JPS62293585A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
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- JPS62293585A JPS62293585A JP61135910A JP13591086A JPS62293585A JP S62293585 A JPS62293585 A JP S62293585A JP 61135910 A JP61135910 A JP 61135910A JP 13591086 A JP13591086 A JP 13591086A JP S62293585 A JPS62293585 A JP S62293585A
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- function
- bit
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- Storage Device Security (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体記憶装置に関するもので、たとえば
、複数ビット単位でアクセスされるスタティック型RA
M等に利用して有効な技術に関するものである。
、複数ビット単位でアクセスされるスタティック型RA
M等に利用して有効な技術に関するものである。
(従来の技術〕
バイト単位など複数のビット単位でアクセスされるスタ
ティック型RAM等各種の半導体記憶装置についζは、
例えば、1983年9月、■日立製作所発行のr日立1
0メモリデータブックJ226負〜232頁に記載され
ている。
ティック型RAM等各種の半導体記憶装置についζは、
例えば、1983年9月、■日立製作所発行のr日立1
0メモリデータブックJ226負〜232頁に記載され
ている。
(発明が解決しようとする問題点〕
近年、このような半導体記憶装置の高’JM化が進み、
その記憶容量が大型化されているにもかかわらず、半導
体記憶装置竿体としては依然受動的な機能を持たされて
いるに過ぎない。すなわち、例えは記憶エリアに対応し
た丑き撓え保護や読み出し制限等の記憶装置自身として
の機能制御等でさえ、主装置の管理、制御のもとに行わ
れるため、主装置側にメモリマツプを設けたり、主装置
による複雑なソフトウェア処理を必要とする。
その記憶容量が大型化されているにもかかわらず、半導
体記憶装置竿体としては依然受動的な機能を持たされて
いるに過ぎない。すなわち、例えは記憶エリアに対応し
た丑き撓え保護や読み出し制限等の記憶装置自身として
の機能制御等でさえ、主装置の管理、制御のもとに行わ
れるため、主装置側にメモリマツプを設けたり、主装置
による複雑なソフトウェア処理を必要とする。
この発明の目的は、新しい機能を有する半導体記憶装置
を提供することにある。
を提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新硯な特徴は、
この明細沓の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
この明細沓の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの4要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。すなわら、
半導体記憶装置の各アドレス又は各メモリエリアに対応
して機能制御用の特定ビットを設け、外部から要求され
る機能実行に先立って指定アドレスに対応する上記機能
制御用の特定ビットを挟み出し、その内容に従って要求
される機能を実行し又は禁止するなどの制御を行うもの
である。
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。すなわら、
半導体記憶装置の各アドレス又は各メモリエリアに対応
して機能制御用の特定ビットを設け、外部から要求され
る機能実行に先立って指定アドレスに対応する上記機能
制御用の特定ビットを挟み出し、その内容に従って要求
される機能を実行し又は禁止するなどの制御を行うもの
である。
上記した手段によれば、機能制御用ビットによって自律
的に半導体記憶装置の機能制御を行うことができ、主装
置の処理負担を軽減することができるものである。
的に半導体記憶装置の機能制御を行うことができ、主装
置の処理負担を軽減することができるものである。
第1図には、この発明が通用されたスタティック型RA
Mの一実施例のブロック図が示されている。同図の各回
路ブロフクを構成する回路素子は、公知の半導体集積回
路の製造技術によって、単結晶シリコンのような一1固
の半導体基板上に形成される。
Mの一実施例のブロック図が示されている。同図の各回
路ブロフクを構成する回路素子は、公知の半導体集積回
路の製造技術によって、単結晶シリコンのような一1固
の半導体基板上に形成される。
この実施例のスタティック型RAMでは、各アドレスご
とに1ヒントずつのa能制御用ピントが設けられ、8ビ
ツトのデータと合わせて、1ワードは9ビツト構成とさ
