JPS63213664A - イオンプレ−テイング装置 - Google Patents
イオンプレ−テイング装置Info
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- JPS63213664A JPS63213664A JP4680987A JP4680987A JPS63213664A JP S63213664 A JPS63213664 A JP S63213664A JP 4680987 A JP4680987 A JP 4680987A JP 4680987 A JP4680987 A JP 4680987A JP S63213664 A JPS63213664 A JP S63213664A
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- 238000007733 ion plating Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 38
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 10
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 abstract description 8
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 abstract description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 17
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 238000001883 metal evaporation Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 2
- 239000007888 film coating Substances 0.000 description 2
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000001050 lubricating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子電気デバイスに用いる半導体、磁性体、絶
縁膜、各種機械要素に用いる耐食、耐熱、耐摩耗、潤滑
皮膜の作成に適用できるイオンプレーティング装置に関
する。
縁膜、各種機械要素に用いる耐食、耐熱、耐摩耗、潤滑
皮膜の作成に適用できるイオンプレーティング装置に関
する。
蒸着とイオン打込みを並用した薄膜作成装置は高い密着
性が得られ、また従来法では作成できない化合物薄膜の
コーティングが可能な装置と言われている。この装置の
特徴は蒸着とイオン打ち込みを交互または同時に行なう
ことにあシ、不活性ガスイオンを用いると生成した#膜
と基材の境界に両者の原子の混合層が生成し高い密着性
を示す。
性が得られ、また従来法では作成できない化合物薄膜の
コーティングが可能な装置と言われている。この装置の
特徴は蒸着とイオン打ち込みを交互または同時に行なう
ことにあシ、不活性ガスイオンを用いると生成した#膜
と基材の境界に両者の原子の混合層が生成し高い密着性
を示す。
また窒素ガスなどの反応ガスイオンビームを用いると蒸
発金属と反応ガスとの化合物薄膜が作成できる。
発金属と反応ガスとの化合物薄膜が作成できる。
しかし、現在使用されている装置では薄膜材料あるいは
その一部の加熱方法として電子ビーム加熱などの真空加
熱法を用いておシ、したがって蒸発粒子のフジカル化、
イオン化などの活性化はほとんど起こっておらず、また
蒸発粒子の運動エネルギーは1 eV以下である。
その一部の加熱方法として電子ビーム加熱などの真空加
熱法を用いておシ、したがって蒸発粒子のフジカル化、
イオン化などの活性化はほとんど起こっておらず、また
蒸発粒子の運動エネルギーは1 eV以下である。
従来の装置では蒸発物質を電子ビーム加熱などの加熱蒸
発法を用いているため、蒸発粒子のフジカル化、イオン
化などの活性化は殆んどなされてなく、また蒸発粒子の
運動エネルギーは1 eV以下であるため、反応性が低
く、付着力の強い良質の皮膜を作成することが困難であ
る。
発法を用いているため、蒸発粒子のフジカル化、イオン
化などの活性化は殆んどなされてなく、また蒸発粒子の
運動エネルギーは1 eV以下であるため、反応性が低
く、付着力の強い良質の皮膜を作成することが困難であ
る。
本発明は蒸発粒子の活性化度、運動エネルギーが大幅に
増加し得て、イオンプレーティング法に較べ付着力の高
い皮膜形成が可能な蒸着装置を提供しようとするもので
ある。
増加し得て、イオンプレーティング法に較べ付着力の高
い皮膜形成が可能な蒸着装置を提供しようとするもので
ある。
