JPS626340A - デイジタル処理装置の診断装置 - Google Patents
デイジタル処理装置の診断装置Info
- Publication number
- JPS626340A JPS626340A JP60145314A JP14531485A JPS626340A JP S626340 A JPS626340 A JP S626340A JP 60145314 A JP60145314 A JP 60145314A JP 14531485 A JP14531485 A JP 14531485A JP S626340 A JPS626340 A JP S626340A
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- Japan
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- shift register
- data
- register
- bit
- digital processing
- Prior art date
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の目的
産業上の利用分野
本発明は、電子計算機等ディジタル処理装置の動作チェ
ックや解析などを行うための診断装置に関するものであ
る。
ックや解析などを行うための診断装置に関するものであ
る。
従来の技術
一般に、電子計算機等ディジタル処理装置においては、
その内部に設置され通常動作時には並列処理されるビッ
ト群内の所定ビットを保持する特定のデータ保持手段の
内容を読出して検査したり、あるいは、検査のためのフ
ラグなどを所定の保持手段に設定しておくことにより、
このディジタル処理装置の動作チェックや解析などを行
う診断装置が使用される。
その内部に設置され通常動作時には並列処理されるビッ
ト群内の所定ビットを保持する特定のデータ保持手段の
内容を読出して検査したり、あるいは、検査のためのフ
ラグなどを所定の保持手段に設定しておくことにより、
このディジタル処理装置の動作チェックや解析などを行
う診断装置が使用される。
ディジタル処理装置内の特定のディジタル保持一手段内
のデータの読み書き方式の一つとして、そのような特定
のデータ保持手段を直列に接続す遥シフトレジスタを一
時的に形成し、この一時的に形成したシフトレジスタと
診断装置側のシフトレジスタとを直列接続し、両者の間
で直列データ転送を行う方式が知られている。
のデータの読み書き方式の一つとして、そのような特定
のデータ保持手段を直列に接続す遥シフトレジスタを一
時的に形成し、この一時的に形成したシフトレジスタと
診断装置側のシフトレジスタとを直列接続し、両者の間
で直列データ転送を行う方式が知られている。
すなわち、第3図に示すように、診断装置30内の制御
回路34の指令に基づき、ディジタル処理装置10内の
制御回路12によって一時的なシフトレジスタ群11−
1.11−2・・・11−nが形成される。読出しモー
ドにおいては、制御回路34からのアドレス信号ADR
と、シフトモード指定信号SMDに基づきセレクタ13
によって上記シフトレジスタ11−1〜11−nの一つ
の出力が選択され、クロック信号CLKに同期してシフ
トされ、直列転送路SPIを経てデータレジスタ31内
にデータが読込まれる。これと同時に、読出されたシフ
トレジスタ11−1〜11−n内のデータは、セレクタ
33.直列転送路SP1及び直列転送路SP2を経由し
てレジスタ11−1〜llnに戻される。
回路34の指令に基づき、ディジタル処理装置10内の
制御回路12によって一時的なシフトレジスタ群11−
1.11−2・・・11−nが形成される。読出しモー
ドにおいては、制御回路34からのアドレス信号ADR
と、シフトモード指定信号SMDに基づきセレクタ13
によって上記シフトレジスタ11−1〜11−nの一つ
の出力が選択され、クロック信号CLKに同期してシフ
トされ、直列転送路SPIを経てデータレジスタ31内
にデータが読込まれる。これと同時に、読出されたシフ
トレジスタ11−1〜11−n内のデータは、セレクタ
33.直列転送路SP1及び直列転送路SP2を経由し
てレジスタ11−1〜llnに戻される。