れる。この機能制御用ビットは、特に制限されないが、
スタティック型RAMの暑き込み動作モードにおいては
書き込み保護を行い、また読み出し動作モードにおいて
は読み出し制限を行うために用いられる。すなわち、機
能制御用ピントには実質的にキーワードとなる情報が記
憶され、メモリアクセスに際して外部の主装置から機能
制御用ビットが供給されるとともに、要求される機能の
実行に先立って、指定アドレスに記憶される機能制御用
ビー/ トが読み出される。
とに1ヒントずつのa能制御用ピントが設けられ、8ビ
ツトのデータと合わせて、1ワードは9ビツト構成とさ
れる。この機能制御用ビットは、特に制限されないが、
スタティック型RAMの暑き込み動作モードにおいては
書き込み保護を行い、また読み出し動作モードにおいて
は読み出し制限を行うために用いられる。すなわち、機
能制御用ピントには実質的にキーワードとなる情報が記
憶され、メモリアクセスに際して外部の主装置から機能
制御用ビットが供給されるとともに、要求される機能の
実行に先立って、指定アドレスに記憶される機能制御用
ビー/ トが読み出される。
外部の装置から与えられた機能1tIII御用ビツトと
指定アドレスから絖み出された機能制御用ピントは機能
制御用ビット比較回路F Cによって比較され、両h&
能制御用ビットが一致した場合においてのみデータの書
き込み又は読み出し動作が実行される。
指定アドレスから絖み出された機能制御用ピントは機能
制御用ビット比較回路F Cによって比較され、両h&
能制御用ビットが一致した場合においてのみデータの書
き込み又は読み出し動作が実行される。
機能制御用ピント比較回路FCによる比較動作の結果は
、機能制御用ビット一致信号FMとして、外01Sの主
装置に出力される。
、機能制御用ビット一致信号FMとして、外01Sの主
装置に出力される。
第1図において、機能制御用ビットDFに対応してメモ
リアレイ!vi −A l(”1’ F”か設けられ、
入出力データDO〜v7に対応してメモリアレイM −
ARYO〜M −A RY 7が設けられる。これらの
メモリアレイは、第1図の水平方向に配置される複数の
ワード線と、第1図の垂直方向に配置される複数の相補
データ線及びこれらのワード線と相補データ線の交点に
格−r状に配置され・S複数のメモリセルによりそれぞ
れ構成される。
リアレイ!vi −A l(”1’ F”か設けられ、
入出力データDO〜v7に対応してメモリアレイM −
ARYO〜M −A RY 7が設けられる。これらの
メモリアレイは、第1図の水平方向に配置される複数の
ワード線と、第1図の垂直方向に配置される複数の相補
データ線及びこれらのワード線と相補データ線の交点に
格−r状に配置され・S複数のメモリセルによりそれぞ
れ構成される。
各メモリアレイを構成するワード線は、Xアドレスデコ
ーダXDCRによって選択、指定される。
ーダXDCRによって選択、指定される。
このXアドレスデコーダXDCRには、外部アドレス信
号AO−Aiを受けるアドレスバッファA1)Bによっ
て形成される複数の相補内部アドレス信号1x〜か供給
され、またタイミング1↑]御回路′rCからタイミン
ク信号φCピが供給される。XアドレスデコーダXDC
Rは、タイミング信号φCQのハイレヘルによって動作
状態とされ、アドレスバッファADBから供給される相
補内部アドレス信号ax〜をデコードして、それらのア
ドレス信号によって指定される一つのワード線を選択す
るためのワード線選択信号を形成し、メモリアレイM−
A RY F及び〜1−ARYO〜M−ARY7に供給
する。
号AO−Aiを受けるアドレスバッファA1)Bによっ
て形成される複数の相補内部アドレス信号1x〜か供給
され、またタイミング1↑]御回路′rCからタイミン
ク信号φCピが供給される。XアドレスデコーダXDC
Rは、タイミング信号φCQのハイレヘルによって動作
状態とされ、アドレスバッファADBから供給される相
補内部アドレス信号ax〜をデコードして、それらのア
ドレス信号によって指定される一つのワード線を選択す
るためのワード線選択信号を形成し、メモリアレイM−
A RY F及び〜1−ARYO〜M−ARY7に供給
する。
一方、各メモリアレイを構成する相補データ線は、各メ
モリアレイに対応して設けられるカラムスイッチC3W
F□及びcswo〜C3W7を構成する図示されないス
1゛7チ&i 0 S F E Tにそれぞれ結合され
る。これらのスイッチMO3FETには、Yアドレスデ
コーダYDCRからデータ線選択信号が供給される。こ
のYアドレスデコーダYDCHには、上記アドレスバッ
ファADBから複数の相補内部アドレス信号上y〜が供
給され、またタイミング制御回路゛rCからタイミング
信号φceが供給される。YアドレスデコーダYDCR
は、タイミング信号φceのハイレベルによって動作状
態とされ、アドレスバッファADBから供給される相補
内部アドレス信号!y〜をデコードして、これらのアド
レス信号によって指定される一組の相補データ線を選択
するためのデータIII選択信号を形成し、カラムスイ
ッチC3WF及びC3WO〜C3W7に供給する。
モリアレイに対応して設けられるカラムスイッチC3W
F□及びcswo〜C3W7を構成する図示されないス
