JPS63200249A - 情報処理装置 - Google Patents
情報処理装置Info
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- JPS63200249A JPS63200249A JP62031615A JP3161587A JPS63200249A JP S63200249 A JPS63200249 A JP S63200249A JP 62031615 A JP62031615 A JP 62031615A JP 3161587 A JP3161587 A JP 3161587A JP S63200249 A JPS63200249 A JP S63200249A
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- Japan
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- register
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- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2215—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test error correction or detection circuits
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- G—PHYSICS
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- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
- G06F11/073—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment in a memory management context, e.g. virtual memory or cache management
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- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
- G06F12/0802—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
- G06F12/0864—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches using pseudo-associative means, e.g. set-associative or hashing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、同一アドレスが複数のレベルを持つキャッシ
ュ記憶のエラー処理機能を試験するために、擬似障害を
発生する機能全有する情報処理装置に関する。
ュ記憶のエラー処理機能を試験するために、擬似障害を
発生する機能全有する情報処理装置に関する。
従来、この種の情報処理装置は、第2図に示される構成
を有している。ここで説明するキャッシュ記憶3は4レ
ベルの場合である。通常の動作。
を有している。ここで説明するキャッシュ記憶3は4レ
ベルの場合である。通常の動作。
すなわち擬似障害を使用してエラー処理機能全試験する
以外の動作では、デグレードレジスタ4のレベル0,1
.2.3の内容は全て0″であり。
以外の動作では、デグレードレジスタ4のレベル0,1
.2.3の内容は全て0″であり。
キャッシュ記憶3の全レベルを使用している事全示し、
インバータダート81〜84の出力は°1179となる
。また9診断制御部1内の擬似障害指示フラグ6の内容
も、擬似障害指示レベルレジスタ7の各レベルの内容も
全てIt OIIであり、擬似障害でないことを示し、
アンドゲート12〜15の出力である各レベルの擬似障
害指示信号16〜19は0”となる。これ等のことによ
り、パリティチェック回路31〜34の出力は、オア回
路35〜38.アンド回路41〜44全通って、そのま
ま各レベルのEIF 45〜48に入力される。よって
各レベルのデータはチェック可能な状態で動作する。
インバータダート81〜84の出力は°1179となる
。また9診断制御部1内の擬似障害指示フラグ6の内容
も、擬似障害指示レベルレジスタ7の各レベルの内容も
全てIt OIIであり、擬似障害でないことを示し、
アンドゲート12〜15の出力である各レベルの擬似障
害指示信号16〜19は0”となる。これ等のことによ
り、パリティチェック回路31〜34の出力は、オア回
路35〜38.アンド回路41〜44全通って、そのま
ま各レベルのEIF 45〜48に入力される。よって
各レベルのデータはチェック可能な状態で動作する。
次に、キャッシュ記憶3のリードでいづれかのレベルに
・やりティエラーを起こした場合に作動するエラー処理
機能が正常であるかどうかを確かめる為に、擬似障害す
なわちリードデータを強制的にパリティエラーさせるか
1強制的にEIF ’i点灯させる事で試験を行う場合
の動作について説明する。診断制御部1は、擬似障害指
