JPS63157308A - 磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
磁気ヘツドの製造方法Info
- Publication number
- JPS63157308A JPS63157308A JP30441386A JP30441386A JPS63157308A JP S63157308 A JPS63157308 A JP S63157308A JP 30441386 A JP30441386 A JP 30441386A JP 30441386 A JP30441386 A JP 30441386A JP S63157308 A JPS63157308 A JP S63157308A
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- JP
- Japan
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- track
- track width
- magnetic head
- chipping
- wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
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- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 4
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Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明はVTR(ビデオテープレコーダ)等の磁気記録
再生装置に用いられる磁気ヘッドの製造方法に関するも
のであり、特にトラック幅規制溝を形成した時に生じる
トラック欠けを抑えるのに有効な磁気ヘッドの製造方法
に関する。
再生装置に用いられる磁気ヘッドの製造方法に関するも
のであり、特にトラック幅規制溝を形成した時に生じる
トラック欠けを抑えるのに有効な磁気ヘッドの製造方法
に関する。
(ロ) 従来の技術
近年、VTR等の磁気記録再生装置においては、記録信
号の高密度化により記録トラックのトラック幅の狭小化
が進められており、これに対応して磁気ヘッドのトラッ
ク幅も極めて狭いものが要求されている。このため、磁
気ヘッドの製造方法においてトラック幅を規制する溝を
加工する時の加工精度、特に前記溝のエツジに生じるト
ラック欠けを抑えることが重要な問題点であった。
号の高密度化により記録トラックのトラック幅の狭小化
が進められており、これに対応して磁気ヘッドのトラッ
ク幅も極めて狭いものが要求されている。このため、磁
気ヘッドの製造方法においてトラック幅を規制する溝を
加工する時の加工精度、特に前記溝のエツジに生じるト
ラック欠けを抑えることが重要な問題点であった。
従来、この種の磁気ヘッドの製造方法としては例えば特
公昭56−45207号公報(IPO:G11 B S
/25 )がある。
公昭56−45207号公報(IPO:G11 B S
/25 )がある。
第5図は従来の磁気ヘッドの製造方法を示す図である。
先ず、第5図Aに示す一対のウェハ(1a)(1b)の
ギャップ形成面(2a)(2b)を鏡面研磨し、そのギ
ャップ形成面(2a)(2b)上に第5図Bに示すよう
にα2〜α5μmの8102のギャップスペーサ(3a
)(3b)を成膜する。
ギャップ形成面(2a)(2b)を鏡面研磨し、そのギ
ャップ形成面(2a)(2b)上に第5図Bに示すよう
にα2〜α5μmの8102のギャップスペーサ(3a
)(3b)を成膜する。
その後、第5図0に示すように一方のウェハ(1a)に
トラック幅規制溝〔4a)を一定間隔にダイシング・ソ
ー等により設け、他方のウェハC1b)にトラック幅規
制@(4b)、巻線用溝(5)、及びガラス棒挿入#
(61を設ける。次に、前記トラック幅規制溝(4a)
(4b)が対向するように前記両ウェハ(1a)(1b
)を衝き合わせ、前記ガラス棒挿入溝(6)にガラス棒
(図示せず)を挿入して、ガラス溶着により第5図りに
示す溶着ウェハ(71を形成する。そして、前記溶着ウ
エノ1(71を一点鎖線a−a’に沿ってブロック状に
切断し、テープ摺動面(8)を研磨することによりギャ
ップのデプス長を規制して第5図Eに示すコアブロック
(9)を形成する。そして最後に、前記コアブロック(
91を二点鎖線b−bに沿ってスライスして第5図Fに
示す磁気ヘッドチップC1Oを形成する。