逆に、一時的に形成したシフトレジスタ11−1〜11
−nに新たなデータを書込む場合には、書込みデータを
データレジスタ31に設定したのち、直列転送路SP2
を経てデータがシフトされる。
−nに新たなデータを書込む場合には、書込みデータを
データレジスタ31に設定したのち、直列転送路SP2
を経てデータがシフトされる。
発明が解決しようとする問題点
上記従来の診断装置では、ディジタル処理装置内に一時
的に形成したシフトレジスタ内のデータの一部を書き替
える場合には、旧データを一部データレジスタ31に読
出し、演算器32により新・旧データのマージを行い、
マージされた新データをデータレジスタ31へ設定し、
それからシフト動作による書込みを行っている。
的に形成したシフトレジスタ内のデータの一部を書き替
える場合には、旧データを一部データレジスタ31に読
出し、演算器32により新・旧データのマージを行い、
マージされた新データをデータレジスタ31へ設定し、
それからシフト動作による書込みを行っている。
旧データの読出しと新データの書込みを直列転送で行っ
ているのでこれに時間がかかり、また、演算器によるマ
ージにも時間がかかり、書き替えのための処理時間が長
引くという問題がある。
ているのでこれに時間がかかり、また、演算器によるマ
ージにも時間がかかり、書き替えのための処理時間が長
引くという問題がある。
演算器32によるマージは、ソフトウェアやファームウ
ェアで行われるため、その時間を短縮することは容易で
はない。
ェアで行われるため、その時間を短縮することは容易で
はない。
発明の構成
問題点を解決するための手段
上記従来技術の問題点を解決する本発明の診断装置は、
データレジスタと同一ビット幅の選択指定ビット群を保
持しデータレジスタと同期してシフトされるマスクレジ
スタと、このマスクレジスタから出力される選択指定ビ
ットに従ってデータレジスタの入力又は出力をビット単
位で選択してディジタル処理装置側のシフトレジスタに
供給する選択手段とを備えている。
データレジスタと同一ビット幅の選択指定ビット群を保
持しデータレジスタと同期してシフトされるマスクレジ
スタと、このマスクレジスタから出力される選択指定ビ
ットに従ってデータレジスタの入力又は出力をビット単
位で選択してディジタル処理装置側のシフトレジスタに
供給する選択手段とを備えている。
さらに、本発明の診断装置は、ディジタル処理装置側の
シフトレジスタの内容のうち変更すべき部分のみを有効
データとしてデータレジスタ内の対応のビット位置に保
持させ、このデータレジスタ内の有効データに対応する
マスクレジスタ内のビット位置だけにデータレジスタの
出力を選択させる選択指定ビットを設定する制御手段を
備えている。
シフトレジスタの内容のうち変更すべき部分のみを有効
データとしてデータレジスタ内の対応のビット位置に保
持させ、このデータレジスタ内の有効データに対応する
マスクレジスタ内のビット位置だけにデータレジスタの
出力を選択させる選択指定ビットを設定する制御手段を
備えている。
すなわち、本発明の診断装置は、シフト動作による旧デ
ータの読出し、その一部変更及びシフト動作による新デ
ータの書込みを同時に実行することにより、従来旧デー
タの一部変更と新データのシフト動作による書込みに費
やしていた処理時間を除去し、データの一部書き替えの
処理時間を大幅に短縮するように構成されている。
ータの読出し、その一部変更及びシフト動作による新デ
ータの書込みを同時に実行することにより、従来旧デー
タの一部変更と新データのシフト動作による書込みに費
やしていた処理時間を除去し、データの一部書き替えの
処理時間を大幅に短縮するように構成されている。
以下、本発明の作用を実施例と共に詳細に説明する。
実施例
第1図は、本発明の一実施例の診断装置のうち、データ
の読出し・書込みに関連する部分の構成を示すブロック
図である。
の読出し・書込みに関連する部分の構成を示すブロック
図である。
この診断装置の読出し・書込み関連部分は、データレジ
スタ21.マスクレジスタ22.セレクタ23及び制御
回路24を備えている。
スタ21.マスクレジスタ22.セレクタ23及び制御
回路24を備えている。
データレジスタ21は、直列入出力端子と並列入出力端