本発明は蒸発物質を加熱蒸発させる手段と、反応ガスを
導入しプラズマを発生させる手段と、基板と蒸発源の間
に電圧を印加する手段からなるイオンデレーティング装
置と、前記基板にイオンを照射する電子サイクロトロン
共鳴イオン源を備えてなることを特徴とするイオンプv
−ティング装置である。
導入しプラズマを発生させる手段と、基板と蒸発源の間
に電圧を印加する手段からなるイオンデレーティング装
置と、前記基板にイオンを照射する電子サイクロトロン
共鳴イオン源を備えてなることを特徴とするイオンプv
−ティング装置である。
すなわち、本発明は■金属、半金属の蒸発、基材への堆
積方法にイオンプレーティング法を用い、蒸発粒子のイ
オン化などの活性化を促進し、さらに基板にバイアス電
圧を印加することによりイオン化している粒子の運動エ
ネルギーを増加させうるようにした点、及び■上記イオ
ンプレーティング法に電子サイクロトン共鳴イオン源(
Electton Cyclotron Re5ona
nce )によるイオン打込みを併用した点を新規とす
るものである。
積方法にイオンプレーティング法を用い、蒸発粒子のイ
オン化などの活性化を促進し、さらに基板にバイアス電
圧を印加することによりイオン化している粒子の運動エ
ネルギーを増加させうるようにした点、及び■上記イオ
ンプレーティング法に電子サイクロトン共鳴イオン源(
Electton Cyclotron Re5ona
nce )によるイオン打込みを併用した点を新規とす
るものである。
蒸発粒子の活性化度、運動エネルギーが100〜100
0eVと従来法よシ高く、粒子の化学的活性度が高いた
め打ち込まれたイオンとの反応性が高く、また密着性の
さらに高い良質な皮膜の作成が可能となる。
0eVと従来法よシ高く、粒子の化学的活性度が高いた
め打ち込まれたイオンとの反応性が高く、また密着性の
さらに高い良質な皮膜の作成が可能となる。
以下、本発明のECRイオン源を並用したイオンプレー
ティングによる蒸着装置の一夾施態様を第1図によって
説明する。
ティングによる蒸着装置の一夾施態様を第1図によって
説明する。
第1図において、1;基材ホルダ、2;冷却水、3;基
材、4:真空容器、5;シャッタ、6;/L/ツボ、7
;金属蒸気、8:電子ビーム、9:材料金fi、10:
ホロカソード型プラズマガン、11;イオンビーム、1
2;イオン引キ出し加速用グリッドs 13;電子制御
用グリッド、14;絶縁用がいし、15;電子制御用電
源、16:イオン発生容器、17;矩形導波管、18;
反応性ガス、19:反応性ガス導入口、20;磁場印加
用電磁石、21;イオン加速用電源、22;バイアス電
源、25:石英ガラス、24:ガス導入口である。
材、4:真空容器、5;シャッタ、6;/L/ツボ、7
;金属蒸気、8:電子ビーム、9:材料金fi、10:
ホロカソード型プラズマガン、11;イオンビーム、1
2;イオン引キ出し加速用グリッドs 13;電子制御
用グリッド、14;絶縁用がいし、15;電子制御用電
源、16:イオン発生容器、17;矩形導波管、18;
反応性ガス、19:反応性ガス導入口、20;磁場印加
用電磁石、21;イオン加速用電源、22;バイアス電
源、25:石英ガラス、24:ガス導入口である。
金属蒸発源はルツボ6とホロカソード型プラズマガン1
0で構成され、ルツボ6の中に入れた材料金属9にホロ
カソード型プラズマガン10よシ発生させた電子ビーム
8によシ加熱し、金属蒸発7を発生させる。またECR
イオン源はイオン発生容器16とイオン引き出し加速装
置(該装置はイオン引き出し加速用グリッド12とイオ
ン加速用電源21よすなる)とで構成される。また基材
ホルダ1にはバイアス電源22が接続されDC負バイア
スもしくはRFバイアスの印加が可能なようにされてい
る。
0で構成され、ルツボ6の中に入れた材料金属9にホロ
カソード型プラズマガン10よシ発生させた電子ビーム
8によシ加熱し、金属蒸発7を発生させる。またECR
イオン源はイオン発生容器16とイオン引き出し加速装
置(該装置はイオン引き出し加速用グリッド12とイオ
ン加速用電源21よすなる)とで構成される。また基材
ホルダ1にはバイアス電源22が接続されDC負バイア
スもしくはRFバイアスの印加が可能なようにされてい
る。
真空容器4中を予備排気した後にガス導入口24よシ反
応ガスを導入し、ホロカソード型プラズマガン10を作
動させるとイオン化したあるいは高度に活性化された金
属蒸気7の原子が高い運動エネルギーをもって基材5に
付着する。
応ガスを導入し、ホロカソード型プラズマガン10を作
動させるとイオン化したあるいは高度に活性化された金
属蒸気7の原子が高い運動エネルギーをもって基材5に
付着する。
またイオン照射はイオン発生容器16内に反応性ガス1
8を導入し、磁場印加弔電磁石20によシ、イオン発生
容器16内に磁界を作シマイクロ波(2,450)T、
)を矩形導波管17によυ石英ガラス23を通して導
入すると、磁界とマイクワ波の相互作用によシ、ヤヒ子
サイクロトロン共鳴現象が起こシ多量の高エネルギー電
子が発生し、反応性ガス18を効率的にイオン化させる
。こうして発生したイオンはイオン引き出し加速用グリ
ッド12によシ、真空容器4ヘイオンビーム11という
形で導かれる。また真空容器4内への電子の流出は電子
制御用グリッド15によシ阻止する。
8を導入し、磁場印加弔電磁石20によシ、イオン発生
容器16内に磁界を作シマイクロ波(2,450)T、
)を矩形導波管17によυ石英ガラス23を通して導
入すると、磁界とマイクワ波の相互作用によシ、ヤヒ子
サイクロトロン共鳴現象が起こシ多量の高エネルギー電
子が発生し、反応性ガス18を効率的にイオン化させる
。こうして発生したイオンはイオン引き出し加速用グリ
ッド12によシ、真空容器4ヘイオンビーム11という
形で導かれる。また真空容器4内への電子の流出は電子
制御用グリッド15によシ阻止する。
11 Mはホロカソード型プラズマガン10.イオン源
を作動させ、安定な金属蒸気7、イオンビーム11が得
られた所でシャッター5を開き、イオンプレーティング
とイオン打ち込みを同時または交互に行ない作般される
。
を作動させ、安定な金属蒸気7、イオンビーム11が得
られた所でシャッター5を開き、イオンプレーティング
とイオン打ち込みを同時または交互に行ない作般される
。
第1図における蒸発源とイオン源の配置を変えた(上の
実施帳様を第2図に示す。第1図と同一符号は同一のも
のも示す。この装置ではイオンビーム、蒸発粒子が基材
にほぼ垂直に入射するため均一の皮膜が作成できる。
実施帳様を第2図に示す。第1図と同一符号は同一のも
のも示す。この装置ではイオンビーム、蒸発粒子が基材
にほぼ垂直に入射するため均一の皮膜が作成できる。
また他の実施態様を第5図に示す。第5図において6は
カソード、10はアーク放1イ用電γ原、25はシール
ドで、他の符号は第1図、第2図と同一である。
カソード、10はアーク放1イ用電γ原、25はシール
ドで、他の符号は第1図、第2図と同一である。
この嘘様は、金属蒸発にアーク放電を用いたもので材料
金属9をアノードとし、カソード6間にアーク放電を起
こし材料金属9を蒸発させるとともに、イオン化もしく
は活性化するようにしたものである。
金属9をアノードとし、カソード6間にアーク放電を起
こし材料金属9を蒸発させるとともに、イオン化もしく
は活性化するようにしたものである。
第3図における蒸発源、イオン源の配置を変えた実施態
様を第4図に示す。第3図と同−符−号は同一のものを
示す。この態様は、第1図と第2図との関係と同様に、
第5図のものよりも皮膜の均一化が可能となる。
様を第4図に示す。第3図と同−符−号は同一のものを
示す。この態様は、第1図と第2図との関係と同様に、
第5図のものよりも皮膜の均一化が可能となる。
〔実施例1〕
第1図の装置を用いたSiC皮膜のコーティング例を示
す。この場合蒸発金属をSi、反応ガスを02迅とした
。作成条件を表1に示す。
す。この場合蒸発金属をSi、反応ガスを02迅とした
。作成条件を表1に示す。
表 1
また得られた皮膜の硬度、付着力を従来のイオンプレー
ティング法(第1図でECRイオン源ない方法)で作成
した皮膜の値と比較した結果を第5図及び第6図に示す
。この図からビッカース硬度はほぼ同じであるが、スク
ラッチ試験の臨界荷M(スクラッチで皮膜の剥離する荷
重)よシ評価した付着力は従来法よシ優れた値を示した
。
ティング法(第1図でECRイオン源ない方法)で作成
した皮膜の値と比較した結果を第5図及び第6図に示す
。この図からビッカース硬度はほぼ同じであるが、スク
ラッチ試験の臨界荷M(スクラッチで皮膜の剥離する荷
重)よシ評価した付着力は従来法よシ優れた値を示した
。
〔実施例2〕
次に第5図の装置を用いてTiNをコーティングした例
を示す。蒸発金属として、Tiを、反応ガスとしてIJ
Hsを用いた、作成条件を表2に示す。
を示す。蒸発金属として、Tiを、反応ガスとしてIJ
Hsを用いた、作成条件を表2に示す。
表 2
又、得られた皮膜の硬度と付着力測定結果を従来のイオ
ンプレーティングで作製した皮膜と対比して、第7図及
び第8図に示す。この結果、硬度はほぼ同等であったが
、スクラッチ試験における臨界荷重には差が見られ、本
発明製造による皮膜はより高い臨界荷重を示し、付着力
が良好なことが明らかとなった。
ンプレーティングで作製した皮膜と対比して、第7図及
び第8図に示す。この結果、硬度はほぼ同等であったが
、スクラッチ試験における臨界荷重には差が見られ、本
発明製造による皮膜はより高い臨界荷重を示し、付着力
が良好なことが明らかとなった。
ECRイオン源を並用したイオンプレーティング装置を
用いることにより、蒸発粒子の活性化変、運動エネルギ
ーが大幅に増加し、従来のイオンプレーティング法に較
べ付着力の高い皮膜が作成可能となる。
用いることにより、蒸発粒子の活性化変、運動エネルギ
ーが大幅に増加し、従来のイオンプレーティング法に較
べ付着力の高い皮膜が作成可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図は本発明装置のy(施態様を示す図で、
第1図、第2図はECRイオン源を併用したホロカソー
ド型イオンデレーティング装置、第5図、第4図はEC
Rイオ/源を併用した7−り放電イオンプレーティング
装置を夫々示す。 第5図、第6図は第1図の本発明装置を用いたSiC皮
膜コーティングと従来のイオンプレーティング装置を用
いたS1皮P+”Sコーティングの物性を対比して示す
図表、第7図、第8図は第3図の本発明装置を用いたT
iN J3i、膜コーティングと従来のイオンデレーテ
ィング装置を用いたTiN皮膜コーティングの物性を対
比して示した図表である。
第1図、第2図はECRイオン源を併用したホロカソー
ド型イオンデレーティング装置、第5図、第4図はEC
Rイオ/源を併用した7−り放電イオンプレーティング
装置を夫々示す。 第5図、第6図は第1図の本発明装置を用いたSiC皮
膜コーティングと従来のイオンプレーティング装置を用
いたS1皮P+”Sコーティングの物性を対比して示す
図表、第7図、第8図は第3図の本発明装置を用いたT
iN J3i、膜コーティングと従来のイオンデレーテ
ィング装置を用いたTiN皮膜コーティングの物性を対
比して示した図表である。
Claims (1)
- 蒸発物質を加熱蒸発させる手段と、反応ガスを導入しプ
ラズマを発生させる手段と、基板と蒸発源の間に電圧を
印加する手段からなるイオンプレーティング装置と、前
記基板にイオンを照射する電子サイクロトロンに共鳴イ
オン源を備えてなることを特徴とするイオンプレーテイ
ング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4680987A JPS63213664A (ja) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | イオンプレ−テイング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4680987A JPS63213664A (ja) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | イオンプレ−テイング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63213664A true JPS63213664A (ja) | 1988-09-06 |
Family
ID=12757656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4680987A Pending JPS63213664A (ja) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | イオンプレ−テイング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63213664A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH042767A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Toyobo Co Ltd | 薄膜製造方法 |
| JPH049458A (ja) * | 1990-04-26 | 1992-01-14 | Toyobo Co Ltd | 含シリコン薄膜の製造方法 |
| JPH06280000A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-10-04 | Japan Steel Works Ltd:The | プラズマ表面処理方法および装置 |
-
1987
- 1987-03-03 JP JP4680987A patent/JPS63213664A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH042767A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Toyobo Co Ltd | 薄膜製造方法 |
| JPH049458A (ja) * | 1990-04-26 | 1992-01-14 | Toyobo Co Ltd | 含シリコン薄膜の製造方法 |
| JPH06280000A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-10-04 | Japan Steel Works Ltd:The | プラズマ表面処理方法および装置 |
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