トラック幅規制溝〔4a)を一定間隔にダイシング・ソ
ー等により設け、他方のウェハC1b)にトラック幅規
制@(4b)、巻線用溝(5)、及びガラス棒挿入#
(61を設ける。次に、前記トラック幅規制溝(4a)
(4b)が対向するように前記両ウェハ(1a)(1b
)を衝き合わせ、前記ガラス棒挿入溝(6)にガラス棒
(図示せず)を挿入して、ガラス溶着により第5図りに
示す溶着ウェハ(71を形成する。そして、前記溶着ウ
エノ1(71を一点鎖線a−a’に沿ってブロック状に
切断し、テープ摺動面(8)を研磨することによりギャ
ップのデプス長を規制して第5図Eに示すコアブロック
(9)を形成する。そして最後に、前記コアブロック(
91を二点鎖線b−bに沿ってスライスして第5図Fに
示す磁気ヘッドチップC1Oを形成する。
しかし乍ら、上記従来例の場合、ギャップスペーサ(3
a)(3b)の膜厚がα2〜α3μm程度のため、トラ
ック幅規制溝を加工し友時に、第6図に示すようにトラ
ック幅規制溝W(4a )(4b)のエツジ曵大きさK
が1〜3μmのトラック欠けαDが多数生じ、歩留りが
悪かった。
a)(3b)の膜厚がα2〜α3μm程度のため、トラ
ック幅規制溝を加工し友時に、第6図に示すようにトラ
ック幅規制溝W(4a )(4b)のエツジ曵大きさK
が1〜3μmのトラック欠けαDが多数生じ、歩留りが
悪かった。
このため、トラック欠けを減少させるには、トラック幅
規制溝の加工速度をα6謁/sec程度まで下げなくて
はならず、生産性が劣化して加工コストが上昇するとい
う問題点かあっ九。
規制溝の加工速度をα6謁/sec程度まで下げなくて
はならず、生産性が劣化して加工コストが上昇するとい
う問題点かあっ九。
また、前記ギャップスペーサ(3a)(5b)の膜厚t
−3μm以上に成膜し、トラック幅規制溝を形成した場
合、トラック欠けは減少するが、成膜に多大な時間を要
し、また、加工時にブレードが摩耗及び変形し易いとい
つ欠虞があった。
−3μm以上に成膜し、トラック幅規制溝を形成した場
合、トラック欠けは減少するが、成膜に多大な時間を要
し、また、加工時にブレードが摩耗及び変形し易いとい
つ欠虞があった。
ヒう 発明が解決しようとする問題点
本発明は上記従来例の欠点に1みなされ之ものであり、
生産性を劣化させることなく、トラツタ た磁気ヘッドの製造方法t−提供することを目的とする
ものである。
生産性を劣化させることなく、トラツタ た磁気ヘッドの製造方法t−提供することを目的とする
ものである。
に)問題点を解決するための手段
ウェハのギャップ形成面に加工変質層を形成した後、ト
ラック幅規制溝を加工形成し、その加工形成により前記
加工変質層に生じたトラック欠けを鏡面研磨により除去
する。
ラック幅規制溝を加工形成し、その加工形成により前記
加工変質層に生じたトラック欠けを鏡面研磨により除去
する。
(ホ)作 用
上記方法に依れば、トラック幅規制#I2711工によ
シ加工変質層に生じるトラック欠けFi極めて小さく、
該トラック欠けは鏡面研磨により加工変質層と同時に除
去される。
シ加工変質層に生じるトラック欠けFi極めて小さく、
該トラック欠けは鏡面研磨により加工変質層と同時に除
去される。
(へ)実施例
以下、図面を参照しつつ本発明の磁気ヘッドの製造方法
を詳細に説明する。
を詳細に説明する。
第1図は本実施例の磁気ヘッドの製造方法を示す図であ
る。
る。
先ず、第1図Aに示す単結晶フェライトより成る一対の
ウェハ(12a)(12b)を切り出し、該ウェハ(1
2a)(12b)のギャップ形成面(13a)(13b
)をJIS規格G、0−2000番の砥粒で研磨を行い
、第1図Bに示す非晶質の加工変質層(14a)(14
b)を5μm厚形酸形成。次に、前記ウェハ(12a)
(12b)の加工変質層(14a)(14b)上にダイ
シング・ソーにより第1図Cに示す深さ150μmのV
字状のトラック幅規制溝(15a)(15b)を形成し
て所望のトラック幅Tを得る。種々の実験に依ればこの
時、前記トラック幅規制溝(15a)(15b)のエツ
ジには、加工変質N(14a)(14b)上にのみ大き
さkのトラック欠け(161が生じることが確認され九
。次に、前記ウェハ(12a)(12b)のギャップ形
成面(13a)(13b)t−平均粒径が1〜2μmの
多結晶ダイヤ砥粒によυ15〜20μm研磨して、前記
加工変質層(14a)(14b)とトラック欠け19を
同時に除去して第1図りに示すウニ、、(17a)(1
7b)を形成する。更に、このうち一方のウェハ(17
1))にトラック幅規制溝(15b)と直父するように
巻線溝■及びガラス溝c!11を形成し、0.2〜0.