子を有するシフトレジスタで構成されている。このデー
タレジスタ21の直列入力端子は、直列転送路SPIと
セレクタ13を介してディジタル処理装置10内に一時
的に形成されるシフトレジスタ群11−1〜11−nの
一つと接続される。また、データレジスタ21の直列出
力端子は、直列転送路SP3.セレクタ23及び直列転
送路SP2を介して上記シフトレジスタ群11−1〜1
1−nに接続される。データレジスタ21の並列入出力
端子は、並列転送路PPIを介して図示しない他のレジ
スタ、演算器、コンソール等と並列データを授受する。
子を有するシフトレジスタで構成されている。このデー
タレジスタ21の直列入力端子は、直列転送路SPIと
セレクタ13を介してディジタル処理装置10内に一時
的に形成されるシフトレジスタ群11−1〜11−nの
一つと接続される。また、データレジスタ21の直列出
力端子は、直列転送路SP3.セレクタ23及び直列転
送路SP2を介して上記シフトレジスタ群11−1〜1
1−nに接続される。データレジスタ21の並列入出力
端子は、並列転送路PPIを介して図示しない他のレジ
スタ、演算器、コンソール等と並列データを授受する。
マスクレジスタ22は、データレジスタ21と同一ビッ
ト幅の段数、直列出力端子及び並列入出力端子とを有す
るシフトレジスタで構成されている。マスクレジスタ2
2の直列出力端子は、アンドゲート25とオアゲート2
6を介してセレクタ23の選択切り替え端子に接続され
ている。マスクレジスタ22の並列入出力端子は、並列
転送路PP2を介して、図示しない他のレジスタ、演算
器、コンソール等と並列データ形式の選択指定ビット群
を授受する。マスクレジスタ22内に設定された選択指
定ビット群は、制御回路24から供給されるクロック信
号CLKにより、データレジスタ21におけるシフト動
作と同期してシフトアウトされる。
ト幅の段数、直列出力端子及び並列入出力端子とを有す
るシフトレジスタで構成されている。マスクレジスタ2
2の直列出力端子は、アンドゲート25とオアゲート2
6を介してセレクタ23の選択切り替え端子に接続され
ている。マスクレジスタ22の並列入出力端子は、並列
転送路PP2を介して、図示しない他のレジスタ、演算
器、コンソール等と並列データ形式の選択指定ビット群
を授受する。マスクレジスタ22内に設定された選択指
定ビット群は、制御回路24から供給されるクロック信
号CLKにより、データレジスタ21におけるシフト動
作と同期してシフトアウトされる。
セレクタ23は、マスクレジスタ22からアンドゲート
25.直列転送路SP4及びオアゲート26を介して供
給される選択指定ビットがハイの時には、データレジス
タの直列出力端子に連なる直列転送路SPa上のデータ
選択して直列転送路SF3上に出力する。セレクタ23
は、マスクレジスタ22からアンドゲート25とオアゲ
ート26を介して供給される選択指定ビットがローの時
には、データレジスタの直列入力端子に連なる直列転送
路SPI上のデータ選択して直列転送路SF3上に出力
する。
25.直列転送路SP4及びオアゲート26を介して供
給される選択指定ビットがハイの時には、データレジス
タの直列出力端子に連なる直列転送路SPa上のデータ
選択して直列転送路SF3上に出力する。セレクタ23
は、マスクレジスタ22からアンドゲート25とオアゲ
ート26を介して供給される選択指定ビットがローの時
には、データレジスタの直列入力端子に連なる直列転送
路SPI上のデータ選択して直列転送路SF3上に出力
する。
ディジタル処理装置lO内に一時的に形成されたシフト
レジスタ11−1の内容の一部を書き替ものとする。
レジスタ11−1の内容の一部を書き替ものとする。
また、シフトレジスタ11−1内の旧データが、第2図
の(a)に例示するように、16進数の(AB)++で
ある場合に、その一部CB)イを〔C)、に変更して同
図の(d)に示すような(A C)□に書き替えるもの
とする。
の(a)に例示するように、16進数の(AB)++で
ある場合に、その一部CB)イを〔C)、に変更して同
図の(d)に示すような(A C)□に書き替えるもの
とする。
制御装置24は、まず、シフトレジスタ11−1の内容
(AB)wのうち変更すべき部分(C) Nのみを有効
データとしてデータレジスタ21内の対応のビット位置