示レベルレジスタ7の擬似障害を起こそうとするレベル
、例えばレベルOK″′1”を入れ、擬似障害指示フラ
グ6に“1”を入れた場合、アンドダート12の出力で
あるレベルO擬似障害指示信号16が′1#となる。擬
似障害指示レベルレノスタフの他のレベルの内容はO”
、デグレードレベルレジスタ4の内容は全て0”である
から、レベル1〜3擬似障害指示信号17〜19が“0
”、インバータゲート81〜84の出力はl ” 、
A?リティチェック回路31〜34の出力は′0”であ
るので。
・やりティエラーを起こした場合に作動するエラー処理
機能が正常であるかどうかを確かめる為に、擬似障害す
なわちリードデータを強制的にパリティエラーさせるか
1強制的にEIF ’i点灯させる事で試験を行う場合
の動作について説明する。診断制御部1は、擬似障害指
示レベルレジスタ7の擬似障害を起こそうとするレベル
、例えばレベルOK″′1”を入れ、擬似障害指示フラ
グ6に“1”を入れた場合、アンドダート12の出力で
あるレベルO擬似障害指示信号16が′1#となる。擬
似障害指示レベルレノスタフの他のレベルの内容はO”
、デグレードレベルレジスタ4の内容は全て0”である
から、レベル1〜3擬似障害指示信号17〜19が“0
”、インバータゲート81〜84の出力はl ” 、
A?リティチェック回路31〜34の出力は′0”であ
るので。
オアゲート35とアンドダート41の出力は′1″とな
り、レベルOEIFが′1#となる。このことにより、
レベル0のi9リティエラーが報告され。
り、レベルOEIFが′1#となる。このことにより、
レベル0のi9リティエラーが報告され。
エラー処理機能が動作するので、その動作が正常かどう
かの試験が行える。レベル0のzf リティエラーを起
こした後は1診断制御部1がデグレードレベルレジスタ
4のレベル(1m” 1 ”e入し、 7ンドグート4
1の出力を常に′0”とし、レベル0のノヤリティエラ
ーを報告しないようにする。
かの試験が行える。レベル0のzf リティエラーを起
こした後は1診断制御部1がデグレードレベルレジスタ
4のレベル(1m” 1 ”e入し、 7ンドグート4
1の出力を常に′0”とし、レベル0のノヤリティエラ
ーを報告しないようにする。
デグレードレベルレジスタ4の出力は1図示してはいな
いが、キャッシュ記憶3のヒツト制御にも送られており
、デグレードレベルレジスタ4で′l”となったレベル
はヒラトラしない様に制御サレル。デグレードレベルレ
ジスタ4のレベルOに”1”Th入れることにより、キ
ャッシュ記憶3のレベル0を切離した後は1診断制御部
1は、レベルOと同様のことをレベル1,2.3につい
ても行い、どのレベルでA?リティエラーしてもエラー
処理機能が正常に動作するかを試験する。ここではキャ
ッシュ記憶が4レベルの場合で説明したが、従来の技術
では第2図のレベル0〜3擬似障害指示信号16〜19
が示すとおり1診断制御部1とキャッシュ記憶装置2の
間にレベルの数だけのインタフェースを張ることになる
。
いが、キャッシュ記憶3のヒツト制御にも送られており
、デグレードレベルレジスタ4で′l”となったレベル
はヒラトラしない様に制御サレル。デグレードレベルレ
ジスタ4のレベルOに”1”Th入れることにより、キ
ャッシュ記憶3のレベル0を切離した後は1診断制御部
1は、レベルOと同様のことをレベル1,2.3につい
ても行い、どのレベルでA?リティエラーしてもエラー
処理機能が正常に動作するかを試験する。ここではキャ
ッシュ記憶が4レベルの場合で説明したが、従来の技術
では第2図のレベル0〜3擬似障害指示信号16〜19
が示すとおり1診断制御部1とキャッシュ記憶装置2の
間にレベルの数だけのインタフェースを張ることになる
。
上述した従来の擬似障害発生方式では、キャッシュ記憶
のレベルの数と同じだけ、擬似障害指示レベルレジスタ
のレベル数と診断制御部とキャッシュ記憶装置間の擬似
障害指示信号の数がなくてはならず、キャッシュ記憶の
レベルが多い場合にはハードウェア、インタフェースの
増加に繋がるという欠点がある。従って1通常の動作や
処理速度に関係しない機能回路のハードウェアやインタ
フェースをできるだけ少くしたい場合には不都合である
。
のレベルの数と同じだけ、擬似障害指示レベルレジスタ
のレベル数と診断制御部とキャッシュ記憶装置間の擬似
障害指示信号の数がなくてはならず、キャッシュ記憶の
レベルが多い場合にはハードウェア、インタフェースの
増加に繋がるという欠点がある。従って1通常の動作や
処理速度に関係しない機能回路のハードウェアやインタ
フェースをできるだけ少くしたい場合には不都合である
。
本発明によるキャッシュ記憶装置の擬似障害発生方式は
、同一アドレスが複数のレベルを持つキャッシュ記憶の
エラー処理機能を試験するために。
、同一アドレスが複数のレベルを持つキャッシュ記憶の
エラー処理機能を試験するために。
擬似障害を発生する機能金有する情報処理装置において
、擬似障害通知信号を発生する手段と、上記複数のレベ
ルのうちどのレベルを使用して運転するかの情報を保持
するデグレードレジスタと。
、擬似障害通知信号を発生する手段と、上記複数のレベ
ルのうちどのレベルを使用して運転するかの情報を保持
するデグレードレジスタと。
デグレードレジスタの内容から前記擬似障害信号により
擬似障害レベルを求める手段とを有している。
擬似障害レベルを求める手段とを有している。
