JPS6250464A - 電子写真感光体の製造装置 - Google Patents
電子写真感光体の製造装置Info
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- JPS6250464A JPS6250464A JP19164885A JP19164885A JPS6250464A JP S6250464 A JPS6250464 A JP S6250464A JP 19164885 A JP19164885 A JP 19164885A JP 19164885 A JP19164885 A JP 19164885A JP S6250464 A JPS6250464 A JP S6250464A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明はアモルファスシリコンを主体とする光導電性材
料からなる感光層を有する電子写真感光体の製造装置に
関する。
料からなる感光層を有する電子写真感光体の製造装置に
関する。
アモルファスシリコン(以下a−siトも記す)は、電
子写真感光体(以下単に感光体とも称する)の感光層材
料として耐熱性、耐刷性、無毒性の点で優れると同時に
、長波長光に対しても高い感度特性を有しており注目さ
れてきている。
子写真感光体(以下単に感光体とも称する)の感光層材
料として耐熱性、耐刷性、無毒性の点で優れると同時に
、長波長光に対しても高い感度特性を有しており注目さ
れてきている。
従来a−8i膜は、プラズマ中でシランガスを分解する
プラス? CVD (Chemical Vapour
Deposi℃1on)法か、らるいは光エネルギー
を用いてシランガスを熱分解ま九は励起分解する光CV
D法によって一般に作製されていた。しかし、プラズマ
CVD法においては投入したガスの数−以下しか利用さ
れず、その利用効率が著しく低いという欠点がある。ま
た、膜を形成すべき基体以外の成膜室の各部にも膜が形
成されるので、それを除去し室内を清浄化するのに時間
と労力を要するし、さらに成膜中に成膜室内部にガスの
反応生成物の粉体が生成しやすく、基体への成膜過程に
悪影響をおよぼす。しかし、この方法は機能材料として
有効なSiCやSiHなどの結合系をもつ膜を形成しや
すく、材料設計の自由度が高いという利点がある。一方
、光CVD法においては光照射部のみで反応が行なわれ
るため、ガスの利用効率が高く、高速成膜が可能であり
、かつ基体以外の成膜室内部への膜形成4少なく、粉体
も生成しにくいという利点がある反面、膜材料の設計の
自由度の点ではプラズマCVD法よシ劣る。また、光C
VD法に用いる光源は発光効率、寿命などの点で通常ア
ルゴンレーザ、 YAGレーザ、炭酸ガスレーザなど可
視域、赤外域の波長のレーザ光が用いられるが、この領
域の波長光による成膜機構には被膜基体の温度上昇によ
る分解過程すなわち通常の熱CVD過程をかなり含んで
いる。従って、感光体で通常用いられている機械/70
工により平滑化したアルミニウムからなる基体では、基
体に直接レーザ光を照射した場合反射率が高いために温
度が上昇しにくくて熱分屏がおきにくく、かつ基体の融
点が低いため熱的損傷を受けやすいなどの欠点がある。
プラス? CVD (Chemical Vapour
Deposi℃1on)法か、らるいは光エネルギー
を用いてシランガスを熱分解ま九は励起分解する光CV
D法によって一般に作製されていた。しかし、プラズマ
CVD法においては投入したガスの数−以下しか利用さ
れず、その利用効率が著しく低いという欠点がある。ま
た、膜を形成すべき基体以外の成膜室の各部にも膜が形
成されるので、それを除去し室内を清浄化するのに時間
と労力を要するし、さらに成膜中に成膜室内部にガスの
反応生成物の粉体が生成しやすく、基体への成膜過程に
悪影響をおよぼす。しかし、この方法は機能材料として
有効なSiCやSiHなどの結合系をもつ膜を形成しや
すく、材料設計の自由度が高いという利点がある。一方
、光CVD法においては光照射部のみで反応が行なわれ
るため、ガスの利用効率が高く、高速成膜が可能であり
、かつ基体以外の成膜室内部への膜形成4少なく、粉体
も生成しにくいという利点がある反面、膜材料の設計の
自由度の点ではプラズマCVD法よシ劣る。また、光C
VD法に用いる光源は発光効率、寿命などの点で通常ア
ルゴンレーザ、 YAGレーザ、炭酸ガスレーザなど可
視域、赤外域の波長のレーザ光が用いられるが、この領
域の波長光による成膜機構には被膜基体の温度上昇によ
