方向
に駆動させ、シャッタ１５は矢示Ｅ方向に揺動させられ
る。このことにより出口１３は開放され、保持されたＩ
Ｃ２は、該マガジンに収納されることとなる。

マガジンへのＩＣ２の収納が完了すると、シリンダ２３
のビス１〜ンロツド２４が収縮する方向に駆動されると
ともに、移動機構２２により、振り分は装置１１の人口
１２がシュート８Ｃの出口端と対向する位置まで復動さ
れ、シュート８Ｃから次に移動してくるＩＣ２を待ら受
けることとなる。

以後は上記した繰り返しである。

さて上記実施例において、Ｉ［投込ライン９の延長上に
、特性測定済４での測定結果が不良とされるＩＣ２を収
納する不良品用マガジンＸが配置されている点が重要で
おる。すなわち、撮り分は装置１１の人口１２がシュー
ト８Ｇとの対向位置、すなわち搬送ライン９の延長上に
て待期しており、シュート８Ｃを移動してきたＩＣ２を
保持する時には、シャッタ１５のシャツタ片１８は出口
１３を塞ぐ状態となっているのが正常な状態である。

ところが従来例でも記載したように、例えば制御系の誤
動作によりシリンダ２３のピストンロッド２４が伸張し
てしまい、撮り分は装置１１の出口１３を開放してしま
ったり、或いはシャツタ片１８が破損してしまったとい
う異常の場合には、撮り分は装置１１に一度乗り移った
ＩＣ２はそのまま振り分は装置１１の出口１３が対向し
ているマガジンに収納されることとなる。ここで撮り分
は装置１１の出口１３は搬送ライン９上に配置された不
良品用マガジンＸと対向している。従って、シュート８
Ｃを移動してきたＩＣ２は不良品用マガジンＸに収納さ
れることとなる。このように搬送ライン９の延長上に不
良品用マガジンＸを配置したことにより、上記した異常
の場合、他の良品用マガジンａ〜Ｃに測定結果が不良と
されるＩＣ２が混入されることを完全に防ぐことができ
る。

またこの異常の場合、シュート８Ｃを移動してきた測定
結果の不良とされるＩＣ２が不良品用マガジンＸに収納
されるのはいいが、測定結果の良とされるＩＣ２も不良
品用マガジンＸに収納されてしまうことになるが、前記
したように現在の技術においては、良品のＩＣは不良品
のＩＣより相対的に多く、従って不良品用マガジンＸ内
のＩＣ２の個数の異常により、装置の異常を発見するこ
とも可能となる。

なお上記実施例において、不良品用マガジンＸを搬送ラ
イン９の延長上に配置し、良品用マガジンａ−Ｃをその
片側に順次配置した例で説明したが、搬送ライン９の延
長上に配置した不良品用マガジンＸを挟んで両側に良品
用マガジンを配置するようにしてもよい。また収納装置
は第２図に示したようなマガジンでなくてもよく、例え
ば収納レールのようなものも考えられる。

［発明の効果］ 本発明による電子部品の収納方法においては、電子部品
の搬送ラインの延長上に測定結果か不良とされる電子部
品の収納装置を配置せしめたことにより、良品用収納装
置には測定結果が良とされた電子部品だけを確実に収納
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の用いられてなる電子部品の特性測定装
置の概略正面図、第２図はマガジンの斜視図、第３図は
第１図における■矢視図、第４図は第３図におけるＩＶ
−！Ｖ断面図を各々示す。 １・・・特性測定装置、２・・・ＩＣｌ３・・・供給部
、４・・・特性測定済、５・・・収納部、６・・・マガ
ジン、８ａ〜８Ｃ・・・シュート、９・・・搬送ライン
、１０・・・収納装置、１１・・・振り分は装置、ａ、
ｂ、ｃ・・・良品用マガジン、Ｘ・・・不良品用マガジ
ン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）搬送ラインに沿って移動してくる特性測定済の電
   子部品を、その測定結果に基づぎ、収納部に設けられた
   複数の収納装置の内から選ばれた１つの前記収納装置に
   順次収納するようにした電子部品の収納方法において、
   測定結果が不良とされる電子部品の収納装置を前記搬送
   ラインの延長上に配置するようにしたことを特徴とする
   電子部品の収納方法。