1゛7チ&i 0 S F E Tにそれぞれ結合され
る。これらのスイッチMO3FETには、Yアドレスデ
コーダYDCRからデータ線選択信号が供給される。こ
のYアドレスデコーダYDCHには、上記アドレスバッ
ファADBから複数の相補内部アドレス信号上y〜が供
給され、またタイミング制御回路゛rCからタイミング
信号φceが供給される。YアドレスデコーダYDCR
は、タイミング信号φceのハイレベルによって動作状
態とされ、アドレスバッファADBから供給される相補
内部アドレス信号!y〜をデコードして、これらのアド
レス信号によって指定される一組の相補データ線を選択
するためのデータIII選択信号を形成し、カラムスイ
ッチC3WF及びC3WO〜C3W7に供給する。
カラムスイッチC3WF及びcswo〜C5W7は、上
記YアドレスデコーダYDCRから供給されるデータ線
選択信号に従って、それぞれ−組のデータ線を選択し、
対応する相補共通データ線CDF及びCDO〜CD7に
接続する。
記YアドレスデコーダYDCRから供給されるデータ線
選択信号に従って、それぞれ−組のデータ線を選択し、
対応する相補共通データ線CDF及びCDO〜CD7に
接続する。
アドレスバッファADBは、主装置からアドレスバスを
介して供給されるアドレス信号AO−Aiを受け、これ
らのアドレス信号と同相の内部アドレス信号及び逆相の
内部アドレス信号からなる相補内部アドレス信号1x〜
及びBy〜を形成し、XアドレスデコーダXDCR及び
YアドレスデコータYDCkにそれぞれ供給する。
介して供給されるアドレス信号AO−Aiを受け、これ
らのアドレス信号と同相の内部アドレス信号及び逆相の
内部アドレス信号からなる相補内部アドレス信号1x〜
及びBy〜を形成し、XアドレスデコーダXDCR及び
YアドレスデコータYDCkにそれぞれ供給する。
以上のXアドレスデコーダXDCR,Yアドレスデコー
ダYl)CI(及び各カラムスイッチによる選択動作に
より、各メモリアレイからアドレス18号AO〜Aiに
指定される共通のアドレスに配置される9個のメモリセ
ルが選択され、対応する相補共通データ線に接続される
。
ダYl)CI(及び各カラムスイッチによる選択動作に
より、各メモリアレイからアドレス18号AO〜Aiに
指定される共通のアドレスに配置される9個のメモリセ
ルが選択され、対応する相補共通データ線に接続される
。
相補共通データ線CDF及びCDO〜CD7には、テー
タ出カバ7フアDOBの対応するビットの入力端子が結
合されるとともに、データ入カバフフ1υIBの対応す
ると71・の出力端子が結合される。データ出力バッフ
ァDOBには後述するタイミング制御回路’1’ Cか
らタイミング信号φrが供給され、テータ入力ハッファ
L)IBには、同様にタイミング(g号φW及びφ−f
がそれぞれ供給される。
タ出カバ7フアDOBの対応するビットの入力端子が結
合されるとともに、データ入カバフフ1υIBの対応す
ると71・の出力端子が結合される。データ出力バッフ
ァDOBには後述するタイミング制御回路’1’ Cか
らタイミング信号φrが供給され、テータ入力ハッファ
L)IBには、同様にタイミング(g号φW及びφ−f
がそれぞれ供給される。
データ出力バッファDOBは、スタティック型RAMの
読み出し動作モードにおいて、タイミング制御回路′r
Cから供給されるタイミング信号φrのハイレベルによ
って動作状態とされ、各相補共通データ線に伝達される
メモリアレイM−ARYF及びM−ARYO−M−AR
Y7の選択されたメモリセルからの読み出し信号を増幅
し、出力データDF及びDO〜D7としてデータバスに
出力する。また、メモリアレイM−ARYPの選択され
たメモリセルからの読み出し信号すなわち機能制御用ビ
ットは、ランチ用のフリツプフロツプFFに伝達され、
メモリアクセスの期間中保持される。フリ、ブフロフプ
FFの出力信号は、機能制御用ビット比較回路FCの一
方の入力信号として供給される。
読み出し動作モードにおいて、タイミング制御回路′r
Cから供給されるタイミング信号φrのハイレベルによ
って動作状態とされ、各相補共通データ線に伝達される
メモリアレイM−ARYF及びM−ARYO−M−AR
Y7の選択されたメモリセルからの読み出し信号を増幅
し、出力データDF及びDO〜D7としてデータバスに
出力する。また、メモリアレイM−ARYPの選択され
たメモリセルからの読み出し信号すなわち機能制御用ビ
ットは、ランチ用のフリツプフロツプFFに伝達され、
メモリアクセスの期間中保持される。フリ、ブフロフプ
FFの出力信号は、機能制御用ビット比較回路FCの一
方の入力信号として供給される。
一方、データ入カバ7フアDIBは、スタティック型R
AMの書き込み動作モードにおいて、タイミング制御回
路TCから供給されるタイミング信号φWのハイレベル
によって動作状態とされ、データバスを介して外部の主
装置から供給される入力データDO〜D7を相補書き込
み信号とし、対応する相補共通データ線CD0−CD7
を介してメモリアレイM−ARYO〜M−ARY7の選
択されたメモリセルに書き込む、また、制御信号として
外部から供給される機能制御イネーブル信号T下とライ
トイネーブル(へ号軒下がともにロウレベルとされる機
能制御用ヒント書き込み動作モートにおいて、タイミン