に保持させる。すなわち、第2図の(b)に示すような
(OC)イを並列転送路PPIを介してデータレジスタ
21に設定する。
(AB)wのうち変更すべき部分(C) Nのみを有効
データとしてデータレジスタ21内の対応のビット位置
に保持させる。すなわち、第2図の(b)に示すような
(OC)イを並列転送路PPIを介してデータレジスタ
21に設定する。
次に、制御装置24は、第2図の(C)に示すように、
データレジスタ21内の有効データ(C)に対応するマ
スクレジスタ22内の第0ビ・ノドから第3ビツトまで
のビット位置に、データレジスタ21からの出力をセレ
クタ23に選択させるためのビット“1”を設定し、他
のビット位置にはデータレジスタ21への入力をセレク
タ23に選択させるためのビット“0”を設定する。
データレジスタ21内の有効データ(C)に対応するマ
スクレジスタ22内の第0ビ・ノドから第3ビツトまで
のビット位置に、データレジスタ21からの出力をセレ
クタ23に選択させるためのビット“1”を設定し、他
のビット位置にはデータレジスタ21への入力をセレク
タ23に選択させるためのビット“0”を設定する。
制御回路24は、上記レジスタ21と22への設定が終
了すると、ディジタル処理装置10内の制御回路12に
連なるシフトモード信号線SMDとアドレス信号線AD
R上にシフトモード指令信号とアドレス信号を出力する
。これを受けた制御回路12は、ディジタル処理装置1
0内の所定のデータ保持手段を直列に接続するシフトレ
ジスタ11−1を一時的に形成すると共に、セレクタ1
3の切り替えによりシフトレジスタ11−1の直列出力
端子を直列転送路SPIに接続する。
了すると、ディジタル処理装置10内の制御回路12に
連なるシフトモード信号線SMDとアドレス信号線AD
R上にシフトモード指令信号とアドレス信号を出力する
。これを受けた制御回路12は、ディジタル処理装置1
0内の所定のデータ保持手段を直列に接続するシフトレ
ジスタ11−1を一時的に形成すると共に、セレクタ1
3の切り替えによりシフトレジスタ11−1の直列出力
端子を直列転送路SPIに接続する。
引き続き、制御回路24は、アンドゲート25の一方の
入力端子に連なる信号線上にハイ信号を出力すると共に
オアゲート26の一方に連なる信号線をローに立下げる
ことにより、セレクタの切り替えがマスクレジスタ22
の出力のみによって行われるようにする。さらに、制御
回路24は制御回路12に連なるシフトイン信号線SI
Nに、シフトの開始を通知し、クロック信号CLKの供
給を開始する。
入力端子に連なる信号線上にハイ信号を出力すると共に
オアゲート26の一方に連なる信号線をローに立下げる
ことにより、セレクタの切り替えがマスクレジスタ22
の出力のみによって行われるようにする。さらに、制御
回路24は制御回路12に連なるシフトイン信号線SI
Nに、シフトの開始を通知し、クロック信号CLKの供
給を開始する。
シフトレジスタ11−1からは、最初のクロック信号C
LKに同期してビット“1”がセレクタ13を経て直列
転送路SPl上に出力される。これと同時に、データレ
ジスタ21からはビット“0”が直列転送路SPa上に
出力され、マスクレジスタ22からはビット“1″が直
列転送路SF3上に出力される。セレクタ23は、マス
クレジスタ22から出力されたビット“1”に従って、
直列転送路SF3上のビット“0”を選択し、これを直
列転送路SF2上に出力する。同様に、2番目から4番
目までのクロック信号に同期してマスクレジスタ23か
らビット“1″が連続して3回出力され、データレジス
タ21から直列転送路SPa上に出力されたビット“0
”、“1″、“1”が順次直列転送路SF3上に出力さ
れる。
LKに同期してビット“1”がセレクタ13を経て直列
転送路SPl上に出力される。これと同時に、データレ
ジスタ21からはビット“0”が直列転送路SPa上に
出力され、マスクレジスタ22からはビット“1″が直
列転送路SF3上に出力される。セレクタ23は、マス
クレジスタ22から出力されたビット“1”に従って、
直列転送路SF3上のビット“0”を選択し、これを直
列転送路SF2上に出力する。同様に、2番目から4番
目までのクロック信号に同期してマスクレジスタ23か
らビット“1″が連続して3回出力され、データレジス
タ21から直列転送路SPa上に出力されたビット“0
”、“1″、“1”が順次直列転送路SF3上に出力さ
れる。
第5番目から第8番目のクロック信号CLKに同期して
マスクレジスタ22からビット“O”が連続して4回出
力される。セレクタ23は、このマスクレジスタ22か
ら出力された選択指定ビット“0”に従って、直列転送
路SPI上に順次出現する旧データの4ビツト“0”、
“l”、“O”、“1”をそのまま直列転送路SPZ上
に出力する。
マスクレジスタ22からビット“O”が連続して4回出
力される。セレクタ23は、このマスクレジスタ22か
ら出力された選択指定ビット“0”に従って、直列転送
路SPI上に順次出現する旧データの4ビツト“0”、
“l”、“O”、“1”をそのまま直列転送路SPZ上
に出力する。
このようにして、直列転送路SP2に出力された8個の
ビット“0” IIQ″、III″、11″。
ビット“0” IIQ″、III″、11″。
0″ IIIZIIQ″、“1″は、ディジタル処理装
置10内に一時的に形成されたシフトレジスタ11−1
に直列転送され、このシフトレジスタの内容は第2図の
(D)に示すような(AC)。
置10内に一時的に形成されたシフトレジスタ11−1
に直列転送され、このシフトレジスタの内容は第2図の
(D)に示すような(AC)。
に書き替えられる。
このデータの一部書き替え処理は、旧データの読出しの
終了と同時に終了する。すなわち、直列転送による旧デ
ータの読出しと、その一部変更と、直列転送による新デ
ータの書込みが同時に行われたことになり、データの一
部変更のための処理時間と新データの書込みのための処
理時間が完全に除去され、一部書き替え処理時間が著し
く短縮される。
終了と同時に終了する。すなわち、直列転送による旧デ
ータの読出しと、その一部変更と、直列転送による新デ
ータの書込みが同時に行われたことになり、データの一
部変更のための処理時間と新データの書込みのための処
理時間が完全に除去され、一部書き替え処理時間が著し
く短縮される。
なお、旧データの全部書き替えは、マスクレジスタ22
を使用せず制御回路24からオアゲート26を介して直
接セレクタ23にハイ信号を供給、して、データレジス
タ21の出力を全て直列転送路SPZ上に出力させるこ
とにより行ってもよいし、あるいはマスクレジスタ22
の内容をオール“1”とすることにより一部書き替えの
場合と同様に行ってもよい。
を使用せず制御回路24からオアゲート26を介して直
接セレクタ23にハイ信号を供給、して、データレジス
タ21の出力を全て直列転送路SPZ上に出力させるこ
とにより行ってもよいし、あるいはマスクレジスタ22
の内容をオール“1”とすることにより一部書き替えの
場合と同様に行ってもよい。
データレジスタ21内の無効データとしてオール“0”
を設定したが、オール11″等任意のデータを設定して
もよい。あるいは、ビット幅が大きい場合などには有効
データのみをデータレジスタ21に書込む構成としても
よい。
を設定したが、オール11″等任意のデータを設定して
もよい。あるいは、ビット幅が大きい場合などには有効
データのみをデータレジスタ21に書込む構成としても
よい。
発明の効果
以上詳細に説明したように、本発明の診断装置は、読出
した旧データと、データレジスタに有効部分として設定
した書き替え部分をマスクレジスタに設定した選択指定
ビットに従って選択させつつ旧データの読出しと同時に
書込むように構成されているので、直列転送による旧デ
ータの読出し。
した旧データと、データレジスタに有効部分として設定
した書き替え部分をマスクレジスタに設定した選択指定
ビットに従って選択させつつ旧データの読出しと同時に
書込むように構成されているので、直列転送による旧デ
ータの読出し。
その一部変更及び直列転送による書込みが同時に実行さ
れ、従来データの一部変更と書込みに要した時間が完全
に除去され、全処理時間が大幅に短縮されるという効果
が奏される。
れ、従来データの一部変更と書込みに要した時間が完全
に除去され、全処理時間が大幅に短縮されるという効果
が奏される。
第1図は本発明の一実施例の診断装置のうち読出し・書
込みに関連する部分の構成をディジタル処理装置内の関