る分解過程すなわち通常の熱CVD過程をかなり含んで
いる。従って、感光体で通常用いられている機械/70
工により平滑化したアルミニウムからなる基体では、基
体に直接レーザ光を照射した場合反射率が高いために温
度が上昇しにくくて熱分屏がおきにくく、かつ基体の融
点が低いため熱的損傷を受けやすいなどの欠点がある。
本発明は、a−8iを主材料とする複数の層を順次積層
してなる感光体の製造に際し、電子写真特性の良好な感
光体を安価に製造できる、原料ガスの利用効率および作
業性に優れた製造装置を提供することを目的とする。
してなる感光体の製造に際し、電子写真特性の良好な感
光体を安価に製造できる、原料ガスの利用効率および作
業性に優れた製造装置を提供することを目的とする。
本発明の目的は、導電性基体上にa −8iを主材料と
する複数の層を積層してなる感光体の製造装置を、各層
をその機能に応じてプラズマCVD法または光CVD法
のいずれかの好適な方法で成膜するそれぞれ個別の成膜
室を備え、かつこれら個別の成膜室が前記複数の層を導
電性基体上へ成膜する順序と同順に気密に連結されてい
て、導電性基体がこれら連結された個別の成膜室へ所定
の層を形成されながら順次基体キャリアにより移送され
ていく構成とすることによって達成される。
する複数の層を積層してなる感光体の製造装置を、各層
をその機能に応じてプラズマCVD法または光CVD法
のいずれかの好適な方法で成膜するそれぞれ個別の成膜
室を備え、かつこれら個別の成膜室が前記複数の層を導
電性基体上へ成膜する順序と同順に気密に連結されてい
て、導電性基体がこれら連結された個別の成膜室へ所定
の層を形成されながら順次基体キャリアにより移送され
ていく構成とすることによって達成される。
以下、本発明の好適な実施例を図面を参照して例示的に
詳しく説明する。
詳しく説明する。
第1図は本発明の製造装置の一実施例を示す概念的断面
図である。101と103とはプラズマCVD法による
成膜室であり、102は光CVD法による成膜室である
。各成膜室は気密に連結されており、各成膜室間および
成II室101 、103の開口部と外界とはそれぞれ
ゲートパルプ119により気密に区切られている。これ
らのゲートパルプ119を順次開閉して基体108を装
着されfc基体キャリア107が例えば移動コンベア(
図示はされていない)により成膜室101内へ搬入され
各成膜室間を移動させられ成膜室103から搬出される
。基体キャリア107には、基体コ、08の自転機構と
基体を所要の温度に加熱制御する機構とが設けられてい
る。成膜室101 ’、 102 、103には個別に
ガス供給口104゜105 、106が設けられ、また
、図示されないロータリーポンプあるいはオイルフリー
ポンプなどの排気ポンプや真空パルプなどからなる排気
機構が排気口109 、111を介して接続されている
。成膜室101 、103には排気口の機能も兼ねた放
1JL電極板109がアースシールド110に囲まれて
設置され、放電1を極板109には室壁11Bに固着さ
れた絶縁碍子112を介して例えば13 、56MHz
のプラズマ発生用高周波電源113から高周波成力が供
給され、基体10日との間の空間にプラズマを発生する
ことができる。また、成膜室102の外部にはレーザ光
源117が配置されている。レーザ光源117からの光
は、エキスパンダ116により拡大された後円柱し/ズ
115によって線状に集束されて、窓114 ’i通っ
て基体108の上に照射されるようになっている。
図である。101と103とはプラズマCVD法による
成膜室であり、102は光CVD法による成膜室である
。各成膜室は気密に連結されており、各成膜室間および
成II室101 、103の開口部と外界とはそれぞれ
ゲートパルプ119により気密に区切られている。これ
らのゲートパルプ119を順次開閉して基体108を装
着されfc基体キャリア107が例えば移動コンベア(
図示はされていない)により成膜室101内へ搬入され
各成膜室間を移動させられ成膜室103から搬出される
。基体キャリア107には、基体コ、08の自転機構と
基体を所要の温度に加熱制御する機構とが設けられてい
る。成膜室101 ’、 102 、103には個別に
ガス供給口104゜105 、106が設けられ、また
、図示されないロータリーポンプあるいはオイルフリー
ポンプなどの排気ポンプや真空パルプなどからなる排気
機構が排気口109 、111を介して接続されている
。成膜室101 、103には排気口の機能も兼ねた放
1JL電極板109がアースシールド110に囲まれて
