JPS63215547A - 電気抵抗体及びその製造方法 - Google Patents
電気抵抗体及びその製造方法Info
- Publication number
- JPS63215547A JPS63215547A JP62045609A JP4560987A JPS63215547A JP S63215547 A JPS63215547 A JP S63215547A JP 62045609 A JP62045609 A JP 62045609A JP 4560987 A JP4560987 A JP 4560987A JP S63215547 A JPS63215547 A JP S63215547A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistor
- weight
- glass
- alkaline earth
- earth metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、固定チップ抵抗器あるいは回路配線基板等に
設けられる厚膜タイプの電気抵抗体、特に非酸化性雰囲
気中で焼成して得られることが可能な電気抵抗体及びそ
の製造方法に関する。
設けられる厚膜タイプの電気抵抗体、特に非酸化性雰囲
気中で焼成して得られることが可能な電気抵抗体及びそ
の製造方法に関する。
従来の技術
電子機器の電気回路は、抵抗、コンデンサ、ダイオード
、トランジスタ等の各種電気素子が回路基板に実装され
て構成されることが良く行なわれているが、電子機器の
小型化に伴ってこれらの電気素子の実装密変をさらに高
めることができる回路基板が多く用いられるようになっ
てきた。
、トランジスタ等の各種電気素子が回路基板に実装され
て構成されることが良く行なわれているが、電子機器の
小型化に伴ってこれらの電気素子の実装密変をさらに高
めることができる回路基板が多く用いられるようになっ
てきた。
これらの回路基板に設けられる抵抗体には、抵抗体材料
ペーストを回路上に直接印刷して焼付けることにより形
成した厚膜抵抗体、あるいは角板状セラミックチップの
両端に一対の電極を形成し、双方の電極に跨がるように
前記厚膜抵抗体を形成した固定チップ抵抗器等がある。
ペーストを回路上に直接印刷して焼付けることにより形
成した厚膜抵抗体、あるいは角板状セラミックチップの
両端に一対の電極を形成し、双方の電極に跨がるように
前記厚膜抵抗体を形成した固定チップ抵抗器等がある。
このような厚膜抵抗体を回路基板に設けるには、従来、
例えば1500℃前後で焼成して得られたアルミナ基板
の表面にAgあるいはAg−Pd等の導体材料ペースト
を塗布し、焼付けした後、例えばRuntを抵抗体材料
として含有するペーストをスクリーン印刷等により塗布
し、ついで750〜850℃で焼付け、さらに必要に応
じてトリミング等により抵抗値の調整を行なうやり方が
一般的である。
例えば1500℃前後で焼成して得られたアルミナ基板
の表面にAgあるいはAg−Pd等の導体材料ペースト
を塗布し、焼付けした後、例えばRuntを抵抗体材料
として含有するペーストをスクリーン印刷等により塗布
し、ついで750〜850℃で焼付け、さらに必要に応
じてトリミング等により抵抗値の調整を行なうやり方が
一般的である。
しかしながら近年、電子機器等に対する軽薄・短小化、
低コスト化の要求がさらに強まってきており、回路基板
に対しても一層の小型化、低コスト化の検討が行われる
ようになってきた。
低コスト化の要求がさらに強まってきており、回路基板
に対しても一層の小型化、低コスト化の検討が行われる
ようになってきた。
前者の小型化のための具体的な対応としては、第1に回
路基板の多層化、第2に抵抗体の内装化が行なわれてい
る。回路基板を多層化する例としては、AgあるいはA
g−Pd系等の導体材料ペーストを印刷したセラミック
グリーンシート(生シート)を積層、圧着した後、大気
中800〜1100℃で同時焼成して得られる多層配線
基板が挙げられ、また、抵抗体を内装化した例としては
、前記導体材料ペーストを印刷したセラミックグリーン
シート上にさらにRuO□系抵抗系材抗体材料ペースト
し、前記と同様に積層、圧着した後、同時焼成して得ら
れる抵抗体内装多層配線基板等が知られている。
路基板の多層化、第2に抵抗体の内装化が行なわれてい
る。回路基板を多層化する例としては、AgあるいはA
g−Pd系等の導体材料ペーストを印刷したセラミック
グリーンシート(生シート)を積層、圧着した後、大気
中800〜1100℃で同時焼成して得られる多層配線
基板が挙げられ、また、抵抗体を内装化した例としては
、前記導体材料ペーストを印刷したセラミックグリーン
シート上にさらにRuO□系抵抗系材抗体材料ペースト
し、前記と同様に積層、圧着した後、同時焼成して得ら
れる抵抗体内装多層配線基板等が知られている。
また、後者の低コスト化のための具体的な対応としては
、AgあるいはAg−Pd系材料のような高価な貴金属
系の導体材料に代わって、安価なNiあるいはCu等の
卑金属系の導体材料を用い、これらを窒素ガスあるいは
水素を含む窒素ガス中等、その酸化による高抵抗化を避
けることができるような中性あるいは還元性の非酸化性
雰囲気中、800〜1100℃でグリーンセラミックと
同時焼成して得られる多層配線基板が実用化されている
。また、特開昭56−153702号公報に記載されて
いるように、Mo5iz−TaSiz及びガラスからな
る抵抗体材料を、銅(Cu)導体を有するアルミナ基板
上に塗布し、熱処理して得られる厚膜抵抗体等も知られ
ている。
、AgあるいはAg−Pd系材料のような高価な貴金属
系の導体材料に代わって、安価なNiあるいはCu等の
卑金属系の導体材料を用い、これらを窒素ガスあるいは
水素を含む窒素ガス中等、その酸化による高抵抗化を避
けることができるような中性あるいは還元性の非酸化性
雰囲気中、800〜1100℃でグリーンセラミックと
同時焼成して得られる多層配線基板が実用化されている
。また、特開昭56−153702号公報に記載されて
いるように、Mo5iz−TaSiz及びガラスからな
る抵抗体材料を、銅(Cu)導体を有するアルミナ基板
上に塗布し、熱処理して得られる厚膜抵抗体等も知られ
ている。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、回路基板の小型化と低コスト化を同時に
行なうようにすると、Rubz系抵抗系材抗体材料ガス
あるいは水素を含む窒素ガス雰囲気中でグリーンセラミ
ックと同時焼成したときに還元反応が起こり、抵抗値が
低くなって抵抗体としての特性を示さなくなる。
行なうようにすると、Rubz系抵抗系材抗体材料ガス
あるいは水素を含む窒素ガス雰囲気中でグリーンセラミ
