JPS63156251A - チエツク回路の診断方法 - Google Patents
チエツク回路の診断方法Info
- Publication number
- JPS63156251A JPS63156251A JP61304616A JP30461686A JPS63156251A JP S63156251 A JPS63156251 A JP S63156251A JP 61304616 A JP61304616 A JP 61304616A JP 30461686 A JP30461686 A JP 30461686A JP S63156251 A JPS63156251 A JP S63156251A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- check circuit
- data
- check
- program
- cpu
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概要]
チェック回路の診断方法であって、CPUの各実行ユニ
ット中に段けられたチェック回路の動作をオンライン実
行中のプログラムの空き時間を利用してSVP (サー
ビスプロセッサ)の支配下で行う。
ット中に段けられたチェック回路の動作をオンライン実
行中のプログラムの空き時間を利用してSVP (サー
ビスプロセッサ)の支配下で行う。
[産業上の利用分野]
本発明はチェック回路の診断方法に関し、更に詳しくは
C’PUがオンライン実行中にチェック回路の診断を行
うことができるようにしたチェック回路の診断方法に関
する。
C’PUがオンライン実行中にチェック回路の診断を行
うことができるようにしたチェック回路の診断方法に関
する。
CPUの各実行ユニット、例えば命令系の1ユニツト、
演算系のSユニット及び実行系のEユニット中にはチェ
ック回路が設けられており、部品の劣化等によるデータ
化けを速やかに検出し、障害の発生を通知する機能をも
っている。計尊機の大型化に伴い、チェック回路の信頼
度が重視される傾向にある。このため、チェック回路の
動作の正常性を常時保証できる方式が必要とされている
。
演算系のSユニット及び実行系のEユニット中にはチェ
ック回路が設けられており、部品の劣化等によるデータ
化けを速やかに検出し、障害の発生を通知する機能をも
っている。計尊機の大型化に伴い、チェック回路の信頼
度が重視される傾向にある。このため、チェック回路の
動作の正常性を常時保証できる方式が必要とされている
。
[従来の技術]
第5図は従来のチェック回路の診断方法を示すタイムチ
ャートである。オンラインでJOB A。
ャートである。オンラインでJOB A。
JOB Bを実行した後、システムを立下げてオフラ
インにし、オフライン状態でチェック回路の診断を行う
。チェック回路の診断が終了したら、再びシステムを立
上げオンライン動作に移る。
インにし、オフライン状態でチェック回路の診断を行う
。チェック回路の診断が終了したら、再びシステムを立
上げオンライン動作に移る。
[発明が解決しようとする問題点]
従来の方法は、前述したようにチェック回路の診断をオ
フラインで、即ちO8を介さないで行っている。従って
、チェック回路に対する保証レベルの低さが問題であっ
た。
フラインで、即ちO8を介さないで行っている。従って
、チェック回路に対する保証レベルの低さが問題であっ
た。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであって、
システムがオンライン実行中にチェック回路を診断する
ことのできるチェック回路の診断方法を提供することを
目的としている。
システムがオンライン実行中にチェック回路を診断する
ことのできるチェック回路の診断方法を提供することを
目的としている。
し問題点を解決するための手段]
第1図は本発明の原理を示すフローチャートである。本
発明は、先ず、オンライン実行中のプログラムの空き時
間が生じるとCPUがSVPに起動をかけ(ステップ(
1))、CPUの各実行ユニット中に設けられたチェッ
ク回路の内容を退避させる(ステップ■)。チェック回
路の内容の退避が終了したらチェック回路にテストデー
タを書込む(ステップ■)。テストデータを書込んだら
、次に書込んだデータを読出すくステップ■)。チェッ
ク回路が正常に動作しておれば読出したデータも正常で
ある筈である。
発明は、先ず、オンライン実行中のプログラムの空き時
間が生じるとCPUがSVPに起動をかけ(ステップ(
1))、CPUの各実行ユニット中に設けられたチェッ
ク回路の内容を退避させる(ステップ■)。チェック回
路の内容の退避が終了したらチェック回路にテストデー
タを書込む(ステップ■)。テストデータを書込んだら
、次に書込んだデータを読出すくステップ■)。チェッ
ク回路が正常に動作しておれば読出したデータも正常で
ある筈である。
そこで読出したデータの良否判定を行い、良の場合には
退避していたデータをチェック回路に戻し、否の場合に
はエラー処理を行う(ステップ■)[作用] 本発明は、システムがオンライン動作中にプログラムの
空き時間を利用してチェック回路の診断を行うので、オ
フラインで行っていた従来方式よりもチェック回路の保
証レベルが向上する。
退避していたデータをチェック回路に戻し、否の場合に