次に1本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す図である。従来技術と
同様に、キャッシュ記憶3は4レベルのものを示しであ
る。
同様に、キャッシュ記憶3は4レベルのものを示しであ
る。
擬似障害を起こしてエラー処理機能を試験する時以外は
1診断制御部1内の擬似障害指示フラグ6の内容は0”
であるので、擬似障害指示信号11が′0”、デグレー
ドレベルレジスタ4の全レベルが0″となっているので
、アンドff−)21〜24の出力が“0”9反転量力
付アンドケ゛−ト57〜600反転出力側が全て1”と
なシ。
1診断制御部1内の擬似障害指示フラグ6の内容は0”
であるので、擬似障害指示信号11が′0”、デグレー
ドレベルレジスタ4の全レベルが0″となっているので
、アンドff−)21〜24の出力が“0”9反転量力
付アンドケ゛−ト57〜600反転出力側が全て1”と
なシ。
各レベルのパリティチェック回路31〜34の出力はア
ンドダート41〜44の出力、すなわち各レベルのEI
F 45〜48にそのまま出力される。
ンドダート41〜44の出力、すなわち各レベルのEI
F 45〜48にそのまま出力される。
よって各レベルのデータはチェック可能な状態で動作す
る。
る。
次に、擬似障害を起こし、エラー処理機能を試験する場
合について説明する。診断制御部1は。
合について説明する。診断制御部1は。
擬似障害指示フラグ6に1″を入れると、擬似障害指示
信号11もパ1”となる。また、各レベルの・f IJ
ティチェック回路31〜34の出力が全て“O”、デグ
レードレベルレジスタ4の内容が全て0”であることか
ら2反転出力付アンドグ9−ト57の反転出力が°@t
ll、アンドf −) 69〜7エの出力がO#となる
ことは明白である。よって、アンドf −ト21の出力
はlt+#、アンドダート22〜24の出力ば′0#と
なり、これ等4つの出力はオアゲート35〜38を通っ
て、アンドゲート41〜44の一方の入力端子にそれぞ
れ+t 1 n 、 n □ s、′0”、0”が入力
される。デグレードレベルレジスタ4の内容が全て0”
であることよシ1反転出力付ア/ドr−ト57〜60の
反転出力側が全て1″とな9.アンドグ9−ト41の出
力がパ1”、アンドゲート42〜44の出力が0”とな
るので、レベル0のEIF 45のみが1″となりエラ
ーとして報告される。
信号11もパ1”となる。また、各レベルの・f IJ
ティチェック回路31〜34の出力が全て“O”、デグ
レードレベルレジスタ4の内容が全て0”であることか
ら2反転出力付アンドグ9−ト57の反転出力が°@t
ll、アンドf −) 69〜7エの出力がO#となる
ことは明白である。よって、アンドf −ト21の出力
はlt+#、アンドダート22〜24の出力ば′0#と
なり、これ等4つの出力はオアゲート35〜38を通っ
て、アンドゲート41〜44の一方の入力端子にそれぞ
れ+t 1 n 、 n □ s、′0”、0”が入力
される。デグレードレベルレジスタ4の内容が全て0”
であることよシ1反転出力付ア/ドr−ト57〜60の
反転出力側が全て1″とな9.アンドグ9−ト41の出
力がパ1”、アンドゲート42〜44の出力が0”とな
るので、レベル0のEIF 45のみが1″となりエラ
ーとして報告される。
ここで、エラー処理機能の1つとして、エラーを起こし
たキャッシュ記憶30レベルoを切離す為に、デグレー
ドレベルレジスタ4のレベル0に′1”を入れる。デグ
レードレベルレジスタ4の内容は1図示していないが、
キャッシュ記憶3のヒント制御にも送られておシ、デグ
レードレベルレソスタ4でfilmとなったレベルはヒ
ントしない様に制御される。デグレードレベルレジスタ
4のレベル0が′1#となっているので9反転出力付ア
ンドダート57の反転出力側が′o#となり。
たキャッシュ記憶30レベルoを切離す為に、デグレー
ドレベルレジスタ4のレベル0に′1”を入れる。デグ
レードレベルレジスタ4の内容は1図示していないが、
キャッシュ記憶3のヒント制御にも送られておシ、デグ
レードレベルレソスタ4でfilmとなったレベルはヒ
ントしない様に制御される。デグレードレベルレジスタ
4のレベル0が′1#となっているので9反転出力付ア
ンドダート57の反転出力側が′o#となり。
アンドf−ト41の出力は常に′0”となる。まり、デ
グレードレベルレジスタ4のレベル0が“1”であるこ
とにより1反転比力付アンドゲ−ト5フの非反転出力側
が“1#2反転出力付アンドゲート58の反転出力側が
“1”となり、アンドゲート69の出力は1“となる。
グレードレベルレジスタ4のレベル0が“1”であるこ
とにより1反転比力付アンドゲ−ト5フの非反転出力側
が“1#2反転出力付アンドゲート58の反転出力側が
“1”となり、アンドゲート69の出力は1“となる。
よって、この状態で擬似障害指示フラグ6が“1”であ
れば。
れば。
アンドグ” −ト22の出力は1”となる。ここで。
デグレードレベルレジスタ4のレベル1,2.3は全て
“0”であり1反転量力付アンドデート58〜60の反
転出力側が全て゛t1m、アンドヶ9−ドア0.71が
0”となるので、アンドゲート42の出力が“1#、ア
/ドグ−)43.43の出力が共に0”となり、レベル
IのEIF 46が“1″となってレベル1のエラーと
して報告される。