グ制御911回路TCから洪袷されるタイミング信号φ
訂に従って、入出力端子DFを介して供給される機能制
御用ヒントをメモリアレイM−ARYFの選択さルたメ
モリセルに書き込む。
AMの書き込み動作モードにおいて、タイミング制御回
路TCから供給されるタイミング信号φWのハイレベル
によって動作状態とされ、データバスを介して外部の主
装置から供給される入力データDO〜D7を相補書き込
み信号とし、対応する相補共通データ線CD0−CD7
を介してメモリアレイM−ARYO〜M−ARY7の選
択されたメモリセルに書き込む、また、制御信号として
外部から供給される機能制御イネーブル信号T下とライ
トイネーブル(へ号軒下がともにロウレベルとされる機
能制御用ヒント書き込み動作モートにおいて、タイミン
グ制御911回路TCから洪袷されるタイミング信号φ
訂に従って、入出力端子DFを介して供給される機能制
御用ヒントをメモリアレイM−ARYFの選択さルたメ
モリセルに書き込む。
外部の装置から供給される機能制御用ビットDFは、機
能制御用ピッ1−比較回路FCの他方の入力信号として
供給される。機能制御用ビット比較回1lIFcは、通
常の書き込み動作あるいは読み出し動作に先立つζ読み
出されソリノブフロ、・ブFトに保持されるメモリアレ
イM、 −A RY Fの機能ル)」闇ハ]ビットと外
部から供給される成能制御用ビッ1−DFとを比較する
。その結果、両方の機能制御用ビットが一致している場
合、機能制御用ビット比較回路FCの出力信号fmはハ
イレベルとなり、一致していない場合、ロウレベルとな
る。この機能制御用ビット比較回路FCの出力信号rm
は、タイミング制御回路TCに入力されるとともに、外
部端子FMを介して、外部の主装置に出力される。
能制御用ピッ1−比較回路FCの他方の入力信号として
供給される。機能制御用ビット比較回1lIFcは、通
常の書き込み動作あるいは読み出し動作に先立つζ読み
出されソリノブフロ、・ブFトに保持されるメモリアレ
イM、 −A RY Fの機能ル)」闇ハ]ビットと外
部から供給される成能制御用ビッ1−DFとを比較する
。その結果、両方の機能制御用ビットが一致している場
合、機能制御用ビット比較回路FCの出力信号fmはハ
イレベルとなり、一致していない場合、ロウレベルとな
る。この機能制御用ビット比較回路FCの出力信号rm
は、タイミング制御回路TCに入力されるとともに、外
部端子FMを介して、外部の主装置に出力される。
タイミング制御回路′rCは、制御信号とし【外部の主
装置から供給されるチップ選択信号C3゜ライトイネー
ブル信号WE及び機能制御イネーブル信号T1と、上記
機能制御用ビット比較回路FCの出力信号fmにより、
上記各種のタイミング信号を形成し、各回路に供給する
。これらのタイミング信号のうち、タイミング信号φc
eはチップ選択信号σ茗の立ち下がりによって形成され
、タイミング信号φW及びφrは機能制御イネーブル信
号r玉がハイレベルとされる通常のメモリアクセスにお
いて、外部から供給される機能制御用ビットとメモリア
レイM−ARYFから読み出された機能制御用ビットと
が一致した場合においてそれぞれ形成される。また、こ
れらのタイミング信号φW又はφrは、機能制御イネー
ブル信号丁百がロウレベルとされる無条件アクセスにお
いて、機$jl[柳川ビットに関係なく書き込み動作又
は読み出し動作においてそれぞれ形成される。この場合
、タイミング信号φWとともにタイミング信号ナーfが
同時に形成され、データ人カバソファDIBに1共給さ
れる。無条件アクセスは、メモリアレイM−A RY
Fに対する機能制御用ビットの書き込みや、その読み出
しのために用いられる。
装置から供給されるチップ選択信号C3゜ライトイネー
ブル信号WE及び機能制御イネーブル信号T1と、上記
機能制御用ビット比較回路FCの出力信号fmにより、
上記各種のタイミング信号を形成し、各回路に供給する
。これらのタイミング信号のうち、タイミング信号φc
eはチップ選択信号σ茗の立ち下がりによって形成され
、タイミング信号φW及びφrは機能制御イネーブル信
号r玉がハイレベルとされる通常のメモリアクセスにお
いて、外部から供給される機能制御用ビットとメモリア
レイM−ARYFから読み出された機能制御用ビットと
が一致した場合においてそれぞれ形成される。また、こ
れらのタイミング信号φW又はφrは、機能制御イネー
ブル信号丁百がロウレベルとされる無条件アクセスにお
いて、機$jl[柳川ビットに関係なく書き込み動作又
は読み出し動作においてそれぞれ形成される。この場合
、タイミング信号φWとともにタイミング信号ナーfが
同時に形成され、データ人カバソファDIBに1共給さ
れる。無条件アクセスは、メモリアレイM−A RY
Fに対する機能制御用ビットの書き込みや、その読み出
しのために用いられる。
第2図には、第1図のスタティック型RAMの通常の1
き込み動作モードにおけるタイミング図の一実施例が示
されている。この図によって、この実施例のスタティッ
ク型RAMのi!き込み動作の概要を説明する。
き込み動作モードにおけるタイミング図の一実施例が示
されている。この図によって、この実施例のスタティッ
ク型RAMのi!き込み動作の概要を説明する。