ックと同時焼成したときに還元反応が起こり、抵抗値が
低くなって抵抗体としての特性を示さなくなる。
また、Mo5iz−TaSiz及びガラスからなる抵抗
体材料を非酸化性雰囲気中でグリーンセラミックシート
と同時焼成すると、両者の膨張率、収縮率の相違による
ずれにより焼成体に反りが生じたり、MO5iz−Ta
Sizの分解反応によりガスが発生して焼成体にふくれ
が生じ易いと云う問題点がある。これを改善するために
、特開昭60−198703号公報に記載されているよ
うに、Mo5iz−弗化金属塩(例えば弗化カルシウム
)及びガラスよりなる抵抗体材料を用いる例か知られて
おり、これについては上記のような焼成時の反りやふく
れは見られない。
体材料を非酸化性雰囲気中でグリーンセラミックシート
と同時焼成すると、両者の膨張率、収縮率の相違による
ずれにより焼成体に反りが生じたり、MO5iz−Ta
Sizの分解反応によりガスが発生して焼成体にふくれ
が生じ易いと云う問題点がある。これを改善するために
、特開昭60−198703号公報に記載されているよ
うに、Mo5iz−弗化金属塩(例えば弗化カルシウム
)及びガラスよりなる抵抗体材料を用いる例か知られて
おり、これについては上記のような焼成時の反りやふく
れは見られない。
しかしながら、このMo5iz−弗化金属及びガラスよ
りなる抵抗体材料をグリーンセラミックシートに塗布し
、同時焼成して得られた厚膜抵抗体は、95%相対湿度
中に1000時間放置すると、5〜10%の抵抗値の増
加が見られ、抵抗体としての所定の機能を果たすことが
できない。
りなる抵抗体材料をグリーンセラミックシートに塗布し
、同時焼成して得られた厚膜抵抗体は、95%相対湿度
中に1000時間放置すると、5〜10%の抵抗値の増
加が見られ、抵抗体としての所定の機能を果たすことが
できない。
また、上記の従来の電気抵抗体は、その抵抗値の温度変
化係数が11000pp/ ’eよりは小さくならず、
精密な動作を必要とする回路の抵抗体素子としては問題
があった。
化係数が11000pp/ ’eよりは小さくならず、
精密な動作を必要とする回路の抵抗体素子としては問題
があった。
そこで、本願と同日の他の出願で、固定チップ抵抗器に
使用できるのみならず卑金属導体を用いた回路基板に設
けて積層し、これを焼成して多層基板に内装化しても抵
抗値の安定な電気抵抗体を得られることを示した。
使用できるのみならず卑金属導体を用いた回路基板に設
けて積層し、これを焼成して多層基板に内装化しても抵
抗値の安定な電気抵抗体を得られることを示した。
しかしながら、この電気抵抗体の抵抗値の温度変化係数
をさらに小さくすることが望まれていた。
をさらに小さくすることが望まれていた。
本発明の目的は、固定チップ抵抗器あるいは一般の回路
基板等に使用できるのみならず、卑金属導体材料ととも
に積層し、多居基板に内装化することのできる電気抵抗
体であって、その抵抗の温度変化係数を小さくすること
のできる電気抵抗体を提供することにある。
基板等に使用できるのみならず、卑金属導体材料ととも
に積層し、多居基板に内装化することのできる電気抵抗
体であって、その抵抗の温度変化係数を小さくすること
のできる電気抵抗体を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、上記電気抵抗体の特性を向
上させることのできる製造法を提供することにある。
上させることのできる製造法を提供することにある。
問題点を解決するための手段
本発明は、上記問題点を解決するために、亜鉛のモリブ
デン酸塩と、アルカリ土類金属の弗化物を含有する焼成
体を有することを特徴とする電気抵抗体を提供するもの
である。
デン酸塩と、アルカリ土類金属の弗化物を含有する焼成
体を有することを特徴とする電気抵抗体を提供するもの
である。
また、本発明は、主成分に亜鉛のモリブデン酸塩及びそ
の前駆体の内の少なくとも一種と、アルカリ土類金属の
弗化物を主成分に含有する抵抗体材料を熱処理し、この
熱処理して得られた抵抗体材料を用いて焼成し、亜鉛の
モリブデン酸塩及びアルカリ土類金属の弗化物を含有す
る焼成体からなる電気抵抗体を得ることを特徴とする電
気抵抗体の製造方法を提供するものである。
の前駆体の内の少なくとも一種と、アルカリ土類金属の
弗化物を主成分に含有する抵抗体材料を熱処理し、この
熱処理して得られた抵抗体材料を用いて焼成し、亜鉛の
モリブデン酸塩及びアルカリ土類金属の弗化物を含有す
る焼成体からなる電気抵抗体を得ることを特徴とする電
気抵抗体の製造方法を提供するものである。
次に本発明の詳細な説明する。
本発明における亜鉛のモリブデン酸塩には、例えばZn
MoO4、ZnMozOt 、Zn5M0zOq等の単
独物質あるいはその混合物が例示される。
MoO4、ZnMozOt 、Zn5M0zOq等の単
独物質あるいはその混合物が例示される。
このような亜鉛のモリブデン酸塩は、亜鉛の酸化物と酸
化モリブデン(MOOJ)の熱処理によって合成するこ
とができるが、その前駆体を用いて熱処理することによ
り合成することもできる。
化モリブデン(MOOJ)の熱処理によって合成するこ
とができるが、その前駆体を用いて熱処理することによ
り合成することもできる。
本発明においてはバインダーを用いることが好ましく、
これにはガラスが挙げられが、このガラスとしては一般
に知られているガラスが用いられ、特定の組成のガラス
に限定されるものではないが、Pb5Oa 、BizO
i 、SnO2、CdOのような酸化物は、これらを含
む抵抗体材料を非酸化性雰囲気中で焼成するときに還元
されて金属化することがあり、この金属は抵抗値を変化
させるので、このようなことが起こることが好ましくな
い場合にはこれらの酸化物を含有しないことが好ましい
。
これにはガラスが挙げられが、このガラスとしては一般
に知られているガラスが用いられ、特定の組成のガラス
に限定されるものではないが、Pb5Oa 、BizO
i 、SnO2、CdOのような酸化物は、これらを含
む抵抗体材料を非酸化性雰囲気中で焼成するときに還元
されて金属化することがあり、この金属は抵抗値を変化
させるので、このようなことが起こることが好ましくな
い場合にはこれらの酸化物を含有しないことが好ましい
。
ガラス成分としては、Sing、 1hoz、ZnO、
CaO1SrO1zrO2などが好ましく、これらの酸
化物の組成比は、 5i0212〜33 重量% BzO* 20〜35 重量9も ZnO又はSr0 13〜33 MM%Ca010〜
25 重量% Zr0z 15〜45 重量% が好ましい。
CaO1SrO1zrO2などが好ましく、これらの酸
化物の組成比は、 5i0212〜33 重量% BzO* 20〜35 重量9も ZnO又はSr0 13〜33 MM%Ca010〜