設置され、放電1を極板109には室壁11Bに固着さ
れた絶縁碍子112を介して例えば13 、56MHz
のプラズマ発生用高周波電源113から高周波成力が供
給され、基体10日との間の空間にプラズマを発生する
ことができる。また、成膜室102の外部にはレーザ光
源117が配置されている。レーザ光源117からの光
は、エキスパンダ116により拡大された後円柱し/ズ
115によって線状に集束されて、窓114 ’i通っ
て基体108の上に照射されるようになっている。
次に、この装置を用いて感光体を作製する過、程を説明
する。円筒状アルミニウム基体10日を2本読着した基
体キャリア107をゲートパルプ119を開閉して成膜
室101内に搬入する。成膜室101内を1mTorr
以下に排気し、次にアルゴン(Ar)ガスをガス供給口
104より室内にガス圧I Torr Kなるように導
入する。基体108を矢印のように相互に外向きに1O
rpmで自転開始すると同時に加熱を始め、基体10日
の温度を280℃ まで上げる。次に、成膜室101内
を再度1m TOrr以下まで排気してから水X (H
2)ガスを圧力I Torrになるまで導入し、高周波
電源113かも放電電極板109に電力を供給して放電
を発生させ、基体10Bの表面の清浄化を行う。約10
分間放電後、成膜室101内を1 m Torr以下ま
で排気すると同時に基体108の温度を220℃まで下
げる。次にモノシラン(siHn)ガスとアンモニア(
NH3)ガスとジボラン(B+aHs )ガスとをガス
供給口104から成膜室101内に導入する。BI!H
6の濃度1000 ppm 、ガス圧0.7 Torr
になるように調整後、高周波電力を放電電極板109に
供給し、基体10日上にプラズマCVDlICよシ膜厚
約2μmのa −8i膜を形成する。このときの放電電
力は300W、 放電時間は約30分である、その後
放電を止め成膜室101内を1 m Torrまで排気
し、第1層目のプラズマCVDによるブロッキング層の
成膜を終了する。
する。円筒状アルミニウム基体10日を2本読着した基
体キャリア107をゲートパルプ119を開閉して成膜
室101内に搬入する。成膜室101内を1mTorr
以下に排気し、次にアルゴン(Ar)ガスをガス供給口
104より室内にガス圧I Torr Kなるように導
入する。基体108を矢印のように相互に外向きに1O
rpmで自転開始すると同時に加熱を始め、基体10日
の温度を280℃ まで上げる。次に、成膜室101内
を再度1m TOrr以下まで排気してから水X (H
2)ガスを圧力I Torrになるまで導入し、高周波
電源113かも放電電極板109に電力を供給して放電
を発生させ、基体10Bの表面の清浄化を行う。約10
分間放電後、成膜室101内を1 m Torr以下ま
で排気すると同時に基体108の温度を220℃まで下
げる。次にモノシラン(siHn)ガスとアンモニア(
NH3)ガスとジボラン(B+aHs )ガスとをガス
供給口104から成膜室101内に導入する。BI!H
6の濃度1000 ppm 、ガス圧0.7 Torr
になるように調整後、高周波電力を放電電極板109に
供給し、基体10日上にプラズマCVDlICよシ膜厚
約2μmのa −8i膜を形成する。このときの放電電
力は300W、 放電時間は約30分である、その後
放電を止め成膜室101内を1 m Torrまで排気
し、第1層目のプラズマCVDによるブロッキング層の
成膜を終了する。
続いて、成膜室101と前もって内圧1 m Torr
以下に排気しである成膜室102との間のゲートパルプ
119を開けて、基体108を装着されている基体キャ
リア10’7を成膜室101から成膜室102へ移動さ
せ、再び両室間のゲートパルプ119を閉じた後、ガス
供給口105よシジシラン(si aH6)ガスとB2
H。
以下に排気しである成膜室102との間のゲートパルプ
119を開けて、基体108を装着されている基体キャ
リア10’7を成膜室101から成膜室102へ移動さ
せ、再び両室間のゲートパルプ119を閉じた後、ガス
供給口105よシジシラン(si aH6)ガスとB2
H。
ガスを成膜室102内に導入し、IlgH,濃度10
ppm 。
ppm 。
ガス圧5 Torrに設にする。既にプラズマCVDに
よpa−81膜が形成されている基体10日を自転させ
ながらその上に炭酸ガスレーザ光源117からの光を照
射し光CVDによりa−8i膜を形成する。レーザ出力
約100W /−のとき3μm/m程度の速度で成膜で
きる。膜厚約20μmのa−8i膜が形成されたらレー