連の部分と共に示すブロック図。 第2図は第1図の動作を説明するための概念図。 第3図は従来の診断装置の読出し・書込みに関連する部
分の構成をディジタル処理装置の関連の部分と共に示す
ブロック図である。 10・・・ディジタル処理装置、11−1〜11−n・
・・シフトレジスタ(第1のシフトレジスタ)、20・
・・診断装置: 21・・・データレジスタ(第2のシ
フトレジスタ)、22・・・マスクレジスタ(第3のシ
フトレジスタ)、23・・・セレクタ(選択手段)、2
4・・・制御回路(制御手段)。
込みに関連する部分の構成をディジタル処理装置内の関
連の部分と共に示すブロック図。 第2図は第1図の動作を説明するための概念図。 第3図は従来の診断装置の読出し・書込みに関連する部
分の構成をディジタル処理装置の関連の部分と共に示す
ブロック図である。 10・・・ディジタル処理装置、11−1〜11−n・
・・シフトレジスタ(第1のシフトレジスタ)、20・
・・診断装置: 21・・・データレジスタ(第2のシ
フトレジスタ)、22・・・マスクレジスタ(第3のシ
フトレジスタ)、23・・・セレクタ(選択手段)、2
4・・・制御回路(制御手段)。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ディジタル処理装置内の所定のデータ保持手段を直列に
接続する第1のシフトレジスタを一時的に形成し、この
第1のシフトレジスタと、診断装置側の並列入出力可能
な第2のシフトレジスタとを接続して第1、第2のシフ
トレジスタ間で直列データ転送を行うことによりディジ
タル処理装置内の所定のデータ保持手段の内容を診断装
置側に読出す機能と、診断装置側からディジタル処理装
置内の所定のデータ保持手段に所定の内容を書込む機能
を備えたディジタル処理装置の診断装置において、 第2のシフトレジスタと同一ビット幅の選択指定ビット
群を保持し、第2のシフトレジスタと同期してシフトさ
れる第3のシフトレジスタと、この第3のシフトレジス
タから出力される選択指定ビットに従い、第2のシフト
レジスタの入力又は出力をビット単位で選択して第1の
シフトレジスタに連なる直列データ転送路上に出力する
選択手段と、 前記第1のシフトレジスタの内容のうち変更すべき部分
のみを有効データとして前記第2のシフトレジスタ内の
対応のビット位置に保持させ、この第2のシフトレジス
タ内の有効データに対応する第3のシフトレジスタ内の
ビット位置だけに第2のシフトレジスタの出力を選択さ
せる選択指定ビットを設定する制御手段とを備えたこと
を特徴とするディジタル処理装置の診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60145314A JPS626340A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | デイジタル処理装置の診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60145314A JPS626340A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | デイジタル処理装置の診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS626340A true JPS626340A (ja) | 1987-01-13 |
Family
ID=15382290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60145314A Pending JPS626340A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | デイジタル処理装置の診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS626340A (ja) |
-
1985
- 1985-07-02 JP JP60145314A patent/JPS626340A/ja active Pending
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