JPH0352036A - 擬似障害回路 - Google Patents

擬似障害回路

Info

Publication number
JPH0352036A
JPH0352036A JP1189078A JP18907889A JPH0352036A JP H0352036 A JPH0352036 A JP H0352036A JP 1189078 A JP1189078 A JP 1189078A JP 18907889 A JP18907889 A JP 18907889A JP H0352036 A JPH0352036 A JP H0352036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
error
signal
holding circuits
clock
read
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1189078A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Yamauchi
真 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1189078A priority Critical patent/JPH0352036A/ja
Publication of JPH0352036A publication Critical patent/JPH0352036A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、擬似障害回路に関する. 〔従来の技術〕 従来、情報処理装置内で検出したエラー情報を診断コマ
ンド等によりシリアルに読出す情報処理装置においてエ
ラー情報を格納する回路(以下EIFという)及びエラ
ー発生後の処理及びエラー情報を読出す動作自身の正常
性のチェックは、エラー情報の中のエラーを1つずつ擬
障によりおこしてチェックしたり、もしくは装置全体の
スキャンパスを持ちシフト動作を備えている装置では、
EIFをスキャンパスに組込んでシフト動作によりチェ
ックしていた. 〔発明が解決しようとする課題〕 上述した従来のEIF等のチェック技術において、エラ
ー情報を1ヶ毎にチェックする技術では、エラー情報の
数だけ、擬障回路が必要になり回路が多くなってしまい
、また、装置全体のシフト動作によりチェックする技術
では、中小型の情報処理装置においては装置におけるシ
フト動作を備えていないものもあり、チェックができな
いという欠点がある. 〔課題を解決するための手段〕 本発明の擬似障害回路は、複数の各種エラー保持回路と
これらのエラー保持回路をシリアルにつなぐパスにより
エラーをうえつけるエラー書込み回路を有している. 〔実施例〕 次に本発明について図面を参照して説明する.第1図は
、本発明の一実施例を示すブロック図である.第l図は
、n個のエラー情報を保持してシリアルにエラー情報の
読出しを行なう情報処理装置に実施した例である. エラー保持回路10,20.30,−nOはシフトパス
信号101,201,301, ・・・no1とエラー
信号102,202,302.−n02とエラ一読出し
書込み信号211とクロック信号214を受信し、エラ
一読出し書込み信号211が論理“O″の時は、エラー
信号102,202,302,・・・no2を論理“1
″の時はシフトパス信号101,201,301,=−
no1をクロック信号214の立上がりエッチで取込み
シフトパス信号201,301,・・・no1及びエラ
一読出しデータ信号215を各々出力する.シフトデー
タ切替回路11はエラ一読出しデータ信号215とエラ
ー書込みデータ信号216を受信しエラー書込み信号2
10により選択してシフトパス信号101として出力す
る。
エラー書込み回路12はエラーの読出し又はエラーの書
込みを行なう場合に埋こみデータ信号217と制御信号
218を受信しエラー書込みデータ信号216,エラー
書込み信号210.エラ一読出し書込み信号211を出
力する. クロック切替回路13は、ノーマルクロック212と診
断クロック213とエラ一読出し書込み信号211とを
受信し、エラ一読出し書込み信号211が論理“ONの
時ノーマルクロック212を、また論理“1″の時診断
クロック213を選択しクロック信号214として出力
する.次にこの回路の動作について説明する。
通常動作時、エラー読出し書込み信号211は論理“0
″でクロック切替回路13によりノーマルクロック21
2が選択されクロック信号214として出力される. またエラー保持回路10.20,30,−・noでは、
エラー信号102,202,302, ・−n02が入
力として選ばれ、エラーが発生すればクロック信号21
4の立上がりエッチで取込まれる状態になっている. エラ一読出し動作時には、エラ一読出し書込み信号21
1は、論理゜゛1”でクロツク切替回路13により診断
クロック213がクロツク信号214として出力される
。またエラー書込み信号は論理“O”でシフトデータ切
替回路11によりエラ一読出しデータ信号215が選択
されシフトパス信号101として出力される. エラー保持回路10,20,30,=−nOではシフト
パス信号101,201,301,−no1が入力とし
て選ばれクロツク信号214の立上がりエッチによりシ
フトパス信号201,301.401・・・,n01,
エラ一読出しデータ信号215を出力する.エラー情報
の読出しデータは、エラー読出しデータ信号215によ
り伝えられるが、クロック信号214がn個出力されて
全情報が伝わるようになる. またエラー読出しデータ信号215はシフトデータ切替
回路11を介してエラー保持回路10に入力されるため
クロック信号214がn個入るとエラー保持回路10,
20,30,・・・noはエラ一読出し動作をする前の
状態に戻りエラ一読出し動作によりエラー情報が消えて
しまうことがないようになっている. そしてここでエラ一読出し動作及びエラー保持回路10
,20,30,・・・,nQ及びエラー発生後の処理の
正常性をチェックする場合、埋こみデータ信号217と
制御信号218を受信したエラー書込み回路12は、エ
ラー保持回路10,20,30,・・・noに設定する
値をエラー書込みデータ信号216として出力し、エラ
ー書込み信号210を論理“1”としてシフトデータ切
替回路11がシフトパス信号101としてエラー書込み
データ信号216を選択するようにする。
エラー保持回路10.20,30.=−noはエラ一読
出し書込み信号211によりシフトパス101,201
,301.−−−.no1が入力として選ばれクロック
信号214の立下がりエッヂにより値がとりこまれてい
く.この状態でクロック信号214がn個入るとエラー
保持回路10.20,30,・・・noに埋こみデータ
信号217からの任意の値が設定できる. この状態からエラ一読出し動作を行なって工=一情報が
書込んだ値と同じであるかをチェック1ることによりエ
ラ一読出し動作及びエラー保持国路10,20.30,
・・・noの正常性をチェックすることができる。
またはこの状態から通常動作にすると埋めこκだエラー
の発生後の処理の正常性をチェックすることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、各種エラー情報を格納する回路に
任意に各々、値をセットできる手段をyつことにより各
種エラー情報を格納する回路及υエラー情報を読出す動
作及び各種エラー発生後く処理の正常性を簡単な回路に
より実現できるとりう効果がある.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図てある. 1 0.20.30, 〜,no−・Lラー保持回路、
11・・・シフトデータ切替回路、12・・・エラー書
込み回路、13・・・クロック切替回路、101,2 
0 1 , 3 0 1 . 〜, n 0 1 =−
シフトパス信号、102,202,302. 〜,n0
2−・・エラー信号、210・・・エラー書込み信号、
211・・・エラ一読出し書込み信号、212・・・ノ
ーマルクロック、213・・・診断クロック、214・
・・クロック信号、215・・・エラー読出しデータ信
号、216・・・エラー書込みデータ信号、217・・
・埋込みデータ信号、218・・・制御信号.