382図において、スタティック型RAMはチップ選択
信号σ茗がハイレベルからロウレベルに変化することに
よって起動される。このチップ選択信号]のロウレベル
に同期して、書き込み動作モードを指定するためのライ
トイネーブル信号WEがハイレベルからロウレベルとさ
れ、アドレス信号AO〜AtがアドレスAsを指定する
ための組み合わせでハイレベル又はロウレベルとされる
。
信号σ茗がハイレベルからロウレベルに変化することに
よって起動される。このチップ選択信号]のロウレベル
に同期して、書き込み動作モードを指定するためのライ
トイネーブル信号WEがハイレベルからロウレベルとさ
れ、アドレス信号AO〜AtがアドレスAsを指定する
ための組み合わせでハイレベル又はロウレベルとされる
。
また、入出力端子DO〜D7には書き込みデータが入力
され、入出力端子DFにはキーワードとされる機能制御
用ビットが入力される0機能制御イネーブル信号rπは
、通常のメモリアクセスを指定するために、ハイレベル
のままとされる。
され、入出力端子DFにはキーワードとされる機能制御
用ビットが入力される0機能制御イネーブル信号rπは
、通常のメモリアクセスを指定するために、ハイレベル
のままとされる。
スタティック型RAMでは、まずチップ選択信号C8の
ロウレベルへの立ち下がりによってタイミング信号φc
eが形成され、XアドレスデコーダXDCR及びYアド
レスデコーダYDCHに供給される。これらの各アドレ
スデコーダには、アドレス信号AO〜Aiを受けるアド
レスバッファ八〇Bによって形成された相補内部アドレ
ス信号lX〜及びBy〜がそれぞれ供給される。Xアド
レスデコーダXDCRは、相補内部アドレス信号!X〜
をデコードし、アドレスAsに対応する一本のワード線
を選択して、ハイレベルのワード線選択レベルとする。
ロウレベルへの立ち下がりによってタイミング信号φc
eが形成され、XアドレスデコーダXDCR及びYアド
レスデコーダYDCHに供給される。これらの各アドレ
スデコーダには、アドレス信号AO〜Aiを受けるアド
レスバッファ八〇Bによって形成された相補内部アドレ
ス信号lX〜及びBy〜がそれぞれ供給される。Xアド
レスデコーダXDCRは、相補内部アドレス信号!X〜
をデコードし、アドレスAsに対応する一本のワード線
を選択して、ハイレベルのワード線選択レベルとする。
これにより、各メモリアレイの選択されたワード線に結
合されるすべてのメモリセルからその記憶データに従っ
た読み出し信号が出力され、対応するカラムスイッチま
で伝達される。
合されるすべてのメモリセルからその記憶データに従っ
た読み出し信号が出力され、対応するカラムスイッチま
で伝達される。
一方、YアドレスデコーダYDCRは、相補内部アドレ
ス信号Q y〜をデコードし、アドレスASに対応する
一組の相補データ線を選択するためのデータ線選択信号
を形成し、カラムスイッチC3WF及びcswo〜C3
W7に送る。各カラムスイッチでは、このデータ線選択
信号によって、各メモリアレイのアドレスAsに対応す
る相補データ線が選択され、対応する相補共通データ線
CDF及びCD0−CD7に接続される。これにより、
各メモリアレイのアドレスA3が与えられたメモリセル
からの読み出し信号が、それぞれ対応する相補共通デー
タ線に出力される。また、相補共通データ線CDFに出
力されたメモリアレ・(M−ARYFのアドレスAsに
対応するメモリセルに記憶される機能′:A御用ビット
は、ブノップフロノブFFにランチされ、さらにその出
力信号が機能制御用ビット比較回路FCの一方の入力端
子に入力される。この機能側fhII用ビット比較回路
FCの他方の入力端子には、外部の主装置から入出力端
子DFを介して供給されるla能能制御ビン)dfが入
力される。
ス信号Q y〜をデコードし、アドレスASに対応する
一組の相補データ線を選択するためのデータ線選択信号
を形成し、カラムスイッチC3WF及びcswo〜C3
W7に送る。各カラムスイッチでは、このデータ線選択
信号によって、各メモリアレイのアドレスAsに対応す
る相補データ線が選択され、対応する相補共通データ線
CDF及びCD0−CD7に接続される。これにより、
各メモリアレイのアドレスA3が与えられたメモリセル
からの読み出し信号が、それぞれ対応する相補共通デー
タ線に出力される。また、相補共通データ線CDFに出
力されたメモリアレ・(M−ARYFのアドレスAsに
対応するメモリセルに記憶される機能′:A御用ビット
は、ブノップフロノブFFにランチされ、さらにその出
力信号が機能制御用ビット比較回路FCの一方の入力端
子に入力される。この機能側fhII用ビット比較回路
FCの他方の入力端子には、外部の主装置から入出力端
子DFを介して供給されるla能能制御ビン)dfが入
力される。
機能制御用ビット比較回路FCは、外部の主装置から供
給された機能制御用ビットdfと、メモリアレイM−A
RYFから読み出された機能制御用ピントとを比較し、
これらが一致しているとその出力信号fmをハイレベル
とする。また、両機能制御用ビットが一致していない場
合、その出力信号fmはロウレベルのままとされる。こ
の機能制御用ビット比較回路F Cのハイレベルの出力
信号は、外gH3子FMを介して外部の主装置に出力さ