“0”であり1反転量力付アンドデート58〜60の反
転出力側が全て゛t1m、アンドヶ9−ドア0.71が
0”となるので、アンドゲート42の出力が“1#、ア
/ドグ−)43.43の出力が共に0”となり、レベル
IのEIF 46が“1″となってレベル1のエラーと
して報告される。
以上のことによれば、デグレードレベルレジスタ4が全
て′0′であればレベルOにエラーが。
て′0′であればレベルOにエラーが。
デグレードレベルレジスタ4のレベルOに“IJl他に
0”を入れるとレベル1にエラーが起きたことになる。
0”を入れるとレベル1にエラーが起きたことになる。
同mK、f#レードレベルVソスタ4のレベル0と1に
1”を入れて、擬似障害指示フラグ6を1”にすれば、
レベル2がエラー金、又デグレードレベルンヅスタ4(
DVベルO〜2に”1”を入れて、擬似障害指示フラグ
6を1にすれば。
1”を入れて、擬似障害指示フラグ6を1”にすれば、
レベル2がエラー金、又デグレードレベルンヅスタ4(
DVベルO〜2に”1”を入れて、擬似障害指示フラグ
6を1にすれば。
レベル3がエラーを起こす様に動作する。
すなわち、この構成によれば、デグレードレベルレジス
タ4は通常の機能を果たしながら2診断制御部1から1
本の擬似障害指示信号11を受けるだけで、全レベルの
擬似障害を起こすことができる。
タ4は通常の機能を果たしながら2診断制御部1から1
本の擬似障害指示信号11を受けるだけで、全レベルの
擬似障害を起こすことができる。
以上説明したように2本発明は、擬似障害通知信号を発
生する手段と、複数レベルのうちとのレベルを使用して
運転するかの情報を保持するデグレードレジスタと、デ
グレードレジスタの内容から擬似障害信号により擬似障
害レベル全米める手段を持つ構成であるので2診断制御
部は擬似障害指示フラグのみを持てばよく9診断制御部
−キャッシー記憶装置間のインタフェースもレベル数カ
幾らになろうとも1本の擬似障害指示信号でよくなると
いう効果がある。まだ、この構成によるキャッシュ記憶
装置への影響も、レベル数に応じて数ケ゛−ト増えるの
みとなる。
生する手段と、複数レベルのうちとのレベルを使用して
運転するかの情報を保持するデグレードレジスタと、デ
グレードレジスタの内容から擬似障害信号により擬似障
害レベル全米める手段を持つ構成であるので2診断制御
部は擬似障害指示フラグのみを持てばよく9診断制御部
−キャッシー記憶装置間のインタフェースもレベル数カ
幾らになろうとも1本の擬似障害指示信号でよくなると
いう効果がある。まだ、この構成によるキャッシュ記憶
装置への影響も、レベル数に応じて数ケ゛−ト増えるの
みとなる。
以下今日
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は従来技術
を示す図である。 1・・・診断制御部、2・・・キャッシュ記憶装置、3
・・・キャッシュ記憶@ 4・・・デグレードレベルレ
ジスタ、6・・・擬似障害指示フラグ、11・・・擬似
障害指示信号、21〜24・・・アンドr−)、31〜
34・・・パリティチェック回路、35〜38・・・オ
アダート、41〜44・・・アン)”f−ト、45・・
・レベル0EIF 、 46・・・レベルI EIF
、 47・・・レベル2 EIF’。 48・・・レベル3 EIF 、 57〜60・・・反
転出力付アンドゲート、69〜71・・・アンドダート
。
を示す図である。 1・・・診断制御部、2・・・キャッシュ記憶装置、3
・・・キャッシュ記憶@ 4・・・デグレードレベルレ
ジスタ、6・・・擬似障害指示フラグ、11・・・擬似
障害指示信号、21〜24・・・アンドr−)、31〜
34・・・パリティチェック回路、35〜38・・・オ
アダート、41〜44・・・アン)”f−ト、45・・
・レベル0EIF 、 46・・・レベルI EIF
、 47・・・レベル2 EIF’。 48・・・レベル3 EIF 、 57〜60・・・反
転出力付アンドゲート、69〜71・・・アンドダート
。
Claims (1)
- 1、同一アドレスが複数のレベルを持つキャッシュ記憶
のエラー処理機能を試験するために、擬似障害を発生す
る機能を有する情報処理装置において、擬似障害信号を
発生する手段と、上記複数のレベルのうちエラー時に切
り離すべきレベル情報を保持するデグレードレジスタと
、該デグレードレジスタの内容から前記擬似障害信号に
より擬似障害を起こすレベルを求める手段を有すること
を特徴とするキャッシュ記憶装置の擬似障害発生方式。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62031615A JPH0734185B2 (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 情報処理装置 |
| DE3850272T DE3850272T2 (de) | 1987-02-16 | 1988-02-15 | Cache-Speicher mit Schaltungen zur Selbstfehlerkontrolle und sequentiellen Prüfung. |
| CA000558902A CA1297193C (en) | 1987-02-16 | 1988-02-15 | Cache memory having self-error checking and sequential verification circuits |