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の各種エラー保持回路と前記エラー保持回路をシリ
    アルにつなぐパスによりエラーをうえつけるエラー書込
    み回路を有する擬似障害回路。
JP1189078A 1989-07-20 1989-07-20 擬似障害回路 Pending JPH0352036A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1189078A JPH0352036A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 擬似障害回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1189078A JPH0352036A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 擬似障害回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0352036A true JPH0352036A (ja) 1991-03-06

Family

ID=16234942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1189078A Pending JPH0352036A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 擬似障害回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0352036A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990062059A (ko) * 1997-12-31 1999-07-26 오상수 헤드 볼트 압입 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990062059A (ko) * 1997-12-31 1999-07-26 오상수 헤드 볼트 압입 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63200249A (ja) 情報処理装置
JPH0352036A (ja) 擬似障害回路
US4171765A (en) Error detection system
JPS63173975A (ja) 半導体装置
US6256761B1 (en) Integrated electronic module with hardware error infeed for checking purposes
US6580648B1 (en) Memory circuit
JPH07198782A (ja) 診断回路
JPS61262856A (ja) 試験回路
US20050071716A1 (en) Testing of reconfigurable logic and interconnect sources
JPS6167162A (ja) メモリチエツク回路
JPS6011953A (ja) メモリ装置
JPH0520898A (ja) Ram組込の半導体集積回路のramテスト回路
JPH0238879A (ja) 論理回路
SU896626A1 (ru) Устройство дл контрол ввода-вывода
JPS63174141A (ja) 情報処理装置の試験診断方式
JPH03257547A (ja) エラー保持及び読出し回路および方法
JPH05334116A (ja) デバッグ制御方式
JPS6210390B2 (ja)
JPS6038766A (ja) 記憶システム
JPH0831064B2 (ja) メモリ診断回路
JPH04241635A (ja) 多重スキャンパス制御方式
JPS6318597A (ja) 集積回路内蔵メモリテスト装置
JPH03244039A (ja) 情報処理装置の障害情報採取方式
JPH03265037A (ja) 大容量メモリ初期診断制御方式
JPH02248877A (ja) 論理回路パッケージ