れ、要求されたメモリアクセスがスタティック型RAM
において実行されることを主装置に報告する。
給された機能制御用ビットdfと、メモリアレイM−A
RYFから読み出された機能制御用ピントとを比較し、
これらが一致しているとその出力信号fmをハイレベル
とする。また、両機能制御用ビットが一致していない場
合、その出力信号fmはロウレベルのままとされる。こ
の機能制御用ビット比較回路F Cのハイレベルの出力
信号は、外gH3子FMを介して外部の主装置に出力さ
れ、要求されたメモリアクセスがスタティック型RAM
において実行されることを主装置に報告する。
タイミング制御回路゛rCは、書き込み動作を実゛
行するためのタイミング信号φWを形成すべきタイミン
グで、上記機能制御用ビット比較回路FCの出力信号f
mのハイレベルを確認し、タイミング信号φWを形成し
て、データ人カバソファDIBに供給する。もし、この
時点で機能制御用ビット比較回路FCの出力信号fmが
ロウレベルであると、タイミング信号φWは形成されな
い。
行するためのタイミング信号φWを形成すべきタイミン
グで、上記機能制御用ビット比較回路FCの出力信号f
mのハイレベルを確認し、タイミング信号φWを形成し
て、データ人カバソファDIBに供給する。もし、この
時点で機能制御用ビット比較回路FCの出力信号fmが
ロウレベルであると、タイミング信号φWは形成されな
い。
データ人カバ7ソアDIBは、タイミング制御回路T’
Cから供給されるタイミング信号φWによっζ動作伏態
とされ、入出力端子DO〜D7を介して供給される8ビ
ツトの蒼き込みデータを相補;き込み信号とし、相補共
通データ線CDO〜CD7を介して各メモリアレイの選
択されたメモリセルに書き込む。
Cから供給されるタイミング信号φWによっζ動作伏態
とされ、入出力端子DO〜D7を介して供給される8ビ
ツトの蒼き込みデータを相補;き込み信号とし、相補共
通データ線CDO〜CD7を介して各メモリアレイの選
択されたメモリセルに書き込む。
ライトイネーブル信号罷がハイレベルのままとされる通
常の読み出し動作の場合、タイミング18号ψrが機能
制御用ビット比較回路FCの出力信号f mによっ°C
選択的に形成され、読み出し動作が制御される。また、
機能1j御イネ一プルイS号F’ Eがロウレベルとさ
れる無条件アクセスの場合、上記夕・1′ミング信号φ
W及びprとともにタイミング信号φwfが機能制御用
ビット比較回路FCの出力信号fmに関係無く形成され
、機能制御用ビー/ トを含む各メモリアレイに対する
書き込み又は読み出し動作が無条件に実行される。
常の読み出し動作の場合、タイミング18号ψrが機能
制御用ビット比較回路FCの出力信号f mによっ°C
選択的に形成され、読み出し動作が制御される。また、
機能1j御イネ一プルイS号F’ Eがロウレベルとさ
れる無条件アクセスの場合、上記夕・1′ミング信号φ
W及びprとともにタイミング信号φwfが機能制御用
ビット比較回路FCの出力信号fmに関係無く形成され
、機能制御用ビー/ トを含む各メモリアレイに対する
書き込み又は読み出し動作が無条件に実行される。
以上のように、この実施例のスタティック型RAMでは
、メモリアレイの各アドレスに対応して機能制御用ビッ
トが設けられ、外部から要求される書き込み動作又は読
み出し動作を実行する前にこの機能制御用ビットが読み
出され、外部から与えられた入力機能制御用ピントと比
較される。この結果、両機能制御用ビットが一致した場
合においてのみ書き込み動作又は読み出し動作が実行さ
れる。これらの書き込み保護あるいは読み出し制御17
!機能は、メモリのプログラムエリアの保護や、vi畜
エリアの読み出し制限等に利用することができる。また
、これらの機能制御用ビットは、このような書き込み保
護や読み出し制限ばかりでなく、これらの機能制御用ビ
ットに特定の属性を恵味付けることによって、多くの用
途に用いることができるものである。
、メモリアレイの各アドレスに対応して機能制御用ビッ
トが設けられ、外部から要求される書き込み動作又は読
み出し動作を実行する前にこの機能制御用ビットが読み
出され、外部から与えられた入力機能制御用ピントと比
較される。この結果、両機能制御用ビットが一致した場
合においてのみ書き込み動作又は読み出し動作が実行さ
れる。これらの書き込み保護あるいは読み出し制御17
!機能は、メモリのプログラムエリアの保護や、vi畜
エリアの読み出し制限等に利用することができる。また
、これらの機能制御用ビットは、このような書き込み保
護や読み出し制限ばかりでなく、これらの機能制御用ビ
ットに特定の属性を恵味付けることによって、多くの用
途に用いることができるものである。
以上の本実施例に示されるように、この発明をスタティ
ック型RAMなどの半導体記憶装置に通用した場合、次
のような効果が得られる。すなわち、 (1)半導体記憶装置の各アドレスに対応して機能制御
用ビア)を設け、外部から要求される機能実行に先立っ
て指定アドレスに対応する上記機能制御用ピントを読み
出し、その内容に従って要求される機能を実行し又は禁
止するなどの制御を行うことで、機能制御用ビットによ
って自律的に半導体記憶装置の機能制御を行うことがで
きるという効果が得られる。