| EP88102190A EP0279396B1 (en) | 1987-02-16 | 1988-02-15 | Cache memory having self-error checking and sequential verification circuits |
| US07/155,680 US4891809A (en) | 1987-02-16 | 1988-02-16 | Cache memory having self-error checking and sequential verification circuits |
| AU11737/88A AU603964B2 (en) | 1987-02-16 | 1988-02-16 | Cache memory having self-error checking and sequential verification circuits |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62031615A JPH0734185B2 (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63200249A true JPS63200249A (ja) | 1988-08-18 |
| JPH0734185B2 JPH0734185B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=12336116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62031615A Expired - Lifetime JPH0734185B2 (ja) | 1987-02-16 | 1987-02-16 | 情報処理装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4891809A (ja) |
| EP (1) | EP0279396B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0734185B2 (ja) |
| AU (1) | AU603964B2 (ja) |
| CA (1) | CA1297193C (ja) |
| DE (1) | DE3850272T2 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5179561A (en) * | 1988-08-16 | 1993-01-12 | Ntt Data Communications Systems Corporation | Totally self-checking checker |
| JP2780372B2 (ja) * | 1989-08-29 | 1998-07-30 | 株式会社日立製作所 | デイスク制御装置のキヤツシユ組込制御方法 |
| JPH0415834A (ja) * | 1990-05-09 | 1992-01-21 | Nec Corp | コンピュータの試験方式 |
| US5377197A (en) * | 1992-02-24 | 1994-12-27 | University Of Illinois | Method for automatically generating test vectors for digital integrated circuits |
| JPH0667980A (ja) * | 1992-05-12 | 1994-03-11 | Unisys Corp | 4ブロックキャッシュメモリへのアクセスを最適化するためのキャッシュ論理システムおよびメインフレームコンピュータの高速キャッシュメモリへのアクセス時のダブルミスを防ぐ方法 |
| US5809525A (en) * | 1993-09-17 | 1998-09-15 | International Business Machines Corporation | Multi-level computer cache system providing plural cache controllers associated with memory address ranges and having cache directories |
| US5539895A (en) * | 1994-05-12 | 1996-07-23 | International Business Machines Corporation | Hierarchical computer cache system |
| JP2842809B2 (ja) * | 1995-06-28 | 1999-01-06 | 甲府日本電気株式会社 | キャッシュ索引の障害訂正装置 |
| US5958072A (en) * | 1997-01-13 | 1999-09-28 | Hewlett-Packard Company | Computer-system processor-to-memory-bus interface having repeating-test-event generation hardware |
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