25 重量% Zr0z 15〜45 重量% が好ましい。
これら酸化物の組成物からガラスを製造するには、前記
組成比になるようにそれぞれの酸化物を秤量し、混合す
る。この混合物を坩堝に入れ、1200〜1500℃の
温度にて溶融した後、溶融液を例えば水中に投入し、急
冷させ、ガラス粗粉を得る。
組成比になるようにそれぞれの酸化物を秤量し、混合す
る。この混合物を坩堝に入れ、1200〜1500℃の
温度にて溶融した後、溶融液を例えば水中に投入し、急
冷させ、ガラス粗粉を得る。
この粗粉を例えばボールミル、振動ミルなどの粉砕手段
を用いて所望の粒度(例えば10μm以下)になるまで
粉砕すると、ガラス粉末が得られる。
を用いて所望の粒度(例えば10μm以下)になるまで
粉砕すると、ガラス粉末が得られる。
前記は純粋の酸化物を混合して用いたが、これに限らず
結果的に各酸化物の混合物からなるガラスになれば良く
、各酸化物の前駆体をその一部又は全部に用い、これを
溶融してガラスにしても良い0例えばCaO(酸化カル
シウム)はCaC05(炭酸カルシウム) 、BJz(
酸化硼素)はホウ酸(HJ(h)の熱処理により得られ
るので、CaO、l1hOxの一部又はその全部の代わ
りにそれぞれCaC01、HzBO。
結果的に各酸化物の混合物からなるガラスになれば良く
、各酸化物の前駆体をその一部又は全部に用い、これを
溶融してガラスにしても良い0例えばCaO(酸化カル
シウム)はCaC05(炭酸カルシウム) 、BJz(
酸化硼素)はホウ酸(HJ(h)の熱処理により得られ
るので、CaO、l1hOxの一部又はその全部の代わ
りにそれぞれCaC01、HzBO。
を用いることができる。その他の成分の酸化物について
ん同様である。
ん同様である。
また、本発明において用いられるアルカリ土類金属の弗
化物は、Meを金属としたときMeF 2の一般式で表
され、Meとしてアルカリ土類金属、すなわちMg、
Ca、 Srb Baを用い、これらの各金属塩の一種
又は二種以上を混合して用いることが好ましい。
化物は、Meを金属としたときMeF 2の一般式で表
され、Meとしてアルカリ土類金属、すなわちMg、
Ca、 Srb Baを用い、これらの各金属塩の一種
又は二種以上を混合して用いることが好ましい。
しかし、これらアルカリ土類金属の弗化物に限らず、他
の金属の弗化物も使用できる。
の金属の弗化物も使用できる。
上記のようにして得られる亜鉛のモリブデン酸塩、ガラ
ス粉末及びアルカリ土類金属等の弗化物は混合され、そ
のまま抵抗体材料として用いても良いが、これを熱処理
して粉砕したものを抵抗体材料とすることがこれを焼成
して得た抵抗体の抵抗温度特性の上で好ましい。この熱
処理温度としては、800℃〜1200℃が好ましく、
これより外れると抵抗体材料を電気抵抗体に加工する各
工程の作業条件等による組成比の微妙な変動に対し、出
来上がった抵抗体の抵抗値が影響を受は易く、所望の抵
抗値を安定して得ることが難しい。この熱処理は非酸化
性雰囲気が望ましく、窒素ガスその他年活性ガスのみな
らず、これらに水素ガスを含有させた混合ガスを用いる
ことが好ましい。
ス粉末及びアルカリ土類金属等の弗化物は混合され、そ
のまま抵抗体材料として用いても良いが、これを熱処理
して粉砕したものを抵抗体材料とすることがこれを焼成
して得た抵抗体の抵抗温度特性の上で好ましい。この熱
処理温度としては、800℃〜1200℃が好ましく、
これより外れると抵抗体材料を電気抵抗体に加工する各
工程の作業条件等による組成比の微妙な変動に対し、出
来上がった抵抗体の抵抗値が影響を受は易く、所望の抵
抗値を安定して得ることが難しい。この熱処理は非酸化
性雰囲気が望ましく、窒素ガスその他年活性ガスのみな
らず、これらに水素ガスを含有させた混合ガスを用いる
ことが好ましい。
抵抗体材料の各成分の組成比は、亜鉛のモリブデン酸塩
60〜95重■%、ガラス粉末4.5〜39.5重量%
、アルカリ土類金属の弗化物0.5〜25重量%が好ま
しい。この範囲より亜鉛のモリブデン酸塩が少な過ぎ、
ガラスが多過ぎると、焼成して出来上がった電気抵抗体
の抵抗値が高くなり過ぎ好ましくない場合があり、また
、逆に亜鉛のモリブデン酸塩が多過ぎ、ガラスが少な過
ぎると焼成時の焼結性が悪くなり回路基板に安定に保持
できないことがある。しかし、抵抗体を回路基板を積層
して埋め込むような場合には亜鉛のモリブデン酸塩及び
アルカリ土類金属の弗化物が上記範囲より多く、100
%でも良い。また、アルカリ土類金属の弗化物は0.5
重量%より少な過ぎても、25重量%より多過ぎても出
来上がった電気抵抗体の温度変化係数が±500 pp
m/’Cより大きくなり、好ましくない場合がある。し
かし、この範囲以外のものも抵抗の温度変化係数の改善
が見られる範囲で使用できる。
60〜95重■%、ガラス粉末4.5〜39.5重量%
、アルカリ土類金属の弗化物0.5〜25重量%が好ま
しい。この範囲より亜鉛のモリブデン酸塩が少な過ぎ、
ガラスが多過ぎると、焼成して出来上がった電気抵抗体
の抵抗値が高くなり過ぎ好ましくない場合があり、また
、逆に亜鉛のモリブデン酸塩が多過ぎ、ガラスが少な過
ぎると焼成時の焼結性が悪くなり回路基板に安定に保持
できないことがある。しかし、抵抗体を回路基板を積層
して埋め込むような場合には亜鉛のモリブデン酸塩及び
アルカリ土類金属の弗化物が上記範囲より多く、100
%でも良い。また、アルカリ土類金属の弗化物は0.5
重量%より少な過ぎても、25重量%より多過ぎても出
来上がった電気抵抗体の温度変化係数が±500 pp
m/’Cより大きくなり、好ましくない場合がある。し
かし、この範囲以外のものも抵抗の温度変化係数の改善
が見られる範囲で使用できる。
このようにして得られた抵抗体材料粉末から固定チップ
抵抗器あるいは厚膜抵抗体のための抵抗体を作成するに
は、例えばセラミックグリーンシートにこれらの抵抗体
材料粉末を塗布し、焼成するが、この塗布を行うために
例えばシルクスクリーン印刷ができるようにこれら抵抗
体材料粉末にビヒクルが混合され塗液が調整される。こ
のビヒクルは、焼成の前段階で焼失できるようなものが
好ましく、このためには有機物ビヒクル、すなわち有機
溶剤に樹脂を溶解又は分散させ、必要に応じて可塑剤、
分散剤等の各種添加剤を加えたものが好ましい。この有
機溶剤にはプチルカービトールアセテート、プチルカー
ビトール、テレピン油などが挙げられ、樹脂としてはエ
チルセルローズ、ニトロセルローズ等のセルローズ誘導
体、その他の樹脂が挙げられる。
抵抗器あるいは厚膜抵抗体のための抵抗体を作成するに
は、例えばセラミックグリーンシートにこれらの抵抗体
材料粉末を塗布し、焼成するが、この塗布を行うために
例えばシルクスクリーン印刷ができるようにこれら抵抗
体材料粉末にビヒクルが混合され塗液が調整される。こ