ザ光照射を止める。成膜室102内を1m’rorr以
Fにまで排気して第2層目の光CVD法による光導電層
の成膜を終了する。
よpa−81膜が形成されている基体10日を自転させ
ながらその上に炭酸ガスレーザ光源117からの光を照
射し光CVDによりa−8i膜を形成する。レーザ出力
約100W /−のとき3μm/m程度の速度で成膜で
きる。膜厚約20μmのa−8i膜が形成されたらレー
ザ光照射を止める。成膜室102内を1m’rorr以
Fにまで排気して第2層目の光CVD法による光導電層
の成膜を終了する。
さらに第3層目形成のために、牙2層までを積層され九
基体10日を装着されている基体キャリア107を成膜
室101から成膜室102へ移動させたときと同様にし
て成膜室102から成膜室103へ移動させ、ガス供給
口106から81H4+ CH4、BaH6の三種類の
ガスを導入する。ガス圧を0.7 Torrに調節し、
放電電極板109に300Wの高周波電力を供給し、基
体108を自転させながらその上にプラズマCvDによ
り約0.5μmの膜を形成した後放電を止め基体の自転
を停止し成膜室103内をl m Torr以下に排気
して第3層目の表面保護層の成膜を終了する。その後、
成膜室103内に空気を導入しゲートパルプを開き基体
キャリア107を搬出し成膜の完了した基体10日を基
体キャリアから取り出す。
基体10日を装着されている基体キャリア107を成膜
室101から成膜室102へ移動させたときと同様にし
て成膜室102から成膜室103へ移動させ、ガス供給
口106から81H4+ CH4、BaH6の三種類の
ガスを導入する。ガス圧を0.7 Torrに調節し、
放電電極板109に300Wの高周波電力を供給し、基
体108を自転させながらその上にプラズマCvDによ
り約0.5μmの膜を形成した後放電を止め基体の自転
を停止し成膜室103内をl m Torr以下に排気
して第3層目の表面保護層の成膜を終了する。その後、
成膜室103内に空気を導入しゲートパルプを開き基体
キャリア107を搬出し成膜の完了した基体10日を基
体キャリアから取り出す。
この一連の製造過程を連続して繰シ返すことにより、第
1図に示し九装置により、導電性基体上にa−8iを主
材料とするブロッキング層、光導電層9表面保護層を順
次積層してなる感光体が効率良く量産できることになる
。
1図に示し九装置により、導電性基体上にa−8iを主
材料とするブロッキング層、光導電層9表面保護層を順
次積層してなる感光体が効率良く量産できることになる
。
第2図は本発明の他の実施例の概念的断面図であり、個
別の成膜室を円型に配置した例である。
別の成膜室を円型に配置した例である。
第1図と同じ機能をもつ部には同一番号が付しである。
第1図と異なるところは、基体中ヤリア10’7のセツ
ティングを行う成膜準備室100を有する点と、各成膜
室で成膜終了後すべての基体キャリア107が円型の室
壁118の中心を軸として公転することにより基体キャ
リア107の移動が行なわれる点である。
ティングを行う成膜準備室100を有する点と、各成膜
室で成膜終了後すべての基体キャリア107が円型の室
壁118の中心を軸として公転することにより基体キャ
リア107の移動が行なわれる点である。
本実施例の製造製蓋においては、感光体のブロッキング
層である第1層目のa−81膜をプラズマCVD法で成
膜する。プラズマCVD Icよれば窒素(N2)ま九
は炭素(C)を含むa−8i膜を良好に形成できるので
、第1層目成膜時にこれらの元素を含むガスを導入する
ことによ#)N2またはCを含有するa−8i膜が形成
され、ブロッキング層に感光体特性上重要な機能である
電荷注入阻止能を充分付与することができることになる
。次に光導電層である第2層目のa−81膜を光CVD
法により成膜する。既に第1層目のa−8i膜が形成さ
れているため、レーザ光は基体上に直接照射される場合
に比して反射されず良く吸収されるので成膜開始直後か
ら高い効率で成膜できる。ま走光導電層の膜厚は20μ
m程度と厚くすることが必要であるが、この膜の形成に
プラズマCVD法に比し成膜速度が約20倍速くガスの
利用効率も高い光CVD法を適用することKよシ成膜時
間を短縮し材料費を節減している。さらKこの上に表面
保護層として第3層目のa−8i*を形成するが、その
成膜をプラズマCVD法で行うことによジオ1層と同じ
ようにNz + Cまたは02を含むa−8i膜とし、
表面の安定性を得ると同時に電荷の注入阻止能を向上さ
せている。
層である第1層目のa−81膜をプラズマCVD法で成
膜する。プラズマCVD Icよれば窒素(N2)ま九
は炭素(C)を含むa−8i膜を良好に形成できるので
、第1層目成膜時にこれらの元素を含むガスを導入する
ことによ#)N2またはCを含有するa−8i膜が形成
され、ブロッキング層に感光体特性上重要な機能である
電荷注入阻止能を充分付与することができることになる
。次に光導電層である第2層目のa−81膜を光CVD
法により成膜する。既に第1層目のa−8i膜が形成さ
れているため、レーザ光は基体上に直接照射される場合
に比して反射されず良く吸収されるので成膜開始直後か
ら高い効率で成膜できる。ま走光導電層の膜厚は20μ
m程度と厚くすることが必要であるが、この膜の形成に
プラズマCVD法に比し成膜速度が約20倍速くガスの
利用効率も高い光CVD法を適用することKよシ成膜時
間を短縮し材料費を節減している。さらKこの上に表面
保護層として第3層目のa−8i*を形成するが、その
成膜をプラズマCVD法で行うことによジオ1層と同じ
ようにNz + Cまたは02を含むa−8i膜とし、
表面の安定性を得ると同時に電荷の注入阻止能を向上さ
せている。
以上の説明においてはa −8i膜にN2を含有させる
のにNH3ガスを用いたが、Na + No + NO
2などのガスを用いてもよく、筐7’[a−8i膜にC
を含ませるためにはCH4ガスに限らす各櫨炭化水素例
えばC3H9・C2H6・CtH+o・C2H4・C2
H2ガスなどが有効に使用できる。また第1層、第3層
の成膜にはモノシラン(SiH4)を用いたがジシラン
(slans)など他のシリコン化合物を用いてもよい
。さらに第2ノー目成膜時の光CVD法の光源からのレ
ーザ光照射に関しても、基体近傍で基体に平行にレーザ
光を走らせることによっても成膜は可能である。
のにNH3ガスを用いたが、Na + No + NO
2などのガスを用いてもよく、筐7’[a−8i膜にC
を含ませるためにはCH4ガスに限らす各櫨炭化水素例
えばC3H9・C2H6・CtH+o・C2H4・C2
H2ガスなどが有効に使用できる。また第1層、第3層
の成膜にはモノシラン(SiH4)を用いたがジシラン
(slans)など他のシリコン化合物を用いてもよい
。さらに第2ノー目成膜時の光CVD法の光源からのレ
ーザ光照射に関しても、基体近傍で基体に平行にレーザ
光を走らせることによっても成膜は可能である。
またレーザ光はもちろん炭酸ガスレーザにかぎるもので
はない。
はない。
本発明によれば、a−8iを主材料とする複数の層から
なる感光体を作製するために、各層の機能に応じてプラ
ズマCVD法または光CVD法いずれかの方法により成
膜する個別の成膜室を層毎に有し、これら個別の成膜室
がa −8i層の積層される順序と同順に気密に連結さ
れておシ、基体がこれら個別の成膜室を断連の膜を形成
されながら基体キャリアにより気密に移層されていくよ
うな構成の製造装置を用いる。
なる感光体を作製するために、各層の機能に応じてプラ
ズマCVD法または光CVD法いずれかの方法により成
膜する個別の成膜室を層毎に有し、これら個別の成膜室
がa −8i層の積層される順序と同順に気密に連結さ
れておシ、基体がこれら個別の成膜室を断連の膜を形成
されながら基体キャリアにより気密に移層されていくよ
うな構成の製造装置を用いる。
このような装置によればa −8iの複数の層を各基体
上に順次連続して成膜できるので作業効率が向上し、安
価な感光体を効率良く連続して製造することが0丁能と
なる。
上に順次連続して成膜できるので作業効率が向上し、安
価な感光体を効率良く連続して製造することが0丁能と
なる。
また、各個別の成膜室内では瀦に同ユ(のガスが供給さ
れ同一条件で成膜が行なわfするため均質な膜が形成さ
れ、その結果特性の揃った感光体を量産できることにな
る。
れ同一条件で成膜が行なわfするため均質な膜が形成さ
れ、その結果特性の揃った感光体を量産できることにな
る。
さらに、各層毎に個別の成膜室を設けるのであるから、
各ノーの果すべき機能に対応して、ぞの成膜室をプラズ
マCVD法または光CVD法のいずれか適した方法によ
る成膜室とし、各成膜法の利点を有効に活用して成膜す
ることにより、電子写−A%性の優れた感光体を効率良
く安価に製造できることになり非常に有効である。
各ノーの果すべき機能に対応して、ぞの成膜室をプラズ
マCVD法または光CVD法のいずれか適した方法によ
る成膜室とし、各成膜法の利点を有効に活用して成膜す
ることにより、電子写−A%性の優れた感光体を効率良
く安価に製造できることになり非常に有効である。
その上、各成膜室では同一方法での成膜が行なわれるか
ら、成膜室内の基体以外の部分への付着物も均質となり
、付着物が剥離し飛散して成膜環境を悪化させることも
少なくなシ、かつ、各層毎に個別の成膜室で形成される
ので、一つの成膜室内ですべての層が形成される場合に
比べて、基体上に形成されたa −8i膜が成膜室内の
基体以外の部分へ付着した付着物の再飛散による悪影響
を受けることも少なくなる利点もある。
ら、成膜室内の基体以外の部分への付着物も均質となり
、付着物が剥離し飛散して成膜環境を悪化させることも
少なくなシ、かつ、各層毎に個別の成膜室で形成される
ので、一つの成膜室内ですべての層が形成される場合に
比べて、基体上に形成されたa −8i膜が成膜室内の
基体以外の部分へ付着した付着物の再飛散による悪影響
を受けることも少なくなる利点もある。
3・1図は本発明の一実施例を示す概念的断面図であり
、第2図は本発明の他の実施例を示す概念的断面図であ
る。 101 、103・・・プラズマCVD法成膜室、10
2・・・光OVD法成法学膜室07・・基体キャリア、
108・・・導電性基体、119・・・ゲートパルプ。
、第2図は本発明の他の実施例を示す概念的断面図であ
る。 101 、103・・・プラズマCVD法成膜室、10
2・・・光OVD法成法学膜室07・・基体キャリア、
108・・・導電性基体、119・・・ゲートパルプ。
Claims (1)
- 1)導電性基体上にアモルファスシリコンを主材料とす
る複数の層を積層してなる電子写真用感光体の製造装置
において、前記複数の層の各層をプラズマCVD法また
は光CVD法のいずれかの方法で形成するそれぞれ個別
の成膜室を備え、かつ、これら個別の成膜室が前記複数
の層が前記導電性基体上へ積層される順序と同順に気密
に連結されており、前記導電性基体がこれら連結された
個別の成膜室を順次基体キャリアにより移送されていく
機構を有することを特徴とする電子写真感光体の製造装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19164885A JPS6250464A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 電子写真感光体の製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19164885A JPS6250464A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 電子写真感光体の製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6250464A true JPS6250464A (ja) | 1987-03-05 |
Family
ID=16278152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19164885A Pending JPS6250464A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 電子写真感光体の製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6250464A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63190173A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理方法 |
| JP2008025897A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Nikkei Nekko Kk | 冷暖房空調システムの室外機用熱交換器 |
-
1985
- 1985-08-30 JP JP19164885A patent/JPS6250464A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63190173A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理方法 |
| JP2008025897A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Nikkei Nekko Kk | 冷暖房空調システムの室外機用熱交換器 |
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