はエラー処理を行う(ステップ■)[作用] 本発明は、システムがオンライン動作中にプログラムの
空き時間を利用してチェック回路の診断を行うので、オ
フラインで行っていた従来方式よりもチェック回路の保
証レベルが向上する。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第2図は本発明方法を実施するシステム構成図である。
図において、10はCPUで、命令系のIユニット11
.演尊系のSユニット12及び実行系のEユニット13
よりなる実行ユニットをその内部に含んでいる。11a
乃至13aは、各実行ユニット11〜13に設けられた
チェック回路である。20はCPU10に対して各種サ
ービスプログラムを実行するSVP (サービスプロセ
ッサ)、30はプログラムを格納するメモリである。
.演尊系のSユニット12及び実行系のEユニット13
よりなる実行ユニットをその内部に含んでいる。11a
乃至13aは、各実行ユニット11〜13に設けられた
チェック回路である。20はCPU10に対して各種サ
ービスプログラムを実行するSVP (サービスプロセ
ッサ)、30はプログラムを格納するメモリである。
メモリ30は図に示すようにOSモニタ30a。
JOB A 30b、JOB B 30a、−
。
。
診断プログラム30nを格納している。このように構成
されたシステムの動作を、第3図のフローチャートを参
照しなが°ら説明する。
されたシステムの動作を、第3図のフローチャートを参
照しなが°ら説明する。
cpui oがオンラインで例えばJOB A等を実
行し、JOB Aが実行終了すると、次のJOBが開
始されるまでの間にプログラムの空き時間が生じる。空
き時間が生じるとOSモニタ30aから5VP20に起
動がかかる(■)。起動がかかったら、5VP20はC
PLJ 10に外部から割込みがかからないように外部
割込不可に設定する(■)。次1.:5VP20はCP
U10内の各実行ユニット11〜13の中の何れかのチ
ェック回路118〜13a内のテストポイントのラッチ
データを退避する(■、図のa)。
行し、JOB Aが実行終了すると、次のJOBが開
始されるまでの間にプログラムの空き時間が生じる。空
き時間が生じるとOSモニタ30aから5VP20に起
動がかかる(■)。起動がかかったら、5VP20はC
PLJ 10に外部から割込みがかからないように外部
割込不可に設定する(■)。次1.:5VP20はCP
U10内の各実行ユニット11〜13の中の何れかのチ
ェック回路118〜13a内のテストポイントのラッチ
データを退避する(■、図のa)。
ラッチデータの退避が終了したら、5VP20はテスト
ポイントデータを当該チェック回路に書込む(■、図の
b)。次に5VP20は同じチェック回路からテストポ
イントデータを読出す(■、図のC)。診断プログラム
30nを用いて5VP20は読出したテストポイントデ
ータを比較する(■)。テストポイントデータが良であ
った場合、チェック回路の動作は正常ということになる
ので、退避していたデータを元に、即ち元のチェック回
路に戻す(■)。これで診断処理は終了したので、再度
CPtJ10が割込の受付ができるように外部割込可能
に設定しく■)、モニターリターンする(■)。これで
、CPU10は再びオンラインで次のJOBを実行する
。尚、読出されたテストポイントデータが否であった場
合にはエラー処理を行う(@l)。
ポイントデータを当該チェック回路に書込む(■、図の
b)。次に5VP20は同じチェック回路からテストポ
イントデータを読出す(■、図のC)。診断プログラム
30nを用いて5VP20は読出したテストポイントデ
ータを比較する(■)。テストポイントデータが良であ
った場合、チェック回路の動作は正常ということになる
ので、退避していたデータを元に、即ち元のチェック回
路に戻す(■)。これで診断処理は終了したので、再度
CPtJ10が割込の受付ができるように外部割込可能
に設定しく■)、モニターリターンする(■)。これで
、CPU10は再びオンラインで次のJOBを実行する
。尚、読出されたテストポイントデータが否であった場
合にはエラー処理を行う(@l)。
以上説明したような診断処理をプログラムの空き時間を
利用して行う。例えば、今回チェック回路11aの診断
が終了したら、次の空き時間にはチェック回路12aを
診断するという具合に、空き時間ごとに少しずつ診断処
理を行うのである。
利用して行う。例えば、今回チェック回路11aの診断
が終了したら、次の空き時間にはチェック回路12aを
診断するという具合に、空き時間ごとに少しずつ診断処
理を行うのである。
勿もプログラムの空き時間は短いので、多分の診断処理
を同時に行うことは不可能である。
を同時に行うことは不可能である。
第4図は本発明実施例によるチェック回路診断方法を示
すタイムチャートである。図中、JOBDIAGはチェ
ック回路診断処理を示している。
すタイムチャートである。図中、JOBDIAGはチェ
ック回路診断処理を示している。
JOBの間の空きi間を利用してチェック回路の診断処
理をオンラインで行っていることがわかる。
理をオンラインで行っていることがわかる。
[発明の効果]
以上詳細に説明したように、本発明によれば、システム
がオンラインで動作中にプログラムの空き時間を利用し
て、チェック回路の診断を行うようにすることによりチ
ェック回路の保証レベルを向上させた診断方法を提供す
ることができる。
がオンラインで動作中にプログラムの空き時間を利用し
て、チェック回路の診断を行うようにすることによりチ
ェック回路の保証レベルを向上させた診断方法を提供す
ることができる。
第1図は本発明の原理を示すフローチャート、第2図は
本発明方法を実施するシステム構成を示す図、 第3図は本発明実施例の動作を示すフローチャート、 第4図は本発明実施例によるチェック回路診断方法を示
すタイムチャート、 第5図は従来のチェック回路の診断方法を示ずタイムチ
ャートである。 第2図において、 10はCPtJ。 11〜13は実行ユニット、 11a〜13aはチェック回路、 20はsvp。 30はメモリである。 本発明の原理と示すフローチャート 第1図 不発BJI方ン去lL実nすクシステ□Ilb本−瞥成
乞、*を図第2図
本発明方法を実施するシステム構成を示す図、 第3図は本発明実施例の動作を示すフローチャート、 第4図は本発明実施例によるチェック回路診断方法を示
すタイムチャート、 第5図は従来のチェック回路の診断方法を示ずタイムチ
ャートである。 第2図において、 10はCPtJ。 11〜13は実行ユニット、 11a〜13aはチェック回路、 20はsvp。 30はメモリである。 本発明の原理と示すフローチャート 第1図 不発BJI方ン去lL実nすクシステ□Ilb本−瞥成
乞、*を図第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 オンライン実行中のプログラムの空き時間が生じると、
CPUがSVPに起動をかけ(ステップ(1))、 CPUの各実行ユニット中に設けられたチェック回路の
内容を退避させ(ステップ(2))、前記チェック回路
にテストデータを書込み(ステップ(3))、 書込んだデータを読出し(ステップ(4))、読出した
データの良否判定を行い、良の場合には退避していたデ
ータをチェック回路に戻し、否の場合にはエラー処理を
行う(ステップ(5))ようにしたことを特徴とするチ
ェック回路の診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61304616A JPS63156251A (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | チエツク回路の診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61304616A JPS63156251A (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | チエツク回路の診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63156251A true JPS63156251A (ja) | 1988-06-29 |
Family
ID=17935159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61304616A Pending JPS63156251A (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | チエツク回路の診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63156251A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0350636A (ja) * | 1989-07-18 | 1991-03-05 | Nec Field Service Ltd | コンピュータ装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59180637A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-13 | Nec Corp | 制御用コンピユ−タ |
| JPS59226953A (ja) * | 1983-06-08 | 1984-12-20 | Nec Corp | デ−タ処理装置 |
-
1986
- 1986-12-19 JP JP61304616A patent/JPS63156251A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59180637A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-13 | Nec Corp | 制御用コンピユ−タ |
| JPS59226953A (ja) * | 1983-06-08 | 1984-12-20 | Nec Corp | デ−タ処理装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0350636A (ja) * | 1989-07-18 | 1991-03-05 | Nec Field Service Ltd | コンピュータ装置 |
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