ック型RAMなどの半導体記憶装置に通用した場合、次
のような効果が得られる。すなわち、 (1)半導体記憶装置の各アドレスに対応して機能制御
用ビア)を設け、外部から要求される機能実行に先立っ
て指定アドレスに対応する上記機能制御用ピントを読み
出し、その内容に従って要求される機能を実行し又は禁
止するなどの制御を行うことで、機能制御用ビットによ
って自律的に半導体記憶装置の機能制御を行うことがで
きるという効果が得られる。
(2)上記(1)項により、このようなスタティック型
RAM等が接続される主装置の処理負担を軽減すること
ができるという効果が得られる。
RAM等が接続される主装置の処理負担を軽減すること
ができるという効果が得られる。
(3)上記(1)項の機能制御用ピントに、種々の属性
を持たせることにより、各種の自律制御を行う多機能型
のスタティック型RA M等の半導体記憶装置を実現で
きるという効果が得られる。
を持たせることにより、各種の自律制御を行う多機能型
のスタティック型RA M等の半導体記憶装置を実現で
きるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。たとえば、第1図の実
施例では、各アドレスに対応して機能制御用ビットを設
けているが、メモリアレイを複数のメモリエリアに分割
し、それぞれのメモリエリアに対応して共通の機能制御
用ピントを設け、メモリエリアごとの機能制御を行うも
のとしてもよい、また、機能制御用ビットを複数のピン
トで構成し、さらに多くの機能識別をさせたり、キーワ
ードを複雑化させることで保護機能を充実させることも
よい、さらに、アクセス単位は9ビツトに限定されるも
のではな(、例えば機能制御用ビットを含めて17ビン
トや36ビント専の単位でアクセスできるようにしても
よいし、これらの複数のビットを−っのメモリアレイに
収用するものであってもよい。この(ム、各アドレスデ
コーダをメモリアレイごとに設けるなど、スタティック
型RAMのブロック構成や、制御信号の組み合わせ等、
種々の実施形態を探りうるちのである。
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。たとえば、第1図の実
施例では、各アドレスに対応して機能制御用ビットを設
けているが、メモリアレイを複数のメモリエリアに分割
し、それぞれのメモリエリアに対応して共通の機能制御
用ピントを設け、メモリエリアごとの機能制御を行うも
のとしてもよい、また、機能制御用ビットを複数のピン
トで構成し、さらに多くの機能識別をさせたり、キーワ
ードを複雑化させることで保護機能を充実させることも
よい、さらに、アクセス単位は9ビツトに限定されるも
のではな(、例えば機能制御用ビットを含めて17ビン
トや36ビント専の単位でアクセスできるようにしても
よいし、これらの複数のビットを−っのメモリアレイに
収用するものであってもよい。この(ム、各アドレスデ
コーダをメモリアレイごとに設けるなど、スタティック
型RAMのブロック構成や、制御信号の組み合わせ等、
種々の実施形態を探りうるちのである。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるスタティック型RA
Mに通用した場合について説明したが、それに限定され
るものではなく、たとえば、ダイナミック型RAMやそ
の他各種の半導体記憶装置に通用できる0本発明は、少
なくとも複数ピント単位でアクセスされる半導体記憶装
置には通用できる。
をその背景となった利用分野であるスタティック型RA
Mに通用した場合について説明したが、それに限定され
るものではなく、たとえば、ダイナミック型RAMやそ
の他各種の半導体記憶装置に通用できる0本発明は、少
なくとも複数ピント単位でアクセスされる半導体記憶装
置には通用できる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、半導体記憶装置の各アドレス又はメモリ
エリアに対応して機能制御用ビットを設け、外部から要
求される機能実行に先立って指定アドレスに対応する上
記機能制御用ビットを読み出し、その内容に従って要求
される機能を実行し又は禁止するなどの制御を行うこと
で、機能制御用ピントによって自律的に半導体記憶装置
の機能制御を行うことができ、主装置の処理負担を軽減
することができるものである。
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、半導体記憶装置の各アドレス又はメモリ
エリアに対応して機能制御用ビットを設け、外部から要
求される機能実行に先立って指定アドレスに対応する上
記機能制御用ビットを読み出し、その内容に従って要求
される機能を実行し又は禁止するなどの制御を行うこと
で、機能制御用ピントによって自律的に半導体記憶装置
の機能制御を行うことができ、主装置の処理負担を軽減
することができるものである。
第1図は、この発明が通用されたスタティック型RAM
の一実施例を示すブロック図、第2図は、第1図のスタ
ティック型RAMにおける書き込み動作の一実施例を示
すタイミング図ζあり0 FC・・・機能制御用ビット比較回路、FF・・・フリ
ンブフロソブ回路、M−ARYF、M−ARYO〜M−