3μmの5i02等のギャップスペーサを成膜した後、
第1図Eに示すように前記一対のウェハ(17a)(1
7b)を前記トラック幅規制溝(15a)(15b)が
対向するように衝き合わせて、ガラス溶着により溶着ウ
ェハ帥を形成する。以後は従来技術と同様に第1図Fの
コアブロックのに切断してVTR用フェライト磁気ヘッ
ドチップのを形成する。
ウェハ(12a)(12b)を切り出し、該ウェハ(1
2a)(12b)のギャップ形成面(13a)(13b
)をJIS規格G、0−2000番の砥粒で研磨を行い
、第1図Bに示す非晶質の加工変質層(14a)(14
b)を5μm厚形酸形成。次に、前記ウェハ(12a)
(12b)の加工変質層(14a)(14b)上にダイ
シング・ソーにより第1図Cに示す深さ150μmのV
字状のトラック幅規制溝(15a)(15b)を形成し
て所望のトラック幅Tを得る。種々の実験に依ればこの
時、前記トラック幅規制溝(15a)(15b)のエツ
ジには、加工変質N(14a)(14b)上にのみ大き
さkのトラック欠け(161が生じることが確認され九
。次に、前記ウェハ(12a)(12b)のギャップ形
成面(13a)(13b)t−平均粒径が1〜2μmの
多結晶ダイヤ砥粒によυ15〜20μm研磨して、前記
加工変質層(14a)(14b)とトラック欠け19を
同時に除去して第1図りに示すウニ、、(17a)(1
7b)を形成する。更に、このうち一方のウェハ(17
1))にトラック幅規制溝(15b)と直父するように
巻線溝■及びガラス溝c!11を形成し、0.2〜0.
3μmの5i02等のギャップスペーサを成膜した後、
第1図Eに示すように前記一対のウェハ(17a)(1
7b)を前記トラック幅規制溝(15a)(15b)が
対向するように衝き合わせて、ガラス溶着により溶着ウ
ェハ帥を形成する。以後は従来技術と同様に第1図Fの
コアブロックのに切断してVTR用フェライト磁気ヘッ
ドチップのを形成する。
第3図は加工変質層の厚みと加工変質層に生じたトラッ
ク欠けの最大値との関係を測定し念結果を示す図である
。この図に依れば加工変質層の厚みを5μm以上にする
と、トラック欠けの大きさkは1μm以下と極く小さく
なることが判る。また、萬4図は加工変質層の厚みをパ
ラメータとする加工速度とトラック欠けの最大値との関
係を示す図で、a、bは夫々加工変質層の厚み3μm。
ク欠けの最大値との関係を測定し念結果を示す図である
。この図に依れば加工変質層の厚みを5μm以上にする
と、トラック欠けの大きさkは1μm以下と極く小さく
なることが判る。また、萬4図は加工変質層の厚みをパ
ラメータとする加工速度とトラック欠けの最大値との関
係を示す図で、a、bは夫々加工変質層の厚み3μm。
0.5μmの条件下のデータを示す曲線である。この図
から分かるように、加工変質層が0.5μmの場合、α
6yV/sec以下の加工速度でないとトラック欠けを
1μm以下に抑えることは出来ず、一方、加工変質層が
6μmの場合、加工速度t−4flJ/secにしても
トラック欠けにはほとんど影響は生じない。
から分かるように、加工変質層が0.5μmの場合、α
6yV/sec以下の加工速度でないとトラック欠けを
1μm以下に抑えることは出来ず、一方、加工変質層が
6μmの場合、加工速度t−4flJ/secにしても
トラック欠けにはほとんど影響は生じない。
上述のような磁気ヘッドの製造方法では厚みが5μm程
度あるいはそれ以上の加工変質層を形成した場合、加工
変質層には極く小さなトラック欠けしか生じず、該トラ
ック欠けは鏡面研磨により該加工変質層と同時に除去さ
れる。
度あるいはそれ以上の加工変質層を形成した場合、加工
変質層には極く小さなトラック欠けしか生じず、該トラ
ック欠けは鏡面研磨により該加工変質層と同時に除去さ
れる。
(ト)発明の効果
本発明に依れば、トラック幅規制溝の加工速度を遅くし