のビヒクルは、焼成の前段階で焼失できるようなものが
好ましく、このためには有機物ビヒクル、すなわち有機
溶剤に樹脂を溶解又は分散させ、必要に応じて可塑剤、
分散剤等の各種添加剤を加えたものが好ましい。この有
機溶剤にはプチルカービトールアセテート、プチルカー
ビトール、テレピン油などが挙げられ、樹脂としてはエ
チルセルローズ、ニトロセルローズ等のセルローズ誘導
体、その他の樹脂が挙げられる。
この有機物ビヒクルと抵抗体材料粉末との使用割合は使
用する有機溶剤、樹脂等により変わるが、有機溶剤と樹
脂との使用割合は前者が20〜50重量%、後者が80
〜50重世%が適当である。これらの成分は例えば三本
ロールミル、らいかい器などの混合手段を用いてペース
ト状にされる。
用する有機溶剤、樹脂等により変わるが、有機溶剤と樹
脂との使用割合は前者が20〜50重量%、後者が80
〜50重世%が適当である。これらの成分は例えば三本
ロールミル、らいかい器などの混合手段を用いてペース
ト状にされる。
このようにして得られた抵抗体材料ペーストが基板に塗
布され、これがさらに後述の処理を施されて抵抗体が作
成されるが、この基板にはセラミックグリーンシートを
導体材料や抵抗体材料とともに焼成して作成するものの
みならず、予めセラミックグリーンシートを焼成し、こ
れにさらに抵抗体材料、導体材料を塗布した後焼成する
方法でも良い。これらは積層体を形成する場合にも適用
できる。
布され、これがさらに後述の処理を施されて抵抗体が作
成されるが、この基板にはセラミックグリーンシートを
導体材料や抵抗体材料とともに焼成して作成するものの
みならず、予めセラミックグリーンシートを焼成し、こ
れにさらに抵抗体材料、導体材料を塗布した後焼成する
方法でも良い。これらは積層体を形成する場合にも適用
できる。
前記セラミックグリーンシートとしては、例えば酸化ア
ルミニウム(A 1zoz)35〜45重量%、酸化珪
素(St(h)25〜35重量%、酸化硼素(BzOi
)10〜15重四%、酸化カルシウム(Cab) 7〜
13重量%、酸化マグネシウム(MgO) 7〜10重
量%等のセラミック構成成分の酸化物混合物を有機物ビ
ヒクルとボールミル等で混合したスラリーをドクターブ
レード等によりシート化したものが挙げられる。この際
、亜鉛のモリブデン酸塩にガラスを併用しないときは、
前記セラミックグリーンシートにガラス分を多く含ませ
ガラスを併用したと同様の効果を出すようにしても良い
。前記有機物ビヒクルには、アクリル酸エステル等のア
クリル樹脂、ポリビニルブチラール等の樹脂、グリセリ
ン、フタル酸ジエチル等の可塑剤、カルボン酸塩等の分
散剤、水、有機溶剤等の溶剤から構成される。
ルミニウム(A 1zoz)35〜45重量%、酸化珪
素(St(h)25〜35重量%、酸化硼素(BzOi
)10〜15重四%、酸化カルシウム(Cab) 7〜
13重量%、酸化マグネシウム(MgO) 7〜10重
量%等のセラミック構成成分の酸化物混合物を有機物ビ
ヒクルとボールミル等で混合したスラリーをドクターブ
レード等によりシート化したものが挙げられる。この際
、亜鉛のモリブデン酸塩にガラスを併用しないときは、
前記セラミックグリーンシートにガラス分を多く含ませ
ガラスを併用したと同様の効果を出すようにしても良い
。前記有機物ビヒクルには、アクリル酸エステル等のア
クリル樹脂、ポリビニルブチラール等の樹脂、グリセリ
ン、フタル酸ジエチル等の可塑剤、カルボン酸塩等の分
散剤、水、有機溶剤等の溶剤から構成される。
上記抵抗体材料ペーストはセラミックグリーンシートに
例えばシルクスクリーン印刷等の手段により塗布され、
乾燥後、400〜500℃で熱処理されて樹脂成分が分
解・燃焼されるのが好ましい。
例えばシルクスクリーン印刷等の手段により塗布され、
乾燥後、400〜500℃で熱処理されて樹脂成分が分
解・燃焼されるのが好ましい。
この際、同時にNiあるいはCu等の卑金属導体材料あ
るいはAg又はAg−Pdの貴金属導体材料のペースト
も抵抗体材料ペースト塗膜と同様にセラミックグリーン
シートに塗布され、抵抗体材料ペーストの塗布物と同様
に処理される。
るいはAg又はAg−Pdの貴金属導体材料のペースト
も抵抗体材料ペースト塗膜と同様にセラミックグリーン
シートに塗布され、抵抗体材料ペーストの塗布物と同様
に処理される。
このNiあるいはCu等の卑金属導体材料あるいはAg
又はAg−Pdの青金*導体材料のペースト組成物とし
ては、各々の金属粉末98〜85重看%にガラスフリフ
トを2〜15重量%添加したものが例示される。
又はAg−Pdの青金*導体材料のペースト組成物とし
ては、各々の金属粉末98〜85重看%にガラスフリフ
トを2〜15重量%添加したものが例示される。
このようにしてセラミックグリーンシートに抵抗体材料
及び/又は導体材料が組み込まれるが、固定チップ抵抗
器の場合にはこの未焼成基板の表面のみ、多層基板の厚
膜抵抗体の場合には前記抵抗体材料、導体材料を未焼成
状態で組み込んだものをさらに積層して所定の回路を構
成するようにしてから焼成する。この焼成により導体材
料及び/又は厚膜抵抗体材料を基板と同時に焼成体にす
ることができる。
及び/又は導体材料が組み込まれるが、固定チップ抵抗
器の場合にはこの未焼成基板の表面のみ、多層基板の厚
膜抵抗体の場合には前記抵抗体材料、導体材料を未焼成
状態で組み込んだものをさらに積層して所定の回路を構
成するようにしてから焼成する。この焼成により導体材
料及び/又は厚膜抵抗体材料を基板と同時に焼成体にす
ることができる。
この場合、NiあるいはCo等の卑金属導体材料が導体
材料に用いられるときは、その酸化による高抵抗値jヒ
を防止するために、非酸化性雰囲気中で焼成することが
好ましく、その焼成温度は、例えば800℃〜1100
℃、0.5時間〜2時間が例示される。非酸化性雰囲気
としては、窒素ガスその他年活性ガス、これらに水素ガ
スを含存させた混合ガスも用いられる。また、Ag又は
Ag−Pdの貴金属導体材料を用いるときは空気等の酸
化性雰囲気中で焼成することもできる。
材料に用いられるときは、その酸化による高抵抗値jヒ
を防止するために、非酸化性雰囲気中で焼成することが
好ましく、その焼成温度は、例えば800℃〜1100
℃、0.5時間〜2時間が例示される。非酸化性雰囲気
としては、窒素ガスその他年活性ガス、これらに水素ガ
スを含存させた混合ガスも用いられる。また、Ag又は
Ag−Pdの貴金属導体材料を用いるときは空気等の酸
化性雰囲気中で焼成することもできる。
前記のようにして導体及び/又は抵抗体を組み込んだ回
路配線基板が出来上がるが、焼成基板と導体の間は勿論
のこと、焼成基板と抵抗体との間にも焼成に伴ってクラ
ックや歪、ふくれを生じることがないとともに、抵抗体
は高湿度雰囲気中に1000時間以上放置されてもその
抵抗値が±2%以内の変化に抑制され、その高い信顛性
を確保することができるとともに、抵抗値の温度変化係
数も例えば±500ppra/ ”C以下にすることが
できる。これは抵抗体が導体及び焼成基板と良くマツチ
ングするためと、亜鉛のモリブデン酸塩及びアカリ土頻
金属の弗化物とガラスの焼成体からなる抵抗体の独特の
耐湿性に基づくものと考えられるが詳細は明らかでない
。なお、X線回折分析により前記抵抗体中に亜鉛のモリ
ブデン酸塩とアルカリ土類金属の弗化物を認めることが
できる。
路配線基板が出来上がるが、焼成基板と導体の間は勿論
のこと、焼成基板と抵抗体との間にも焼成に伴ってクラ
ックや歪、ふくれを生じることがないとともに、抵抗体
は高湿度雰囲気中に1000時間以上放置されてもその
抵抗値が±2%以内の変化に抑制され、その高い信顛性
を確保することができるとともに、抵抗値の温度変化係
数も例えば±500ppra/ ”C以下にすることが
できる。これは抵抗体が導体及び焼成基板と良くマツチ
ングするためと、亜鉛のモリブデン酸塩及びアカリ土頻
金属の弗化物とガラスの焼成体からなる抵抗体の独特の
耐湿性に基づくものと考えられるが詳細は明らかでない
。なお、X線回折分析により前記抵抗体中に亜鉛のモリ
ブデン酸塩とアルカリ土類金属の弗化物を認めることが
できる。
本発明においては、上記の如く亜鉛のモリブデン酸塩を
用いても良いが、この亜鉛のモリブデン酸塩の代わりに
熱処理により亜鉛のモリブデン酸塩となる前駆体を一部
又は全部用いることもできる。これらのいずれの場合も
ガラスと混合して熱処理したものを粉砕し、抵抗体材料
とすることが好ましいが、この熱処理を行わず上述の有
機物ビヒクル等と混合して作成したペーストを例えばグ
リーンセラミックシートに塗布してから、有機物除去の
加熱処理を経て焼成し、直接抵抗体を作成することもで
きる。
用いても良いが、この亜鉛のモリブデン酸塩の代わりに
熱処理により亜鉛のモリブデン酸塩となる前駆体を一部
又は全部用いることもできる。これらのいずれの場合も
ガラスと混合して熱処理したものを粉砕し、抵抗体材料
とすることが好ましいが、この熱処理を行わず上述の有
機物ビヒクル等と混合して作成したペーストを例えばグ
リーンセラミックシートに塗布してから、有機物除去の
加熱処理を経て焼成し、直接抵抗体を作成することもで
きる。
また、ガラスはこれを構成する酸化物の混合材料が亜鉛
のモリブデン酸塩及びアルカリ土類金属の弗化物ととも
に結果的に焼成される状態におかれれば良く、これらの
酸化物の前駆体を亜鉛のモリブデン酸塩及び/又はその
前駆体、アルカリ土類金属の弗化物ともにこの酸化物の
一部又は全部を上述したようにペースト状態にし、これ
を基板に塗布して有機物の燃焼、その後の焼成のいずれ
の過程で上記のガラス成分からなるガラスになり、これ
と亜鉛のモリブデン酸塩及び/又はその前駆体と、アル
カリ土類金属の弗化物と焼成されことにより抵抗体を作
製できるものであれば良い。例えば、ガラスの材料の成
分であるCaO(酸化カルシウム)はCaC0z (
炭酸カルシウム)の加熱、B20:l(酸化硼素)はホ
ウ酸(HzBO*)の加熱から得られるので、CaO、
BzOzの一部又は全部の代わりにそれぞれCaC0J
s LBO3を用いることができる。
のモリブデン酸塩及びアルカリ土類金属の弗化物ととも
に結果的に焼成される状態におかれれば良く、これらの
酸化物の前駆体を亜鉛のモリブデン酸塩及び/又はその
前駆体、アルカリ土類金属の弗化物ともにこの酸化物の
一部又は全部を上述したようにペースト状態にし、これ
を基板に塗布して有機物の燃焼、その後の焼成のいずれ
の過程で上記のガラス成分からなるガラスになり、これ
と亜鉛のモリブデン酸塩及び/又はその前駆体と、アル
カリ土類金属の弗化物と焼成されことにより抵抗体を作
製できるものであれば良い。例えば、ガラスの材料の成
分であるCaO(酸化カルシウム)はCaC0z (
炭酸カルシウム)の加熱、B20:l(酸化硼素)はホ
ウ酸(HzBO*)の加熱から得られるので、CaO、
BzOzの一部又は全部の代わりにそれぞれCaC0J
s LBO3を用いることができる。
本発明における抵抗体材料とはその処理の過程で結果的
に亜鉛のモリブデン酸塩とガラスとアルカリ土類金属の
弗化物を主成分にするものであれば良い。
に亜鉛のモリブデン酸塩とガラスとアルカリ土類金属の
弗化物を主成分にするものであれば良い。
実施例
次に本発明の詳細な説明する。
実施例1
酸化物に換算して表1に示される組成になるように各成
分を秤量し、混合した。
分を秤量し、混合した。
表1
表中、単位は重層%。
ガラスA、ガラスBのそれぞれの混合物を各別にアルミ
ナ坩堝中で1400℃で溶融し、その溶融液を水中に投
入し、急冷させた。この急冷物を取り出してエタノール
とともにボットミルの中に入れ、アルミナボールで24
時間粉砕し、粒径10μm以下のガラス粉末を得た。
ナ坩堝中で1400℃で溶融し、その溶融液を水中に投
入し、急冷させた。この急冷物を取り出してエタノール
とともにボットミルの中に入れ、アルミナボールで24
時間粉砕し、粒径10μm以下のガラス粉末を得た。
また、酸化モリブデンと亜鉛の酸化物から亜鉛のモリブ
デン酸塩を得た。
デン酸塩を得た。
次に、前記で得たガラス^、ガラスBのそれぞれのガラ
ス粉末と前記で得た亜鉛のモリブデン酸塩及びアルカリ
土類金属の弗化物を表2に示す割合になるように秤量し
、混合した。
ス粉末と前記で得た亜鉛のモリブデン酸塩及びアルカリ
土類金属の弗化物を表2に示す割合になるように秤量し
、混合した。
表2印鉛のモリブデン酸塩と弗化物を併用する場合>
211)表2(つづき) 112(つづき) 前記各試料を窒素(Nz) 9B、5 vo1%、水素
(H2)1.5νo1%のガス雰囲気中、1000℃、
1時間熱処理し、しかる後にエタノールとともにボット
ミルにて粉砕し、乾燥して10μ鋼以下のガラスとモリ
ブデン酸塩と弗化物の熱処理粉末の抵抗体材料粉末を得
た。
211)表2(つづき) 112(つづき) 前記各試料を窒素(Nz) 9B、5 vo1%、水素
(H2)1.5νo1%のガス雰囲気中、1000℃、
1時間熱処理し、しかる後にエタノールとともにボット
ミルにて粉砕し、乾燥して10μ鋼以下のガラスとモリ
ブデン酸塩と弗化物の熱処理粉末の抵抗体材料粉末を得
た。
次に各試料の抵抗体材料粉末100重量部に有機物ビヒ
クル(プチルカービトール90重量部、エチルセルロー
ズ10重量部)25重量部を加え、ロールミルで混合し
、抵抗体材料ペーストを得た。
クル(プチルカービトール90重量部、エチルセルロー
ズ10重量部)25重量部を加え、ロールミルで混合し
、抵抗体材料ペーストを得た。
一方、Ajl!20z 40.0重量%、SiO□35
.0重量%、Bz(h13.0重便%、CaO7,0重
量%、Mg85.0重量%からなるセラミック原料粉末
100重量部にポリビニルブチラール8重量部、フタル
酸ジエチル8重量部、オレイン酸0.5重量部、アセト
710重量部、イソプロピルアルコール20重量部及び
メチルエチルケトン20重量部を加えてボールミルによ
り混合してスラリーを作製し、脱泡処理した後にドクタ
ーブレード法により厚さ200μmの長尺のセラミック
グリーンシートを作製した。このセラミックグリーンシ
ートから縦6目横9鶴のグリーンシート片と、縦6目横
9鶴のグリーンシート片とを切り抜いた。
.0重量%、Bz(h13.0重便%、CaO7,0重
量%、Mg85.0重量%からなるセラミック原料粉末
100重量部にポリビニルブチラール8重量部、フタル
酸ジエチル8重量部、オレイン酸0.5重量部、アセト
710重量部、イソプロピルアルコール20重量部及び
メチルエチルケトン20重量部を加えてボールミルによ
り混合してスラリーを作製し、脱泡処理した後にドクタ
ーブレード法により厚さ200μmの長尺のセラミック
グリーンシートを作製した。このセラミックグリーンシ
ートから縦6目横9鶴のグリーンシート片と、縦6目横
9鶴のグリーンシート片とを切り抜いた。
次に第1図に示す如(、前記の縦9鶴横9鶴のグリーン
シート片1上に銅粉末95重量部、ガラスフリフト5重
量部に、有機物ビヒクルとしてブチルカルピトール20
重量部、エチルセルロース5重量部を加え、これらを三
本ロールミルにより混合した導体材料ペーストをシルク
スクリーン印刷し、125℃、10分間乾燥させて厚膜
導体材料塗膜2を形成した。次いで、前記で得た抵抗体
材料ペーストを前記グリーンシート片1に前記と同様に
シルクスクリーン印刷し、125℃、10分間乾燥させ
て抵抗体材料塗膜3を形成した。
シート片1上に銅粉末95重量部、ガラスフリフト5重
量部に、有機物ビヒクルとしてブチルカルピトール20
重量部、エチルセルロース5重量部を加え、これらを三
本ロールミルにより混合した導体材料ペーストをシルク
スクリーン印刷し、125℃、10分間乾燥させて厚膜
導体材料塗膜2を形成した。次いで、前記で得た抵抗体
材料ペーストを前記グリーンシート片1に前記と同様に
シルクスクリーン印刷し、125℃、10分間乾燥させ
て抵抗体材料塗膜3を形成した。
次にグリーンシート片1上に前記で得た縦6關横9鴎の
グリーンシート片4を図示鎖線で示すように重ね、10
0℃、150にg/ctAで熱圧着する0次いで、これ
を大気等の酸化性雰囲気中、400〜500℃で加熱し
てグリーンシート片1.4、導体材料塗膜2、抵抗体材
料塗膜3のそれぞれの残留有機物を分解・燃焼させる。
グリーンシート片4を図示鎖線で示すように重ね、10
0℃、150にg/ctAで熱圧着する0次いで、これ
を大気等の酸化性雰囲気中、400〜500℃で加熱し
てグリーンシート片1.4、導体材料塗膜2、抵抗体材
料塗膜3のそれぞれの残留有機物を分解・燃焼させる。
このようにして有機物を除去した後、Hz 9B、5v
o1%、Hz 1.5 vo1%の混合ガス中で、95
0℃、1時間焼成し、第2図に示すようにグリーンシー
ト片1の焼成体の磁器層1a、グリーンシート片4の焼
成体の磁器層4aの間に導体材料塗膜2の焼成体の厚膜
導体2a、抵抗体材料塗膜3の焼成体の厚膜抵抗体3a
を有する多層セラミック基板を完成させた。この多層基
板には、後述する第3図、第4図に示されるような反り
、ふくれは見られなかった。
o1%、Hz 1.5 vo1%の混合ガス中で、95
0℃、1時間焼成し、第2図に示すようにグリーンシー
ト片1の焼成体の磁器層1a、グリーンシート片4の焼
成体の磁器層4aの間に導体材料塗膜2の焼成体の厚膜
導体2a、抵抗体材料塗膜3の焼成体の厚膜抵抗体3a
を有する多層セラミック基板を完成させた。この多層基
板には、後述する第3図、第4図に示されるような反り
、ふくれは見られなかった。
このようにして得られた焼成体(試料No1)の多層セ
ラミック基板を層方向に研磨して抵抗体層を露出させ、
この露出した抵抗体層をX線回折(CuKα線)により
分析し、得られた結果を第5図に示す、これにより供試
体中のモリブデン酸塩の種類及び弗化物の種類を確認す
ることができた。
ラミック基板を層方向に研磨して抵抗体層を露出させ、
この露出した抵抗体層をX線回折(CuKα線)により
分析し、得られた結果を第5図に示す、これにより供試
体中のモリブデン酸塩の種類及び弗化物の種類を確認す
ることができた。
次にこの多層セラミック基板3aの25℃における抵抗
値(R□)と、125℃に加熱したときの抵抗値(R1
□)をデジタルマルチメータで測定し、抵抗の温度係数
(TCR)を次式により求めた。
値(R□)と、125℃に加熱したときの抵抗値(R1
□)をデジタルマルチメータで測定し、抵抗の温度係数
(TCR)を次式により求めた。
2に示した。
また、上記で得られた多層セラミック基板を60℃、9
5%相対湿度のもとに1000時間放置した後の25℃
の抵抗値を測定し、その変化率を求めた結果を表2に示
す。
5%相対湿度のもとに1000時間放置した後の25℃
の抵抗値を測定し、その変化率を求めた結果を表2に示
す。
なお、各試料魚の試料からアルカリ土類金属の弗化物を
除いた試料を用いて作られた電気抵抗体のそれぞれにつ
いて上記と同様に測定し、求めた結果を表2の試料隘に
対応させてそれぞれ表3に示す。
除いた試料を用いて作られた電気抵抗体のそれぞれにつ
いて上記と同様に測定し、求めた結果を表2の試料隘に
対応させてそれぞれ表3に示す。
実施例2
実施例1において、モリブデン酸塩、アルカリ土類金属
の弗化物及びガラス粉末の混合物について窒素(Nz)
98.5vo1%、水素(Hz) 1.5vo1%の
ガス雰囲気中、1000℃、1時間の熱処理を行わなか
った以外は同様にして表13に示す抵抗体材料から多層
セラミック基板を作成し、実施例1と同様にR2,、T
CP 、抵抗値変化率を求めこれらを表4に示す。
の弗化物及びガラス粉末の混合物について窒素(Nz)
98.5vo1%、水素(Hz) 1.5vo1%の
ガス雰囲気中、1000℃、1時間の熱処理を行わなか
った以外は同様にして表13に示す抵抗体材料から多層
セラミック基板を作成し、実施例1と同様にR2,、T
CP 、抵抗値変化率を求めこれらを表4に示す。
なお、図示省略したが、この実施例の焼成体についても
X線回折分析によりモリブデン酸塩の種類、弗化物の種
類を確認できる。
X線回折分析によりモリブデン酸塩の種類、弗化物の種
類を確認できる。
(この頁以下余白〕
裏 3(モリブデン酸塩と財ヒ物を併用しない場合)i
L 3(つづき) 比較例1 (MoSiz−TaSizガラス系抵抗体系
材抗体材料iz 16重量部、Ta5iz 9重量部の
混合物を空中1400℃で加熱し、その生成物をエタノ
ールとともにボットミル中アルミナボールで24時間粉
砕し、乾燥させて10μm以下の微粉末を得た。このよ
うにして得た微粉末25重量部に対し、BaO、BzO
:+、MgO、CaO、Singからなるガラスフリフ
ヒフ5重量部b1有機物ビヒクル(ブチルカルピトール
20重量部、エチルセルロース5重量部)25重量部と
を加え、ロールミルで混合して抵抗体材料ペーストを得
た。
L 3(つづき) 比較例1 (MoSiz−TaSizガラス系抵抗体系
材抗体材料iz 16重量部、Ta5iz 9重量部の
混合物を空中1400℃で加熱し、その生成物をエタノ
ールとともにボットミル中アルミナボールで24時間粉
砕し、乾燥させて10μm以下の微粉末を得た。このよ
うにして得た微粉末25重量部に対し、BaO、BzO
:+、MgO、CaO、Singからなるガラスフリフ
ヒフ5重量部b1有機物ビヒクル(ブチルカルピトール
20重量部、エチルセルロース5重量部)25重量部と
を加え、ロールミルで混合して抵抗体材料ペーストを得
た。
この抵抗体材料ペーストを用いた以外は実施例1と同様
にして多層セラミック基板を得た。
にして多層セラミック基板を得た。
その結果、セラミックグリーンシートに抵抗体材料塗膜
を形成し、これを加熱処理して有機物を除去した後に同
時焼成して得たものは、両者の焼成体に膨張率、収縮率
が異なることにより第3図に示すように反りが見られ、
また、Mo5iz 、TaSiの分解反応でSiO□気
体が発生することにより第4図に示すようにふくれが生
じ、実用に供することができなかった。なお、llaは
上記磁器N1a、14aは上記磁器層4a、13aは上
記厚膜抵抗体3aにそれぞれ対応する磁器層、厚膜抵抗
体である。
を形成し、これを加熱処理して有機物を除去した後に同
時焼成して得たものは、両者の焼成体に膨張率、収縮率
が異なることにより第3図に示すように反りが見られ、
また、Mo5iz 、TaSiの分解反応でSiO□気
体が発生することにより第4図に示すようにふくれが生
じ、実用に供することができなかった。なお、llaは
上記磁器N1a、14aは上記磁器層4a、13aは上
記厚膜抵抗体3aにそれぞれ対応する磁器層、厚膜抵抗
体である。
比較例2(MoSi、−BaF、ガラス系抵抗体材料)
MoSiz 70重量部、Bad、 20重量部と、S
ing、Zn。
MoSiz 70重量部、Bad、 20重量部と、S
ing、Zn。
ZrO2、Ca0z、A l 203からなるガラスフ
リフト10重量部とをボールミルで混合し、得られた粉
末をアルゴン(Ar)ガス雰囲気中1200℃で熱処理
した後、これをエタノールとともにボットミル中アルミ
ナポールで24時間粉砕し、乾燥させて10μm以下の
微粉末を得た。
リフト10重量部とをボールミルで混合し、得られた粉
末をアルゴン(Ar)ガス雰囲気中1200℃で熱処理
した後、これをエタノールとともにボットミル中アルミ
ナポールで24時間粉砕し、乾燥させて10μm以下の
微粉末を得た。
この抵抗体材料ペーストを用いた以外は実施例1と同様
にして多層セラミック基板を得た。
にして多層セラミック基板を得た。
この多層セラミック基板の厚膜抵抗体についても実施例
1と同様にして求めたRzs 、TCP及び抵抗値の変
化率を表5に示す。
1と同様にして求めたRzs 、TCP及び抵抗値の変
化率を表5に示す。
上記結果より、実施例の多層セラミック基板はいずれも
反り、ふくれがなく、抵抗値の変化率も±2%以内であ
り、さらにTCPも特に抵抗体材料を熱処理したものは
±500ppm/ ℃であるのに対し、比較例1の多層
セラミック基板は反りが見られ、比較例2の多層セラミ
ック基板は抵抗体の抵抗値の変化率が4倍も大きいこと
がわかる。
反り、ふくれがなく、抵抗値の変化率も±2%以内であ
り、さらにTCPも特に抵抗体材料を熱処理したものは
±500ppm/ ℃であるのに対し、比較例1の多層
セラミック基板は反りが見られ、比較例2の多層セラミ
ック基板は抵抗体の抵抗値の変化率が4倍も大きいこと
がわかる。
発明の効果
本発明によれば、亜鉛のモリブデン酸塩及びアルカリ土
類金属の弗化物を含有する電気抵抗体を供給できるので
、亜鉛のモリブデン酸塩及びアルカリ土類金属の弗化物
を主成分に有する組成の抵抗体材料を用いて、例えば卑
金属導体材料とともに非酸化性雰囲気中でセラミックグ
リーンシートと同時に焼成することにより抵抗体を形成
するようにすると、焼成により焼成体に反りやふくれが
生じるようなことはなく、また、抵抗体の温度変化を小
さくできるのみならず、抵抗体の抵抗値の温度変化係数
を例えば±500 ppm/ ’C以下にすることが
できる。
類金属の弗化物を含有する電気抵抗体を供給できるので
、亜鉛のモリブデン酸塩及びアルカリ土類金属の弗化物
を主成分に有する組成の抵抗体材料を用いて、例えば卑
金属導体材料とともに非酸化性雰囲気中でセラミックグ
リーンシートと同時に焼成することにより抵抗体を形成
するようにすると、焼成により焼成体に反りやふくれが
生じるようなことはなく、また、抵抗体の温度変化を小
さくできるのみならず、抵抗体の抵抗値の温度変化係数
を例えば±500 ppm/ ’C以下にすることが
できる。
これにより、抵抗体を組み込んだ回路基板の小型化、コ
ストの低減の両方の要求を満たすことができるとともに
、精密な動作を必要とする電子機器に優れた電子部品を
提供することができる。
ストの低減の両方の要求を満たすことができるとともに
、精密な動作を必要とする電子機器に優れた電子部品を
提供することができる。
また、亜鉛のモリブデン酸塩及びアルカリ土類金属の弗
化物を熱処理すると、これを行わないものに比べ、抵抗
体の温度変化係数の絶対値を小さくでき、精密な動作を
必要とする電気回路に優れた特性の抵抗体を供給できる
。
化物を熱処理すると、これを行わないものに比べ、抵抗
体の温度変化係数の絶対値を小さくでき、精密な動作を
必要とする電気回路に優れた特性の抵抗体を供給できる
。
第1図は本発明の電気抵抗体を製造するときの焼成前の
抵抗体材料塗膜と電極材料塗膜を基板に形成し、多層構
造にしようとする状態の一例を示す図、第2図はその焼
成体の断面図、第3図は従来の抵抗体材料を使用して多
層構造にしたときの焼成体の断面図、第4図はその焼成
体にガスが発生したときの説明図、第5図は本発明の一
実施例の電気抵抗体のからマグネシウムのモリブデン酸
塩及び弗化カルシウムを検出したときのX線回折図であ
る。 図中、1.4はグリーンシート片、2は導体材料塗膜、
3は抵抗体材料塗膜、1a、4aは磁器層、2aは厚膜
導体、3aは厚膜抵抗体である。 昭和62年02月28日 第1図 第3図 第4図
抵抗体材料塗膜と電極材料塗膜を基板に形成し、多層構
造にしようとする状態の一例を示す図、第2図はその焼
成体の断面図、第3図は従来の抵抗体材料を使用して多
層構造にしたときの焼成体の断面図、第4図はその焼成
体にガスが発生したときの説明図、第5図は本発明の一
実施例の電気抵抗体のからマグネシウムのモリブデン酸
塩及び弗化カルシウムを検出したときのX線回折図であ
る。 図中、1.4はグリーンシート片、2は導体材料塗膜、
3は抵抗体材料塗膜、1a、4aは磁器層、2aは厚膜
導体、3aは厚膜抵抗体である。 昭和62年02月28日 第1図 第3図 第4図
Claims (5)
- (1)亜鉛のモリブデン酸塩と、アルカリ土類金属の弗
化物を含有する焼成体を有することを特徴とする電気抵
抗体。 - (2)焼成体は亜鉛のモリブデン酸塩及びその前駆体の
内の少なくとも一種と、アルカリ土類金属の弗化物を主
成分に含有する抵抗体材料から焼成されることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の電気抵抗体。 - (3)抵抗体材料の主成分は亜鉛のモリブデン酸塩及び
その前駆体の内の少なくとも一種を当該亜鉛のモリブデ
ン酸塩に換算して60〜95重量%と、アルカリ土類金
属の弗化物0.5〜25重量%と、ガラス4.5〜39
.5重量%とからなることを特徴とする特許請求の範囲
第2項記載の電気抵抗体。 - (4)主成分に亜鉛のモリブデン酸塩及びその前駆体の
内の少なくとも一種と、アルカリ土類金属の弗化物を主
成分に含有する抵抗体材料を熱処理し、この熱処理して
得られた抵抗体材料を用いて焼成し、亜鉛のモリブデン
酸塩及びアルカリ土類金属の弗化物を含有する焼成体か
らなる電気抵抗体を得ることを特徴とする電気抵抗体の
製造方法。 - (5)熱処理前の抵抗体材料の主成分は亜鉛のモリブデ
ン酸塩及びその前駆体の内の少なくとも一種を当該亜鉛
のモリブデン酸塩に換算して60〜95重量%と、アル
カリ土類金属の弗化物0.5〜25重量%と、ガラス4
.5〜39.5重量%とからなることを特徴とする特許
請求の範囲第4項記載の電気抵抗体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62045609A JPS63215547A (ja) | 1987-02-28 | 1987-02-28 | 電気抵抗体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62045609A JPS63215547A (ja) | 1987-02-28 | 1987-02-28 | 電気抵抗体及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63215547A true JPS63215547A (ja) | 1988-09-08 |
| JPH0469580B2 JPH0469580B2 (ja) | 1992-11-06 |
Family
ID=12724107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62045609A Granted JPS63215547A (ja) | 1987-02-28 | 1987-02-28 | 電気抵抗体及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63215547A (ja) |
-
1987
- 1987-02-28 JP JP62045609A patent/JPS63215547A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0469580B2 (ja) | 1992-11-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS63215551A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63215554A (ja) | 電気抵抗体ペ−スト及びその製造方法 | |
| JPS63215548A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63213302A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63213307A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63215555A (ja) | 電気低抗体ペ−スト及びその製造方法 | |
| JPS63215552A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63213303A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63215553A (ja) | 電気抵抗体ペ−スト及びその製造方法 | |
| JPS63213308A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63215557A (ja) | 電気抵抗体ペ−スト及びその製造方法 | |
| JPS63215556A (ja) | 電気抵抗体ペ−スト及びその製造方法 | |
| JPS63215549A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPH0469580B2 (ja) | ||
| JPS63215546A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPWO2001056047A1 (ja) | 多層基板に内蔵された導体パターン及び導体パターンが内蔵された多層基板、並びに、多層基板の製造方法 | |
| JPS63213309A (ja) | 電気抵抗体ペ−スト及びその製造方法 | |
| JPS63215550A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63213310A (ja) | 電気抵抗体ペ−スト及びその製造方法 | |
| JPH0553282B2 (ja) | ||
| JPH0429202B2 (ja) | ||
| JPS63213304A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPS63213306A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 | |
| JPH0429203B2 (ja) | ||
| JPS63213305A (ja) | 電気抵抗体及びその製造方法 |