ARY7 = −−メモリアレイ、C3WF、C3WO
〜C3W7・・・カラムスイフナ、X D CR・・・
Xアドレスデコーダ、YDCR・・・Yアドレスデコー
ダ、ADB・・・アドレスデコーダ、DOB・・・デー
タ出力バンファ、DIB・・・データ人カバンファ、T
C・・・タイミング制御回路。
の一実施例を示すブロック図、第2図は、第1図のスタ
ティック型RAMにおける書き込み動作の一実施例を示
すタイミング図ζあり0 FC・・・機能制御用ビット比較回路、FF・・・フリ
ンブフロソブ回路、M−ARYF、M−ARYO〜M−
ARY7 = −−メモリアレイ、C3WF、C3WO
〜C3W7・・・カラムスイフナ、X D CR・・・
Xアドレスデコーダ、YDCR・・・Yアドレスデコー
ダ、ADB・・・アドレスデコーダ、DOB・・・デー
タ出力バンファ、DIB・・・データ人カバンファ、T
C・・・タイミング制御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、複数ビットからなるデータを記憶するメモリアレイ
を有し、その動作が外部から要求される機能実行に先立
って読み出される指定アドレスの上記データの特定のビ
ットに従って制御されるものであることを特徴とする半
導体記憶装置。 2、上記半導体記憶装置は、そのアクセスに際して外部
から供給される入力データの特定ビットと、要求される
機能実行に先立って読み出されるを指定アドレスの記憶
データの上記特定ビットとを比較するための比較回路を
具備するものであり、上記比較回路によって一致信号が
得られた場合においてのみ、要求される機能を実行する
ものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の半導体記憶装置。 3、上記比較回路による特定ビットの比較動作は、外部
から供給される制御信号によって禁止しうるものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載
の半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61135910A JPS62293585A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61135910A JPS62293585A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62293585A true JPS62293585A (ja) | 1987-12-21 |
Family
ID=15162691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61135910A Pending JPS62293585A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62293585A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0279295A (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体メモリ |
| JP2007328825A (ja) * | 2007-09-18 | 2007-12-20 | Renesas Technology Corp | メモリシステム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57189399A (en) * | 1981-05-14 | 1982-11-20 | Mitsubishi Electric Corp | Storage protection device |
| JPS59172199A (ja) * | 1983-01-03 | 1984-09-28 | テキサス・インスツルメンツ・インコ−ポレイテツド | メモリ装置 |
-
1986
- 1986-06-13 JP JP61135910A patent/JPS62293585A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57189399A (en) * | 1981-05-14 | 1982-11-20 | Mitsubishi Electric Corp | Storage protection device |
| JPS59172199A (ja) * | 1983-01-03 | 1984-09-28 | テキサス・インスツルメンツ・インコ−ポレイテツド | メモリ装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0279295A (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体メモリ |
| JP2007328825A (ja) * | 2007-09-18 | 2007-12-20 | Renesas Technology Corp | メモリシステム |
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