たり、ギャップスペーサの膜厚を厚くすること無しにト
ラック幅規制溝加工時に生じるトラック欠けを除去する
ので、生産性を劣化させることかく、磁気ヘッドチップ
のギャップ形成面が傷付くのを防止した磁気ヘッドの製
造方法を提供し得る。
たり、ギャップスペーサの膜厚を厚くすること無しにト
ラック幅規制溝加工時に生じるトラック欠けを除去する
ので、生産性を劣化させることかく、磁気ヘッドチップ
のギャップ形成面が傷付くのを防止した磁気ヘッドの製
造方法を提供し得る。
第1図乃至第4図は本発明に係り、第1図は磁気ヘッド
の製造方法を示す図、第2図は加工変質層に生じたトラ
ック欠けを示す図、第5図は加工変質層の厚みとトラッ
ク欠けの大きさとの関係を示す図、第4図はトラック欠
けの大きさとトラック加工の加工速度との関係を示す図
である。第5図及び第6図は従来例に係り、@5図は磁
気ヘッドの製造方法を示す図、第6図はギャップスペー
サに生じたトラック欠けを示す図である。 (12a)(12b)−ウェハ(15a )(13b)
””ギャップ形成面 (14a)(14b ) ・・
・加工変質層 (15a)(15b)・・・トラック
幅規制溝 σ9・・・トラック欠けく
の区 滅 第2図 第6図 第8図 第4図 fJO工也/L mm/see 只 く
の一 ↑
の製造方法を示す図、第2図は加工変質層に生じたトラ
ック欠けを示す図、第5図は加工変質層の厚みとトラッ
ク欠けの大きさとの関係を示す図、第4図はトラック欠
けの大きさとトラック加工の加工速度との関係を示す図
である。第5図及び第6図は従来例に係り、@5図は磁
気ヘッドの製造方法を示す図、第6図はギャップスペー
サに生じたトラック欠けを示す図である。 (12a)(12b)−ウェハ(15a )(13b)
””ギャップ形成面 (14a)(14b ) ・・
・加工変質層 (15a)(15b)・・・トラック
幅規制溝 σ9・・・トラック欠けく
の区 滅 第2図 第6図 第8図 第4図 fJO工也/L mm/see 只 く
の一 ↑
Claims (1)
- (1)ウエハのギヤツプ形成面に加工変質層を形成した
後、トラツク幅規制溝を形成し、その後、前記加工変質
層に生じた欠けを鏡面研磨にて除去することを特徴とす
る磁気ヘツドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30441386A JPH0668814B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30441386A JPH0668814B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63157308A true JPS63157308A (ja) | 1988-06-30 |
| JPH0668814B2 JPH0668814B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=17932702
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30441386A Expired - Fee Related JPH0668814B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0668814B2 (ja) |
-
1986
- 1986-12-19 JP JP30441386A patent/JPH0668814B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0668814B2 (ja) | 1994-08-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |